JPH0695071B2 - ２次元電気泳動ゲル用像計測装置 - Google Patents
２次元電気泳動ゲル用像計測装置Info
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- JPH0695071B2 JPH0695071B2 JP58226489A JP22648983A JPH0695071B2 JP H0695071 B2 JPH0695071 B2 JP H0695071B2 JP 58226489 A JP58226489 A JP 58226489A JP 22648983 A JP22648983 A JP 22648983A JP H0695071 B2 JPH0695071 B2 JP H0695071B2
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- measuring device
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 この発明は２次元電気泳動ゲル用像計測装置に関し、詳
しくはデンシトメータを備えた２次元電気泳動スキヤナ
における２次元電気泳動ゲルの測定構造の改良に関する
ものである。
しくはデンシトメータを備えた２次元電気泳動スキヤナ
における２次元電気泳動ゲルの測定構造の改良に関する
ものである。
（ロ）従来技術 一般に２次元電気泳動のゲルに現われた泳動パターンに
対してデンシトメトリーを行なう場合、従来の２次元電
気泳動ゲル用像計測装置は、第１図に示すように、透光
薄層板（薄層プレート）（１）上の電気泳動ゲル（２）
に、照射光（３）を当て、前記薄層板（１）に平行な１
次元イメージセンサ（４）の受光面に、電気泳動ゲル
（以下ゲルと称す）（２）の一部分の像を結像させて観
測していた。
対してデンシトメトリーを行なう場合、従来の２次元電
気泳動ゲル用像計測装置は、第１図に示すように、透光
薄層板（薄層プレート）（１）上の電気泳動ゲル（２）
に、照射光（３）を当て、前記薄層板（１）に平行な１
次元イメージセンサ（４）の受光面に、電気泳動ゲル
（以下ゲルと称す）（２）の一部分の像を結像させて観
測していた。
しかし、この方法では、照射光がゲル（２）面に対して
完全に垂直な平行光線でない場合には、ゲル（２）が所
定の厚さを有しているために、ゲル（２）の前記センサ
（４）側の測定対象スポツト（５）とこのスポツト下方
の透光薄層板（１）に垂直なゲル（２）断面上のスポツ
ト（６）に光が回り込み１次元イメージセンサ（４）上
に結像されるため、これらのスポツト（５）（６）があ
たかもゲル（２）の同一水平面上に並んでいるかのよう
に誤つて読み取られ、誤つた測定が行なわれる可能性が
あつた。
完全に垂直な平行光線でない場合には、ゲル（２）が所
定の厚さを有しているために、ゲル（２）の前記センサ
（４）側の測定対象スポツト（５）とこのスポツト下方
の透光薄層板（１）に垂直なゲル（２）断面上のスポツ
ト（６）に光が回り込み１次元イメージセンサ（４）上
に結像されるため、これらのスポツト（５）（６）があ
たかもゲル（２）の同一水平面上に並んでいるかのよう
に誤つて読み取られ、誤つた測定が行なわれる可能性が
あつた。
例えば、米国アルゴンヌ国立研究所のフラツトベツド形
スキヤナは、透光薄層板上の試料ゲルを結像レンズを介
して１次元イメージセンサの受光面に結像させる方式で
あるが、光源として通常の単純な螢光灯を用いているた
め、明らかに前記ゲルに前記のごとく光の回り込みが発
生すると共に、結像レンズに螢光灯からの照射光が平行
光線として入射することなく、約10゜傾斜して入射して
いると言われている。すなわち、結像レンズの光軸と、
結像レンズ及びゲル上のスポツト間とを結ぶ線との成す
結像角度が約10゜をなしている。そのため、前記ゲルの
厚さと結像角との相互作用によつて、前記のごとく読み
取り誤差が生じることがあり、従ってゲルそのものを高
速のスキヤンを行なわせて測定することが難しかつた。
スキヤナは、透光薄層板上の試料ゲルを結像レンズを介
して１次元イメージセンサの受光面に結像させる方式で
あるが、光源として通常の単純な螢光灯を用いているた
め、明らかに前記ゲルに前記のごとく光の回り込みが発
生すると共に、結像レンズに螢光灯からの照射光が平行
光線として入射することなく、約10゜傾斜して入射して
いると言われている。すなわち、結像レンズの光軸と、
結像レンズ及びゲル上のスポツト間とを結ぶ線との成す
結像角度が約10゜をなしている。そのため、前記ゲルの
厚さと結像角との相互作用によつて、前記のごとく読み
取り誤差が生じることがあり、従ってゲルそのものを高
速のスキヤンを行なわせて測定することが難しかつた。
そのため、以上の問題を避けるために、照射光を透光薄
板に対して垂直な垂直光のみに絞り、透光薄層板を機械
的手段を用いて水平方向に移動させてゲル面を測定して
いたが、ゲル面の一部分ずつを順次測定していくため、
測定所要時間が長くなる欠点があつた。
板に対して垂直な垂直光のみに絞り、透光薄層板を機械
的手段を用いて水平方向に移動させてゲル面を測定して
いたが、ゲル面の一部分ずつを順次測定していくため、
測定所要時間が長くなる欠点があつた。
（ハ）目 的 この発明は以上の事情に鑑みなされたもので、ゲル面の
全面をゲル面に対して垂直な平行光線で照射して光の回
り込みを防ぐことによつて、ゲル上のスポツトの読取り
誤差を無くすと共に、測定所要時間を大幅に短縮しよう
とするものである。
全面をゲル面に対して垂直な平行光線で照射して光の回
り込みを防ぐことによつて、ゲル上のスポツトの読取り
誤差を無くすと共に、測定所要時間を大幅に短縮しよう
とするものである。
（ニ）構 成 この発明の構成は、光源からの照射光によつて、フイル
ム状の２次元電気泳動ゲルの全面を結像させる、このゲ
ルと平行な２次元イメージセンサ板と、前記ゲルの入射
側近傍に取り替え可能に設置され、入射光を平行光線束
として出射させて、前記ゲル全面に垂直に照射光を入射
させる、少なくとも前記ゲルと同面積以上の平面積を有
するコリメーターレンズとを備えてなる２次元電気泳動
ゲル用像計測装置である。
ム状の２次元電気泳動ゲルの全面を結像させる、このゲ
ルと平行な２次元イメージセンサ板と、前記ゲルの入射
側近傍に取り替え可能に設置され、入射光を平行光線束
として出射させて、前記ゲル全面に垂直に照射光を入射
させる、少なくとも前記ゲルと同面積以上の平面積を有
するコリメーターレンズとを備えてなる２次元電気泳動
ゲル用像計測装置である。
（ホ）実施例 以下図に示す実施例に基づいてこの発明を詳述する。な
お、これによつてこの発明は限定されるものではない。
お、これによつてこの発明は限定されるものではない。
第２図は２次元電気泳動ゲル用像計測装置（７）の全体
構成を示す図である。
構成を示す図である。
（８）は光源ランプであり、このランプから発光する１
つの照射光の光路上に、光源ランプ（８）側から順に、
集光レンズａ（９）、ピンホールを有するスリットａ
（10）、コリメーターレンズ（11）、差し替え可能な狭
帯域型干渉フイルター（12）、集光レンズｂ（13）、ス
リツトｂ（14）、角型コリメーターレンズ（15）、２次
元電気泳動ゲル取付部（16）（以下ゲル取付部と称
す）、結像用角型レンズ（17）、最終結像用レンズ（1
8）及び２次元イメージセンサ（19）を備えている。
つの照射光の光路上に、光源ランプ（８）側から順に、
集光レンズａ（９）、ピンホールを有するスリットａ
（10）、コリメーターレンズ（11）、差し替え可能な狭
帯域型干渉フイルター（12）、集光レンズｂ（13）、ス
リツトｂ（14）、角型コリメーターレンズ（15）、２次
元電気泳動ゲル取付部（16）（以下ゲル取付部と称
す）、結像用角型レンズ（17）、最終結像用レンズ（1
8）及び２次元イメージセンサ（19）を備えている。
前記スリツトｂ（14）は、第３図に示すように正方形板
からなり、その中央に集光レンズｂ（13）の円形の焦点
像に内接する正方形の小孔（20）が穿設されている。干
渉フイルター（12）は、結像用角型レンズ（17）以降の
光学系を簡素化するために、予め照射光を単色化するも
ので、照射光の波長の切換はこのフイルター（12）を差
し替えて行う。また前記イメージセンサ（19）は、テレ
ビカメラなどに用いる固体の半導体素子であり、この素
子の規模は、例えば、測定すべきゲルの１辺が100mmな
らば1000×1000画素程度は必要である。
からなり、その中央に集光レンズｂ（13）の円形の焦点
像に内接する正方形の小孔（20）が穿設されている。干
渉フイルター（12）は、結像用角型レンズ（17）以降の
光学系を簡素化するために、予め照射光を単色化するも
ので、照射光の波長の切換はこのフイルター（12）を差
し替えて行う。また前記イメージセンサ（19）は、テレ
ビカメラなどに用いる固体の半導体素子であり、この素
子の規模は、例えば、測定すべきゲルの１辺が100mmな
らば1000×1000画素程度は必要である。
前記角型コリメーターレンズ（15）は、フイルム状の２
次電気泳動ゲル（21）（以下ゲルと称す）と同寸法で、
縦及び横の長さがそれぞれ30cmの正方形の取り替え又は
差し替え可能な凸レンズからなり、入射光を平行光線束
として出射させるように入射側が平面で、出射側が凸面
に構成されている。また結像用角型レンズ（17）もゲル
（21）と同寸法の正方形の断面が３日月型の差し替え可
能なレンズからなる。
次電気泳動ゲル（21）（以下ゲルと称す）と同寸法で、
縦及び横の長さがそれぞれ30cmの正方形の取り替え又は
差し替え可能な凸レンズからなり、入射光を平行光線束
として出射させるように入射側が平面で、出射側が凸面
に構成されている。また結像用角型レンズ（17）もゲル
（21）と同寸法の正方形の断面が３日月型の差し替え可
能なレンズからなる。
以上の構成からなる２次元電気泳動ゲル用像計測装置
（７）を用いて厚さ1.0〜1.5mm、縦・横30cmの正方形の
ゲル（21）を測定する方法を説明する。
（７）を用いて厚さ1.0〜1.5mm、縦・横30cmの正方形の
ゲル（21）を測定する方法を説明する。
まず光源ランプ（８）から発光する照射光（22）を集光
レンズａ（９）でその焦点位置にあるスリツトａ（10）
のピンホールに一旦集光させる。そしてこの照射光（2
2）をコリメーターレンズ（11）から干渉フイルター（1
2）を透過させて単色化して、集光レンズｂ（13）でそ
の焦点位置にあるスリツトｂ（14）の小孔（20）に再び
集光させる。次いで小孔（20）によつて絞られた照射光
（22）を角型コリメーターレンズ（15）に入射させて、
平行光線束を出射させる。そしてゲル（21）の全面を完
全垂直に透過させて、一旦角型結像レンズ（17）で第２
図Ａ−Ｂにゲル（21）の逆さの像を結像させた後に、最
終結像レンズ（18）で正像に戻して２次元イメージセン
サ（19）の受光面に、光の回り込みのないゲル（21）全
面を正しく結像させて、数十〜数百msecの短時間でゲル
（21）全面を測定する。
レンズａ（９）でその焦点位置にあるスリツトａ（10）
のピンホールに一旦集光させる。そしてこの照射光（2
2）をコリメーターレンズ（11）から干渉フイルター（1
2）を透過させて単色化して、集光レンズｂ（13）でそ
の焦点位置にあるスリツトｂ（14）の小孔（20）に再び
集光させる。次いで小孔（20）によつて絞られた照射光
（22）を角型コリメーターレンズ（15）に入射させて、
平行光線束を出射させる。そしてゲル（21）の全面を完
全垂直に透過させて、一旦角型結像レンズ（17）で第２
図Ａ−Ｂにゲル（21）の逆さの像を結像させた後に、最
終結像レンズ（18）で正像に戻して２次元イメージセン
サ（19）の受光面に、光の回り込みのないゲル（21）全
面を正しく結像させて、数十〜数百msecの短時間でゲル
（21）全面を測定する。
以上のごとく２次元泳動ゲル用像計測装置（７）を構成
することによって、以下に挙げる効果を得ることができ
る。
することによって、以下に挙げる効果を得ることができ
る。
（ａ）試料としての２次元電気泳動ゲルをメカニカルに
移動させてスキヤンさせる必要が皆無となるため、その
測定所要時間を大幅に短縮できる。
移動させてスキヤンさせる必要が皆無となるため、その
測定所要時間を大幅に短縮できる。
（ｂ）照射光を２次元電気泳動ゲルの一部分に絞つて測
定する手数を省くことができる。
定する手数を省くことができる。
（ｃ）２次元電気泳動ゲル面全体を完全な平行光線束で
照射することにより余分な光の回り込みを防ぐことがで
き、それによつてこのゲル上のスポツトの読取り誤差を
なくすことができる。
照射することにより余分な光の回り込みを防ぐことがで
き、それによつてこのゲル上のスポツトの読取り誤差を
なくすことができる。
また、この装置（７）において、ゲル（21）の縦・横の
寸法が変つた場合は、このゲル寸法と同一の角型コリメ
ーターレンズ及び結像用角型レンズに、これらのレンズ
を差し替えて測定を行うこともでき、さらにゲルが第２
図のゲル（21）よりも小さい場合には、第２図の角型コ
リメーターレンズ（15）とゲル（21）との間、及びゲル
（21）と結像用角型レンズ（17）との間に、平行光線束
をゲルの大きさに遮光する遮光板をそれぞれ設けて測定
することもできる。この場合これらの遮光板は、角型コ
リメーターレンズ（15）と結像用角型レンズ（17）との
間に、共通の遮光板取付基準原点を決めて取り付ける。
寸法が変つた場合は、このゲル寸法と同一の角型コリメ
ーターレンズ及び結像用角型レンズに、これらのレンズ
を差し替えて測定を行うこともでき、さらにゲルが第２
図のゲル（21）よりも小さい場合には、第２図の角型コ
リメーターレンズ（15）とゲル（21）との間、及びゲル
（21）と結像用角型レンズ（17）との間に、平行光線束
をゲルの大きさに遮光する遮光板をそれぞれ設けて測定
することもできる。この場合これらの遮光板は、角型コ
リメーターレンズ（15）と結像用角型レンズ（17）との
間に、共通の遮光板取付基準原点を決めて取り付ける。
また、第２図の光源ランプ（８）から角型コリメーター
レンズ（15）までの光学部材をゲル取付部（16）より右
側、すなわち２次元イメージセンサ（19）側に移して、
ゲル（21）に反射光が入射するように配置すればTLC用
の薄層プレートなどを用いる反射吸収法により薄層プレ
ート上に展開されたスポツトをも測定することができ
る。
レンズ（15）までの光学部材をゲル取付部（16）より右
側、すなわち２次元イメージセンサ（19）側に移して、
ゲル（21）に反射光が入射するように配置すればTLC用
の薄層プレートなどを用いる反射吸収法により薄層プレ
ート上に展開されたスポツトをも測定することができ
る。
（ヘ）効 果 この発明は、２次元電気泳動ゲルの全面を結像させる２
次元イメージセンサと、前記ゲルの入射側に、入射光を
平行光線束として出射させてゲル全面に垂直に照射光を
入射させるコリメーターレンズとを備えることによつ
て、試料としての２次元電気泳動ゲルの測定所要時間を
大幅に短縮でき、しかも２次元電気泳動ゲルに余分な光
の回り込みを防ぐことができ、それによつて前記ゲル面
のスポツトの読取り誤差をなくすことができるようにす
るものである。また、少なくともゲルと同面積以上の平
面積を有するコリメーターレンズによつて、光源の点灯
とほぼ同時にゲル全面に平行光線束を照射することがで
きる。従つて、測定時間を大幅に短縮することが可能と
なる。
次元イメージセンサと、前記ゲルの入射側に、入射光を
平行光線束として出射させてゲル全面に垂直に照射光を
入射させるコリメーターレンズとを備えることによつ
て、試料としての２次元電気泳動ゲルの測定所要時間を
大幅に短縮でき、しかも２次元電気泳動ゲルに余分な光
の回り込みを防ぐことができ、それによつて前記ゲル面
のスポツトの読取り誤差をなくすことができるようにす
るものである。また、少なくともゲルと同面積以上の平
面積を有するコリメーターレンズによつて、光源の点灯
とほぼ同時にゲル全面に平行光線束を照射することがで
きる。従つて、測定時間を大幅に短縮することが可能と
なる。
第１図は従来の２次元電気泳動ゲル用像計測装置の要部
構成説明図、第２図はこの発明に係る２次元電気泳動ゲ
ル用像計測装置の一実施例を示す構成説明図、第３図は
このスリツトｂの正面図である。 （７）……２次元電気泳動ゲル用像計測装置、 （８）……光源ランプ、（15）……角型コリメーターレ
ンズ、 （17）……結像用角型レンズ、（18）……最終結像用レ
ンズ、 （19）……２次元イメージセンサ、 （21）……２次元電気泳動ゲル。
構成説明図、第２図はこの発明に係る２次元電気泳動ゲ
ル用像計測装置の一実施例を示す構成説明図、第３図は
このスリツトｂの正面図である。 （７）……２次元電気泳動ゲル用像計測装置、 （８）……光源ランプ、（15）……角型コリメーターレ
ンズ、 （17）……結像用角型レンズ、（18）……最終結像用レ
ンズ、 （19）……２次元イメージセンサ、 （21）……２次元電気泳動ゲル。
Claims (2)
- 【請求項１】光源からの照射光によつて、フイルム状の
２次元電気泳動ゲルの全面を結像させる、このゲルと平
行な２次元イメージセンサ板と、前記ゲルの入射側近傍
に取り替え可能に設置され、入射光を平行光線束として
出射させて、前記ゲル全面に垂直に照射光を入射させ
る。少なくとも前記ゲルと同面積以上の平面積を有する
コリメーターレンズとを備えてなる２次元電気泳動ゲル
用像計測装置。 - 【請求項２】２次元イメージセンサ板の受光面に前記ゲ
ルを結像させるための結像レンズが、２次元イメージセ
ンサ板と２次元電気泳動ゲルとの間に複数個設置されて
なる特許請求の範囲第１項記載の２次元電気泳動ゲル用
像計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58226489A JPH0695071B2 (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | ２次元電気泳動ゲル用像計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58226489A JPH0695071B2 (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | ２次元電気泳動ゲル用像計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60115831A JPS60115831A (ja) | 1985-06-22 |
| JPH0695071B2 true JPH0695071B2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=16845896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58226489A Expired - Lifetime JPH0695071B2 (ja) | 1983-11-29 | 1983-11-29 | ２次元電気泳動ゲル用像計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0695071B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023248280A1 (ja) * | 2022-06-20 | 2023-12-28 | 株式会社東陽テクニカ | マイクロチップ、２次元試料分離システム及びマイクロチップの製造方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5449184A (en) * | 1977-09-26 | 1979-04-18 | Agency Of Ind Science & Technol | Analyzer |
| JPS5451576A (en) * | 1977-09-30 | 1979-04-23 | Oki Electric Ind Co Ltd | Concentration measurement method |
| JPS566140A (en) * | 1979-06-28 | 1981-01-22 | Tokyo Optical Co Ltd | Spectrophotometer for trace sample |
| JPS5666738A (en) * | 1979-11-05 | 1981-06-05 | Anritsu Corp | Spectrometer for gas measurement |
| US4412744A (en) * | 1981-06-01 | 1983-11-01 | E. I. Du Pont De Nemours & Co. | Absolute spectrophotometer |
-
1983
- 1983-11-29 JP JP58226489A patent/JPH0695071B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60115831A (ja) | 1985-06-22 |
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