JPH07114216B2 - Method of mounting film carrier type semiconductor device - Google Patents

Method of mounting film carrier type semiconductor device

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JPH07114216B2
JPH07114216B2 JP1198607A JP19860789A JPH07114216B2 JP H07114216 B2 JPH07114216 B2 JP H07114216B2 JP 1198607 A JP1198607 A JP 1198607A JP 19860789 A JP19860789 A JP 19860789A JP H07114216 B2 JPH07114216 B2 JP H07114216B2
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film carrier
semiconductor device
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carrier type
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はフィルムキャリヤ型半導体装置をプリント基板
に実装するフィルムキャリヤ型半導体装置の実装方法に
関する。
The present invention relates to a method of mounting a film carrier type semiconductor device for mounting a film carrier type semiconductor device on a printed circuit board.

[従来の技術] 従来のフィルムキャリヤ型半導体装置の製造方法は、第
7図及び第8図に示す如く、搬送及び位置決め用のスプ
ロケットホール41と、半導体チップ31が入る開孔部であ
るデバイスホール39を有するポリイミド等の絶縁フィル
ム上に銅等の金属箔を接着し、金属箔をエッチング等に
より所望の形状のリード(インナーリード35,アウター
リード36)と電気選別のためのパッド44とを形成してフ
ィルムキャリヤテープ40を製造する。また、半導体チッ
プ31の電極端子上に金属突起物であるバンプ46を形成す
る。
[Prior Art] A conventional method of manufacturing a film carrier type semiconductor device is, as shown in FIGS. 7 and 8, a sprocket hole 41 for carrying and positioning, and a device hole which is an opening portion into which a semiconductor chip 31 is inserted. A metal foil such as copper is adhered onto an insulating film such as polyimide having 39, and the metal foil is etched to form leads (inner lead 35, outer lead 36) of a desired shape and pads 44 for electrical selection. Then, the film carrier tape 40 is manufactured. Further, bumps 46, which are metal protrusions, are formed on the electrode terminals of the semiconductor chip 31.

次に、フィルムキャリヤテープ40のインナーリード35と
半導体チップ31のバンプ46とを熱圧着法又は共晶法等に
よりインナーリードボンディング(以下、ILBと略す)
し、フィルムキャリヤテープに装着された状態で電気選
別用パッド44上に接触子を接触させて半導体チップ31の
電気選別及びバイアス試験を実施する。これにより、フ
ィルムキャリヤ型半導体装置が完成する。ここで、リー
ド35,36の変形防止用として絶縁フィルムの枠であるサ
スペンダ32を予めフィルムキャリヤテープ40に設けるこ
とがある。また、信頼性向上及び機械的保護のため、第
9図に示すように、樹脂47をポッテングして樹脂封止を
行う場合もある。
Next, the inner leads 35 of the film carrier tape 40 and the bumps 46 of the semiconductor chip 31 are inner lead bonded (hereinafter abbreviated as ILB) by a thermocompression bonding method or a eutectic method.
Then, a contactor is brought into contact with the electrical selection pad 44 in a state of being mounted on the film carrier tape to perform electrical selection and bias test of the semiconductor chip 31. As a result, the film carrier type semiconductor device is completed. Here, a suspender 32, which is a frame of an insulating film, may be provided in advance on the film carrier tape 40 to prevent deformation of the leads 35 and 36. Further, in order to improve reliability and mechanical protection, as shown in FIG. 9, the resin 47 may be potted to perform resin sealing.

上記のようなフィルムキャリヤ型半導体装置をプリント
基板に実装する場合は、アウターリード36を所望の長さ
に切断し、次いで第10図に示すように、例えば、プリン
ト基板50上に接着剤51により半導体チップ31を固着した
後、アウターリード36をプリント基板50上のボンディン
グパッド52にアウターリードボンディング(以下、OLB
と略す)する。
When the film carrier type semiconductor device as described above is mounted on a printed circuit board, the outer leads 36 are cut into a desired length, and then, as shown in FIG. After fixing the semiconductor chip 31, the outer lead 36 is bonded to the bonding pad 52 on the printed board 50 by the outer lead bonding (hereinafter referred to as OLB
Abbreviated).

これらのフィルムキャリヤ型半導体装置はボンディング
がリード数に拘らず1回の工程可能であるため、製造工
程が迅速であること、フィルムキャリヤテープ40を使用
するため、作業の自動化が容易であること等の利点を有
している。
Since these film carrier type semiconductor devices can be bonded once regardless of the number of leads, the manufacturing process is quick, and since the film carrier tape 40 is used, the work can be easily automated. Have the advantages of.

上述した従来のフィルムキャリヤ型半導体装置の製造工
程のうち、OLBの工程は一般にILB工程と同様に加圧ツー
ルにより、リードを加圧加熱して実施する。接合はAu−
Auの熱圧着、Au−Snの共晶又は半田を使用したろう付け
等により実施される。
In the conventional manufacturing process of the film carrier type semiconductor device described above, the OLB process is generally performed by pressing and heating the leads with a pressing tool as in the ILB process. Joining is Au-
It is implemented by thermocompression bonding of Au, brazing using Au-Sn eutectic or solder.

これに対し、一般のパッケージであるプラスチックパッ
ケージ及びセラミックパッケージ並びに抵抗及びコンデ
ンサ等の部品については、半田のろう付けで実施される
ことが多く、特に、最近では半田リフロー法で実装する
ことが一般的である。即ち、プリント基板のボンディン
グパッド上に半田ペーストを印刷法等により塗布し、次
に半導体パッケージや抵抗等の部品を接着剤でプリント
基板に位置合わせを行って接着仮止めし、赤外線加熱
炉、熱風加熱炉又は加熱蒸気槽等にプリント基板を装入
するか、又はレーザー溶接により半田ペーストを溶解
し、部品を実装する。このような半田リフロー法による
実装は多くの部品を同時に実装でき、自動化が容易であ
る等の利点を有している。
On the other hand, with respect to general packages such as plastic packages and ceramic packages, and parts such as resistors and capacitors, solder brazing is often used, and recently, solder reflow method is generally used. Is. That is, solder paste is applied on the bonding pad of the printed circuit board by a printing method or the like, then parts such as a semiconductor package and a resistor are aligned with the printed circuit board with an adhesive to temporarily fix the adhesive, an infrared heating furnace, hot air. A printed circuit board is placed in a heating furnace or a heating steam tank, or the solder paste is melted by laser welding to mount components. Mounting by such a solder reflow method has an advantage that many components can be mounted at the same time and automation is easy.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、フィルムキャリヤ型半導体装置を半田リ
フロー法に適用する場合、フィルムキャリヤ型半導体装
置のサスペンダ部が絶縁フィルムで形成されているた
め、サスペンダ部が容易に反ってしまい、リード高さに
バラツキが生じる。
[Problems to be Solved by the Invention] However, when the film carrier type semiconductor device is applied to the solder reflow method, since the suspender portion of the film carrier type semiconductor device is formed of an insulating film, the suspender portion is easily warped. As a result, the lead height varies.

これによって、プリント基板のボンディングパッドに塗
布された半田ペーストとリードとが接触しないことにな
り、半導体装置を実装することができなくなるという欠
点がある。
As a result, the solder paste applied to the bonding pad of the printed circuit board and the lead do not come into contact with each other, which makes it impossible to mount the semiconductor device.

一般に実装の高密度化が促進されるに従い、半導体装置
のリードピッチが短縮化されるが、それに伴って、半田
リフロー法での実装が困難になってくる。現状では0.65
乃至1.0mmピッチが一般的であり、例えば、日経エレク
トロクニス1988年12月12日号第141乃至149頁にあるよう
に、0.4乃至0.5mmが限界であるといわれている。即ち、
半田ペースト量の不足により濡れ不足が生じ、半田ペー
スト量の過多により半田ブリッジが生じるため、半田ペ
ーストの塗布量を正確に制御する必要があり、このため
リード高さを正確に保つことが要求される。リード高さ
及び平面性の制御量としては、0.05乃至0.10mm程度が要
求されているが、フィルムキャリヤ型半導体装置の場合
は、多数リード化等によりサスペンダ部が大きくなるに
従って反り量が増加し、数約μm以上の反りが生じるこ
とが多い。従って、一般的にフィルムキャリヤ型半導体
装置の実装は、前述のように加圧ツールによりリードを
押えつけて反りによるリード高さのバラツキを補正して
行うことが多く、半田リフロー法で行うことは殆どな
い。しかしながら、一般のパッケージをはじめ抵抗及び
コンデンサ等の殆どの部品が半田リフロー法による実装
に対応できており、フィルムキャリヤ型半導体装置のみ
を個別に加圧ツールで実装するのは現状の自動化実装ラ
インに整合しない上、フィルムキャリヤ型半導体装置用
に専用の装置を設置する必要がある等の欠点がある。
Generally, as the mounting density is promoted, the lead pitch of the semiconductor device is shortened, but with this, mounting by the solder reflow method becomes difficult. Currently 0.65
The pitch is generally 1.0 mm to 1.0 mm, and it is said that 0.4 to 0.5 mm is the limit, for example, as described in Nikkei Electrokunis December 12, 1988, pages 141 to 149. That is,
Insufficient wetting occurs due to insufficient amount of solder paste, and solder bridge occurs due to excessive amount of solder paste.Therefore, it is necessary to control the amount of solder paste applied accurately, and therefore it is necessary to keep the lead height accurate. It As a control amount of the lead height and flatness, about 0.05 to 0.10 mm is required, but in the case of a film carrier type semiconductor device, the amount of warpage increases as the suspender section becomes large due to the large number of leads, A warp of several μm or more often occurs. Therefore, in general, the mounting of the film carrier type semiconductor device is often performed by pressing the leads with the pressure tool to correct the lead height variation due to the warping as described above, and the solder reflow method is not recommended. Almost never. However, most components such as resistors and capacitors, including general packages, can be mounted by the solder reflow method, and it is not possible to mount only film carrier type semiconductor devices individually with a pressure tool in the current automated mounting line. There are drawbacks such as not matching, and the need to install a dedicated device for the film carrier type semiconductor device.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
サスペンダの反りを補正することができ、半田リフロー
法による実装が容易であるフィルムキャリヤ型半導体装
置の実装方法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such problems,
An object of the present invention is to provide a mounting method of a film carrier type semiconductor device which can correct the warp of the suspenders and can be easily mounted by the solder reflow method.

[課題を解決するための手段] 本発明に係るフィルムキャリヤ型半導体装置の実装方法
は、半導体素子、この半導体素子に接続されたリード、
リードを支持するサスペンダ、サスペンダ支持枠部の一
部及びこのサスペンダ支持枠部に設けられた仮付け用リ
ードを含む部分をフィルムキャリヤテープから切断分離
してリード成形する工程と、前記仮付け用リードをプリ
ント基板の所定の位置に接合する工程と、半田リフロー
法によりフィルムキャリヤ型半導体装置のリードとプリ
ント基板上のボンディングパッドとを接合する工程とを
有することを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] A mounting method of a film carrier type semiconductor device according to the present invention is a semiconductor element, leads connected to the semiconductor element,
A step of cutting and separating a suspender supporting the leads, a part of the suspender support frame part and a part including the temporary attachment lead provided in the suspender support frame part from the film carrier tape to form a lead; and the temporary attachment lead. Of the film carrier type semiconductor device and a bonding pad on the printed board by a solder reflow method.

[作用] 本発明においては、サスペンダ支持枠部に設けられた仮
付け用リードをプリント基板の所定の位置に接合した
後、半田リフロー法によりフィルムキャリヤ型半導体装
置のリードと、プリント基板上のボンディングパッドと
を接合する。従って、半田リフロー時のサスペンダ部の
反りを仮付け用リードにより防止することができるの
で、フィルムキャリヤ型半導体装置を半田リフロー法に
より容易に実装することができる。
[Operation] In the present invention, after the temporary attachment lead provided on the suspender support frame is joined to a predetermined position of the printed board, the lead of the film carrier type semiconductor device is bonded to the lead on the printed board by the solder reflow method. Join with the pad. Therefore, the warp of the suspender portion at the time of solder reflow can be prevented by the temporary mounting lead, so that the film carrier type semiconductor device can be easily mounted by the solder reflow method.

[実施例] 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。
[Embodiment] Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明の第1の実施例方法により実装されたフ
ィルムキャリヤ型半導体装置を示す斜視図である。半導
体チップ1の電極にはインナーリード5がボンディング
接続されている。
FIG. 1 is a perspective view showing a film carrier type semiconductor device mounted by the method of the first embodiment of the present invention. Inner leads 5 are connected to the electrodes of the semiconductor chip 1 by bonding.

このインナーリード5から延びるアウターリード6はプ
リント基板上のボンディングパッド3と半田4により接
合されている。そして、インナーリード5及びアウター
リード6は絶縁フィルムからなるサスペンダ2により支
持されている。このサスペンダ2のコーナー部には仮付
け用リード8が形成されており、この仮付け用リード8
は、同様にプリント基板上の仮付け用リードパッド7に
半田4により接合されている。この仮付け用リード8に
よりサスペンダ2がプリント基板に押さえつけられてい
る。
The outer leads 6 extending from the inner leads 5 are joined to the bonding pads 3 on the printed circuit board by the solder 4. The inner lead 5 and the outer lead 6 are supported by the suspender 2 made of an insulating film. Temporary leads 8 are formed at the corners of the suspender 2.
Are similarly joined to the temporary lead pads 7 on the printed circuit board by the solder 4. The suspender 2 is pressed against the printed circuit board by the temporary attachment lead 8.

次いで、上述の構造のフィルムキャリヤ型半導体装置の
製造方法について、第2図の平面図及び第3図の断面図
を参照して説明する。
Next, a method of manufacturing the film carrier type semiconductor device having the above structure will be described with reference to the plan view of FIG. 2 and the sectional view of FIG.

第2図は本発明の実施例にて使用するフィルムキャリヤ
テープ10を示す。この第2図に示すように、従来のフィ
ルムキャリヤテープと同様にスプロケットホール11、デ
バイスホール9及びOLB用ホール15の外、仮付け用リー
ドのホール12を形成した絶縁フィルム上に銅等の金属箔
を接着し、エッチング等により所望の形状のリードであ
るインナーリード5、アウターリード6、電気選別用パ
ッド14及び仮付け用リード8を形成したフィルムキャリ
ヤテープ10を用意する。
FIG. 2 shows a film carrier tape 10 used in an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 2, like the conventional film carrier tape, a metal such as copper is formed on the insulating film in which the sprocket hole 11, the device hole 9 and the OLB hole 15 and the temporary lead hole 12 are formed. A film carrier tape 10 having an inner lead 5, an outer lead 6, a pad 14 for electrical selection and a lead 8 for temporary attachment, which are leads having a desired shape, is prepared by bonding foils and etching or the like.

ここで、仮付け用リードホール12はサスペンダ2を支持
するサスペンダ支持枠13に開口されて設けられており、
仮付け用リードホール12をまたぐようにして仮付け用リ
ード8が設けられている。
Here, the temporary attachment lead hole 12 is provided so as to be opened in the suspender support frame 13 that supports the suspender 2.
The temporary lead 8 is provided so as to straddle the temporary lead hole 12.

次に、フィルムキャリヤテープ10のインナーリード5と
半導体チップ1の電極上に設けられたバンプ16とを熱圧
着又は共晶法等によりボンディング(ILB)し、樹脂17
により樹脂封止する。本実施例では、第2図及び第3図
に示す用にフィルムキャリヤテープ10のリードパターン
面と半導体チップの素子形成面とが向かい合うフェイス
ダウンにてインナーリードボンディングされている。
Next, the inner leads 5 of the film carrier tape 10 and the bumps 16 provided on the electrodes of the semiconductor chip 1 are bonded (ILB) by thermocompression bonding or a eutectic method to form a resin 17
The resin is sealed with. In this embodiment, as shown in FIGS. 2 and 3, inner lead bonding is performed with the lead pattern surface of the film carrier tape 10 and the element forming surface of the semiconductor chip facing each other.

次いで、電気選別用パッド14に試験装置の接触子を接触
させて電極選別を行い、フィルムキャリヤ型半導体装置
が完成する。
Next, the electrodes of the tester are brought into contact with the electrical selection pad 14 to perform electrode selection, and the film carrier type semiconductor device is completed.

このようにして製造したフィルムキャリヤ型半導体装置
の実装は以下のようにして行う。即ち、第4図の平面図
及び第5図の断面図に示すように、フィルムキャリヤ型
半導体装置を切断分離すると同時にアウターリード6を
形成する。この切断位置は、第4図に示すように、仮付
け用リード8とアウターリード6とを残すように仮付け
用リードホール12とOLB用ホール15の外側縁位置であ
り、この位置で切断して半導体チップ部をフィルムキャ
リヤテープ10から分離する。
The film carrier type semiconductor device manufactured in this manner is mounted as follows. That is, as shown in the plan view of FIG. 4 and the sectional view of FIG. 5, the outer leads 6 are formed at the same time when the film carrier type semiconductor device is cut and separated. As shown in FIG. 4, this cutting position is an outer edge position of the temporary attachment lead hole 12 and the OLB hole 15 so that the temporary attachment lead 8 and the outer lead 6 are left, and the cutting is performed at this position. The semiconductor chip portion is separated from the film carrier tape 10.

仮付け用リード8とアウターリード6とを切断した後、
両者ともリード成形を行う。ここで、仮付け用リード8
の成形深さはアウターリード6の成形深さよりも浅くす
る。本実施例では第5図に示すようにアウターリード6
はリードを下方にのみ成形するバットリード形状として
いるが、この成形の形状は特には制約がない。
After cutting the temporary attachment lead 8 and the outer lead 6,
Both perform lead forming. Here, the temporary attachment lead 8
The molding depth of is made shallower than the molding depth of the outer lead 6. In this embodiment, as shown in FIG.
Has a butt lead shape in which the lead is molded only downward, but the shape of this molding is not particularly limited.

次に、第1図に示すように、予めボンディングパッド部
3及び仮付け用パッド7に半田ペーストを塗布したプリ
ント基板上に、切断及びリード成形済みの半導体チップ
1をボンディングパッド3とアウターリード6との位置
合わせを行って載置すると共に、仮付け用リード8を仮
付け用リードパッド7に半田4により接合する。
Next, as shown in FIG. 1, the semiconductor chip 1 that has been cut and lead-molded is bonded to the bonding pad 3 and the outer lead 6 on the printed board on which the bonding pad portion 3 and the temporary attachment pad 7 have been previously coated with the solder paste. The lead 8 for temporary attachment is joined to the lead pad 7 for temporary attachment with the solder 4 while being aligned and placed.

ここで、フィルムキャリヤ型半導体装置の載置の際、フ
ェイスダウンでのILBのため、半導体チップ1上の樹脂1
7とプリント基板とを接着剤等により仮止め後、仮付け
用リード8を接合しても、また仮付け用リード8を半田
4の替わりに接着剤等によりボンディングパッド3に接
合してもよい。このようにして、仮付け用リード8をプ
リント基板に予め接合することによって、サスペンダ2
の反りが補正され、仮付け用リード8よりも下方に成形
されているアウターリード6は確実にボンディングパッ
ド3と接合することになる。
Here, when the film carrier type semiconductor device is mounted, the resin 1 on the semiconductor chip 1 is affected by the ILB face down.
After temporarily fixing 7 and the printed circuit board with an adhesive or the like, the temporary attaching lead 8 may be joined, or the temporary attaching lead 8 may be joined to the bonding pad 3 by an adhesive or the like instead of the solder 4. . In this way, the suspending lead 8 is bonded to the printed circuit board in advance, so that the suspender 2
The warp is corrected, and the outer lead 6 formed below the temporary attachment lead 8 is reliably bonded to the bonding pad 3.

次に、他の部品を従来と同様に接着剤によりプリント基
板上に仮止めした後、赤外線加熱炉、熱風加熱炉及び加
熱蒸気槽等のリフロー炉に装入するか、レーザー溶接等
により半田ペーストを溶解して、フィルムキャリヤ型半
導体装置のアウターリード6とボンディングパッド3と
を半田4により固定して接合し、他の部品と共に実装を
完了する。このようにして、本実施例により、フィルム
キャリヤ型半導体装置を他の部品と共にプリント基板に
半田リフロー法により実装することができる。
Next, other parts are temporarily fixed on the printed board with adhesive as in the conventional method, and then loaded into a reflow furnace such as an infrared heating furnace, a hot air heating furnace and a heating steam tank, or solder paste by laser welding or the like. Is melted, the outer leads 6 of the film carrier type semiconductor device and the bonding pads 3 are fixed and joined by the solder 4, and the mounting is completed together with other components. In this way, according to this embodiment, the film carrier type semiconductor device can be mounted on the printed circuit board together with other components by the solder reflow method.

第6図は本発明の第2の実施例方法を示す平面図であ
る。第1の実施例方法の場合と同一物には同一符号を付
してその詳しい説明は省略する。
FIG. 6 is a plan view showing a second embodiment method of the present invention. The same components as those in the method of the first embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

本実施例においては、第1のサスペンダ支持枠13を有し
ないで、仮付け用リード8のみが設けられており、これ
を用いて第1の実施例と同様にフィルムキャリヤ型半導
体装置の実装を行うことができる。このようにサスペン
ダ支持枠を設けることなく、サスペンダ2を形成するた
めには、2層テープを使用してフィルムキャリヤテープ
20を製造する。2層テープはポリイミドからなるフィル
ム上に接着剤を介せず無電解によるメッキでCu層を薄く
形成し、フォトレジスト法により選択的にCuを電解メッ
キにより約35μmの厚さで形成し、不要な部分を薄く形
成しておく。そして、この不要部分のCuを全体のエッチ
ングにより除去してリード等をパターン形成する。
In the present embodiment, the first suspender support frame 13 is not provided, and only the temporary attachment lead 8 is provided. By using this, the film carrier type semiconductor device can be mounted in the same manner as in the first embodiment. It can be carried out. Thus, in order to form the suspender 2 without providing the suspender support frame, a two-layer tape is used to form a film carrier tape.
Manufacture 20. The two-layer tape is not necessary because the Cu layer is thinly formed on the polyimide film by electroless plating without using an adhesive, and Cu is selectively formed by electrolytic plating to a thickness of about 35 μm by the photoresist method. The thin part is formed thinly. Then, Cu of the unnecessary portion is removed by the entire etching to form a lead or the like in a pattern.

次に、フォトレジスト法で選択的にポリイミドフィルム
をエッチングしてデバイスホール9及びOLB用ホール21
等の孔を形成し、Au又はSn等の所望のメッキを施して完
成する。これにより、サスペンダ支持枠なしでサスペン
ダ8を形成することができる。従来の3層のフィルムキ
ャリヤテープにおいても、先ず、従来と同様にポリイミ
ド等の絶縁フィルムにスプロケットホール、デバイスホ
ール及びOLB用ホール等をパンチングにより開孔し、容
易に剥離可能な接着力が弱い別のフィルムを接着する。
Next, the polyimide film is selectively etched by a photoresist method to etch the device hole 9 and the OLB hole 21.
Etc. are formed, and desired plating such as Au or Sn is applied to complete. As a result, the suspenders 8 can be formed without the suspender support frame. Even in the conventional three-layer film carrier tape, first, as in the conventional method, the insulating film such as polyimide is opened by punching the sprocket hole, the device hole, the hole for the OLB, etc. Glue the film.

次に、サスペンダ支持枠のみをパンチングにより切断除
去し、次いで、Cu箔を反対面に接着剤を介して接着した
後、先のフィルムを剥離する。次いで、従来と同様にCu
箔の選択エッチング工程及び所望のメッキ形成工程を経
ることにより、サスペンダ支持枠を有しないサスペンダ
2を備えたフィルムキャリヤテープ20を製造することが
できる。
Next, only the suspender support frame is cut and removed by punching, and then the Cu foil is bonded to the opposite surface via an adhesive, and then the previous film is peeled off. Then, as before, Cu
The film carrier tape 20 provided with the suspenders 2 having no suspender support frame can be manufactured through the foil selective etching step and the desired plating forming step.

上述のようなサスペンダ支持枠を有しないフィルムキャ
リヤテープ20の場合は、サスペンダ支持枠のサイズにつ
いて、一般的に約0.5乃至1.0mmの幅を製造上必要とする
ため、特に多数リードのフィルムキャリヤテープにおい
て、サスペンダ枠がOLB用ホールサイズに制約を与える
のに対し、本発明の仮付け用リード8がサスペンダ支持
枠を兼ねるために、本発明はOLB用ホールサイズへの影
響がないという利点がある。
In the case of the film carrier tape 20 having no suspender support frame as described above, the size of the suspender support frame generally requires a width of about 0.5 to 1.0 mm in manufacturing, so that the film carrier tape having a large number of leads is particularly preferable. In the above, while the suspender frame limits the OLB hole size, the present invention has an advantage of not affecting the OLB hole size because the temporary mounting lead 8 of the present invention also serves as the suspender support frame. .

なお、上述の実施例では仮付け用リード8を設けてサス
ペンダ2を固定したが、従来のフィルムキャリヤテープ
におけるサスペンダ支持枠を仮付け用リードの代わりと
して用いることも可能である。この場合は、第7図の従
来のフィルムキャリヤテープにあるサスペンダ支持枠42
を仮付け用リードと同様に残し、接着剤にてプリント基
板上の仮付け用リードパッドに接合するか、サスペンダ
支持枠上に他のリードと同様にメッキを施したCu等のパ
ターンを残し、半田等により接合することによって実装
することができる。即ち、サスペンダ支持枠又はサスペ
ンダ支持枠の代わりとなる仮付け用リードの接合方法に
は格別の制約はない。
Although the suspending lead 8 is provided and the suspender 2 is fixed in the above-described embodiment, the suspender support frame in the conventional film carrier tape can be used instead of the suspending lead. In this case, the suspender support frame 42 of the conventional film carrier tape shown in FIG.
Leave the same as the temporary lead, and bond it to the temporary lead pad on the printed circuit board with an adhesive, or leave a pattern such as Cu plated on the suspender support frame like other leads, It can be mounted by joining with solder or the like. That is, there are no particular restrictions on the method of joining the suspender support frame or the temporary attachment lead which replaces the suspender support frame.

また、多数リード化に伴ってアウターリードが入るOLB
用ホールが大きくなって上記実施例のように四角形のコ
ーナー部のみにあるサスペンダ支持枠のみの仮付けでは
十分な仮りの補正ができない場合は、OLB用ホールの中
間部に仮付け用リード又は仮付けのためのサスペンダ支
持枠を追加して実施することも可能である。従って、こ
の仮付け用リードの位置及び数にも制約はない。
In addition, an OLB that contains outer leads as the number of leads increases
If the temporary hole cannot be sufficiently corrected by temporarily fixing only the suspender support frame in the square corners as in the above example, the temporary lead or temporary hole may be placed in the middle of the OLB hole. It is also possible to add a suspender support frame for attachment. Therefore, there is no restriction on the position and number of the temporary attachment leads.

[発明の効果] 以上、説明したように本発明は、フィルムキャリヤ型半
導体装置のサスペンダ支持枠又はサスペンダ支持枠部に
設けられた仮付け用リードをプリント基板に仮付けして
サスペンダの反りを補正するから、他の部品と同様に、
また他の部品と同時に半田リフロー法によりフィルムキ
ャリヤ型半導体装置をプリント基板に実装することがで
きる。
As described above, according to the present invention, the suspender support frame of the film carrier type semiconductor device or the temporary attachment lead provided on the suspender support frame is temporarily attached to the printed circuit board to correct the warp of the suspender. Therefore, like other parts,
Further, the film carrier type semiconductor device can be mounted on the printed circuit board by the solder reflow method at the same time as other components.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の第1の実施例により製造されたフィル
ムキャリヤ型半導体装置の実装状態を示す斜視図、第2
図乃至第5図は本発明の第1の実施例に係るフィルムキ
ャリヤ型半導体装置の実装方法を示す図で、第2図及び
第4図は平面図、第3図及び第5図は断面図、第6図は
本発明の第2の実施例により実装されたフィルムキャリ
ヤ型半導体装置を示す平面図、第7図乃至第10図は従来
のフィルムキャリヤ型半導体装置の実装工程を示す図
で、第7図は平面図、第8図乃至第10図は断面図であ
る。 1,31;半導体チップ、2,32;サスペンダ、3,52;ボンディ
ングパッド、4;半田、5,35;インナーリード、6,36;アウ
ターリード、8;仮付け用リード、9,39;デバイスホー
ル、10,20,40;フィルムキャリヤテープ、11,41;スプロ
ケットホール、12;仮付け用リードホール、13,42;サス
ペンダ支持枠
FIG. 1 is a perspective view showing a mounted state of a film carrier type semiconductor device manufactured according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 5 to FIG. 5 are views showing a mounting method of the film carrier type semiconductor device according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 and FIG. 4 are plan views, and FIG. 3 and FIG. FIG. 6 is a plan view showing a film carrier type semiconductor device mounted according to a second embodiment of the present invention, and FIGS. 7 to 10 are views showing a mounting process of a conventional film carrier type semiconductor device, FIG. 7 is a plan view, and FIGS. 8 to 10 are sectional views. 1,31; Semiconductor chip, 2,32; Suspender, 3,52; Bonding pad, 4; Solder, 5,35; Inner lead, 6,36; Outer lead, 8; Temporary lead, 9,39; Device Hole, 10,20,40; film carrier tape, 11,41; sprocket hole, 12; lead hole for temporary attachment, 13,42; suspender support frame

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】半導体素子、この半導体素子に接続された
リード、リードを支持するサスペンダ、サスペンダ支持
枠部の一部及びこのサスペンダ支持枠部に設けられた仮
付け用リードを含む部分をフィルムキャリヤテープから
切断分離してリード成形する工程と、前記仮付け用リー
ドをプリント基板の所定の位置に接合する工程と、半田
リフロー法によりフィルムキャリヤ型半導体装置のリー
ドとプリント基板上のボンディングパッドとを接合する
工程とを有することを特徴とするフィルムキャリヤ型半
導体装置の実装方法。
1. A film carrier comprising a semiconductor element, a lead connected to the semiconductor element, a suspender for supporting the lead, a part of a suspender support frame part and a part including a temporary attachment lead provided in the suspender support frame part. A step of cutting and separating from the tape to form a lead; a step of joining the temporary attachment lead to a predetermined position of a printed board; a lead of a film carrier type semiconductor device and a bonding pad on the printed board by a solder reflow method. A method for mounting a film carrier type semiconductor device, comprising: a step of bonding.
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