JPH0684664U - 劣化検出機能付きx線管 - Google Patents
劣化検出機能付きx線管Info
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- JPH0684664U JPH0684664U JP2547093U JP2547093U JPH0684664U JP H0684664 U JPH0684664 U JP H0684664U JP 2547093 U JP2547093 U JP 2547093U JP 2547093 U JP2547093 U JP 2547093U JP H0684664 U JPH0684664 U JP H0684664U
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- ray tube
- cathode
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 個別に交換時機を判定することによりX線管
を一律に交換することによる経済的な不利の改善を図っ
た劣化検出機能付きX線管を実現する。 【構成】 カソードと,このカソードが発生する熱電子
の出射を制御するグリッドとこのグリッドを通過した熱
電子を収束する電子レンズと,前記熱電子が衝突するタ
ーゲットと,前記ターゲットとカソード間に流れるター
ゲット電流を監視するターゲット電流監視回路と,該電
流監視回路の出力に基づいて前記グリッドとカソード間
に印加する電圧を制御するグリッド電圧制御回路を備え
たX線管において,前記グリッド電圧を監視するグリッ
ド電圧監視回路を設け,該グリッド電圧が予め定めた所
定の電圧に達した時をX線管の交換時機とした。
を一律に交換することによる経済的な不利の改善を図っ
た劣化検出機能付きX線管を実現する。 【構成】 カソードと,このカソードが発生する熱電子
の出射を制御するグリッドとこのグリッドを通過した熱
電子を収束する電子レンズと,前記熱電子が衝突するタ
ーゲットと,前記ターゲットとカソード間に流れるター
ゲット電流を監視するターゲット電流監視回路と,該電
流監視回路の出力に基づいて前記グリッドとカソード間
に印加する電圧を制御するグリッド電圧制御回路を備え
たX線管において,前記グリッド電圧を監視するグリッ
ド電圧監視回路を設け,該グリッド電圧が予め定めた所
定の電圧に達した時をX線管の交換時機とした。
Description
【0001】
本考案は,シート状物体(例えば紙)の灰分や厚さ計に用いられるX線管に関 し,X線管の劣化の程度を検出することにより,装置の信頼性の向上を図った劣 化検出機能付きX線管に関する。
【0002】
セルロースのX線吸収係数を例えば1とした場合,クレーやタルク等灰分のX 線吸収係数はおよそ4となる。このように,X線はセルロースに比較して灰分に 大きく吸収される。 灰分計や厚さ計は,このクレーやタルク等の灰分がパルプのセルロースにより X線を吸収しやすい性質にあることを利用して,紙の滑らかさを促進したり,イ ンクのにじみ防止や白さを改善するための添加物として含まれる灰分量(率)を 測定するセンサである。
【0003】 図3はこのようなセンサに使用される従来のX線管の構成図(a),及びター ゲット電流とグリッド制御電圧の関係を示す図(b)である。 図(a)において1は真空容器からなるガラス管,2はカソードKを加熱する ヒータ,3はX線の出射窓,G1はカソードが発生する熱電子の出射を制御する 制御グリッドで,この制御グリッドとカソードKの間にはカソードK側を正とす る可変電圧源VG1が接続されている。
【0004】 G2はグリッドを通過した熱電子を収束する電子レンズであり,この電子レン ズとカソードKの間にはカソード側を負とする電圧源VG1が接続されている。 Tはチタンやタングステン等からなるターゲットで,このターゲットTとカソー ドKの間にはカソード側を負とする電圧源VG1が接続されている。4はターゲ ット電流を監視するターゲット電流監視回路であり,この監視回路4の出力はグ リッド電圧制御回路5に入力されている。
【0005】 上記の構成において,ヒータで熱せられたカソードは,熱電子を発生する。こ の熱電子は,ターゲットとカソード間に印加されている電圧HV(5〜8kV) による電界で加速され,電子レンズG2で収束されてターゲットTに当たり,こ こでチタン原子の核外電子をはじき飛ばす。はじき飛ばされて電子の欠落した軌 道には,それを補うように外側の軌道にある電子が移動してくるが,このとき両 軌道のエネルギー差に対応した特性X線を発生する。
【0006】 ここで,カソードからターゲットに向かう電子の量(ターゲット電流IT)は ターゲット電流監視回路により監視され,この監視回路の出力をグリッド電圧制 御回路5に入力することにより一定になるように制御されている。ターゲット電 流を一定にすることは,即ち出力されるX線の量を一定にすることであり,制御 グリッドG1への印加電圧VG1はX線管の劣化と共に変化する。
【0007】
ところで,ターゲット電流とグリッド制御電圧の関係は図3(b)に示すよう なものであり,X線管のカソードが劣化すると放出される電子の量が少なくなる 。従ってカソードが劣化して(ターゲット電流ITが小さくなる)とITを一定に するようにVG1の値を零側に変化させる制御回路5が設けられている。
【0008】 しかしながら,上記従来のX線管におけるグリッド電圧制御回路ではVG1の 電圧はカソードがダウンするまで行われるので交換時期を逸するとX線の出力が 不安定になり正確な測定が出来なくなる。X線管の寿命は使用環境や個体差によ るばらつきが大きい。そのため,ある一定時間経過したらX線管を早めに交換す る方法がとられているが,中にはまだ十分に使用可能なものが含まれていて経済 的てはないという問題があった。 本考案は上記従来技術の課題に鑑みて成されたもので,個別に交換時機を判定 することによりX線管を一律に交換することによる経済的な不利の改善を図るこ とを目的とするものである。
【0009】
上記課題を解決する為に本考案は,カソードと,このカソードが発生する熱電 子の出射を制御するグリッドとこのグリッドを通過した熱電子を収束する電子レ ンズと,前記熱電子が衝突するターゲットと,前記ターゲットとカソード間に流 れるターゲット電流を監視するターゲット電流監視回路と,該電流監視回路の出 力に基づいて前記グリッドとカソード間に印加する電圧を制御するグリッド電圧 制御回路を備えたX線管において,前記グリッド電圧を監視するグリッド電圧監 視回路を設け,該グリッド電圧が予め定めた所定の電圧に達した時をX線管の交 換時機としたことを特徴とするものである。
【0010】
グリッド電圧監視回路はグリッド電圧が予め定めた所定の電圧に達した時信号 を発する。この信号は例えば上位計算機に送られてX線管が劣化して交換時機に あることを出力若しくは表示する。
【0011】
以下,図面に従い本考案を説明する。図1は本考案に用いる劣化検出機能付き X線管の一実施例を示す構成図である。なお,図3に示す従来装置と同一要素に は同一符号を付して重複する説明は省略するが,図3と異なる点はグリッド電圧 制御回路の監視回路7を設けた点のみである。また,本考案においても監視回路 7以外は図3と同様に動作する。 図においてグリッド電圧監視回路7は制御グリッドG1に印加されるグリッド 電圧を監視する。
【0012】 図2は制御グリッドG1に印加される負電圧とその負電圧が経時変化によるカ ソードの劣化によって零側に振れている状態を示す関係図であり,図中A点はグ リッド電圧監視回路7が警報信号を発する電圧を示している。この監視回路7か ら発された信号は上位計算機8に送られ,計算機8はX線管(カソード)が劣化 して交換時期にあることを警報し,若しくは表示する。 なお,本実施例においてはグリッド電圧監視回路7の出力を計算機8に送信し たが本実施例に限ることなく例えば監視回路7自体に警報・表示機能を持たせて もよい。
【0013】
以上実施例とともに具体的に説明した様に,本考案の劣化検出機能付きX線管 によれば,グリッド電圧を監視するグリッド電圧監視回路を設け,該グリッド電 圧が予め定めた所定の電圧に達した時をX線管の交換時機としたので,コスト的 に有利な劣化検出機能付きX線管を実現することができる。
【図1】本考案の劣化検出機能付きX線管の一実施例を
示す構成図である。
示す構成図である。
【図2】負電圧が経時変化によるX線管の劣化によって
零側に振れている状態を示す関係図である。
零側に振れている状態を示す関係図である。
【図3】従来のX線管を示す構成図である。
1 ガラス管 2 ヒータ 3 出力窓 4 ターゲット電流監視回路 5 グリッド電圧制御回路 7 グリッド電圧監視回路 8 計算機 G1 制御グリッド G2 電子レンズ K カソード T ターゲット HV 高電圧源
Claims (1)
- 【請求項1】 カソードと,このカソードが発生する熱
電子の出射を制御するグリッドとこのグリッドを通過し
た熱電子を収束する電子レンズと,前記熱電子が衝突す
るターゲットと,前記ターゲットとカソード間に流れる
ターゲット電流を監視するターゲット電流監視回路と,
該電流監視回路の出力に基づいて前記グリッドとカソー
ド間に印加する電圧を制御するグリッド電圧制御回路を
備えたX線管において,前記グリッド電圧を監視するグ
リッド電圧監視回路を設け,該グリッド電圧が予め定め
た所定の電圧に達した時をX線管の交換時機としたこと
を特徴とする劣化検出機能付きX線管。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2547093U JPH0684664U (ja) | 1993-05-17 | 1993-05-17 | 劣化検出機能付きx線管 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2547093U JPH0684664U (ja) | 1993-05-17 | 1993-05-17 | 劣化検出機能付きx線管 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0684664U true JPH0684664U (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=12166929
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2547093U Pending JPH0684664U (ja) | 1993-05-17 | 1993-05-17 | 劣化検出機能付きx線管 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0684664U (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002289396A (ja) * | 2001-03-26 | 2002-10-04 | Hitachi Medical Corp | X線装置 |
JP2006189350A (ja) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | 軟x線発生装置 |
JP2007042516A (ja) * | 2005-08-04 | 2007-02-15 | Hamamatsu Photonics Kk | X線発生装置 |
JP2009049018A (ja) * | 2001-08-29 | 2009-03-05 | Toshiba Corp | X線発生装置 |
JP2010035863A (ja) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 放射線治療装置および放射線照射方法 |
-
1993
- 1993-05-17 JP JP2547093U patent/JPH0684664U/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4691587B2 (ja) * | 2008-08-06 | 2011-06-01 | 三菱重工業株式会社 | 放射線治療装置および放射線照射方法 |
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