JPH0688849A

JPH0688849A - コイル試験方法とその方法に用いる装置

Info

Publication number: JPH0688849A
Application number: JP4254999A
Authority: JP
Inventors: Hiromitsu Okumura; 廣光奥村
Original assignee: Denshi Seiki Kogyo KK
Current assignee: Denshi Seiki Kogyo KK
Priority date: 1992-07-23
Filing date: 1992-09-24
Publication date: 1994-03-29

Abstract

(57)【要約】【目的】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数回印
加し、被測定コイルの良否、もしくは不良品の場合の原
因が、断線，短絡，レアショート，ピーク電圧値，コロ
ナ放電，巻数の多少等の何れであるかを知ることのでき
る試験方法と装置とを提供すること。【構成】インパルス電圧発生回路１，被測定コイル２，
コロナ放電測定器３，ピーク電圧測定器４，減衰振動時
間測定器５，実効値測定器６による測定結果に基づい
て、制御部７で被測定コイル２の良否とその原因を判定
して表示装置９に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コイルの電気的特性を
インパルス電圧を加えることにより非破壊にて測定また
は試験するコイル試験方法と装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の、コイルの電気的特性をインパル
ス電圧を加えることにより非破壊にて測定または試験す
るコイル試験器としては、コイルに単発の高圧インパル
ス電圧を印加し、コイルにおいて発生した自己減衰振動
波形を取り出して解析し、当該コイルの特性を知るよう
に構成したコイル試験方法があった。

【０００３】この場合、特性の確認された一つの基準コ
イルに高圧インパルス電圧を印加して発生させた減衰振
動電圧波形をもとにして、ある幅を持った基準を設定
し、測定対象のコイルに高圧インパルス電圧を印加して
発生させた減衰振動電圧波形と前記基準とを比較するこ
とにより、基準の帯域内であれば良品と判定し、基準の
帯域外であれば不良品と判定していた。

【０００４】

【解決しようとする問題点】しかし、従来の方法では、
被測定コイルが不良品と判定された場合には、その不良
の原因が、断線の有無，短絡の有無，レアショートの有
無，ピーク電圧値の良否，コロナ放電の有無，巻数の多
少等の何れであるかが不明であり、測定者が減衰振動電
圧波形を目視して、不良の原因を判断しなければならな
いという問題があった。そのためには、経験を有すると
ともに、判定がばらつくという問題があった。

【０００５】そこで、本発明においては、当該被測定コ
イルに高圧インパルス電圧を複数回印加し、その都度、
当該被測定コイルにおけるコロナ放電の発生の有無と、
前記高圧インパルス電圧のピーク電圧と、インパルス電
圧の印加により発生した減衰振動電圧波形の減衰振動時
間と、前記減衰振動電圧波形の実効値もしくは絶対値の
積分値とを測定して、それらの結果を総合的に判断し
て、被測定コイルの良否、もしくは不良品の場合の原因
が、断線，短絡，レアショート，ピーク電圧値，コロナ
放電，巻数の多少等の何れであるかを知ることのできる
試験方法と装置とを提供することを目的としている。

【０００６】

【問題点を解決するための手段】そこで、本発明では、
被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、発生さ
せた減衰振動電圧波形の諸特性を測定して当該被測定コ
イルの良否を判断するコイル試験方法において、当該被
測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、減衰振動
電圧波形にコロナ放電の発生が測定されたときに、当該
被測定コイルをコロナ放電発生による不良と判定するよ
うにした。

【０００７】また、当該被測定コイルに高圧インパルス
電圧を印加して、減衰振動電圧波形の減衰振動時間がほ
ぼ無限大であるか、もしくは減衰振動電圧波形が発生し
ないときに、当該被測定コイルを断線による不良と判定
してもよい。また、当該被測定コイルに高圧インパルス
電圧を印加して、減衰振動電圧波形のピーク電圧がほぼ
０ボルトのときに、当該被測定コイルを短絡による不良
と判定してもよい。

【０００８】また、当該被測定コイルに高圧インパルス
電圧を複数回印加して、減衰振動電圧波形のピーク電
圧，減衰振動時間，実効値，若しくは絶対値の積分値の
少なくとも何れか一つが測定の度に異なるときに、当該
被測定コイルをレアーショートによる不良と判定しても
よい。また、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を
複数回印加して、減衰振動電圧波形の減衰振動時間，実
効値，若しくは絶対値の積分値が、基準値より若干大き
いときには当該被測定コイルの巻数が多いことによる不
良と判定し、基準値より若干小さいときには当該被測定
コイルの巻数が不足することによる不良と判定してもよ
い。

【０００９】また、上記各要因による個々の判定ではな
く、全ての要因に基づいて、当該被測定コイルの良否
と、不良の場合の内容を判定するようにしてもよい。

【００１０】そして、本発明のコイル試験装置では、被
測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、発生させ
た減衰振動電圧波形の実効値と減衰振動時間をその都度
測定して当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験
装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被
測定コイルに印加するインパルス電圧発生手段と、当該
被測定コイルにおいてコロナ放電の発生の有無を測定す
るコロナ放電測定手段と、コロナ放電の発生が測定され
たときに、当該被測定コイルをコロナ放電発生による不
良と判定する判定手段とを備えるという手段を講じた。

【００１１】また、高圧インパルス電圧を発生させて当
該被測定コイルに印加するインパルス電圧発生手段と、
インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間を測定する減衰振動時間測定手段と、減
衰振動時間がほぼ無限大のとき当該被測定コイルを短絡
による不良と判定する判定手段とを備えてもよい。ま
た、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイル
に印加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧
の印加により発生した減衰振動電圧波形のピーク電圧を
測定するピーク電圧測定手段と、ピーク電圧がほぼ０ボ
ルトのときに当該被測定コイルを短絡による不良と判定
する判定手段とを備えてもよい。

【００１２】また、高圧インパルス電圧を発生させて当
該被測定コイルに印加するインパルス電圧発生手段と、
インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
のピーク電圧を測定するピーク電圧測定手段と、減衰振
動電圧波形のピーク電圧が測定の度に異なるときに、当
該被測定コイルをレアーショートによる不良と判定する
判定手段とを備えてもよい。

【００１３】また、高圧インパルス電圧を発生させて当
該被測定コイルに印加するインパルス電圧発生手段と、
インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間を測定する減衰振動時間測定手段と、減
衰振動電圧波形の減衰振動時間が測定の度に異なるとき
に、当該被測定コイルをレアーショートによる不良と判
定する判定手段とを備えてもよい。

【００１４】また、高圧インパルス電圧を発生させて当
該被測定コイルに印加するインパルス電圧発生手段と、
前記減衰振動電圧波形の実効値を測定する実効値測定手
段と、減衰振動電圧波形の実効値が測定の度に異なると
きに、当該被測定コイルをレアーショートによる不良と
判定する判定手段とを備えてもよい。また、高圧インパ
ルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印加するイン
パルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発
生した減衰振動電圧波形の減衰振動時間を測定する減衰
振動時間測定手段と、減衰振動時間が基準値より若干大
きいとき当該被測定コイルを巻数が多すぎることによる
不良と判定し、減衰振動時間が基準値より若干小さいと
き当該被測定コイルを巻数が不足することによる不良と
判定する判定手段とを備えてもよい。

【００１５】また、高圧インパルス電圧を発生させて当
該被測定コイルに印加するインパルス電圧発生手段と、
インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の実効値を測定する実効値測定手段と、実効値が基準値
より若干大きいとき当該被測定コイルを巻数が多すぎる
ことによる不良と判定し、積分値が基準値より若干小さ
いとき当該被測定コイルを巻数が不足することによる不
良と判定する判定手段とを備えてもよい。

【００１６】また、上記各要因による個々の判定ではな
く、全ての要因に基づいて、当該被測定コイルの良否
と、不良の場合の内容を判定する判定手段を備えてもよ
い。

【００１７】以上において、実効値の測定に代えて、絶
対値の積分値を測定してもよい。即ち、実効値測定手段
に代えて積分手段を用いてもよい。

【００１８】

【作用】本発明においては、当該被測定コイルに高圧イ
ンパルス電圧を印加して、当該被測定コイルにおけるコ
ロナ放電の発生の有無と、前記高圧インパルス電圧のピ
ーク電圧と、インパルス電圧の印加により発生した減衰
振動電圧波形の減衰振動時間と、前記減衰振動電圧波形
の実効値とを測定して、このようにして得られたコロナ
放電の有無，ピーク電圧，減衰振動時間，実効値をそれ
ぞれ判定基準と比較することにより、基準内に収まると
きは当該コイルを良品と判定する。

【００１９】基準外になった場合には、不良品と判定す
るとともに、その原因が、断線の有無，短絡の有無，レ
アショートの有無，ピーク電圧の良否，コロナ放電の有
無，巻数の多少等の何れであるかを判定する。

【００２０】例えば、ピーク電圧が検査基準を満足して
も、減衰振動時間がほぼ無限大か減衰振動電圧波形が発
生しないときには、当該コイルが断線していることが判
明するので、コイル断線と判定できる。また、ピーク電
圧がほぼ０ボルトで、減衰振動時間がほぼ０秒で、実効
値がほぼ０ボルトのときには、当該コイルが短絡状態で
あるので、当該コイルを短絡と判定できる。

【００２１】また、ピーク電圧，減衰振動時間，実効値
が測定の度に異なるときに、当該コイルは完全短絡では
ないが、レアショートと判定できる。また、ピーク電圧
が基準未満で、減衰振動時間が基準に合致し、実効値が
基準未満で安定しているときには、コイルの特性は不良
ではないが、インパルス電圧の印加不良と判定できる。

【００２２】また、ピーク電圧，減衰振動時間，実効値
が基準に合致しても、コロナ放電が発生したときには、
当該コイルをコロナ放電有りで不良と判定する。また、
コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と実効値が基準より少し大きく安定しているとき
には、当該コイルの巻数が基準より多いと判定できる。

【００２３】また、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基
準に合致し、減衰振動時間と実効値が基準より少し小さ
く安定しているときには、当該コイルの巻数が基準より
少ないものと判定できる。このように、コイルが不良で
あるとの結果が出たときに、不良の原因を個別に判断す
ることができるのである。

【００２４】そして、本発明のコイル試験装置によれ
ば、判定手段を備えているので、コイルが不良であると
の結果が出たときに、不良の原因を個別に判断すること
ができるのである。

【００２５】なお、以上において、実効値の測定に代え
て、絶対値の積分値を測定しても、同様の作用となる。
この絶対値の積分値とは、波形と時間軸とが描く図形の
面積に対応している。例えば、会いｉなる交番電流ある
いは脈動電流があるとき、時刻０からＴまでの実効値と
積分値とを比較すると、実効値は下記の数式１のように
なり、絶対値の積分値は下記の数式２のようになる。

【００２６】

【数１】

【００２７】

【数２】

【００２８】例えば、ｉ＝Ａsin θなる正弦波の場合に
は、一周期分の実効値は数式３に示すようになり、一周
期分の絶対値の積分値はＡとなり、積分値は実効値の約
1.414 倍となっている。

【００２９】

【数３】

【００３０】

【実施例】以下に本発明にかかるコイル試験方法とその
方法に用いる装置の好適な実施例を図面に基づいて詳説
する。図１は本発明のコイル試験装置の実施例のブロッ
ク構成図である。図面において、１はインパルス印加手
段としてのインパルス電圧発生回路、２は被測定コイ
ル、３はコロナ放電測定器、４はピーク電圧測定器、５
は減衰振動時間測定器、６は実効値測定器、７は判定手
段としての制御部であり、プログラムとコンピュータを
内蔵している。８は判定基準となる基準データを記憶し
たメモリ、９は測定結果および判定結果を表示する表示
装置である。これらのコロナ放電測定器３，ピーク電圧
測定器４，減衰振動時間測定器５，実効値測定器６，制
御部７，メモリ８，および表示装置９で測定部１０を構
成している。

【００３１】前記インパルス電圧発生回路１は、制御部
７からのタイミング信号に基づいて高圧インパルス電圧
を発生させ、被測定コイル２に印加する。被測定コイル
２で発生した減衰振動電圧波形は測定部１０に入力され
る。前記コロナ放電測定器３においては、図２に示すよ
うに、減衰振動電圧波形を高周波通過フィルタに通して
コロナ放電によるコロナ放電による電圧波形を検出し、
そのレベルと数とを検出し、Ａ／Ｄ変換して制御部７へ
出力する。

【００３２】前記ピーク電圧測定器４においては、前記
高圧インパルス電圧のピーク電圧をピークホールド回路
によって検出し、Ａ／Ｄ変換して制御部７へ出力する。
前記減衰振動時間測定器５においては、図３に示すよう
に、減衰振動電圧波形をゼロクロス回路に通して、例え
ば、インパルス電圧を印加した時点Ｐ₀から３回目のゼ
ロクロス点Ｐ₃までの経過時間をデジタル値で制御部７
へ出力する。

【００３３】前記実効値測定器６においては、減衰振動
電圧波形の瞬時値の二乗を積分して実効値を求めるか、
図４に示すように、前記減衰振動電圧波形を二乗回路と
コンデンサーによる積分回路によって積分してもよい。

【００３４】または、図５に示すように、整流回路によ
り前記減衰振動電圧波形の絶対値を求めて積分回路によ
って積分して得た絶対値の積分値を、前記実効値に代え
て用いても良い。

【００３５】このようにして測定した実効値もしくは絶
対値の積分値をＡ／Ｄ変換して制御部７へ出力する。こ
のような測定を、0.05秒間隔で５回繰り返す。

【００３６】前記制御部７においては、前記コロナ放電
波形のレベルと数を、前記メモリ８に記憶させておいた
基準データと比較し、５回とも基準内であるとコロナ放
電無しという判定を出力し、１回でも基準外であるとコ
ロナ放電有りという判定を出力する。また、インパルス
電圧のピーク電圧を、前記メモリ８に記憶させておいた
基準データと比較し、５回とも基準内であると高圧電圧
印加良という判定を出力し、１回でも基準外であると高
圧電圧印加不良という判定を出力し、測定の度に異なる
ときは電圧不安定という判定を出力する。

【００３７】また、減衰振動の経過時間を、前記メモリ
８に記憶させておいた基準データと比較し、５回とも基
準内であると経過時間良という判定を出力し、１回でも
基準外であると経過時間不良という判定を出力し、測定
の度に異なるときは経過時間不安定という判定を出力す
る。また、実効値を、前記メモリ８に記憶させておいた
基準データと比較し、５回とも基準内であると実効値良
という判定を出力し、１回でも基準外であると実効値不
良という判定を出力し、印加電圧と等しいときは印加電
圧と等しいという判定を出力し、ほぼ０ボルトのときは
０ボルトという判定を出力し、測定の度に異なるときは
実効値不安定という判定を出力する。

【００３８】なお、基準データは、上限と下限の値をメ
モリに記憶させておいてもよく、中心値と、それに対す
る偏差の割合を記憶させておいてもよい。例えば、実効
値の基準データとしては、上限が2.02ボルト，下限が1.
98ボルトのように記憶するか、中心値2.00ボルト，偏差
±1％のように記憶してもよい。

【００３９】上記項目別の判定に基づいて、コロナ放
電，ピーク電圧，減衰振動時間，実効値がそれぞれ判定
基準に合致して良と判定されたときには、当該コイルを
良品と判定する。ピーク電圧が良判定で、減衰振動時間
がほぼ無限大で、実効値が印加したインパルス電圧と同
じときには、当該コイルを断線と判定する。

【００４０】ピーク電圧がほぼ０ボルトで、減衰振動時
間がほぼ０秒で、実効値がほぼ０ボルトのときには、当
該コイルを短絡と判定する。ピーク電圧，減衰振動時
間，実効値が測定の度に異なるときに、当該コイルをレ
アショートと判定する。ピーク電圧が基準未満で、減衰
振動時間が基準に合致し、実効値が基準未満で安定して
いるときには、当該コイルを高圧電圧印加不良と判定す
る。

【００４１】ピーク電圧，減衰振動時間，実効値が基準
に合致しても、コロナ放電が発生したときには、当該コ
イルをコロナ放電有りで不良と判定する。コロナ放電が
無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振動時間と実効
値が、５回とも基準より少し大きい一定の値で安定して
いるときには、当該コイルを巻線が多いものと判定す
る。

【００４２】コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合
致し、減衰振動時間と実効値が、５回とも基準より少し
小さい一定の値で安定しているときには、当該コイルを
巻線が少ないものと判定する。

【００４３】なお、以上の説明においては、実効値を用
いて説明したが、図５に示したような積分手段によって
得た絶対値の積分値を用いても良いことは当然である。
また、一回のインパルス電圧の印加によって発生した減
衰振動波形からでも、断線の有無，短絡の有無，ピーク
電圧の良否，コロナ放電の有無，巻数の多少等は判断で
き、実効値が低いが短絡では無い場合にはレアショート
と判断することも可能である。

【００４４】しかし、実効値が低いということは、巻線
の不足が原因の場合もあるので、複数回測定することに
よって、測定の度に実効値が不安定になる場合にはレア
ショートと正確に判断でき、測定の度に一定値の場合に
は巻線の不足と正確に判断できる。

【００４５】

【発明の効果】本発明にかかるコイル試験方法によれ
ば、従来のコイル試験方法では、不良品の場合に、何の
要素が不良であるのか、自動的に判定することはできな
かったが、本発明の方法によれば、不良品の被測定コイ
ルに対しては、断線の有無，短絡の有無，レアショート
の有無，ピーク電圧の良否，コロナ放電の有無，巻数の
多少等の要素を、それぞれ特定して判定することが可能
となり、きめ細かな品質管理が行えるようになる。ま
た、各要素を全体的に判定することもできる。

【００４６】そして、本発明の装置によれば、上記効果
の得られるコイル試験装置を提供することができるので
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のコイル試験方法に用いる装置の実施例
のブロック構成図である。

【図２】前記コイル試験装置におけるコロナ放電の測定
を示す説明図である。

【図３】前記コイル試験装置における減衰振動時間の測
定を示す説明図である。

【図４】前記コイル試験装置における実効値の測定を示
す説明図である。

【図５】前記コイル試験装置における絶対値の積分値の
測定を示す説明図である。

【符号の説明】

１インパルス電圧発生回路，インパルス電圧発生手段２被測定コイル３コロナ放電測定器，コロナ放電測定手段４ピーク電圧測定器，ピーク電圧測定手段５減衰振動時間測定器，減衰振動時間測定手段６実効値測定器，実効値測定手段７判定手段，制御部８基準データを記憶したメモリ９表示装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加
して、発生させた減衰振動電圧波形の諸特性を測定して
当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法にお
いて、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加し
て、減衰振動電圧波形にコロナ放電の発生が測定された
ときに、当該被測定コイルをコロナ放電発生による不良
と判定することを特徴とするコイル試験方法。
【請求項２】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加
して、当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方
法において、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を
印加して、発生した減衰振動電圧波形の減衰振動時間が
ほぼ無限大であるか、もしくは減衰振動電圧波形が発生
しないときに、当該被測定コイルを断線による不良と判
定することを特徴とするコイル試験方法。
【請求項３】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加
して、発生させた減衰振動電圧波形の諸特性を測定して
当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法にお
いて、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加し
て、減衰振動電圧波形のピーク電圧がほぼ０ボルトのと
きに、当該被測定コイルを短絡による不良と判定するこ
とを特徴とするコイル試験方法。
【請求項４】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加
して、発生させた減衰振動電圧波形の諸特性を測定して
当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法にお
いて、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数回
印加して、減衰振動電圧波形のピーク電圧，減衰振動時
間，実効値，若しくは絶対値の積分値の少なくとも何れ
か一つが測定の度に異なるときに、当該被測定コイルを
レアーショートによる不良と判定することを特徴とする
コイル試験方法。
【請求項５】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加
して、発生させた減衰振動電圧波形の諸特性を測定して
当該被測定コイルの良否を判断するコイル試験方法にお
いて、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数回
印加して、減衰振動電圧波形の減衰振動時間，実効値，若しくは絶
対値の積分値が、基準値より若干大きいときには当該被
測定コイルの巻数が多いことによる不良と判定し、基準値より若干小さいときには当該被測定コイルの巻数
が不足することによる不良と判定することを特徴とする
コイル試験方法。
【請求項６】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数
回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と減
衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良否
を判断するコイル試験方法において、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、当
該被測定コイルにおけるコロナ放電の発生の有無と、前
記高圧インパルス電圧のピーク電圧と、インパルス電圧
の印加により発生した減衰振動電圧波形の減衰振動時間
と、前記減衰振動電圧波形の実効値とを測定し、このようにして得られたコロナ放電の有無，ピーク電
圧，減衰振動時間，実効値をそれぞれ判定基準と比較し
て、当該コイルの良否，断線の有無，短絡の有無，レア
ショートの有無，ピーク電圧の良否，コロナ放電の有
無，巻数の多少等の判定を行うことを特徴とするコイル
試験方法。
【請求項７】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数
回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と減
衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良否
を判断するコイル試験方法において、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、当該被測定コイルにおけるコロナ放電の発生の有無と、前記高圧インパルス電圧のピーク電圧と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間と、前記減衰振動電圧波形の実効値とを測定し、コロナ放電，ピーク電圧，減衰振動時間，実効値がそれ
ぞれ判定基準に合致したときに、当該コイルを良品判定
し、ピーク電圧が検査基準を満足し、減衰振動時間が検査基
準より長いか、もしくは減衰振動電圧波形が発生しない
ときに、当該コイルを断線と判定し、ピーク電圧がほぼ０ボルトで、減衰振動時間がほぼ０秒
で、実効値がほぼ０ボルトのときに、当該コイルを短絡
と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，実効値が測定の度に異なる
ときに、当該コイルをレアショートと判定し、ピーク電圧が基準未満で、減衰振動時間が基準に合致
し、実効値が基準未満で安定しているときに、当該コイ
ルを高圧電圧印加不良と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，実効値が基準に合致して
も、コロナ放電が発生したときに、当該コイルをコロナ
放電有りで不良と判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と実効値が基準より少し大きく安定しているとき
に、当該コイルを巻線が多いものと判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と実効値が基準より少し小さく安定しているとき
に、当該コイルを巻線が不足するものと判定することを
特徴とするコイル試験方法。
【請求項８】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数
回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の絶対値の積
分値と減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイ
ルの良否を判断するコイル試験方法において、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、当該被測定コイルにおけるコロナ放電の発生の有無と、前記高圧インパルス電圧のピーク電圧と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間と、前記減衰振動電圧波形の絶対値の積分値とを測定し、このようにして得られたコロナ放電の有無，ピーク電
圧，減衰振動時間，積分値をそれぞれ判定基準と比較し
て、当該コイルの良否，断線の有無，短絡の有無，レア
ショートの有無，ピーク電圧の良否，コロナ放電の有
無，巻数の多少等の判定を行うことを特徴とするコイル
試験方法。
【請求項９】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複数
回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の絶対値の積
分値と減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイ
ルの良否を判断するコイル試験方法において、当該被測定コイルに高圧インパルス電圧を印加して、当該被測定コイルにおけるコロナ放電の発生の有無と、前記高圧インパルス電圧のピーク電圧と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間と、前記減衰振動電圧波形の絶対値の積分値とを測定し、コロナ放電，ピーク電圧，減衰振動時間，積分値がそれ
ぞれ判定基準に合致したときに、当該コイルを良品判定
し、ピーク電圧が検査基準を満足し、減衰振動時間が検査基
準より長く、積分値が印加したインパルス電圧と同じと
きに、当該コイルを断線と判定し、ピーク電圧がほぼ０ボルトで、減衰振動時間がほぼ０秒
で、積分値がほぼ０ボルトのときに、当該コイルを短絡
と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，積分値が測定の度に異なる
ときに、当該コイルをレアショートと判定し、ピーク電圧が基準未満で、減衰振動時間が基準に合致
し、積分値が基準未満で安定しているときに、当該コイ
ルを高圧電圧印加不良と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，積分値が基準に合致して
も、コロナ放電が発生したときに、当該コイルをコロナ
放電有りで不良と判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と積分値が基準より少し大きく安定しているとき
に、当該コイルを巻線が多いものと判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と積分値が基準より少し小さく安定しているとき
に、当該コイルを巻線が少ないものと判定することを特
徴とするコイル試験方法。
【請求項１０】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印
加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と減衰振
動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良否を判
断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、当該被測定コイルにおいてコロナ放電の発生の有無を測
定するコロナ放電測定手段と、コロナ放電の発生が測定されたときに、当該被測定コイ
ルをコロナ放電発生による不良と判定する判定手段とを
備えたことを特徴とするコイル試験装置。
【請求項１１】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印
加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と減衰振
動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良否を判
断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間を測定する減衰振動時間測定手段と、減衰振動時間がほぼ無限大のとき当該被測定コイルを断
線による不良と判定する判定手段とを備えたことを特徴
とするコイル試験装置。
【請求項１２】被測定コイルに高圧インパルス電圧を印
加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と減衰振
動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良否を判
断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
のピーク電圧を測定するピーク電圧測定手段と、ピーク電圧がほぼ０ボルトのときに当該被測定コイルを
短絡による不良と判定する判定手段とを備えたことを特
徴とするコイル試験装置。
【請求項１３】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
のピーク電圧を測定するピーク電圧測定手段と、減衰振動電圧波形のピーク電圧が測定の度に異なるとき
に、当該被測定コイルをレアーショートによる不良と判
定する判定手段と備えたことを特徴とするコイル試験装
置。
【請求項１４】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間を測定する減衰振動時間測定手段と、減衰振動電圧波形の減衰振動時間が測定の度に異なると
きに、当該被測定コイルをレアーショートによる不良と
判定する判定手段とを備えたことを特徴とするコイル試
験装置。
【請求項１５】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、前記減衰振動電圧波形の実効値を測定する実効値測定手
段と、減衰振動電圧波形の実効値が測定の度に異なるときに、
当該被測定コイルをレアーショートによる不良と判定す
る判定手段とを備えたことを特徴とするコイル試験装
置。
【請求項１６】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、前記減衰振動電圧波形の絶対値の積分値を測定する積分
手段と、減衰振動電圧波形の絶対値の積分値が測定の度に異なる
ときに、当該被測定コイルをレアーショートによる不良
と判定する判定手段とを備えたことを特徴とするコイル
試験装置。
【請求項１７】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間を測定する減衰振動時間測定手段と、減衰振動時間が基準値より若干大きいとき当該被測定コ
イルを巻数が多すぎることによる不良と判定し、減衰振
動時間が基準値より若干小さいとき当該被測定コイルを
巻数が不足することによる不良と判定する判定手段とを
備えたことを特徴とするコイル試験装置。
【請求項１８】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の実効値を測定する実効値測定手段と、実効値が基準値より若干大きいとき当該被測定コイルを
巻数が多すぎることによる不良と判定し、積分値が基準
値より若干小さいとき当該被測定コイルを巻数が不足す
ることによる不良と判定する判定手段とを備えたことを
特徴とするコイル試験装置。
【請求項１９】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の絶対値の積分値を測定する積分手段と、積分値が基準値より若干大きいとき当該被測定コイルを
巻数が多すぎることによる不良と判定し、積分値が基準
値より若干小さいとき当該被測定コイルを巻数が不足す
ることによる不良と判定する判定手段とを備えたことを
特徴とするコイル試験装置。
【請求項２０】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の実効値と
減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コイルの良
否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、前記高圧インパルス電圧のピーク電圧を測定するピーク
電圧測定手段と、インパルス電圧の印加により発生した
減衰振動電圧波形の減衰振動時間を測定する減衰振動時
間測定手段と、前記減衰振動電圧波形の実効値を測定する実効値測定手
段と、このようにして得られたコロナ放電の有無，ピーク電
圧，減衰振動時間，実効値をそれぞれ判定基準と比較し
て、当該コイルの良否，断線の有無，短絡の有無，レア
ショートの有無，ピーク電圧の良否，コロナ放電の有
無，巻数の多少等の判定を行う判定手段とを備えたこと
を特徴とするコイル試験装置。
【請求項２１】前記判定手段は、コロナ放電，ピーク電圧，減衰振動時間，実効値がそれ
ぞれ判定基準に合致したときに、当該コイルを良品判定
し、ピーク電圧が検査基準を満足し、減衰振動時間が検査基
準より長く、実効値が印加したインパルス電圧と同じと
きに、当該コイルを断線と判定し、ピーク電圧がほぼ０ボルトで、減衰振動時間がほぼ０秒
で、実効値がほぼ０ボルトのときに、当該コイルを短絡
と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，実効値が測定の度に異なる
ときに、当該コイルをレアショートと判定し、ピーク電圧が基準未満で、減衰振動時間が基準に合致
し、実効値が基準未満で安定しているときに、当該コイ
ルを高圧電圧印加不良と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，実効値が基準に合致して
も、コロナ放電が発生したときに、当該コイルをコロナ
放電有りで不良と判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と実効値が基準より少し大きく安定しているとき
に、当該コイルは巻線が多いものと判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と実効値が基準より少し小さく安定しているとき
に、当該コイルは巻線が少ないものと判定する判定手段
であることを特徴とする請求項２０に記載のコイル試験
装置。
【請求項２２】被測定コイルに高圧インパルス電圧を複
数回印加して、発生させた減衰振動電圧波形の絶対値の
積分値と減衰振動時間をその都度測定して当該被測定コ
イルの良否を判断するコイル試験装置において、高圧インパルス電圧を発生させて当該被測定コイルに印
加するインパルス電圧発生手段と、当該被測定コイルにおいてコロナ放電の発生の有無を測
定するコロナ放電測定手段と、前記高圧インパルス電圧のピーク電圧を測定するピーク
電圧測定手段と、インパルス電圧の印加により発生した減衰振動電圧波形
の減衰振動時間を測定する減衰振動時間測定手段と、前記減衰振動電圧波形の絶対値の積分値を測定する積分
手段と、このようにして得られたコロナ放電の有無，ピーク電
圧，減衰振動時間，積分値をそれぞれ判定基準と比較し
て、当該コイルの良否，断線の有無，短絡の有無，レア
ショートの有無，ピーク電圧の良否，コロナ放電の有
無，巻数の多少等の判定を行う判定手段とを備えたこと
を特徴とするコイル試験装置。
【請求項２３】前記判定手段は、コロナ放電，ピーク電圧，減衰振動時間，積分値がそれ
ぞれ判定基準に合致したときに、当該コイルを良品判定
し、ピーク電圧が検査基準を満足し、減衰振動時間が検査基
準より長く、積分値が印加したインパルス電圧と同じと
きに、当該コイルを断線と判定し、ピーク電圧がほぼ０ボルトで、減衰振動時間がほぼ０秒
で、積分値がほぼ０ボルトのときに、当該コイルを短絡
と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，積分値が測定の度に異なる
ときに、当該コイルをレアショートと判定し、ピーク電圧が基準未満で、減衰振動時間が基準に合致
し、積分値が基準未満で安定しているときに、当該コイ
ルを高圧電圧印加不良と判定し、ピーク電圧，減衰振動時間，積分値が基準に合致して
も、コロナ放電が発生したときに、当該コイルをコロナ
放電有りで不良と判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と積分値が基準より少し大きく安定しているとき
に、当該コイルは巻線が多いものと判定し、コロナ放電が無く、ピーク電圧が基準に合致し、減衰振
動時間と積分値が基準より少し小さく安定しているとき
に、当該コイルは巻線が少ないものと判定する判定手段
であることを特徴とする請求項２２に記載のコイル試験
装置。