JPH07105374A - 画像位置検出装置 - Google Patents

画像位置検出装置

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JPH07105374A
JPH07105374A JP5253367A JP25336793A JPH07105374A JP H07105374 A JPH07105374 A JP H07105374A JP 5253367 A JP5253367 A JP 5253367A JP 25336793 A JP25336793 A JP 25336793A JP H07105374 A JPH07105374 A JP H07105374A
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JP
Japan
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neuro
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Application number
JP5253367A
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English (en)
Inventor
Eisuke Fujimoto
穎助 藤本
Kenichi Masuda
健一 増田
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DAI ICHI SOKUHAN WORKS
DAIICHI SOKUHAN SEISAKUSHO KK
UNITEC DENSHI KK
Original Assignee
DAI ICHI SOKUHAN WORKS
DAIICHI SOKUHAN SEISAKUSHO KK
UNITEC DENSHI KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 画像位置を不鮮明な画像でも高精度に測定で
きるように構成し、位置検出の精度向上を図る画像位置
検出装置を提供する。 【構成】 計測用画像の特定範囲を切り出し検出する検
出手段と、この検出される特定範囲(検出窓)内の特定
の測定画像を記録する画像メモリ手段と、この手段の出
力を検出窓の一定方向に加算を行う加算手段と、この一
定方向に加算した各行若しくは各列毎の加算結果の情報
を入力するニューロ演算手段とを設けて、このニューロ
演算手段の出力により測定画像の位置を検出するように
構成し、更に加算手段とニューロ演算手段の間に、検出
窓よりも狭い所定幅で検出窓の一方から他方に向けて順
に所定のステップでの加算手段結果の情報を掃引して読
み出しニューロ演算手段に与える掃引手段を設け、各ス
テップ毎のニューロ演算手段の出力を判別し、この判別
結果と掃引手段の掃引回数とにより測定画像の画像位置
を判断する位置判断手段とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】特定の計測用画像の特定範囲内
(検出窓内として表現する)における特定の測定画像の
位置を検出する画像位置検出装置に関するもので、例え
ば基準位置から測定画像がどれだけずれているかを測定
するものである。
【0002】
【従来の技術】複数の被測定点に投影された反射像の距
離を測定して被測定物の複数測定点間の距離を測定する
光学式測長器として、本出願人による実願平5−503
59号(平成5年9月16日出願)が知られている。
【0003】この装置の概略は、前記出願番号の記載を
もって省略するが、簡単に説明すれば、図1に示すよう
な構成で、被測定点P1に投影した投影像Rの反射像を
光学系を介してCCDカメラKでとらえ、再びワークW
を移動させて被測定点P2に投影した投影像の反射像R
を光学系を介してCCDカメラKでとらえ、このワーク
Wの被測定点P1・P2間の距離をワークWの移動量と
して測定するものである。
【0004】このような装置において、CCDカメラで
とらえた反射像R(図1下図に示すようなモニタに写し
だされる反射像)の画像位置(中心位置)を正確に検出
する必要がある。
【0005】これまでの装置では、図2に示すように反
射像Rの中心に投影用レチクルによって帯状の暗部と、
中心点を境にした対称位置に高輝度部を設け、この反射
像中心部の高輝度部分を輝度レベルの高い位置を検出す
ることで求め、その1/2の位置を反射像の中心位置と
して測定していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法では、測定精度は、CCDの分解能に依存するところ
があり、これを解決する手法として前記装置はCCDに
結像させる反射像を光学的に拡大し、相対的にCCD出
力の分解能をあげている。しかしこの拡大も光学系自身
の分解能の影響を受け、その結像画像は図3に示すよう
に多少ぼける傾向があり、更に、被測定点の壁面の表面
粗さが悪いと反射像自身がぼける傾向があり、限界があ
る。
【0007】従って、これらのぼける測定画像(反射
像)より画像の中心位置を割り出すことは、通常の2値
化や最大値検出の画像位置検出手法では困難であり、こ
れに代わる手法が求められていた。
【0008】そこで、本発明は、ニューロ演算手段にて
画像を演算することにより、学習信号に近い画像入力で
は顕著に画像確認が可能であるため、掃引手段との組み
合わせにより画像位置を不鮮明な画像でも高精度に測定
できるように構成し、位置検出の精度向上を図るもので
ある。よって、被測定物の壁面の表面粗さや光学系の分
解能の影響無く測定画像の位置検出を高精度のものと
し、これにより前述のような光学式測長器の測定精度を
向上することができる。
【0009】
【課題を解決するための手段】添付図面を参照して本発
明の要旨を説明する。
【0010】映像カメラでとらえた所定の計測用画像の
位置を測定する画像位置検出装置において、計測用画像
の特定範囲を切り出し検出する検出手段と、この検出さ
れる特定範囲(検出窓)内の特定の測定画像を記録する
画像メモリ手段と、この画像メモリ手段の出力を検出窓
の一定方向に加算を行う加算手段と、この一定方向に加
算した各行若しくは各列毎の加算結果の情報を入力する
ニューロ演算手段とを設けて、このニューロ演算手段の
出力により測定画像の位置を検出するように構成したこ
とを特徴をとする画像位置検出装置に係るものである。
【0011】加算手段とニューロ演算手段の間に、検出
窓よりも狭い範囲の所定幅で検出窓の一方から他方に向
けて順に所定のステップで前述の加算手段結果の情報を
掃引して読み出しニューロ演算手段に与える掃引手段を
設け、各ステップ毎のニューロ演算手段の出力を判別
し、この判別結果と掃引手段の掃引回数とにより測定画
像の画像位置を判断する位置判断手段とを設けたことを
特徴をとする請求項1記載の画像検出装置に係るもので
ある。
【0012】
【作用】映像カメラでとらえた所定の計測用画像の特定
範囲内(検出窓内として表現する)の特定の測定画像が
画像メモリ手段により記録される。
【0013】この画像メモリ手段の出力が加算手段によ
り検出窓の一定方向に加算される。この画像メモリ手段
の各行若しくは各列毎に加算手段より加算された出力が
ニューロ演算手段に入力される。
【0014】このニューロ演算手段により測定画像の位
置が検出される。
【0015】この加算手段とニューロ演算装置との間に
掃引手段を設け、ニューロ演算手段に位置判断手段を設
けると、掃引手段により各行若しくは各列毎の加算手段
の加算結果情報のうち、検出窓よりも狭い範囲の所定幅
分が読み出され、この幅方向に所定ステップ毎掃引され
てこのスラップ毎の出力がニューロ演算手段に入力され
る。
【0016】この掃引スラップ毎のニューロ演算手段の
出力を判別し、適正に位置検出がなされる出力と、この
出力が出される掃引スラップの掃引回数とから、位置判
断手段により測定画像の位置が検出される。
【0017】
【実施例】ニューロ演算についての詳細は、例えば技術
評論社の「入門と実習ニューロコンピュータ」などに記
載されているが、本発明の理解の上で必要な概要をここ
で述べる。
【0018】ニューロ(Newron)はソフト的に
は、図4のように考えられる。Newronは複数の信
号入力(i0,i1,・・・in)とbias入力(i
b)が複数のWeight(W0,W1,・・・Wn.
Wb)とを介して与えられると、出力(O)に0から1
の間の値の信号が出力される関数系で置き換えられる。 このNewronを人間の脳細胞と同じように複数ケ互
いに接続してNeural Networkを構成する
のがニューロ演算手段として知られている。
【0019】ここでは、図5に示すように入力層と中間
層と出力層を有する3層の階層Networkをニュー
ロ演算手段として用いている。
【0020】この演算手段は所望の入力信号を各入力に
与え、前述の複数のWeightを所望の値に設定する
と出力変化特性を急進(0から1の間で出力される出力
カーブの傾きを急進)にすることができる。
【0021】よって、所望の入力信号(学習信号と言
う)を与えながら、始めはWeightは乱数として与
えられるが最急降下手法などで少しずつ夫々の値を変化
せしめていき最も出力が学習信号とそれ以外の信号との
出力差が急進に出力されるようにこの演算手段を学習せ
しむる(前述の所望の入力信号を学習信号,結果の出力
を教師信号(0〜1の値をとる)と言われている。)。
【0022】前述の学習信号について説明する。
【0023】本実施例では、本出願人による実願平5−
50359号に係る光学式測長器における反射像を計測
画像としてこの画像中心位置を検出する装置として本発
明を適用できるように構成したので、この光学式測長器
の構成作動については、前記出願番号を記載することで
省略するが、以下説明を本装置に基づいて説明する。 計測画像が特定の形状を持つもので、例えば十字型のレ
チクル反射像の場合は、検出窓の横方向から見た加算手
段の出力である加算レベルは図6イに示すの如くなり、
縦方向より見た加算レベルは同図ロの如くなる。
【0024】一方このような加算レベル信号が仮にぼけ
ていても、モニタによる目視判断の場合計測に熟練した
技術者は推測により正確な像を想定し計測判断すること
がある(具体的には、推測によりぼけた像をくっきりと
した像として想定し、丁度ロに示す如く二つの山の間隔
の中心位置をこの反射像の中心と想像測定し、この反射
像の中心がCCDカメラのモニタの中心指標となるよう
にワークを移動補正する。)。
【0025】そのことを考慮して各種ぼけた像を実測し
て妥当と考えられる信号を推定して作られた信号を設計
する。
【0026】このようにして作られた学習信号をニュー
ロ演算手段に与え学習させる。更にその学習信号の位相
を例えば横方向にずらして誤った入力信号を作り、これ
を入力に与えた場合には教師信号が0に近づくよう学習
させ、更に学習信号やWeightを実験的に改良変更
し作りあげてゆき、ぼけた像でもその像が入力されると
教師信号は1に近い値が出力され、ぼけた像でも位相が
ズレていると0に近い値が出力されるように学習させ
る。
【0027】このようにしてニューロネットワークは固
定され、作られる。従って、所定の画像入力に対しては
教師信号は敏感に作動するようになる。
【0028】ここでは、所定の信号が十字型のレチクル
反射像として説明したが、円形の画像を対象とする場合
は図7ハ,ニの如く学習信号は設定される。このように
測定対象画像が計測の前にあらかじめわかっていれば、
学習信号を設定することができるので、その画像のニュ
ーロ演算手段での判別が多くの任意画像に適用できる。
【0029】次に全体の構成を述べる。
【0030】前記光学式測定器に利用できるもので、映
像カメラでとらえた計測用画像Gここでは映像パターン
R・S1・S2の中心位置CH・CVを検出する画像位
置検出装置(図8に示す)をもって説明する。
【0031】計測用画像Gの所定の範囲を測定画像とし
て定める検出(窓)手段Wを設ける。この検出窓手段
は、ここでは画像のほぼ中央で水平方向26μs,垂直
方向20Hの範囲の画像信号を選定している。
【0032】この窓の大きさは画像の上に容易に設定で
きるためには大きい方がよいが、しかし、精度を上げる
ためには小さい方がよい。ここではパターンS1・S2
の縦幅よりも略30%広く検出窓縦幅を取っている。ま
た主に画像が移動する方向が横方向であるので、検出窓
の横幅は操作性を重視しながらできるだけ小さく構成す
るように配慮して反射像のパターンRの幅の略14倍に
設定してるいる(反射像移動量に勘算すると略43μ
s)。
【0033】前記の検出窓手段Wにて切り出された測定
画像の画像信号を記憶する画像メモリ手段MOを設け
る。ここでは、横方向256列,縦20行に、夫々25
6諧調の情報として記憶させる。
【0034】この画像メモリ手段MOの出力(情報)を
横方向に順次加算して20行分の加算データを出力する
第1の加算手段E1と、また画像メモリ手段MOの情報
を縦方向に順次加算して256行分の加算データを出力
する第2の加算メモリE2とを設ける。
【0035】また、前述の夫々の演算結果を夫々記憶す
る第1の加算メモリM1と第2の加算メモリM2を設け
る。
【0036】次に、第1の加算メモリM1の出力を入力
信号としニューロ演算を行う第1のニューロ演算手段N
1を設ける。
【0037】次に検出窓幅よりも狭い範囲の所定の幅で
検出窓幅の一方から他方に向けて一定のステップで順に
前記加算結果を第2加算メモリより読み出す掃引手段P
1を設ける。
【0038】次に掃引手段P1の出力を入力信号とし、
ニューロ演算を行う第2のニューロ演算手段N2を設け
る。
【0039】次に第2のニューロ演算手段の出力が1
(最大出力)に近い値を出力したときの掃引の位置(検
出窓に対する位置)を掃引回数から求めて判断する位置
判断手段H1を設ける。
【0040】尚、第1のニューロ演算手段の入力は第1
の加算メモリ出力と同じ20ケとしているが、入力信号
の画像のかたよりを見るために図9の如く3ケの出力
(O0,01,O2)を構成する。ここでは画像が中央
のときは、O0=1,上のときはO1=1,下のときは
O2=1の如く出力するように構成する。
【0041】つぎに掃引手段P1の入力は、第2の加算
メモリM2の256列分より少ない160列分とし、掃
引ステップを1列分とし96回掃引するように構成す
る。従って、第2のニューロ演算手段N2の入力は16
0ケでその出力は1ケとしている。
【0042】更に第2のニューロ演算手段N2の出力と
前述の掃引中の回数を入力として、測定画像の検出窓に
対する位置を判断する位置判断手段H1を設けている。
【0043】このように構成してなるので、図15に示
すフローチャートに示すように以下の如く作動する。
【0044】映像カメラにより十字型のレチクル反射像
S1・S2・Rは図6の如くとらえられ、図示しないが
位置検出開始の操作指令を与えると検出窓手段Wによっ
て図8の如く画像メモリ手段MOに記憶される。
【0045】記憶された画像メモリ手段MOの出力画像
情報は第1の加算手段E1により直ちに横方向に0行目
から19行目まで夫々加算が行われ、加算結果は第1の
加算メモリM1に20ケの情報として記憶される。引き
続き記憶された情報は20ケの入力を有する第1のニュ
ーロ演算手段N1により演算判断が行われる。その結果
として図10の如く3つの出力より画像パターンS1・
S2が検出窓Wの上側にあるか、中央にあるか、下側に
あるかが判断される。横方向の位置を測定するために必
要な画像情報のみを選択して不要部での後述する演算の
扱う画像情報のS/Nを上げ更に演算時間を短時間化す
るためにこの複数の判断結果を用いて処理する情報を絞
りこむ。
【0046】画像メモリ手段MOの縦方向の情報は20
行あるが、所定画像パターンS1・S2の縦方向の情報
はここでは前記メモリ上ではほぼ70%位の行に記録さ
れる如く検出窓幅が決められているので、以後の演算は
この画像の存在する部分の範囲を扱う。
【0047】よって、前記結果が上側にある時は2行か
ら9行目まで、中央のときは6行目から13行目まで、
下側のときは10行から最後の17行目までのいずれか
の8行分の画像メモリ手段MOの画像情報が第2の加算
メモリM2に記憶される。
【0048】次に掃引手段P1により図11,図12に
示す如く左側の0列から159列,1列目から160
列,2列目から161列目・・・95列目から255列
目の最後まで1列づつのズレで右に96回掃引して各1
60列分の第2加算メモリE2の情報を順に読み出され
る。読み出された情報は、160ケの入力を有する第2
のニューロ演算手段N2に与えられる。
【0049】いずれかの掃引時に読み出された情報が学
習信号に近い信号であると第2のニューロ演算手段N2
の出力は1(最大)の出力を発生する。それ以外の信号
のときは0に近い出力となる。
【0050】今、検出窓幅をDWとすると掃引手段P1
の掃引ピッチ(1列分)の幅は「DW/256」に相当
する。
【0051】一方、第2のニューロ演算手段N2の出力
が最大のときは、学習信号と一致したときであることよ
り画像パターンS1・S2・Rの中央に一致したときの
情報を得たことになる。
【0052】従って、何回目(N)の掃引で一致したか
がわかれば検出窓に対する前述画像パターンの中心の位
置DPがわかることになる。
【0053】よって、画像位置判断手段においては、図
13に示すように第2のニューロ演算手段N2の出力と
掃引回数よりDP=DW×((160/2)+N)/2
56の演算を行い画像の中心位置を求める。
【0054】例えば、DW=43μとしたとき、N=1
のときはDP=13.Oμ、N=48のときはDP=2
1.5μ:N=95のときはDP=29.4μ(分解能
V=DW/256よってDW=43μならV=0.17
μ)の如く画像の中心位置が正確に検出される。
【0055】所定の画像パターンS1・S2・Rが誤っ
た位置(検出窓以外の位置)におかれていたり、塵など
で所定画像と異なる画像となった場合は測定しても正し
い値が得られない。しかし通常の2値化や最大値検出等
の測定方法では、例えば図14に示す例のように誤って
計測してしまう危険があるが、本案は学習信号以外の画
像信号の場合は、ニューロ出力が大きくならないので、
誤りであることが容易にわかる。そのため前記の誤った
測定を回避することができる。
【0056】更に、本案では所定の画像の中心位置を求
めているが、位置判断手段の演算に画像の任意の距離を
演算に追加すれば画像の任意の位置を求めることも可能
である。
【0057】以上の各種手段は計測時間が多少かかって
もよければ通常のマイコンでも容易に構成でき、DSP
等を使用しての高速化も可能である。
【0058】実施例では所定の画像を投影し、その反射
像の位置を測定する例を示したが対象物を直接観察する
投影顕微鏡や工具顕微鏡のような直接画像で測定する場
合も対象画像が決まった形状の場合は、前述の学習信号
をあらかじめ設定できるので、容易にこれら直接像の位
置測定に応用できる。
【0059】測定画像は十字型のレチクル画像で説明し
たが、きまった形状で学習信号を設定可能であれば任意
の画像形状に本発明は応用できる。
【0060】
【発明の効果】本発明は学習信号を基にニューロ演算手
段を用いて測定するので、 不鮮明なS/Nの悪い画像でも的確にとらえ位置を
測定できる。
【0061】 ニューロ演算手段の作動は急進にでき
るので微妙な画像位置変化も判別でき測定精度を向上で
きる。
【0062】 検出窓より外れた画像を誤って測定す
ることを妨げる。
【0063】 塵などで画像が所定の形状と異なった
とき、誤って測定することを妨げる。
【0064】 不鮮明な画像でも測定できるので、
(分解能を上げるために)光学系の拡大率を上げられる
ので、測定精度を容易に上げられる。
【0065】 前記のように測定できるので反射像で
の計測は表面粗さの悪い対象でも測定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本出願人による実願平5−50359号に係る
光学式測長器の概略構成図である。
【図2】図1における拡大した反射像(計測用画像)を
示す説明図である。
【図3】図2におけるぼけた反射像を示す説明図であ
る。
【図4】本実施例のニューロ演算手段の説明図である。
【図5】本実施例のニューロ演算手段の階層Netwo
rkを示す説明図である。
【図6】本実施例の反射像(測定画像)を示す説明図で
ある。
【図7】本実施例の測定画像が円形の場合を説明するた
めの説明図である。
【図8】本実施例の検出窓手段並びに画像メモリ手段を
示す説明図である。
【図9】本実施例の第一ニューロ演算手段の構成説明図
である。
【図10】本実施例の第一ニューロ演算手段の作動説明
図である。
【図11】本実施例の第二ニューロ演算手段の構成説明
図である。
【図12】本実施例の第二ニューロ演算手段並びに掃引
手段の作動説明図である。
【図13】本実施例の位置判断手段の作動説明図であ
る。
【図14】本実施例を用いない検出方法では誤った測定
をし得ることを説明する説明図である。
【図15】本実施例の作動手順を示すフローチャート図
である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06T 7/60 H04N 7/18 K

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 映像カメラでとらえた所定の計測用画像
    の位置を測定する画像位置検出装置において、計測用画
    像の特定範囲を切り出し検出する検出手段と、この検出
    される特定範囲(検出窓)内の特定の測定画像を記録す
    る画像メモリ手段と、この画像メモリ手段の出力を検出
    窓の一定方向に加算を行う加算手段と、この一定方向に
    加算した各行若しくは各列毎の加算結果の情報を入力す
    るニューロ演算手段とを設けて、このニューロ演算手段
    の出力により測定画像の位置を検出するように構成した
    ことを特徴をとする画像位置検出装置。
  2. 【請求項2】 加算手段とニューロ演算手段の間に、検
    出窓よりも狭い範囲の所定幅で検出窓の一方から他方に
    向けて順に所定のステップで前述の加算手段結果の情報
    を掃引して読み出しニューロ演算手段に与える掃引手段
    を設け、各ステップ毎のニューロ演算手段の出力を判別
    し、この判別結果と掃引手段の掃引回数とにより測定画
    像の画像位置を判断する位置判断手段とを設けたことを
    特徴をとする請求項1記載の画像検出装置。
JP5253367A 1993-10-08 1993-10-08 画像位置検出装置 Pending JPH07105374A (ja)

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JP5253367A JPH07105374A (ja) 1993-10-08 1993-10-08 画像位置検出装置

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ID=17250367

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JP5253367A Pending JPH07105374A (ja) 1993-10-08 1993-10-08 画像位置検出装置

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JP (1) JPH07105374A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003047804A1 (fr) * 2001-12-04 2003-06-12 Yoshiyuki Onogi Procede de soudage en bout d'un corps tubulaire et corps tubulaire soude
JP2010133718A (ja) * 2008-12-02 2010-06-17 Seiko Epson Corp 作業対象物の位置検出方法および位置検出装置
WO2018042588A1 (ja) * 2016-09-01 2018-03-08 株式会社 東芝 部分放電監視システム

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