JPH0694524A - 光パワーメータ - Google Patents
光パワーメータInfo
- Publication number
- JPH0694524A JPH0694524A JP24151592A JP24151592A JPH0694524A JP H0694524 A JPH0694524 A JP H0694524A JP 24151592 A JP24151592 A JP 24151592A JP 24151592 A JP24151592 A JP 24151592A JP H0694524 A JPH0694524 A JP H0694524A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- measured
- laser
- power meter
- drive circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】複数の光パワーメータを使用する際、被測定半
導体レーザの異なる接続極性に対応でき、かつ正確な感
度補正が可能。 【構成】自動パワー制御回路６はレーザドライブ回路５
を制御して半導体レーザ１の出射光束を一定にする。ド
ライブ電流制限回路７はレーザドライブ回路５を制御し
て半導体レーザ１の駆動電流を制限する。接続極性選択
部１０は極性の異なる半導体レーザ１とレーザドライブ
回路５とを接続する。高周波重畳回路８は半導体レーザ
１に高周波を重畳して給電する。
導体レーザの異なる接続極性に対応でき、かつ正確な感
度補正が可能。 【構成】自動パワー制御回路６はレーザドライブ回路５
を制御して半導体レーザ１の出射光束を一定にする。ド
ライブ電流制限回路７はレーザドライブ回路５を制御し
て半導体レーザ１の駆動電流を制限する。接続極性選択
部１０は極性の異なる半導体レーザ１とレーザドライブ
回路５とを接続する。高周波重畳回路８は半導体レーザ
１に高周波を重畳して給電する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク装置のピック
アップおよび、その光源である半導体レーザの光出力を
測定する光パワーメータに関するものである。
アップおよび、その光源である半導体レーザの光出力を
測定する光パワーメータに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の光パワーメータは、図８に示すよ
うに、光出力計測部３と、光出力表示部４で構成され、
外部には光検出部２が配置されている。半導体レーザ１
の光出力を測定する場合は、まず、半導体レーザ１が出
射した光束を光検出部２で捕らえる。この時、光検出部
２は図７に示すように、ヘッド１３と受光素子１４によ
って構成されており、実際に出射された光束は受光素子
１４に入射する。光検出部２の受光素子１４に入射した
光束の光出力は電流に変換させ、ケーブル１５によって
光パワーメータ１２の光出力計測部３に伝達される。光
出力計測部３では入力された電流を測定し、光出力表示
部４にその光出力を表示させる。
うに、光出力計測部３と、光出力表示部４で構成され、
外部には光検出部２が配置されている。半導体レーザ１
の光出力を測定する場合は、まず、半導体レーザ１が出
射した光束を光検出部２で捕らえる。この時、光検出部
２は図７に示すように、ヘッド１３と受光素子１４によ
って構成されており、実際に出射された光束は受光素子
１４に入射する。光検出部２の受光素子１４に入射した
光束の光出力は電流に変換させ、ケーブル１５によって
光パワーメータ１２の光出力計測部３に伝達される。光
出力計測部３では入力された電流を測定し、光出力表示
部４にその光出力を表示させる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来の光パワーメ
ータは、１台の光パワーメータを使用する場合には特に
問題ないが、複数台のパワーメータを使用する場合に
は、受光素子の感度の違い等により測定値にバラツキを
生じる。そのため基準の光パワーメータを選定し、その
光パワーメータに対する他の光パワーメータの相関係数
を測定により各々に求め、それぞれの光パワーメータの
出力値に補正を行って使用しなければならない。更に半
導体レーザは発振波長の中心値に対して数１０ｎｍの幅
でバラツキがあるため、半導体レーザを決定しておかな
いと、基準となる光パワーメータの受光素子の波長依存
性により感度バラツキを生じてしまうため、基準となる
光パワーメータの決定とともに、光源である半導体レー
ザ（ピックアップでもよい）と、そのドライバも併せて
決定しなければならない。中心波長の全く違う半導体レ
ーザにて補正を行おうとした場合も同様である。
ータは、１台の光パワーメータを使用する場合には特に
問題ないが、複数台のパワーメータを使用する場合に
は、受光素子の感度の違い等により測定値にバラツキを
生じる。そのため基準の光パワーメータを選定し、その
光パワーメータに対する他の光パワーメータの相関係数
を測定により各々に求め、それぞれの光パワーメータの
出力値に補正を行って使用しなければならない。更に半
導体レーザは発振波長の中心値に対して数１０ｎｍの幅
でバラツキがあるため、半導体レーザを決定しておかな
いと、基準となる光パワーメータの受光素子の波長依存
性により感度バラツキを生じてしまうため、基準となる
光パワーメータの決定とともに、光源である半導体レー
ザ（ピックアップでもよい）と、そのドライバも併せて
決定しなければならない。中心波長の全く違う半導体レ
ーザにて補正を行おうとした場合も同様である。
【０００４】つぎに、基準となる半導体レーザと光源を
決定した場合に問題となってくるのは半導体レーザドラ
イバの接続極性である。半導体レーザは図６に示すよう
にレーザダイオードＬＤと内蔵の受光素子ＰＤのそれぞ
れの組合せにより４つのタイプが存在するため、半導体
レーザドライバもそれぞれのタイプの半導体レーザ極性
に対応するようにその都度接続替えしなければならなか
った。
決定した場合に問題となってくるのは半導体レーザドラ
イバの接続極性である。半導体レーザは図６に示すよう
にレーザダイオードＬＤと内蔵の受光素子ＰＤのそれぞ
れの組合せにより４つのタイプが存在するため、半導体
レーザドライバもそれぞれのタイプの半導体レーザ極性
に対応するようにその都度接続替えしなければならなか
った。
【０００５】また、半導体レーザ１と光検出部２とのか
んごうが充分でない場合には、出射された光束を受光素
子が全て取り込まないため、正確に測定がおこなわれな
いばかりか、出力表示部４の表示値のみを参照して、レ
ーザドライバ１８の駆動電流を増加した場合、半導体レ
ーザ１の駆動電流が絶対定格を越える過電流となり、半
導体レーザ１を破壊してしまう危険性がある。
んごうが充分でない場合には、出射された光束を受光素
子が全て取り込まないため、正確に測定がおこなわれな
いばかりか、出力表示部４の表示値のみを参照して、レ
ーザドライバ１８の駆動電流を増加した場合、半導体レ
ーザ１の駆動電流が絶対定格を越える過電流となり、半
導体レーザ１を破壊してしまう危険性がある。
【０００６】本発明の目的は、複数の光パワーメータを
使用する際、被測定半導体レーザの接続極性に対応で
き、かつ正確な感度補正が可能な光パワーメータを提供
することにある。
使用する際、被測定半導体レーザの接続極性に対応で
き、かつ正確な感度補正が可能な光パワーメータを提供
することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光パワーメータ
は、半導体レーザの光出力または半導体レーザを光源と
して記録媒体に光学的に記録，再生する光ディスク装置
のピックアップの出射パワーを測定する光パワーメータ
において、被測定半導体レーザを接続するコネクタ部
と、前記被測定半導体レーザに前記コネクタ部を介して
給電するレーザドライブ回路と、前記被測定半導体レー
ザの出射光束を集光する光検出部と、この光検出部が出
力する光出力を計測する光出力計測部と、この計測値を
表示する光出力表示部とを有する。
は、半導体レーザの光出力または半導体レーザを光源と
して記録媒体に光学的に記録，再生する光ディスク装置
のピックアップの出射パワーを測定する光パワーメータ
において、被測定半導体レーザを接続するコネクタ部
と、前記被測定半導体レーザに前記コネクタ部を介して
給電するレーザドライブ回路と、前記被測定半導体レー
ザの出射光束を集光する光検出部と、この光検出部が出
力する光出力を計測する光出力計測部と、この計測値を
表示する光出力表示部とを有する。
【０００８】また前記レーザドライブ回路と接続して前
記被測定半導体レーザの発光出力を安定化する自動パワ
ー制御回路と、前記レーザドライブ回路と接続して前記
被測定半導体レーザの過電流を防止するドライブ電流制
限回路と、前記被測定半導体レーザの極性に対応し前記
レーザドライブ回路の接続極性を選択する接続極性選択
部と、前記被測定半導体レーザに高周波を重畳して給電
する高周波重畳回路を有する。
記被測定半導体レーザの発光出力を安定化する自動パワ
ー制御回路と、前記レーザドライブ回路と接続して前記
被測定半導体レーザの過電流を防止するドライブ電流制
限回路と、前記被測定半導体レーザの極性に対応し前記
レーザドライブ回路の接続極性を選択する接続極性選択
部と、前記被測定半導体レーザに高周波を重畳して給電
する高周波重畳回路を有する。
【０００９】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は発明の第１の実施例を示すブロック図であ
る。本実施例は、半導体レーザ１と、半導体レーザを接
続するコネクタ部１１と、コネクタ部を介して半導体レ
ーザを駆動するレーザドライブ回路５と、半導体レーザ
が出射する光束を検出する光検出部２と、光検出部が出
力する電流値を測定する光出力計測部３と、測定結果を
表示する光出力表示部４から構成する。
る。図１は発明の第１の実施例を示すブロック図であ
る。本実施例は、半導体レーザ１と、半導体レーザを接
続するコネクタ部１１と、コネクタ部を介して半導体レ
ーザを駆動するレーザドライブ回路５と、半導体レーザ
が出射する光束を検出する光検出部２と、光検出部が出
力する電流値を測定する光出力計測部３と、測定結果を
表示する光出力表示部４から構成する。
【００１０】まず、基準光源となる半導体レーザ１をリ
ード線１６によって本体のコネクタ部１１に接続する。
コネクタ部１１は、光パワーメータ１２に内蔵されてい
るレーザドライブ回路５とのアタッチメントであるた
め、レーザドライブ回路５によって半導体レーザ１の発
光が可能となる。そして、この基準光源である半導体レ
ーザ１出射の光束を光検出部２で捕らえてその測定した
光出力を基準として、他の光パワーメータのパワー校正
をおこなう。
ード線１６によって本体のコネクタ部１１に接続する。
コネクタ部１１は、光パワーメータ１２に内蔵されてい
るレーザドライブ回路５とのアタッチメントであるた
め、レーザドライブ回路５によって半導体レーザ１の発
光が可能となる。そして、この基準光源である半導体レ
ーザ１出射の光束を光検出部２で捕らえてその測定した
光出力を基準として、他の光パワーメータのパワー校正
をおこなう。
【００１１】図２は第２の実施例を示すブロック図であ
る。この実施例では、レーザドライブ回路５に自動パワ
ー制御回路６が付加されており、この自動パワー制御回
路６により基準光源である半導体レーザ１の出力を一定
にし、結果としてはパワー校正時の基準光源の出力変動
を防止する。
る。この実施例では、レーザドライブ回路５に自動パワ
ー制御回路６が付加されており、この自動パワー制御回
路６により基準光源である半導体レーザ１の出力を一定
にし、結果としてはパワー校正時の基準光源の出力変動
を防止する。
【００１２】図３は第３の実施例を示すブロック図であ
る。この実施例では、第２の実施例のレーザドライブ回
路５に、さらに、ドライブ電流制限回路７を付加した例
である。このドライブ電流制限回路７は、レーザドライ
ブ回路５およびＡＰＣ回路６と連動して動作し、半導体
レーザ１の駆動電流を制御することにより、ＡＰＣ回路
６の暴走や、駆動電流の誤設定による半導体レーザ１の
破壊を防止する。
る。この実施例では、第２の実施例のレーザドライブ回
路５に、さらに、ドライブ電流制限回路７を付加した例
である。このドライブ電流制限回路７は、レーザドライ
ブ回路５およびＡＰＣ回路６と連動して動作し、半導体
レーザ１の駆動電流を制御することにより、ＡＰＣ回路
６の暴走や、駆動電流の誤設定による半導体レーザ１の
破壊を防止する。
【００１３】図４は第４の実施例を示すブロック図であ
る。この実施例は、第３の実施例のコネクタ部１１とレ
ーザドライブ回路５との間に接続極性選択部１０を付加
した例である。この接続極性選択部１０は図７に示す半
導体レーザのそれぞれの接続極性を選択して、レーザド
ライブ回路５に基準光源である半導体レーザ１の接続極
性に見合った接続を行うものであり、これによりどんな
タイプの半導体レーザも同一のレーザドライブ回路５に
て発光可能にする。
る。この実施例は、第３の実施例のコネクタ部１１とレ
ーザドライブ回路５との間に接続極性選択部１０を付加
した例である。この接続極性選択部１０は図７に示す半
導体レーザのそれぞれの接続極性を選択して、レーザド
ライブ回路５に基準光源である半導体レーザ１の接続極
性に見合った接続を行うものであり、これによりどんな
タイプの半導体レーザも同一のレーザドライブ回路５に
て発光可能にする。
【００１４】図５は第５の実施例を示すブロック図であ
る。この実施例は第４の実施例に高周波重畳回路８を付
加した例である。この高周波重畳回路８は、接続された
半導体レーザ１に高周波を重畳して半導体レーザ１のノ
イズを軽減するためのものであり、これにより基準光源
の発振波長を安定化して、光検出部２の受光素子１４の
波長依存性を回避する。
る。この実施例は第４の実施例に高周波重畳回路８を付
加した例である。この高周波重畳回路８は、接続された
半導体レーザ１に高周波を重畳して半導体レーザ１のノ
イズを軽減するためのものであり、これにより基準光源
の発振波長を安定化して、光検出部２の受光素子１４の
波長依存性を回避する。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、光パワー
メータにレーザドライブ回路と高周波重畳回路と半導体
レーザのレーザドライブ回路への接続極性を選択する接
続切替選択部を備え、被測定半導体レーザの出力光束を
計測できるので、複数台の光パワーメータを使用する際
に半導体レーザの受光素子の感度のバラツキ等による感
度補正が容易にかつ正確にできる。また、半導体レーザ
へ駆動電流を制御することにより、被測定半導体レーの
破壊を防止できると共に、ドライブ回路と被測定半導体
レーザの接続極性を選択接続できるので、１つのドライ
ブ回路で異なる極性の被測定半導体レーザに対応でき
る。更に、高周波を重畳して被測定半導体レーザを駆動
することにより被測定半導体レーザの発振波長を安定化
し受光素子の波長依存性を回避できる。
メータにレーザドライブ回路と高周波重畳回路と半導体
レーザのレーザドライブ回路への接続極性を選択する接
続切替選択部を備え、被測定半導体レーザの出力光束を
計測できるので、複数台の光パワーメータを使用する際
に半導体レーザの受光素子の感度のバラツキ等による感
度補正が容易にかつ正確にできる。また、半導体レーザ
へ駆動電流を制御することにより、被測定半導体レーの
破壊を防止できると共に、ドライブ回路と被測定半導体
レーザの接続極性を選択接続できるので、１つのドライ
ブ回路で異なる極性の被測定半導体レーザに対応でき
る。更に、高周波を重畳して被測定半導体レーザを駆動
することにより被測定半導体レーザの発振波長を安定化
し受光素子の波長依存性を回避できる。
【図１】本発明の第１の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明の第２の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】本発明の第３の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図４】本発明の第４の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図５】本発明の第５の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図６】半導体レーザの極性を示すブロック図である。
【図７】光検出部２の構成の一例を示す図である。
【図８】従来の光パワーメータのブロック図である。
１ 半導体レーザ ２ 光検出部 ３ 光出力検出部 ４ 光出力表示部 ５ レーザドライブ回路 ６ ＡＰＣ回路 ７ ドライブ電流制限回路 ８ 高周波重畳回路 １０ 接続極性選択部 １１ コネクタ部 １２ 光パワーメータ １３ ヘッド １４ 受光素子 １５ ケーブル １６ リード線 １７ レーザドライバ接続端子 １８ レーザドライバ
Claims (5)
- 【請求項１】 半導体レーザの光出力または半導体レー
ザを光源として記録媒体に光学的に記録，再生する光デ
ィスク装置のピックアップの出射パワーを測定する光パ
ワーメータにおいて、被測定半導体レーザを接続するコ
ネクタ部と、前記被測定半導体レーザに前記コネクタ部
を介して給電するレーザドライブ回路と、前記被測定半
導体レーザの出射光束を集光する光検出部と、この光検
出部が出力する光出力を計測する光出力計測部と、この
計測値を表示する光出力表示部とを有することを特徴と
する光パワーメータ。 - 【請求項２】 前記レーザドライブ回路と接続して前記
被測定半導体レーザの発光出力を安定化する自動パワー
制御回路を有することを特徴とする請求項１記載の光パ
ワーメータ。 - 【請求項３】 前記レーザドライブ回路と接続して前記
被測定半導体レーザの過電流を防止するドライブ電流制
限回路を有すことを特徴とする請求項１および請求項２
記載の光パワーメータ。 - 【請求項４】 前記被測定半導体レーザの極性に対応し
前記レーザドライブ回路の接続極性を選択する接続極性
選択部を介して前記レーザドライブ回路と前記コネクタ
部とを接続することを特徴とする請求項１，請求項２お
よび請求項３記載の光パワーメータ。 - 【請求項５】 前記被測定半導体レーザに高周波を重畳
して給電する高周波重畳回路を有することを特徴とする
請求項１，請求項２，請求項３および請求項４記載の光
パワーメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24151592A JPH0694524A (ja) | 1992-09-10 | 1992-09-10 | 光パワーメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24151592A JPH0694524A (ja) | 1992-09-10 | 1992-09-10 | 光パワーメータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0694524A true JPH0694524A (ja) | 1994-04-05 |
Family
ID=17075492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24151592A Withdrawn JPH0694524A (ja) | 1992-09-10 | 1992-09-10 | 光パワーメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0694524A (ja) |
-
1992
- 1992-09-10 JP JP24151592A patent/JPH0694524A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991130 |