JP2971026B2 - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、微分処理によって
異常部分の検出を行う画像処理装置及び画像処理方法に
関する。

【０００２】

【従来の技術】図１１は、シート材４におけるピンホー
ル等の異常部分（以下、欠点Ｐ）を検出するための装置
を示し、１はライン状の走査領域を有するイメージセン
サであり、２は光源である。また、イメージセンサ１に
は制御装置３が接続されており、イメージセンサ１から
出力される画像データに基づいてここで欠点検査方法が
行われるようになっている。即ち、搬送されるシート材
４にピンホール等の欠点Ｐがある場合にはその位置では
光がイメージセンサ１に入光するから、それに応じた画
像データの変化からその欠点Ｐを検出せんとするもので
ある。しかしながら、欠点Ｐは微小であるため、イメー
ジセンサ１に対する入光は少なく、画像データは僅かに
しか変化しない。そのため、正常部分との区別がつきに
くく、従来では画像データを一旦図示しない記憶部に取
り込み、この画像データに対して微分処理を施して画像
を強調した後、欠点検出を行うようにしている。また、
この微分処理は、記憶部に記憶された各画像データに対
し、隣合う画像データとの差を求めることによって行わ
れる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところが、取り込まれ
た画像データにおける欠点部分の画像データの変化は、
常に一定ではなくシート材の材質やピンホールの孔径等
によって様々な態様の変化を示すため、上記構成のよう
に単に隣合う画素値との差を求めるという決まった位置
にある画素値との差を求める微分処理では、画像データ
の変化に応じて微分値を最適なものとすることができな
い場合があった。そのため、あるシート材の欠点に対し
て有効な微分処理であっても、他のシート材の欠点では
必ずしもその微分処理が有効なものとはならず、取り込
んだ画像を効果的に強調することができずに欠点検出に
誤りを生じてしまう事態が起こり得た。本発明は、上記
事情に鑑みてなされたもので、その目的は、画像データ
の変化に応じて確実に異常部分の検出が可能な画像処理
装置及び画像処理方法を提供するところにある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の画像処理装置は、イメージセンサによって
撮像された画像を記憶する記憶部と、記憶部に記憶され
た画像に対して一つの注目画素の画素値と他の参照画素
の画素値とを減算処理することにより画像強調を行う微
分手段とを備え、イメージセンサによって撮像された被
測定物上の異常部分の検出を行う画像処理装置におい
て、上記微分手段には、参照画素の画素値に対する記憶
部のアドレス番地を任意に選択し得る参照画素選択手段
を備えていることに特徴を有する（請求項１の発明）。

【０００５】また、本発明の画像処理方法は、イメージ
センサによって撮像された画像を記憶部に記憶し、その
記憶された画像に対して一つの注目画素の画素値と他の
参照画素の画素値とを減算処理することによって画像強
調を行い、それに基づき、イメージセンサによって撮像
された被測定物上の異常部分の検出を行う画像処理方法
において、減算処理する際における参照画素を選択可能
にすることに特徴を有する（請求項２の発明）。

【０００６】

【発明の作用・効果】本発明によれば、イメージセンサ
によって撮像された画像は記憶部に記憶される。そし
て、記憶部に記憶された画像に対して微分処理を行い、
画像強調を行う。ここで、微分処理は注目画素の画素値
と参照画素の画素値との差を求めることによって行われ
るが、この際、差を求める相手側である参照画素を任意
に選択することができる。従って、取り込んだ画像にお
ける異常部分の画素値の変化が一定でない場合でも、そ
の変化の様子に応じて微分値が最適となるように参照画
素を選択することができるから、これによって異常部分
の画像が効果的に強調され、もって確実に異常部分の検
出を行うことができる。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の画像処理装置及び
画像処理方法を具体化した一実施形態について図１〜図
１０を参照して説明する。 ＜画像処理装置の構成＞図１は、シート材１１の異常部
分（以下、ピンホールＰ）を後述する欠点検査方法に基
づいて検出するための画像処理装置を示し、シート材１
１が搬送される上方にはライン状の走査領域（以下、走
査ラインＬ）を有するイメージセンサ１２が受光口１２
ａをシート材１１に向けた姿勢で設置されている。ま
た、搬送されるシート材１１の下側にはシート材１１の
幅より広い光源１３が上記イメージセンサ１２の走査ラ
インＬに対応して設置されている。さらに、イメージセ
ンサ１２には、制御装置１４が接続されており、ここに
は、イメージセンサ１２から画像信号、走査信号、クロ
ック信号が出力される。

【０００８】走査信号は、イメージセンサ１２が走査中
である場合に出力（ハイレベル）され、その立ち上がり
部分は走査の開始を示す。また、この走査信号は、走査
ラインＬに対する走査毎に出力される。クロック信号
は、走査ラインＬ上の走査位置に対する走査タイミング
を示す信号であり、このクロック数を計数することによ
って走査ラインＬ上の走査位置を知ることができる。画
像信号は、クロック信号に同期して出力される信号であ
り、走査位置に対する受光量に応じて変化するアナログ
信号である。

【０００９】制御装置１４は、図２に示すように、中央
演算処理装置１５（以下、ＣＰＵ１５）、Ａ／Ｄ変換回
路１６、カウンタ回路１７、記憶部１８、出力部１９、
ＲＯＭ（読み出し専用メモリ）２０を備えて構成され
る。Ａ／Ｄ変換回路１６は、イメージセンサ１２から出
力される画像信号ｇをアナログ信号からデジタル信号に
変換するための回路であり、ここでデジタル信号に変換
された画像信号（以下、画像データ）はＣＰＵ１５によ
って読み取られる。カウンタ回路１７は、イメージセン
サ１２から走査信号ｓが出力（ハイレベル）されている
間に、クロック信号ｃが入力される毎にカウント動作を
行うように構成されている。従って、この計数値は走査
ラインＬ上の走査位置を示す。また、この計数値は、Ｃ
ＰＵ１５によって読み取られる。

【００１０】出力部１９は、後述する欠点検査方法に基
づいてＣＰＵ１５から出力される欠点信号ｋを後述する
ディスプレイ２１に出力するものであり、これにより欠
点検査結果がディスプレイ２１に表示される。また、欠
点信号ｋはこの出力部１９を介して図示しない外部装置
にも出力されるようになっている。記憶部１８は、Ｄ−
ＲＡＭ、或いはＳ−ＲＡＭによって構成され、Ａ／Ｄ変
換回路１６によってデジタル信号に変換された画像デー
タを記憶するための画像データ記憶部１８ａと、後述す
る微分手段３０によって微分された微分値を記憶するた
めの微分データ記憶部１８ｂと、やはり後述する欠点抽
出処理によって欠点抽出された結果を記憶する欠点抽出
記憶部１８ｃとから構成される。ＲＯＭ２０は、不揮発
性メモリであり、ここにはＣＰＵ１５を起動して、欠点
検査方法を行うためのプログラムが書き込まれている。

【００１１】さらに、制御装置１４には、ケース上面に
操作パネル２２が設けられており、そこには複数の設定
キー２３とモード設定キー２４とが配されている。モー
ド設定キー２４は、制御装置１４の状態を設定モードと
実行モードとの間で切り換えるためのキースイッチであ
り、設定キー２３は制御装置１４の設定モード時に各種
のデータを入力を行うためのキースイッチである。ここ
で、設定キー２３によって入力されるデータには、参照
変数Ｘ、基準値Ｂ、ビットマスク値Ｍがあり、実行モー
ドではこの入力されたデータに基づいて欠点検査方法が
実行される。また、制御装置１４にはディスプレイ２１
が設けられており、欠点信号ｋに基づいて判定結果が表
示されるとともに、画像データ記憶部１８ａに記憶され
た画像データや微分処理された微分値等に基づいて画像
信号波形や微分波形を表示することができるようになっ
ている。

【００１２】＜欠点検査方法＞欠点検査方法は、画像入
力処理、微分処理、欠点抽出処理、ビットマスク処理、
欠点判定処理を順に実行し、後述する初期設定作業によ
って予め設定された参照変数Ｘ、基準値Ｂ、ビットマス
ク値Ｍに基づいてシート材１１に対する欠点検査を行う
ものである。以下、欠点検査方法を図３に示すフローチ
ャートに基づいて説明する。

【００１３】まず、ＣＰＵによって画像入力処理が行わ
れる（ステップ１）。画像入力処理は、イメージセンサ
１２から出力される画像信号ｇに対する画像データを画
像データ記憶部１８ａに書き込むための処理である。即
ち、、カウンタ回路１７がクロック信号ｃによってカウ
ント動作される毎に、ＣＰＵ１５によってＡ／Ｄ変換回
路１６から画像データが読み取られる。そして、この画
像データは画像データ記憶部１８ａに、カウンタ回路１
７の計数値に対応するように下位アドレスから上位アド
レス方向に順番に書き込まれて行く。これにより、１ラ
イン分の画像データが走査位置に対応して画像データ記
憶部１８ａに書き込まれる。

【００１４】１ライン分の画像データが画像データ記憶
部１８ａに書き込まれたら、次述する微分手段３０によ
って各画像データに対して微分処理が行われる（ステッ
プ２）。即ち、画像データ記憶部１８ａに書き込まれた
画像データが下位アドレスから順番に読み出されるとと
もに、その読み出された画像データと、参照変数Ｘによ
って指定される画像データとの差を求めることによって
読み出された画像データに対する微分値が求められる。
そして、その微分値は微分データ記憶部１８ｂに下位ア
ドレスから順番に書き込まれて行く。

【００１５】ここで、微分手段３０は図４に示すよう
に、注目画素選択手段３１、参照画素選択手段３２、及
び減算手段３３を備えている。この注目画素選択手段３
１は、画像データ記憶部１８ａに対してアドレス番地を
下位アドレスから上位アドレス方向に順番に指定を行う
ためのアドレスデコーダである。そして、指定されたア
ドレス番地（Ｎ）（例えば、Ｎ＝１、２、３、・・・）
の画像データが注目画素値ＧN として減算手段３３に読
み込まれる。参照画素選択手段３２は、注目画素に対す
るアドレス番地（Ｎ）から参照変数Ｘを減算した値をア
ドレス番地（Ｎ−Ｘ）として指定するものであり、この
アドレス番地（Ｎ−Ｘ）の画像データは参照画素値ＧN-
X として減算手段３３に読み込まれる。たとえば、注目
画素選択手段３１によってアドレス番地（１００）が指
定されたとすると、１００番地の画像データが注目画素
値Ｇ100として減算手段３３に読み込まれる。また、参
照変数Ｘが「３」であるとすると、参照画素選択手段３
２によってアドレス番地（９７）が指定され、参照画素
値Ｇ97が減算手段３３に読み込まれる。減算手段３３
は、読み込んだ注目画素値ＧN から参照画素値ＧN-X を
減算することにより注目画素に対する微分値ΔＧN を求
めるものである。そして、求められた微分値ΔＧN は微
分データ記憶部１８ｂに注目画素のアドレス番地（Ｎ）
に対応するように下位アドレスから順番に書き込まれて
行く。

【００１６】さらに、微分手段３０による微分処理を図
５に示すフローチャートに基づいて詳述する。注目画素
選択手段３１によって指定されたアドレス番地（Ｎ）に
基づいて画像データ記憶部１８ａから注目画素値ＧN が
読み込まれる（ステップ２１）。次に、参照画素選択手
段３２によって指定されるアドレス番地（Ｎ−Ｘ）に基
づいて注目画素に対する参照画素値ＧN-X が読み込まれ
るのであるが、その前に、注目画素のアドレス番地
（Ｎ）と参照変数Ｘとを比較し（ステップ２２）、注目
画素のアドレス番地（Ｎ）が参照変数Ｘより小さい場
合、即ち、参照画素に対するアドレス番地（Ｎ−Ｘ）が
１以上でない場合には、参照画素のアドレス番地（Ｎ−
Ｘ）は一律に「１番地」とされて、その参照画素値Ｇ1
が読み込まれる（ステップ２３）。また、注目画素のア
ドレス番地Ｎが参照変数Ｘより大きい場合にはアドレス
番地Ｎから参照変数Ｘを減算した値の画像データが参照
画素値ＧN-X として読み込まれる（ステップ２４）。続
いて、注目画素値ＧN から参照画素値ＧN-X を減算する
ことによって微分値ΔＧN が求められる（ステップ２
５）。さらに、その微分値ΔＧN が微分データ記憶部１
８ｂにおける注目画素のアドレス番地（Ｎ）に対応する
アドレス番地に書き込まれる（ステップ２６）。そし
て、注目画素のアドレス番地Ｎがカウントアップされて
行くことによって、画像データ記憶部１８ａに記憶され
た画像データに対して順次微分値ΔＧN が求められ、全
ての画像データに対して微分値ΔＧN が求められたら微
分処理は終了する（ステップ２７）。

【００１７】全ての画像データに対する微分値ΔＧN が
微分データ記憶部１８ｂに書き込まれて微分処理が終了
すると、欠点抽出処理が行われる（ステップ３）。即
ち、図６に示すように、まず、微分データ記憶部１８ｂ
から微分値ΔＧN が下位アドレスから順番に読み込まれ
る（ステップ３１）。そして、読み込んまれた微分値Δ
ＧN と基準値Ｂとを比較し（ステップ３２）、微分値Δ
ＧN が基準値Ｂ以上でない場合には、欠点ではないと判
定されて、欠点抽出記憶部１８ｃに対して例えばロウ
（０）値が書き込まれる（ステップ３３）。また、微分
値ΔＧN が基準値Ｂ以上である場合には、欠点と判定さ
れて、欠点抽出記憶部１８ｃに対して例えばハイ（１）
値が書き込まれる（ステップ３４）。そして、全ての微
分値ΔＧN に対して欠点抽出が行われたか否かが判断さ
れて、行われていない時には微分データ記憶部１８ｂに
対するアドレス番地をカウントアップし、全ての微分値
ΔＧNに対して欠点抽出が行われる（ステップ３５）。

【００１８】続いて、欠点抽出処理が終了すると、欠点
抽出記憶部１８ｃに記憶された値に対してビットマスク
処理が行われる（ステップ４）。このビットマスク処理
は、欠点抽出記憶部１８ｃに記憶されている値のうち、
欠点と判定された場合の値、例えばハイ（１）値の連続
領域が、ビットマスク値Ｍ以下の場合にその連続領域を
例えばロウ（０）に置き換える処理である。即ち、欠点
と判定された領域がビットマスク値Ｍ以下の場合にはそ
の領域は欠点ではないとするものであり、例えば、ビッ
トマスク値Ｍが「５」である場合には、欠点抽出記憶部
１８ｃ内でハイ（１）値が４個連続する領域がある場合
にはこの領域はロウ（０）値に置き換えられる（図１０
参照）。

【００１９】さらに、ビットマスク処理がなされた欠点
抽出記憶部１８ｃの値に対して欠点判定処理が行われる
（ステップ５）。即ち、欠点抽出記憶部１８ｃに記憶さ
れ値の中に、欠点とされた場合の値、例えばハイ（１）
値が存在するか否かの判定が行われる。そして、ハイ
（１）値が存在すれば、欠点ありと判定され、ハイ
（１）値がなければ欠点なしと判定される。さらに、欠
点ありと判定された場合にはＣＰＵ１５から欠点信号ｋ
が出力され、そのことがディスプレイ２１に表示されて
シート材１１に対する走査はその時点で終了する。ま
た、欠点なしと判定された場合には、イメージセンサ１
２がシート材１１に対して次の走査を開始し、上記欠点
検査方法が繰り返される。

【００２０】＜作用＞次に、本実施形態の作用について
述べる。まず、シート材１１に対する欠点検査を行う前
に、作業者は初期設定作業を行う。即ち、参照変数Ｘ、
基準値Ｂ、ビットマスク値Ｍの設定を行う。それには、
欠点と認識すべきピンホールＰを有するシートをサンプ
ルとして用意しておき、そのピンホールＰに対してイメ
ージセンサ１２で走査を行う。すると、上記画像入力処
理によって、その走査に対する画像データは画像データ
記憶部１８ａに記憶される。かつ、画像データ記憶部１
８ａに記憶された画像データに基づいて画像信号波形が
ディスプレイ２１に再現される（図７参照）。ここで、
図７中、Ｅによって示される部分がピンホールＰに対す
る波形（以下、ピンホール波形）であり、その他の部分
ＦはピンホールＰのない正常な部分の波形（以下、正常
波形）である。

【００２１】参照変数Ｘの設定を行うには、モード設定
キー２４を一旦設定モードに切り換えて設定キー２３で
参照変数Ｘにまず「１」を入力し、入力したら再びモー
ド設定キー２４を実行モードに切り換えて微分処理を実
行する。さらに、モード設定キー２４を設定モードと実
行モードとの間で切り換えながら、参照変数Ｘを「１」
づつ順番に大きくして行き、ディスプレイ２１に表示さ
れる微分波形を観測する。そして、参照変数Ｘは、ディ
スプレイ２１に表示された微分波形が最大となる値とす
る。例えば、図８に示す波形（図７に示す画像信号波形
のうちピンホール波形を拡大した波形）では、注目画素
値ＧN （図中、ドットで示す値）は矢印方向に順番に微
分処理されて行くが、ピンホールＰに対応する点Ａ（例
えば、１００番地）を見るとその微分値ΔＧ100 は１つ
前の画素値Ｇ99 と減算するよりも２つ前の画素値Ｇ98
と減算したほうが大きくなり、その値が最大となるのは
３つ前のＢ点における画素値Ｇ97 と比較した場合であ
る。一方、Ｂ点から離れて行くと逆にその微分値ΔＧ10
0 は小さくなって行く。従って、参照変数Ｘを１から順
番に大きくして行った場合に、点Ａにおける微分波形が
最大となるのは参照変数Ｘに「３」を入力した場合であ
り、これに基づいて参照変数Ｘには「３」が設定され
る。なお、参照変数Ｘはピンホール波形Ｅにおいて必ず
しも微分波形が最大となる値でなくてもよく、ピンホー
ル波形Ｅが正常波形Ｆと比較して欠点と認識できる値で
あればよい。

【００２２】続いて、基準値Ｂの設定を行う。上記によ
って設定された参照変数Ｘで微分処理を行うと、ピンホ
ール波形Ｅは正常波形Ｆに対して強調される（図９参
照）。ここで、作業者は、その微分波形から、最も多い
レベルを示すＨと正常部分において最も高いレベルを示
すＬとの中間レベルを求める。この中間レベルが基準値
Ｂであり、作業者は、その値を設定キー２３を使って入
力する。

【００２３】さらに、ビットマスク値Ｍの設定を行う。
上記によって求めた基準値Ｂが入力されると、微分デー
タ記憶部１８ｂに記憶された微分値ΔＧN に対して欠点
抽出処理が行われる。そして、その結果の波形がディス
プレイ２１に表示される（図１０中、上側参照）。そし
て、設定キー２３を使ってビットマスク値Ｍを入力する
のであるが、この際、ピンホールＰを欠点として認識で
きる最小の値をビットマスク値Ｍとして入力する。例え
ば、図１０の上側に示すように、ピンホールＰに対応す
る部分が連続する６個のハイ（１）領域Ｃであるとする
と、ビットマスク値Ｍを５に設定する。これにより、連
続するハイ（１）領域が５個以下である領域Ｄは、マス
ク処理されてロウ（０）領域に置き換えられる（図１０
中、下側参照）。つまり、欠点抽出処理によって、欠点
とされた領域でも、ビットマスク値Ｍ以下の領域は欠点
と認識しないように置き直すことができ、これにより、
例えば作業者が欠点と認識できない程度の微小領域や、
ノイズによってハイ（１）領域とされてしまった部分を
欠点と認識しないようにすることができる。

【００２４】初期設定作業が終了したら、シート材１１
に対して欠点検査を行う。シート材１１は図１に示すよ
うに搬送され、シート材１１にピンホールＰがない場合
には光源１３からの光はシート材１１によって遮られ
る。そのため、イメージセンサ１２にはシート材１１に
対する測定領域内で光の入光はなく、画像データは変化
しない。従って、欠点検査方法において基準値Ｂ以上の
微分値ΔＧN は見つからず、欠点判定処理において欠点
と判定されることはない。一方、シート材１１にピンホ
ールＰがあると、そのピンホールＰが走査ラインＬ上に
さしかかるとイメージセンサ１２にはそのピンホールＰ
に対する走査位置で光の入光がある。そのため、取り込
まれた画像データのうち、ピンホールＰに対応する画像
データはシート材１１の部分とは異なった値とされる。
そして、画像データが参照変数Ｘに基づいて微分処理さ
れると、ピンホールＰに対応する部分の画像データは正
常な部分に対して強調されるから、その後、その微分値
ΔＧN は基準値Ｂより大きくなり、欠点判定処理で欠点
と判定される。さらに、その結果がディスプレイ２１に
表示されると、シート材１１の搬送はその時点で停止さ
れる。

【００２５】ところで、検査対象を変更する場合、例え
ば材質が異なるシート材１１に対して欠点検査を行う場
合には、そのシート材１１に対応したサンプルを用意し
ておく。そして、上記同様にしてそのサンプルを用いて
参照変数Ｘ、基準値Ｂ、ビットマスク値Ｍの初期設定を
行う。さらに、その設定値等に基づいてそのシート材１
１に対する欠点検査を行う。従って、検査対象が変更さ
れた場合でも、検査するシート材１１に対して最適な参
照変数Ｘに基づいて微分処理が行われるから、ピンホー
ルＰ等の欠点画像が効果的に強調され、その強調された
画像に対して欠点判定がなされることになる。

【００２６】＜効果＞このように本実施形態では、微分
処理する際に、注目画素に対する参照画素を参照画素選
択手段３２によって任意に選択することができるから、
注目画素値ＧN を最も適した値の参照画素値ＧN-X と比
較することができる。従って、注目画素に対する微分値
ΔＧN を常に最大となるように微分処理することができ
るから、微小領域にあっても効果的に画像を強調するこ
とができ、もってシート材１１におけるピンホールＰに
対する検査精度を向上させることができる。さらに、検
査対象を変更した場合でもそのシート材１１に応じて参
照変数Ｘ等の設定値を設定し直すことができるから、常
に画像データの変化に応じた最適な参照画素値ＧN-X を
用いて微分処理することができ、もって欠点画像が効果
的に強調されて確実にピンホールＰ等が検出される。ま
た、ビットマスク処理を行うことにより、作業者が欠点
と認識することができない程度のものや、ノイズ等の影
響によるものを排除することができ、ピンホールＰに対
する正確な判定結果を得ることができる。

【００２７】なお、本発明は上記実施形態に限定される
ものではなく、例えば次のように変形して実施すること
ができ、これらの実施形態も本発明の技術的範囲に属す
る。 （１） 上記実施形態では、参照変数Ｘは、予め作業者
が設定キー２３を使って初期設定をするものであった
が、これをプログラム化しておき、自動的に参照変数を
設定するようにしてもよい。たとえば、サンプルに対し
て画像データを取り込み、ピンホールに対応する注目画
素のアドレス番地を順次カウントダウンさせながら、そ
の注目画素値とカウントダウンされたアドレス番地の画
素値との差を求め、その差が最大になった時点のカウン
ト数を参照変数とするのである。

【００２８】（２） 上記実施形態では、基準値Ｂは作
業者がディスプレイ２１の波形を観測しながら設定する
ようになっていたが、これをプログラム化しておき、自
動的に設定されるようにしてもよい。例えば、ピンホー
ル波形の最高レベル値と正常波形の最高レベル値を求
め、その中間値を基準値としてもよい。

【００２９】（３） 上記実施形態では、注目画素値Ｇ
N は参照変数Ｘによってそのアドレス番地よりも下位の
ものと比較されたが、注目画素値ＧN のアドレス番地よ
り上位のものと比較するようにしてもよい。

【００３０】（４） 上記実施形態では、初期設定は微
分波形等をディスプレイ２１に表示させながら、各値の
設定を行うものであったが、単に数字が表示されるだけ
のものや、レベルが表示されるだけのものを用いて各値
を設定するようにしてもよい。

【００３１】（５） 上記実施形態では、欠点検査方法
はソフトウエアによって構成されるものであったが、そ
の一部或いは全てをハードウエアによって構成するもの
であってもよい。例えば、微分手段における減算手段を
減算器を用いて構成してもよい。

【００３２】（６） 上記実施形態では、微分値ΔＧN
は注目画素値ＧN から参照画素値ＧN-X を減算した値で
あるため「負」となる場合もあったが、絶対値を取って
「正」のみによって表してもよい。

【００３３】（７） 上記実施形態では、欠点と認識す
ると、欠点信号ｋを出力してシート材１１に対する走査
を終了してしまうが、終了してしまうことなく続いて次
の走査を行うようにしてもよい。

【００３４】（８） 上記実施形態では、欠点抽出処理
は欠点であると判定した場合にハイ（１）値を書き込
み、欠点でないと判定した場合にはロウ（０）値を書き
込むようになっていたが、逆に欠点であると判定した場
合にロウ（０）値を書き込み、欠点でないと判定した場
合にはハイ（１）値を書き込むようにしてもよい。要す
るに欠点である・ないを区別できるように書き込めばよ
い。その他、本発明は要旨を逸脱しない範囲内で種々変
更して実施することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施形態の全体を示す斜視図である。

【図２】制御装置のブロック図である。

【図３】欠点検査方法を示すフローチャートである。

【図４】微分手段を示すブロック図である。

【図５】微分処理を示すフローチャートである。

【図６】欠点抽出処理を示すフローチャートである。

【図７】画像信号を示す波形図である。

【図８】ピンホール波形を示す波形図である。

【図９】微分波形を示す波形図である。

【図１０】ビットマスク処理を示す波形図である。

【図１１】従来例を示す斜視図である。

【符号の説明】

１１…シート材 １２…イメージセンサ １８…記憶部 ３０…微分手段 ３２…参照画素選択手段 ＧN …注目画素値（注目画素の画素値） ＧN-X …参照画素値（参照画素の画素値）

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−80744（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−163067（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−166751（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−66144（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−174359（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01N 21/88 G01B 11/24 G06T 7/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 イメージセンサによって撮像された画像
   を記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された画像に対
   して一つの注目画素の画素値と他の参照画素の画素値と
   を減算処理することにより画像強調を行う微分手段とを
   備え、前記イメージセンサによって撮像された被測定物
   上の異常部分の検出を行う画像処理装置において、 前記微分手段には、参照画素の画素値に対する前記記憶
   部のアドレス番地を任意に選択し得る参照画素選択手段
   を備えていることを特徴とする画像処理装置。
2. 【請求項２】 イメージセンサによって撮像された画像
   を記憶部に記憶し、その記憶された画像に対して一つの
   注目画素の画素値と他の参照画素の画素値とを減算処理
   することによって画像強調を行い、それに基づき、前記
   イメージセンサによって撮像された被測定物上の異常部
   分の検出を行う画像処理方法において、 減算処理する際における前記参照画素を選択可能にする
   ことを特徴とする画像処理方法。