JPH0689000A

JPH0689000A - 複写機のミラー汚れ検出装置

Info

Publication number: JPH0689000A
Application number: JP4239841A
Authority: JP
Inventors: Masaru Ushio; 勝牛尾; Junji Sato; 純二佐藤; Kazuhisa Maruyama; 和久丸山; Kazuhiro Nakazawa; 和浩中沢
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 1992-09-08
Filing date: 1992-09-08
Publication date: 1994-03-29
Also published as: US5423512A

Abstract

(57)【要約】【目的】複写機におけるミラー汚れを、原稿濃度センサ
を用いて高精度に検出する。【構成】自動濃度調整のために原稿濃度を検出する濃度
センサ31の出力信号を、個別に設けられた２系統のアン
プ回路Ａ，Ｂにそれぞれ入力させる。前記アンプ回路Ａ
は、原稿濃度検出用として設けられており、全光量域を
略均等に読み取れる特性にセットされている。一方、ア
ンプ回路Ｂは、ミラー汚れ検出用として設けられてお
り、光量の多い側で広いダイナミックレンジを有するよ
うにセットされている。そして、基準濃度部からの反射
光を濃度センサに入光させ、このときに前記アンプ回路
Ｂを介して出力されるセンサ出力のレベル変化に基づい
て、ミラー汚れを検出させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は複写機のミラー汚れ検出
装置に関し、詳しくは、原稿からの反射光を反射させる
ミラーの汚れを、前記ミラーを介して入光される基準濃
度部からの反射光量に基づいて検出する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般的な複写機としては、透明ガラス上
に置かれた原稿を下方から照明しつつ、その反射光像を
ミラーで反射させてレンズユニットにて感光体ドラム上
に結像させ、該結像した像を前記感光体ドラム上にトナ
ー像として現像した後、複写紙に転写して定着する構成
のものが知られている (特開昭６４−８２０６８号公報
等参照) 。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、かかる構成
の複写機においては、原稿の光像を反射するミラーがト
ナー等によって汚れてくると、ミラーの反射率が低下
し、複写記録の濃度が濃くなり、複写物が全体的に黒ず
んでくるという問題があった。このため、前記ミラーの
汚れを検出できる装置の提供が望まれるが、ミラーの汚
れを検出するために専用のセンサを設けることは、コス
トアップになってしまう。そこで、原稿濃度に応じて複
写記録される複写物の濃度を自動的に調整する自動濃度
調整用として従来から備えられている原稿濃度センサを
用い、基準濃度部（基準白色板）における反射光量を前
記原稿濃度センサで検出させ、前記ミラーの汚れによっ
て前記基準濃度部からの反射光量が低下することを検出
させる装置を、先に提案した（特願平４−１８７１４２
号参照）。

【０００４】しかしながら、原稿濃度センサによる原稿
濃度検出系においては、種々の原稿濃度に対応できるよ
うに、広い光量範囲を読み取れるように設定されている
ため、かかる原稿濃度検出系をそのまま用いたのでは、
ミラー汚れによる僅かな光量低下を高精度に検出するこ
とができないという問題があった。また、高精度にミラ
ー汚れの検出させるためには、原稿濃度センサ等のばら
つきに対応するために、センサの出力処理系（アンプ回
路）の調整（ゲイン，オフセット調整）を行う必要が生
じるが、サービスマン等がテスターを用いて前記調整を
行うことは煩雑であるという問題があった。

【０００５】本発明は上記問題点に鑑みなされたもので
あり、原稿濃度センサを用いたミラー汚れ検出の精度を
向上させると共に、前記精度を確保するための調整作業
を自動化することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】そのため本発明にかかる
複写機のミラー汚れ検出装置は、光源からの照明光を原
稿に照射し、原稿からの反射光をミラーに反射させて光
学系で結像させ、該結像した光画像を現像する構成であ
ると共に、前記ミラーを介して入光される原稿からの反
射光量を検出する原稿濃度センサと、この原稿濃度セン
サによる濃度検出の基準となる基準濃度部とを備えた複
写機において、原稿濃度検出系と、この原稿濃度検出系
よりも高反射率側でダイナミックレンジの広いミラー汚
れ検出系との２系統の出力処理回路それぞれに前記原稿
濃度センサから検出信号を入力させ、前記原稿濃度検出
系の出力処理回路を介して得られる原稿濃度センサの検
出信号に基づいて原稿濃度を検出する一方、基準濃度部
からの反射光を前記原稿濃度センサに入光させたときに
前記ミラー汚れ検出系の出力処理回路を介して得られる
原稿濃度センサの検出信号に基づいて前記ミラーの汚れ
状態を検出する構成とした。

【０００７】また、光源からの照明光を原稿に照射し、
原稿からの反射光をミラーに反射させて光学系で結像さ
せ、該結像した光画像を現像する構成であると共に、前
記ミラーを介して入光される原稿からの反射光量を検出
する原稿濃度センサと、該原稿濃度センサによる濃度検
出の基準となる基準濃度部とを備えた複写機において、
前記基準濃度部からの反射光を前記原稿濃度センサに入
光させたときに、前記原稿濃度センサから出力処理回路
を介して出力される検出信号に基づいて前記ミラーの汚
れ状態を検出する構成としたミラー汚れ検出装置におい
て、前記光源を予め設定された相互に異なる第１光量レ
ベルと第２光量レベルとに切り換えて作動させ、前記基
準濃度部からの反射光を前記原稿濃度センサに入光さ
せ、前記両光量レベルのときに前記出力処理回路を介し
てそれぞれ出力される検出信号の偏差が所定値になるよ
うに前記出力処理回路を調整するよう構成した。

【０００８】

【作用】かかる構成の複写機のミラー汚れ検出装置によ
ると、原稿濃度センサを本来の原稿濃度の検出用として
用いるための出力処理回路と、ミラー汚れの検出用とし
て用いるための出力処理回路とが個別に２系統設けられ
ており、然も、ミラー汚れ検出系の出力処理回路は、原
稿濃度検出系よりも高反射率側でダイナミックレンジが
広くなるように設定されている。従って、出力処理回路
を使い分けることで、種々の原稿濃度を広く読み取るこ
とができると共に、高反射率側でのミラー汚れによる反
射率の低下を、原稿濃度センサを用いて高精度に検出し
得る。

【０００９】また、光源を第１光量レベルと第２光量レ
ベルとに切り換えて作動させれば、ミラー汚れによって
第１光量レベルと第２光量レベルとの偏差分だけ光量が
低下した状態を疑似的に作り出すことができ、このとき
の検出信号の偏差が所定値になるように出力処理回路を
調整すれば、実際の反射光量レベルの低下に対して一定
に出力変化を得る調整が行える。

【００１０】

【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。図１は、
本発明に係るミラー汚れ検出装置を備えた複写機の全体
構成を示す。まず、基本的な構成及び動作を説明する
と、原稿Ｐはプラテンガラス１上に置かれ、原稿カバー
２を閉じ、複写開始スイッチ３を押すと、露光ユニット
４が副走査方向に移動する。露光ユニット４にはランプ
（光源）５及び第１ミラー６が一体に装着されており、
副走査方向の移動により原稿Ｐの記録面がプラテンガラ
ス１を介して照明され、その反射光が副走査方向に直交
する主走査方向に長いスリットを介して第１ミラー６に
導かれ、該第１ミラー６により副走査方向に向けて反射
される。

【００１１】露光ユニット４の副走査方向には、可動ミ
ラーユニット７が備えられる。該可動ミラーユニット７
は上下に第２ミラー８及び第３ミラー９が線対称状に装
着されており、露光ユニット４と同一方向で１／２の速
度で移動しつつ、前記露光ユニット４の第１ミラー６か
らの反射光を第２ミラー８，第３ミラー９が順次反射し
てレンズユニット (光学系) 10へ導く。

【００１２】レンズユニット10で集光された原稿Ｐの光
像は、レンズユニット10後方に配設された第４ミラー1
1，第５ミラー12，第６ミラー13に順次反射した後、回
転する感光体ドラム14上に結像される。該感光体ドラム
14の外周面には光導電層が設けられ、前記光学系からの
像が導かれる前に、直流高電圧が印加されて例えば正に
一様に帯電されており、この状態から前記光学系の露光
走査により光像を受けると、受光された部分の帯電電荷
はドラム14の金属面に放出され、受光されない残りの部
分が正に帯電されたままとなる。これにより、光導電層
の面に原稿の画像に対応した静電潜像が形成される。

【００１３】感光体ドラム14が更に回転すると、前記正
の電荷が帯電している部分に現像装置15から負電荷を有
するトナーが静電力で吸引され、トナー像が形成され
る。複写紙は、給紙ユニット16内の選択された給紙カセ
ットから給紙ローラ17を介して供給され、該複写紙に直
流高圧が印加された転写極18によって前記トナー像が転
写される。トナー像を転写された複写紙は交流電圧が印
加された分離極19により感光体ドラム14から分離され、
更に定着器20へ搬送されトナー像が定着され、その後排
紙ローラ21によって所定のトレイ22上に送り出される。

【００１４】次に、自動濃度調整のために設けられた構
成について図２及び図３に基づいて説明する。図２及び
図３において、レンズユニット10の外側に位置して、原
稿濃度を検出する濃度センサ（ＥＥセンサ）31が装着さ
れている。該濃度センサ31は、原稿Ｐからの反射光を第
１ミラー６，第２ミラー８及び第３ミラー９を介して入
射し、入射光量を光電変換して検出することによって、
原稿Ｐの平均的な濃度を検出するものであり、この濃度
センサ31によって検出される原稿濃度に応じて記録濃度
を自動調整する自動濃度調整モード（ＥＥモード）が選
択できるようになっている。

【００１５】一方、プラテンガラス１の先端部を保持す
る枠体32の下面に表面濃度を基準濃度（基準白色）に設
定した基準濃度部33（基準白色板）が装着してある。そ
して、図示のように露光ユニット４が原稿載置領域の外
側の領域にあるときに、基準濃度部33からの反射光が第
１ミラー６によって反射され、更に、可動ミラーユニッ
ト７の第２ミラー８，第３ミラー９を順次反射して、前
記濃度センサ31に入射するように設定されている。

【００１６】そして、自動濃度調整モードが選択されて
いるときには、複写記録のための露光走査に先立って予
備走査が行われ、前記濃度センサ31で原稿からの反射光
を検知させる。更に、原稿濃度を検知した後に、前記基
準濃度部33からの反射光量を検出させ、前記基準濃度部
33からの反射光量を基準濃度として原稿濃度を判定し、
該判定結果に基づいて自動濃度調整（原稿濃度に応じた
バイアスデータの出力）を実行する。

【００１７】ここで、前記濃度センサ31は、図４に示す
ように、光電変換素子41，電流電圧変換回路42，アンプ
回路43を備えて構成される。そして、該濃度センサ31か
らの入射光量に応じて出力される検出信号（電圧信号）
は、図４に示すように、自動濃度調整用（ＥＥ用）と、
ミラー汚れ検出用とで個別に２系統設けられたアンプ回
路（出力処理回路）Ａ，Ｂにそれぞれ入力され、図示し
ないマイクロコンピュータにそれぞれＡ／Ｄ変換されて
読み込まれる。

【００１８】前記アンプ回路Ａ，Ｂにおける特性は、図
５に示すように設定されており、自動濃度調整用のアン
プ回路Ａでは、種々の原稿濃度に広く対応できるよう
に、反射率０％から100 ％までの全域について分解能を
有するように設定してあるのに対し、ミラー汚れ検出用
のアンプ回路Ｂでは、高反射率側（90％〜100 ％）だけ
で最小値から最大値までのダイナミックレンジを使い切
るようにして、高反射率側をより高い分解能で読み取れ
るように設定してある。

【００１９】これにより、基準濃度部33（白色基準板）
からの反射光を各種ミラーを介して濃度センサ31で検出
するときに、ミラーの汚れによる僅かな光量の低下を専
用のアンプ回路Ｂを用いて高精度に検知することが可能
となる。例えば濃度センサ31が、図６に示すような出力
特性である場合、光量が０％から100 ％までの範囲を検
出する自動濃度調整においては、センサばらつきがあっ
ても最低で0.28Ｖ、最大で1.25Ｖのダイナミックレンジ
を、センサ出力が備えることになるが、一般的なミラー
汚れでは、10％以内の光量変化を捉える必要があり、こ
の場合、ダイナミックレンジの最も狭いセンサで0.028
Ｖ、最大のダイナミックレンジを有するセンサでも0.12
5 Ｖの範囲内で光量変化を捉える必要が生じる。

【００２０】従って、自動濃度調整用の検出データをそ
のままミラー汚れ検出に流用して、ミラー汚れを検出さ
せると、ミラー汚れによる僅かな光量変化を高精度に捉
えることが困難である。ミラー汚れ検出においては、光
量100 ％〜90％の範囲内で広いダイナミックレンジを確
保したいので、前述のように、ゲイン特性の異なる２つ
のアンプ回路Ａ，Ｂを設け、自動濃度調整用としては０
％から100 ％までの光量範囲で出力がなだらかに変化し
て広い光量範囲を検出できるようにし、また、ミラー汚
れ検出用としては、光量100 ％〜90％の範囲内で最小出
力から最大出力まで急激に変化して前記高反射率側の光
量範囲を高い分解能で検出できるようにした。

【００２１】前記濃度センサ31，基準濃度部33，アンプ
回路Ｂを用いたミラー汚れ検出は、具体的には以下のよ
うにして行われる。即ち、図７に示すように、作像完了
後に、露光ユニット４がホームサーチ動作をするとき
に、基準ポジションセンサ（基準ＰＳ）による最初の検
出タイミングでランプ５に最大電圧を印加してミラー汚
れ検出用として作像動作とは関係なくランプ５をＯＮさ
せ、基準濃度部33からの反射光が濃度センサ33に入射す
る位置であることが基準濃度ポジションセンサ（白色板
ＰＳ）で検出されると、そのときにアンプ回路Ｂを介し
て読み込まれる反射光量データをサンプリングする。

【００２２】そして、前記サンプリングされた反射光量
データと、汚れの無い状態に対応する基準反射光量デー
タとを比較し、反射光量が所定レベル以上に低下してい
ることが検出されると、これをミラーの汚れによるもの
と判断する。上記のようにしてミラーの汚れが検出され
ると、ミラー汚れの発生を警告するランプを点灯させた
り、又は、ミラーの汚れ度合いに応じて複写時にランプ
５の光量を増大調整したり、現像時の現像濃度を減少補
正し、原稿画像の反射光の光量がミラー汚れによって低
下し、通常よりも濃く複写記録されてしまうことを回避
する。

【００２３】ところで、前記濃度センサ31を用いた自動
濃度調整機能を有した複写機においては、前記濃度セン
サ31の特性ばらつきなどに対応するために、前記アンプ
回路Ａのゲイン調整及びオフセット調整を行うのが通例
となっており、本実施例のようにミラー汚れ検出用とし
て別系統のアンプ回路Ｂを設けた場合にも、同様にゲイ
ン調整，オフセット調整を自動的に行って、安定した検
出精度が確保できるようにすることが望まれる。

【００２４】そこで、本実施例では、以下の説明するよ
うに、自動濃度調整用のアンプ回路Ａの調整に続けて、
ミラー汚れ検出用のアンプ回路Ｂの調整を行うようにし
てある。ここで、前記自動調整の様子を、図８〜図14の
フローチャートに従って説明する。

【００２５】図８のフローチャートにおいて、まず、Ｓ
１では、調整作業を指示する調整スタートビットがセッ
トされているか否かを判別し、調整スタートビットがセ
ットされている時には、Ｓ２へ進み、調整スタート処理
を実行する。前記Ｓ２の調整スタート処理の内容は、図
９のフローチャートに示してある。調整スタート処理と
しては、露光ユニットを所定の露光位置に移動させ（Ｓ
21）、また、各種フラグのセット，リセットを行い（Ｓ
22）、更に、自動濃度調整側のアンプ回路Ａのゲイン調
整を起動させるタイマーのセットを行う（Ｓ23）。

【００２６】前記調整スタート処理が行われると、前述
のように、自動濃度調整（ＥＥ）側のゲイン調整を起動
させるタイマーがセットされるから、図８のフローチャ
ートにおいて、Ｓ３からＳ４へと進み、自動濃度調整
（ＥＥ）側のゲイン調整を実行する。自動濃度調整（Ｅ
Ｅ）側のゲイン調整は、図10のフローチャートに示して
ある。尚、自動濃度調整（ＥＥ）側のゲイン調整におい
ては、予め調整用のチャート（白紙）をプラテンガラス
１上にセットしておいて、前記調整用チャートからの反
射光が濃度センサ31で検出させるようにし、後述するよ
うに、露光ランプをＯＮ・ＯＦＦしてそれぞれでの調整
用チャートからの反射光量を検出させ、該検出結果に基
づいてゲインを調整する。

【００２７】図10のフローチャートにおいて、まず、Ｓ
31では、濃度センサ31からアンプ回路Ａを介して入力さ
れる反射光量の検出データ（電圧値）をＡ／Ｄ変換して
読み込む。次のＳ32では、反射光量の検出データの読み
込みが10回行われたか否かを判別し、10回に至っていな
いときには、Ｓ41へジャンプして、再度自動濃度調整側
のゲイン調整を起動させるタイマーのセットを行わせ、
継続して検出データの読み込みが行われるようにする。

【００２８】10回の読み込みが終了すると、Ｓ33へ進
み、10回の読み込みで得られた10個の反射光量データの
平均値を計算する。そして、次のＳ34では、露光ランプ
がＯＮされていたか否かを判別し、初期状態である露光
ランプのＯＦＦ状態で濃度センサ31の検出結果を読み込
んだときには、Ｓ35へ進む。

【００２９】Ｓ35では、前記計算した平均値のデータ
を、反射率０％（ランプＯＦＦ）に対応する検出データ
として保存し、次のＳ36では、次いで露光ランプを最大
電圧でＯＮさせる。そして、露光ランプを最大電圧でＯ
Ｎさせているときに、10個の反射光量検出データがサン
プリングされ、その平均値が計算されると、今度は、Ｓ
34からＳ37へ進む。

【００３０】Ｓ37では、露光ランプをＯＦＦしたときに
求められた検出データと、露光ランプをＯＮさせたとき
に求められた検出データとの差（電圧差）を計算する。
次のＳ38では、前記計算された電圧差が所期値に一致し
ているか否かをチェックし、電圧差が所期値に一致して
いないときには、Ｓ39へ進み、前記電圧差が所期値に近
づく方向に、アンプ回路Ａの初段アンプＡ１のゲインを
変化させ、次のＳ40では再度露光ランプをＯＦＦさせ
る。

【００３１】これにより、調整後のゲインで、露光ラン
プＯＦＦ及び露光ランプＯＮでの検出データが再度サン
プリングされる。上記のような調整を繰り返すことによ
って、露光ランプＯＦＦ時の検出電圧値と露光ランプＯ
Ｎ時の検出電圧値との電圧差が所期値に一致するように
なると、Ｓ38からＳ42へ進み、調整結果のゲインを不揮
発データとして保存する。

【００３２】次いで、Ｓ43で露光ランプをＯＦＦし、次
のＳ44では自動濃度調整（ＥＥ）側のオフセット調整を
行わせるために、オフセット調整用のタイマーをセット
する。ゲイン調整が終了し、オフセット調整用のタイマ
ーがセットされると、図８のフローチャートにおいて、
Ｓ５からＳ６へ進むようになり、自動濃度調整（ＥＥ）
側のオフセット調整が実行される。

【００３３】前記オフセット調整は、図11のフローチャ
ートに従って露光ランプＯＦＦ状態で行われるようにし
てある。オフセット調整においても、前記ゲイン調整と
同様に、10回に渡って濃度センサ31の検出データを読み
込み（Ｓ51，Ｓ52）、その平均値を計算させる（Ｓ5
3）。

【００３４】そして、その平均値が予め設定されている
基準レベルに一致しているか否かをチェックし（Ｓ5
4）、一致していない場合にはアンプ回路Ａ（アンプ回
路Ａを構成するアンプＡ２）のオフセット量を変更して
再セットし（Ｓ55）、オフセット調整用タイマーをセッ
トして（Ｓ56）、オフセット調整が終了するまで、デー
タ読み込み，データチェック，オフセット変更が繰り返
されるようにする。

【００３５】オフセット調整が終了すると、最終的なオ
フセットデータを不揮発データとして保存させる（Ｓ5
7）。次に、ミラー汚れ検出系のアンプ回路Ｂの調整を
行わせるために、露光ユニットを、基準濃度部33（基準
白色板）からの反射光が濃度センサ31で検出される位置
に移動させ（Ｓ58）、また、露光ランプを90％光量（最
大電圧を印加したときに得られる最大光量の90％）で発
光させるように電圧Ｖ₂を印加してＯＮさせ（Ｓ59）、
ミラー汚れ検出系のゲイン調整用タイマーをセットする
（Ｓ60）。

【００３６】ミラー汚れ検出系のゲイン調整用タイマー
がセットされると、図８のフローチャートで、Ｓ７から
Ｓ８へ進むようになり、ここで、ゲイン調整とオフセッ
ト調整とのいずれの調整モードであるかが判別され、か
かる判別結果に応じてＳ９又はＳ10のいずれかに進んで
調整作業を行わせる。調整作業はまずゲイン調整側から
行われる。図８のフローチャートのＳ９に示されるミラ
ー汚れ検出系のゲイン調整の内容は、図12のフローチャ
ートに示されている。

【００３７】図12のフローチャートにおいて、基準濃度
部33からの反射光量のデータが10回に渡って読み込ま
れ、その平均値が計算される（Ｓ71〜Ｓ73）。そして、
前記平均値が露光ランプの90％光量発光状態におけるも
のであるかを判別し（Ｓ74）、90％光量発光状態でない
場合、即ち、露光ランプを100 ％光量で発光させている
場合には、Ｓ74からＳ75へ進み、露光ランプを100 ％光
量で発光させているときに、かかる照明光が基準濃度部
33で反射し、各種のミラーを介して濃度センサ31で検出
された反射光量のデータを保存する。

【００３８】次いで、露光ランプを90％光量で発光させ
ているときの反射光量の検出データをサンプリングさせ
るために、最大電圧を印加時の光量（100 ％光量）に対
して90％の光量を得る電圧を印加させる（Ｓ76）。そし
て、露光ランプを90％光量で発光させているときの基準
濃度部33からの反射光量が濃度センサ31で検出され、そ
の平均値が計算されると、90％光量での検出データ（電
圧値）と100 ％光量での検出データの差（電圧差）を計
算させる（Ｓ77）。

【００３９】ここで、前記計算された電圧差が予め設定
された基準電圧差に一致しているか否かのチェックが行
われ（Ｓ78）、基準電圧差になっていない場合には、ア
ンプ回路Ｂのゲインを調整し（Ｓ79）、再度露光ランプ
の光量を100 ％にセットし（Ｓ80）、調整後のゲインセ
ット状態で100 ％光量（第１光量レベル）での検出値と
90％光量（第２光量レベル）での検出値とがサンプリン
グされるようにする。

【００４０】即ち、光量レベルで10％の低下が生じたと
きに、濃度センサ31でこの10％の低下に見合った検出電
圧値の変化が生じるか否かを、前記電圧差で判別させ、
光量が10％低下したときに、一定の電圧値だけ変化する
ようにアンプ回路Ｂのゲインを調整するものである。90
％光量での検出値と100 ％光量での検出値との偏差が基
準に一致するようになると、ゲイン調整の終了を判断
し、最終的な調整ゲインを不揮発データとして保存する
と共に（Ｓ81）、次にオフセット調整を行わせるため
に、露光ランプを100 ％光量で発光させるべく最大電圧
を印加し（Ｓ82）、また、オフセット調整モードのセッ
トを行う（Ｓ83）。

【００４１】尚、Ｓ84ではミラー汚れ検出系の調整を継
続するためのタイマーのセットを行わせ、このタイマー
がセットされている間は、図８のフローチャートにおい
てＳ７からＳ８へ進んで、ミラー汚れ検出系の調整が行
われる。前記図12のフローチャートのＳ83でオフセット
調整モードが設定されると、図８のフローチャートにお
いて、Ｓ８からＳ10へ進み、ミラー汚れ検出系のオフセ
ット調整が、図13のフローチャートに示すようにして行
われる。

【００４２】オフセット調整は、露光ランプを100 ％光
量で発光させた状態で、基準濃度部33からの反射光量の
濃度センサ31による検出値のサンプリングを10回行わせ
（Ｓ91，Ｓ92）、その平均値（Ｓ93）が予め設定された
基準レベルに略一致するか否かを判別させ（Ｓ94）、露
光ランプを100 ％光量で発光させたときの検出データが
略基準レベルに一致するようにアンプ回路Ｂのオフセッ
トを変更し（Ｓ95）、最終的に調整が終了すると、その
オフセットデータを不揮発データとして保存させ（Ｓ9
7）、また、調整エンド処理を実行する（Ｓ98）。

【００４３】尚、上記のオフセット調整が終了するまで
は、Ｓ96に進んでオフセット調整用のタイマーをセット
して、継続的にオフセット調整が行われるようにする。
上記のようにして自動濃度調整側のアンプ回路Ａにおけ
るゲイン，オフセット調整に続けて、ミラー汚れ検出側
のアンプ回路Ｂにおけるゲイン，オフセット調整が終了
すると、図８のフローチャートにおいてＳ11からＳ12に
進むようになり、前記Ｓ12で図14のフローチャートに示
す調整エンド処理を実行させる。

【００４４】調整エンド処理では、露光ユニットを所定
の露光位置（ホームポジション）に移動させ（Ｓ101
）、また、各種フラグのセット・リセット（Ｓ102
）、各タイマーのリセットを行わせ（Ｓ103 ）、更
に、全ての調整が終了していることを示す調整エンドビ
ットのセットを行う（Ｓ104 ）。次に、上記のようにし
て行われるミラー汚れ検出系のアンプ回路Ｂのゲイン，
オフセット調整におけるより具体的な作業内容を説明す
る。

【００４５】図15は、前記図４に示したミラー汚れ検出
系のアンプ回路Ｂの詳細な構成を示す図であり、濃度セ
ンサ31からの検出信号（電圧信号）は、まず、ゲインＧ
が10にセットされたアンプ回路Ｂ１に入力され、該アン
プ回路Ｂ１からの出力電圧Ｖ ₀₁は、ゲインＧが２〜９の
範囲で可変設定可能なアンプ回路Ｂ２に入力される。更
に、前記アンプ回路Ｂ２の出力電圧Ｖ₀₂は、ゲインＧが
２にセットされたアンプ回路Ｂ３に入力され、このアン
プ回路Ｂ３からの出力電圧Ｖ₀₃がミラー汚れ検出用のセ
ンサ出力として読み込まれるようになっている。

【００４６】尚、前記アンプ回路Ｂ２の出力電圧Ｖ₀₂が
調整データとしてＡ／Ｄ変換されて読み込まれるように
してある。また、前記アンプ回路Ｂ２，Ｂ３には、図示
しないＤ／Ａ変換器からオフセット制御データに応じて
１Ｖ〜９Ｖの範囲内で可変設定されて出力される電圧
が、オフセット電圧として入力されるようになってい
る。更に、アンプ回路Ｂ１には、オフセット電圧として
4.2 Ｖが固定電圧として入力されるようになっている。

【００４７】前記アンプ回路Ｂ１においては、図６に示
すように濃度センサ31自体が全光量域（０〜100 ％）で
有するダイナミックレンジの広さを、10％の光量変化で
得られるように、前述のようにゲインを10に設定してあ
る。これにより、濃度センサ31の出力特性が図６に示す
ようにばらついても、アンプ回路Ｂ１の出力電圧Ｖ
₀₁は、図16に示すように、光量100 ％〜90％の範囲内
で、最低でも0.28Ｖ、最大で1.25Ｖのダイナミックレン
ジを備えるようになっている。

【００４８】ゲイン調整においては、まず、前記アンプ
回路Ｂ２のゲインを最低値の２にセットし、更に、オフ
セット電圧を中間値の５Ｖとする。ここで、露光ランプ
を最大電圧でＯＮさせ、100 ％光量が基準濃度部33で反
射して濃度センサ31に入光されるようにする。そして、
このときにアンプ回路Ｂ２の出力電圧Ｖ₀₂をサンプリン
グし、前記出力電圧Ｖ₀₂が１Ｖ〜８Ｖの範囲に入ってい
る場合には、そのときの出力電圧Ｖ₀₁を計算で求める。
尚、前記アンプ回路Ｂ２の出力電圧Ｖ₀₂の特性を図17に
示してある。

【００４９】出力電圧Ｖ₀₂は、アンプ回路Ｂ２のゲイン
を２、オフセットを５Ｖとしたときに、Ｖ₀₂＝（Ｖ₀₁−
５）×２＋５として出力されるから、Ｖ₀₁＝（Ｖ₀₂＋
５）／２なる計算式によって出力電圧Ｖ₀₂から出力電圧
Ｖ₀₁を計算で求めることができる。尚、前記出力電圧Ｖ
₀₂が１Ｖ〜８Ｖの範囲に入っていない場合には、アンプ
回路Ｂ２，Ｂ３に共通のオフセット電圧を変更して、出
力電圧Ｖ₀₂が１Ｖ〜８Ｖの範囲内になってから、その条
件での出力電圧Ｖ₀₁を計算で求める。

【００５０】上記のようにして、最大電圧で露光ランプ
をＯＮさせたとき（100 ％光量）の出力電圧Ｖ₀₁を求め
ると、次いで、前記計算で求められた出力電圧Ｖ₀₁の10
％変化に対して2.5 Ｖの変化を出力電圧Ｖ₀₂として得る
ためのゲインＧ（＝2.5 ／（Ｖ₀₁×0.1 ））を求める。
即ち、ゲインが２に設定されているアンプ回路Ｂ３から
の最終出力である出力電圧Ｖ₀₃が、図18に示すように、
90％〜100 ％の光量範囲で０Ｖから最大の５Ｖまで変化
する特性となるように調整したいので、アンプ回路Ｂ２
においては、概略的に入力データＶ₀₁の10％に対して出
力電圧Ｖ₀₂として2.5 Ｖが得られるようにすれば良い。
そこで、前記ゲインＧ＝2.5 ／（Ｖ₀₁×0.1 ）から、ア
ンプ回路Ｂ２において要求されるゲインを概略求める。

【００５１】アンプ回路Ｂ２の概略的なゲインＧが求め
られると、実際に前記計算で求められたゲインＧにアン
プ回路Ｂ２のゲインを合わせる調整を行う。かかる状態
で再度出力電圧Ｖ₀₂をサンプリングし、前記計算で求め
たゲインＧで100 ％光量のときに、出力電圧Ｖ₀₂が１Ｖ
〜８Ｖの範囲内に入っているか否かを判別する。そし
て、出力電圧Ｖ₀₂が１Ｖ〜８Ｖの範囲内となるように、
アンプ回路Ｂ２，Ｂ３に共通のオフセット電圧を調整す
る。

【００５２】上記のようにミラー汚れ検出系のアンプ回
路Ｂのゲイン及びオフセットを、概略調整すると、次
に、ゲインの正確な調整を行う。かかるゲイン調整は、
前述のように、100 ％光量のときの出力（Ｖ₀₃）と90％
光量のときの出力（Ｖ₀₃）とを求め、両者の差を所定電
圧（５Ｖ）に一致させる方向にゲインを調整し、再度、
アンプ回路Ｂを介して得られる光量データをサンプリン
グして、前記差が所定電圧に一致するまでゲインの調
整，光量の切り換え，光量データのサンプリングを繰り
返す。

【００５３】露光ランプの切り換え制御の様子を示す
と、図19のようになる。即ち、始めの所定時間（図では
0.5 sec ）では、前述のように概略的なゲインを計算で
求めて、このゲインで出力電圧Ｖ₀₂が１Ｖ〜８Ｖの範囲
内となるようにオフセットを調整するところまで行わせ
る。そして、次には、露光ランプに対する印加電圧を、
最大電圧Ｖ₁と、この最大電圧Ｖ₁を印加したときに得
られる光量の10％ダウンの光量が得られる電圧Ｖ₂との
間で切り換え、各印加電圧（各光量レベル）のときにア
ンプ回路Ｂを介して得られる出力をサンプリングして、
サンプリングデータの偏差が所定電圧に一致していない
ときには、ゲインを変化させて再度印加電圧を切り換え
制御して出力をサンプリングさせる調整を繰り返す。

【００５４】光量10％ダウンした状態を上記のように疑
似的に作り出して、そのときの出力変化を一定値にする
ゲイン調整が完了すると、次に最大電圧Ｖ₁を継続的に
印加させておいて、出力電圧Ｖ₀₂が５Ｖになるようにオ
フセット調整を行って、アンプ回路Ｖのゲイン調整及び
オフセット調整を完了する。尚、本実施例では、ミラー
汚れ検出系で、光量90％〜100 ％の範囲でアンプ出力が
最小から最大まで変化する特性に設定し、前記光量範囲
のみで分解能を有するようにしたが、ミラー汚れ検出用
としての検出光量範囲を上記に限定するものでないこと
は明らかであり、例えば検出光量範囲を80％〜100 ％に
広げたい場合には、アンプ回路Ｂの調整時に、ランプの
光量を80％と100 ％との間で切り換え制御させるように
すれば良い。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明にかかる複
写機のミラー汚れ検出装置よると、自動濃度調整用とし
て設けられた原稿濃度センサを流用して、ミラー汚れを
検出でき、然も、前記センサからの検出信号を別系統の
出力処理回路で処理することで、高い精度でミラー汚れ
を検出できる。

【００５６】また、光量レベルを切り換えて光源をＯＮ
させることで、疑似的にミラー汚れにより光量が低下し
た状態を作りだし、かかる一定の光量低下に対して実際
の検出値が一定値だけ変化するようにセンサの出力処理
回路を調整するようにしたので、ミラー汚れを高精度に
検出させるための自動調整を容易に実行させることがで
きるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るミラー汚れ検出装置を備えた複写
機の全体構成を示す図。

【図２】同上複写機における原稿濃度検出部の構成を示
す縦断面図。

【図３】同上複写機における原稿濃度検出部の構成を示
す平面図。

【図４】濃度センサの出力処理回路を示す回路図。

【図５】アンプ回路（出力処理回路）の特性を示す線
図。

【図６】濃度センサの出力特性例を示す線図。

【図７】ミラー汚れの検出タイミングを示すタイムチャ
ート。

【図８】アンプ回路調整の全体的な流れを示すフローチ
ャート。

【図９】アンプ回路調整のスタート処理を示すフローチ
ャート。

【図10】ＥＥ側のゲイン調整を示すフローチャート。

【図11】ＥＥ側のオフセット調整を示すフローチャー
ト。

【図12】ミラー汚れ検出側のゲイン調整を示すフローチ
ャート。

【図13】ミラー汚れ検出側のオフセット調整を示すフロ
ーチャート。

【図14】アンプ回路調整のエンド処理を示すフローチャ
ート。

【図15】ミラー汚れ検出側のアンプ回路を示す回路図。

【図16】ミラー汚れ検出側のアンプ回路の出力特性図。

【図17】ミラー汚れ検出側のアンプ回路の出力特性図。

【図18】ミラー汚れ検出側のアンプ回路の出力特性図。

【図19】ミラー汚れ検出側の調整におけるランプの切り
換え作動を示すタイムチャート。

【符号の説明】

５ランプ６第１ミラー８第２ミラー９第３ミラー 10 レンズユニット 14 感光体ドラム 31 濃度センサ 33 基準濃度部Ａアンプ回路（自動濃度調整側）Ｂアンプ回路（ミラー汚れ検出側）

フロントページの続き (72)発明者中沢和浩東京都八王子市石川町2970番地コニカ株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源からの照明光を原稿に照射し、原稿か
らの反射光をミラーに反射させて光学系で結像させ、該
結像した光画像を現像する構成であると共に、前記ミラ
ーを介して入光される原稿からの反射光量を検出する原
稿濃度センサと、該原稿濃度センサによる濃度検出の基
準となる基準濃度部とを備えた複写機において、原稿濃度検出系と、該原稿濃度検出系よりも高反射率側
でダイナミックレンジの広いミラー汚れ検出系との２系
統の出力処理回路それぞれに前記原稿濃度センサから検
出信号を入力させ、前記原稿濃度検出系の出力処理回路
を介して得られる原稿濃度センサの検出信号に基づいて
原稿濃度を検出する一方、基準濃度部からの反射光を前
記原稿濃度センサに入光させたときに前記ミラー汚れ検
出系の出力処理回路を介して得られる原稿濃度センサの
検出信号に基づいて前記ミラーの汚れ状態を検出するこ
とを特徴とする複写機のミラー汚れ検出装置。
【請求項２】光源からの照明光を原稿に照射し、原稿か
らの反射光をミラーに反射させて光学系で結像させ、該
結像した光画像を現像する構成であると共に、前記ミラ
ーを介して入光される原稿からの反射光量を検出する原
稿濃度センサと、該原稿濃度センサによる濃度検出の基
準となる基準濃度部とを備えた複写機のミラー汚れ検出
装置であって、前記基準濃度部からの反射光を前記原稿濃度センサに入
光させたときに、前記原稿濃度センサから出力処理回路
を介して出力される検出信号に基づいて前記ミラーの汚
れ状態を検出する構成の複数機のミラー汚れ検出装置に
おいて、前記光源を予め設定された相互に異なる第１光量レベル
と第２光量レベルとに切り換えて作動させ、前記基準濃
度部からの反射光を前記原稿濃度センサに入光させ、前
記両光量レベルのときに前記出力処理回路を介してそれ
ぞれ出力される検出信号の偏差が所定値になるように前
記出力処理回路を調整するよう構成したことを特徴とす
る複写機のミラー汚れ検出装置。