JPH07133188A - 配向性強誘電体薄膜の作製方法 - Google Patents

配向性強誘電体薄膜の作製方法

Info

Publication number
JPH07133188A
JPH07133188A JP30083193A JP30083193A JPH07133188A JP H07133188 A JPH07133188 A JP H07133188A JP 30083193 A JP30083193 A JP 30083193A JP 30083193 A JP30083193 A JP 30083193A JP H07133188 A JPH07133188 A JP H07133188A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
ferroelectric thin
single crystal
mgo
crystal substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP30083193A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2820009B2 (ja
Inventor
Keiichi Nashimoto
恵一 梨本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP30083193A priority Critical patent/JP2820009B2/ja
Publication of JPH07133188A publication Critical patent/JPH07133188A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2820009B2 publication Critical patent/JP2820009B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 有機金属化合物を用いて、MgOまたはMg
Al2 4 単結晶基板上に表面が光学的に平滑かつ透明
で、さらにエピタキシャルまたは高配向性であり、光素
子に利用可能な強誘電体薄膜の作製方法を提供する。 【構成】 本発明の作製方法においては、洗浄に続いて
酸素を含む雰囲気中で700〜1600℃の温度範囲に
おいてアニールを行ったMgOまたはMgAl24
結晶基板上に、有機金属化合物前駆体の溶液を塗布し、
更にアニールする。上記洗浄は、溶剤洗浄または溶剤洗
浄とエッチングとを組合せたものが好ましく、また、有
機金属化合物前駆体としては、金属アルコキシド類およ
び有機酸金属塩類より選ばれる有機金属化合物の混合物
またはそれらの反応生成物が好ましく用いられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光導波路等の光素子等
に利用可能なエピタキシャルまたは配向性の強誘電体薄
膜の作製方法に関する。
【0002】
【従来の技術】強誘電体は、その強誘電性、圧電性、焦
電性、電気光学効果等の多くの性質により、不揮発性メ
モリーを始めとして、表面弾性波素子、赤外線焦電素
子、音響光学素子、電気光学素子等、多くの薄膜による
応用が期待されている。この中でも、薄膜光導波路構造
を持った第二次高調波素子、光変調素子等の光学素子へ
の応用には、低光損失化と単結晶並の特性を得るために
単結晶薄膜の作製が不可欠である。そのため、BaTi
3 ,PbTiO3 ,Pb1-x Lax (Zr1-y
y )O3 (PLZT)、LiNbO3 、KNbO3
Bi4 Ti3 12等のエピタキシャル強誘電体薄膜が、
Rf−マグネトロン・スパッタリング法、イオン・ビー
ム・スパッタリング法、レーザー・アブレーション法、
MOCVD法等の方法によって、酸化物単結晶基板上に
数多く形成されている。
【0003】酸化物単結晶基板としては、MgO単結晶
基板が価格、熱安定性、結晶構造、屈折率等の理由によ
り特によく用いられており、例えば特公平3−1148
7号公報には、MgO単結晶(100)面上にPbTi
3 薄膜をRf−スパッタリング法により成長させた強
誘電体薄膜素子が示されている。しかし、MgO単結晶
はへき開に続く研磨によるウェハー作製工程によって、
表面に結晶欠陥が生成・残留し、また表面には安定なM
gの水酸化物や炭酸塩が形成されやすい。これらの欠陥
は洗浄によって除去できない。また、T.Awaji
等,Jpn.J.Appl.Phys.,31,642
(1992)に示される1000℃でのアニールや、小
船等,日本セラミック協会学術論文誌,100,106
0(1992)に示される酸でのエッチングによる表面
の改善が、気相エピタキシャル成長の場合には有効であ
ることが最近提案されている。しかし、この気相法によ
るピタキシャル成長は、装置が非常に高価な上、組成制
御の問題や薄膜の表面性の問題を有する。一方、精密な
化学組成制御、プロセスの低温化、大面積化、低設備コ
スト等の面で有利な有機金属化合物を用いて強誘電体薄
膜を得る方法が、特公昭62−27482号公報に示さ
れている。しかし、この方法では、高温での焼成を行っ
ても多結晶で密度の低い薄膜を得ることしかできない。
そのため、強誘電体の物性を十分に活かすことができ
ず、また、例えば光導波路としては、結晶粒界およびピ
ンホールによる光散乱が大きく、使用することはできな
かった。
【0004】本発明者等は、K.Nashimoto
& M.J.Cima,Mater.Lett.,
,(7,8),348(1991)に報告したよう
に、加水分解してない状態の有機金属化合物であるLi
OC2 5 およびNb(OC2 5 5 を用いると、サ
ファイア(Al2 3 )単結晶基板上に単結晶の強誘電
体薄膜LiNbO3 がエピタキシャル成長することを発
見をした。得られる多結晶膜および配向性膜は、特に高
温で焼成した際には、結晶粒成長と細孔径成長とにより
膜は低い密度で低い屈折率を示し、高温結晶粒成長後に
不透明になった。400℃の温度で焼成されたエピタキ
シャル薄膜は、単結晶状で表面が光学的に平滑である
が、TEM(透過型電子顕微鏡)によって薄膜の断面を
観察すると、数nm径の細孔を含むことが分かった。こ
のため、密度が十分に高くはなく屈折率も単結晶並では
なかった。700℃の温度で焼成された強誘電体薄膜
は、単結晶状で多結晶膜や配向性膜と比較して、極めて
大きなサブ・グレイン(結晶粒構造であるが各結晶粒の
方位がほぼまたは完全に揃っている構造)を持ち、高密
度で屈折率も単結晶並であったが、細孔を若干含み、表
面が光学的に平滑ではなく膜の透明性も十分ではなかっ
た。
【0005】そこで、本発明者(本出願人)は、表面が
光学的に平滑で透明な配向性強誘電体薄膜を得るための
方法として、熱処理温度の異なる膜からなる配向性多層
強誘電体薄膜に関する発明を既に特許出願した(特願平
4−175015号)。さらに、有機金属化合物前駆体
の有機官能基の原料となる有機化合物(有機溶剤)の常
圧での沸点温度が、得られる薄膜の平滑化および細孔の
抑制に非常に重要であり、これらの有機化合物または溶
剤は常圧での沸点が少なくとも80℃以上であること
が、および基板上に塗布した膜の高速加熱が、薄膜の平
滑化および細孔の制御に非常に重要であることを見出
し、特許出願した(特願平5−170892号)。しか
し、気相法とは全く異なるこれらの方法で、MgOまた
はMgAl2 4単結晶基板上に強誘電体薄膜のエピタ
キシャル成長を試みると、再現性が乏しいため、本発明
者はこれら基板の表面処理法を鋭意検討した。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述の問題点
を解消するためになされたものであって、その目的は、
有機金属化合物を用いて、MgOまたはMgAl2 4
単結晶基板上に表面が光学的に平滑かつ透明で、さらに
エピタキシャルまたは高配向性であり、光素子に利用可
能な強誘電体薄膜を作製する方法を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者は、従来から配
向性強誘電体薄膜を有利に作製する方法について研究を
重ねてきたところ、原料として有機金属化合物を用い、
基板を洗浄および酸素雰囲気中でアニールすることによ
り、上記目的が達成されることを見出して、本発明を完
成するに至った。すなわち、本発明の配向性強誘電体薄
膜の作製方法は、洗浄に続いて酸素を含む雰囲気中で7
00〜1600℃の温度範囲においてアニールを行った
MgOまたはMgAl2 4 単結晶基板上に、有機金属
化合物前駆体の溶液を塗布し、更にアニールすることに
より、エピタキシャルまたは高配向である酸化物強誘電
体薄膜を形成することを特徴とする。
【0008】以下、本発明について詳細に説明する。本
発明の配向性強誘電体薄膜の作製方法において、有機金
属化合物は、Li,Na,K,Sr,Ba,La,T
i,Zr,Pb,Nb,Ta,Bi等の金属を含む金属
アルコキシド類または有機酸金属塩類より選ばれる。こ
れらの原料は、アルコール類、ジケトン類、ケト酸類、
アルキルエステル類、オキシ酸類、オキシケトン類およ
び酢酸等の脂肪酸類などより選ばれる溶剤と所定の組成
で反応させた後、あるいは溶剤中に溶解した後、生成す
る前駆体溶液を基板へ塗布する。これらの有機金属化合
物は、加水分解した後に塗布することが可能であるが、
エピタキシャルまたは高配向性の強誘電体薄膜を形成す
るためには、加水分解をしない方が望ましい。この溶液
はMgOまたはMgAl2 4 単結晶基板上に、スピン
コート法、ディッピング法、スプレー法、スクリーン印
刷法、インクジェット法等より選ばれる方法により塗布
される。この際、基板は塗布前に溶剤洗浄または溶剤洗
浄とエッチングとを組合せた洗浄の後、酸素を含む雰囲
気中で700〜1600℃の温度範囲、望ましくは80
0〜1300℃の温度範囲でアニールされる。
【0009】有機金属化合物前駆体溶液の塗布後、加熱
を行うことにより強誘電体薄膜をエピタキシャルまたは
高配向に結晶化させる。この際、望ましくは、前処理と
して酸素を含む雰囲気中で0.1〜500℃/秒の昇温
速度で基板を加熱し、100〜500℃の結晶化の起こ
らない温度範囲で塗布層を熱分解する。更に、酸素を含
む雰囲気中で0.1〜500℃/秒の昇温速度で基板を
加熱し、300〜1200℃の温度範囲で強誘電体薄膜
をエピタキシャルまたは高配向に結晶化させる。これら
の雰囲気としては、乾燥した雰囲気および強制的に加湿
した雰囲気のいずれであってもよい。以上の方法によっ
て、MgOまたはMgAl2 4 単結晶基板上に、エピ
タキシャルまたは高配向であり、密度が高く屈折率も単
結晶並であり、表面が光学的に平滑な酸化物強誘電体薄
膜が再現性よく作製される。強誘電体薄膜を形成する酸
化物としては、例えば、BaTiO3 ,PbTiO3
Pb(Zr1-x Tix)O3 (PZT),Pb1-x La
x (Zr1-y Tiy )O3 (PLZT),Bi4 Ti3
12,LiNbO3 ,LiTaO3 ,KNbO3 ,Pb
(Mg1/3 Nb2/3 )O3 等の複合酸化物が挙げられ
る。
【0010】
【実施例】以下に、実施例によって本発明をより具体的
に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるも
のではない。 実施例1 モル比でPb:Zr:Ti=1.00:0.53:0.
47のPb(CH3 COO)2 、Zr(O -i-C
3 7 4 およびTi(O -i-C3 7 4 をモレキュ
ラー・シーブで脱水した2−メトキシエタノールに溶解
し、6時間蒸留した後、18時間還流し、最終的に、P
b濃度で0.5MのPb(Zr0.53Ti0.47)O3 (P
ZT)の前駆体溶液を得た。この前駆体溶液を0.2μ
mのフィルターに通して、MgO(100)単結晶基板
へ2000rpmでスピンコーティングを行った。以上
の操作はすべて窒素雰囲気中で行った。スピンコーティ
ングの前に、MgO基板は溶剤洗浄した後、窒素気流中
でエタノールのスピンコーティングによって乾燥し、更
に空気中にて1100℃で30分間アニールした。
【0011】基板のアニール後、直ちに窒素雰囲気中に
て室温で前記の前駆体溶液を2000rpmでスピンコ
ーティングンを行った。スピンコーティングされた基板
は10℃/秒で昇温し、加湿した酸素雰囲気中にて35
0℃で熱分解を行った。その後、基板を650℃におい
て加熱することにより薄膜を結晶化させた。得られたP
ZT薄膜は、X線回析パターンには、(001)面によ
る回折ピークのみを示し、ペロブスカイト単一層として
結晶化していた。さらに、X線極点図によって解析を行
うと、MgOとPZTの基板面内での結晶方位は一致し
ており、PZTがエピタキシャルに結晶化していた。こ
のPZT薄膜の(001)面でのX線ロッキング・カー
ブ半値幅は0.82°と良好であった。また、1100
℃で30分間アニールを行ったMgO基板上に形成され
たエピタキシャルPZT薄膜の屈折率は、バルク単結晶
と同様の値を示した。このエピタキシャルPZT薄膜の
表面をSEM(走査型電子顕微鏡)によって観察する
と、薄膜には細孔が全くみられず、また表面が極めて平
滑なために、SEMによって表面の極微細な凹凸を観察
することは困難であった。このように、気相エピタキシ
ャル成長において有効であるとされる基板の高温アニー
ルは、固相エピタキシャル成長でも有効であることが本
発明によって初めて明らかになった。
【0012】実施例2 原料として等モル量のKOC2 5 およびNb(OC2
5 5 を脱水した2−メトキシエタノールに溶解し、
0.6M溶液を得た。この溶液を攪拌しつつ2時間蒸留
し、更に22時間還流してダブル・アルコキシドを得
た。その後、この溶液を0.2μmのフィルターに通し
て、K[Nb(OC2 4 OCH3 6 ]溶液をMgA
2 4 (100)単結晶基板へ2000rpmでスピ
ンコーティングを行った。以上の操作はすべて窒素雰囲
気中で行い、スピンコーティングの前に、MgAl2
4 基板は溶剤洗浄、硝酸によるごく軽いエッチング、そ
して酸素気流中にて1000℃で60分間アニールを行
った。スピンコーティングされた基板は、乾燥した酸素
雰囲気中にて10℃/秒で昇温して300℃に保持した
後、700℃に保持し、最後に電気炉の電源を切り冷却
した。これにより、MgAl2 4 (100)単結晶基
板に形成されたエピタキシャルKNbO3 薄膜は、(1
00)面による回折ピークのみを示し、屈折率はバルク
単結晶と同様な値を示した。さらに、このエピタキシャ
ルKNbO3 薄膜の表面をSEMによって観察すると、
実施例1と同様に、薄膜には細孔がみられず、また表面
が平滑であった。
【0013】比較例 溶剤洗浄のみを行ったMgO(100)単結晶基板およ
び溶剤洗浄と塩酸または硝酸溶液によるエッチングとを
組合せたMgO(100)単結晶基板を用いて、実施例
1と同様の方法により、PZT薄膜を650℃で結晶化
させた。この結果、溶剤洗浄のみを行ったMgO(10
0)単結晶基板上に形成されたPZT薄膜は、ランダム
な多結晶であった。一方、溶剤洗浄と塩酸または硝酸に
よるエッチングとを組合せた場合には、MgO(10
0)単結晶基板表面のミクロ・レベルの粗さが大きくな
り、またMgO(100)単結晶基板上のPZT薄膜
は、(001)の配向性を示したが、(110)面等の
配向も示した。この(001)配向性の再現性は悪く、
さらに最も(001)配向性の強いものでも、(00
1)面でのX線ロッキング・カーブ半値幅は1.48°
であった。このように、基板表面のエッチングは、気相
エピタキシャル成長に有効であるとされているにもかか
わらず、表面性を改善するものの、その効果は十分では
なかった。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば、表面が光学的に平滑か
つ透明で、高い屈折率を有し、さらにエピタキシャルま
たは配向性の強誘電体薄膜が作製されるため、得られる
配向性強誘電体薄膜は、光導波路等を用いた光変調素子
に利用可能である。また、本発明は、原料として有機金
属化合物を使用する方法であるため、精密な化学組成制
御、プロセスの低温化、大面積化、低設備コスト等の面
で有利であり、しかも、高品質な配向性強誘電体薄膜を
再現性よく作製することが可能になる。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 洗浄に続いて酸素を含む雰囲気中で70
    0〜1600℃の温度範囲においてアニールを行ったM
    gOまたはMgAl2 4 単結晶基板上に、有機金属化
    合物前駆体の溶液を塗布し、更にアニールすることによ
    り、エピタキシャルまたは高配向である酸化物強誘電体
    薄膜を形成することを特徴とする配向性強誘電体薄膜の
    作製方法。
  2. 【請求項2】 前記有機金属化合物前駆体が、金属アル
    コキシド類および有機酸金属塩類より選ばれる有機金属
    化合物の混合物またはそれらの反応生成物である請求項
    1記載の配向性強誘電体薄膜の作製方法。
  3. 【請求項3】 前記洗浄が、溶剤洗浄または溶剤洗浄と
    エッチングとの組合せからなる請求項1記載の配向性強
    誘電体薄膜の作製方法。
JP30083193A 1993-11-08 1993-11-08 配向性強誘電体薄膜の作製方法 Expired - Fee Related JP2820009B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30083193A JP2820009B2 (ja) 1993-11-08 1993-11-08 配向性強誘電体薄膜の作製方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30083193A JP2820009B2 (ja) 1993-11-08 1993-11-08 配向性強誘電体薄膜の作製方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07133188A true JPH07133188A (ja) 1995-05-23
JP2820009B2 JP2820009B2 (ja) 1998-11-05

Family

ID=17889638

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30083193A Expired - Fee Related JP2820009B2 (ja) 1993-11-08 1993-11-08 配向性強誘電体薄膜の作製方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2820009B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1314078C (zh) * 2004-10-13 2007-05-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 Cd(In,Ga)2O4/MgAl2O4复合衬底的材料及其制备方法
US8454747B2 (en) 2009-02-18 2013-06-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method for producing single-crystal thin film

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1314078C (zh) * 2004-10-13 2007-05-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 Cd(In,Ga)2O4/MgAl2O4复合衬底的材料及其制备方法
US8454747B2 (en) 2009-02-18 2013-06-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Method for producing single-crystal thin film

Also Published As

Publication number Publication date
JP2820009B2 (ja) 1998-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5650362A (en) Oriented conductive film and process for preparing the same
US5645885A (en) Process for producing a multilayered thin ferroelectric film
JP3047316B2 (ja) エピタキシャル強誘電体薄膜素子およびその作製方法
US4963390A (en) Metallo-organic solution deposition (MOSD) of transparent, crystalline ferroelectric films
US5525434A (en) Oriented multi-layer thin film of ferrodielectric substance and method of producing the same
US5852703A (en) Ferroelectric thin film element and production method thereof
JP3235279B2 (ja) エピタキシャル強誘電体薄膜素子の作製方法
JP2003086586A (ja) 配向性強誘電体薄膜素子及びその製造方法
JP4399059B2 (ja) 薄膜構造体
JPH07330426A (ja) ペロブスカイト含有複合材料、その製造方法、電子部品およびモジュール
JP2820009B2 (ja) 配向性強誘電体薄膜の作製方法
JPH0585704A (ja) 強誘電体薄膜の製造方法
US20050082615A1 (en) Epitaxial ferroelectric thin-film device and method of manufacturing the same
JP4368004B2 (ja) 光導波路素子及び光導波路素子の製造方法
JP3186381B2 (ja) 配向性導電性薄膜の作製方法
Hirano et al. Chemical processing of ferroelectric niobates epitaxial films
EP0678598A1 (en) Oxide dielectric thin film and preparation thereof
JPH0543241A (ja) ジルコン酸チタン酸鉛薄膜の製造方法
Nashimoto Preparation and Characterization of Sol-Gel Derived Heteroepitaxial LiNbO3 and LiTaO3 Thin Films
JPH11199393A (ja) 強誘電体薄膜素子の作製方法
JP3484990B2 (ja) 多層強誘電体薄膜
JP2000103693A (ja) 強誘電体薄膜、及びその製造方法
JP3465487B2 (ja) 強誘電体薄膜作製用前駆体の製造方法、及び強誘電体薄膜の製造方法
JPH07320539A (ja) 誘電体薄膜の製造方法
JPH06196018A (ja) 配向性強誘電体薄膜素子

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070828

Year of fee payment: 9

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070828

Year of fee payment: 9

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828

Year of fee payment: 10

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828

Year of fee payment: 10

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees