JPH0676488A - テスト・プロシージヤを遂行する回路 - Google Patents
テスト・プロシージヤを遂行する回路Info
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- JPH0676488A JPH0676488A JP5135690A JP13569093A JPH0676488A JP H0676488 A JPH0676488 A JP H0676488A JP 5135690 A JP5135690 A JP 5135690A JP 13569093 A JP13569093 A JP 13569093A JP H0676488 A JPH0676488 A JP H0676488A
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- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
- G11B20/10037—A/D conversion, D/A conversion, sampling, slicing and digital quantisation or adjusting parameters thereof
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- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
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- G11B20/10046—Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter
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- G11B2005/0005—Arrangements, methods or circuits
- G11B2005/001—Controlling recording characteristics of record carriers or transducing characteristics of transducers by means not being part of their structure
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気ストレージ装置のためのデータのストア
及び回収システムにおけるテスト・プロシージヤを遂行
する回路及び方法を与える。 【構成】 データのストア及び回収システム中の読み取
り動作からのエラー・サンプル値は、出力信号を発生す
るために、第１処理路及び第２処理路に印加される。ま
た、論理的なデータ・レベルのレベル・サンプル信号源
が与えられている。第１処理路は各エラー値サンプルの
二乗値を含む出力信号を発生する。第２処理路はエラー
値サンプルと比較レベルとを比較して、各比較の結果値
を含む出力信号を発生する。
及び回収システムにおけるテスト・プロシージヤを遂行
する回路及び方法を与える。 【構成】 データのストア及び回収システム中の読み取
り動作からのエラー・サンプル値は、出力信号を発生す
るために、第１処理路及び第２処理路に印加される。ま
た、論理的なデータ・レベルのレベル・サンプル信号源
が与えられている。第１処理路は各エラー値サンプルの
二乗値を含む出力信号を発生する。第２処理路はエラー
値サンプルと比較レベルとを比較して、各比較の結果値
を含む出力信号を発生する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、データをストアし、そ
して、回収するシステム、より具体的に言えば、データ
のストア及び回収システムをテストしてエラーを測定す
る回路に関する。本発明をより特定して言えば、本発明
は、データのストア及び回収システムをテストするため
に、エラー値サンプルからエラーを測定する回路に関す
る。
して、回収するシステム、より具体的に言えば、データ
のストア及び回収システムをテストしてエラーを測定す
る回路に関する。本発明をより特定して言えば、本発明
は、データのストア及び回収システムをテストするため
に、エラー値サンプルからエラーを測定する回路に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】コンピユータは、しばしば、データ及び
プログラムのアーカイバル記憶（保存記憶）、または長
期間記憶用の補助的なデータ・ストレージ装置を含んで
いる。補助的なデータ・ストレージ装置は、データを書
き込み、そして、そのデータを後で用いるために読み取
ることのできる媒体を持つている。磁気デイスク装置
は、一般に用いられている補助的なデータ・ストレージ
装置である。磁気デイスク装置は、データをストアする
ために積層され、回転している硬い磁気デイスクを用い
ている。磁化することのできるデイスク面が記録媒体を
与える。データは、デイスクの表面上で半径方向に間隔
を置いて配列された同心円のデータ情報トラツクに記録
される。駆動軸の方向に向かい、そして、駆動軸から離
れる通路に沿つて駆動される変換ヘツドは、デイスク面
にデータを書き込み、そして、デイスク面からデータを
読み取る。
プログラムのアーカイバル記憶（保存記憶）、または長
期間記憶用の補助的なデータ・ストレージ装置を含んで
いる。補助的なデータ・ストレージ装置は、データを書
き込み、そして、そのデータを後で用いるために読み取
ることのできる媒体を持つている。磁気デイスク装置
は、一般に用いられている補助的なデータ・ストレージ
装置である。磁気デイスク装置は、データをストアする
ために積層され、回転している硬い磁気デイスクを用い
ている。磁化することのできるデイスク面が記録媒体を
与える。データは、デイスクの表面上で半径方向に間隔
を置いて配列された同心円のデータ情報トラツクに記録
される。駆動軸の方向に向かい、そして、駆動軸から離
れる通路に沿つて駆動される変換ヘツドは、デイスク面
にデータを書き込み、そして、デイスク面からデータを
読み取る。
【０００３】データ回収システムは、デイスク面に書き
込まれたデータを再構成するために、変換ヘツドによつ
てデイスク面上で磁化された領域から電気的な信号を発
生する。データ回収システムによつて再構成されたデー
タが正確さの確度を最大にするために、最大確度シーケ
ンス検出（maximum-likelihood sequence detection−
ＰＲＭＬ）技術による部分応答信号が、デイジタル・デ
ータ通信及び記録用のアプリケーシヨンに使用される。
データ・ストレージ・システムは、「制御された」内部
シンボル・インターフエースにより信号を発生するため
に、部分応答信号法を用いている。ＰＲＭＬは、記録さ
れたデータの最も確からしい予測を発生するために、デ
ータ回収システムによつて使用される技術である。
込まれたデータを再構成するために、変換ヘツドによつ
てデイスク面上で磁化された領域から電気的な信号を発
生する。データ回収システムによつて再構成されたデー
タが正確さの確度を最大にするために、最大確度シーケ
ンス検出（maximum-likelihood sequence detection−
ＰＲＭＬ）技術による部分応答信号が、デイジタル・デ
ータ通信及び記録用のアプリケーシヨンに使用される。
データ・ストレージ・システムは、「制御された」内部
シンボル・インターフエースにより信号を発生するため
に、部分応答信号法を用いている。ＰＲＭＬは、記録さ
れたデータの最も確からしい予測を発生するために、デ
ータ回収システムによつて使用される技術である。
【０００４】磁気ストレージ装置を製造する時及び磁気
ストレージを動作する時に、磁気ストレージ装置を検査
するために、種々の方法が知られている。多くのテスト
は、非直線性のビツト・シフトを訂正するための事前保
証値を決定するために、変換ヘツドを担持しているスラ
イダの飛翔高さを監視することに向けられている。
ストレージを動作する時に、磁気ストレージ装置を検査
するために、種々の方法が知られている。多くのテスト
は、非直線性のビツト・シフトを訂正するための事前保
証値を決定するために、変換ヘツドを担持しているスラ
イダの飛翔高さを監視することに向けられている。
【０００５】データのストア及び回収システムにおいて
遂行されている幾つかのテストは、高価なテスト装置を
使用することが必要である。幾つかのサンプリング・シ
ステムにおいて、内部シンボルのインターフエースを予
測するのに使用する等化値（equalization value）を計
算することが必要である。この計算を行なうために、デ
イジタル・オシロスコープ、あるいは、論理分析装置及
びそれに用いられる数字式プロセツサのようなテスト装
置を含む特別なテスト段の装置が、研究所及び工場にお
いて使用されている。各テスト段の装置は可成り高価な
装置である。その結果、テストを行なうことに含まれる
コスト及び時間が大きいので、不作為に選ばれた装置だ
けがテストされる。
遂行されている幾つかのテストは、高価なテスト装置を
使用することが必要である。幾つかのサンプリング・シ
ステムにおいて、内部シンボルのインターフエースを予
測するのに使用する等化値（equalization value）を計
算することが必要である。この計算を行なうために、デ
イジタル・オシロスコープ、あるいは、論理分析装置及
びそれに用いられる数字式プロセツサのようなテスト装
置を含む特別なテスト段の装置が、研究所及び工場にお
いて使用されている。各テスト段の装置は可成り高価な
装置である。その結果、テストを行なうことに含まれる
コスト及び時間が大きいので、不作為に選ばれた装置だ
けがテストされる。
【０００６】すべての装置についての磁気的な細部の情
報を得ることによつて、データのストア及び回収システ
ムの誤動作を減らす必要がある。また、製造工程の処理
精度を評価するために、データのストア及び回収システ
ム中で遂行されたプロシージヤの積み重ねた結果値のデ
ータベースを、後でアクセスする必要がある。また、製
造段階において生じた問題を製造工程の速い段階で解決
することができるように、個々のデータのストア及び回
収システムに関するプロシージヤを遂行し、そして、そ
のプロシージヤの結果を、製造用のデータベースに対し
て直ちに利用可能にする必要がある。
報を得ることによつて、データのストア及び回収システ
ムの誤動作を減らす必要がある。また、製造工程の処理
精度を評価するために、データのストア及び回収システ
ム中で遂行されたプロシージヤの積み重ねた結果値のデ
ータベースを、後でアクセスする必要がある。また、製
造段階において生じた問題を製造工程の速い段階で解決
することができるように、個々のデータのストア及び回
収システムに関するプロシージヤを遂行し、そして、そ
のプロシージヤの結果を、製造用のデータベースに対し
て直ちに利用可能にする必要がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、デー
タのストア及び回収システムにおけるプロシージヤを遂
行するためのエラー測定回路を提供することにある。
タのストア及び回収システムにおけるプロシージヤを遂
行するためのエラー測定回路を提供することにある。
【０００８】本発明の他の目的は、エラー値サンプルを
使用したデータのストア及び回収システムにおけるプロ
シージヤを遂行するためのエラー測定回路を提供するこ
とにある。
使用したデータのストア及び回収システムにおけるプロ
シージヤを遂行するためのエラー測定回路を提供するこ
とにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ストレー
ジ装置のためのデータのストア及び回収システムにおけ
るテスト・プロシージヤを遂行するための回路及び方法
を与える。データのストア及び回収システム中の読み取
り動作からのエラー・サンプル値は、出力信号を発生す
るために、第１処理路及び第２処理路に印加される。ま
た、論理的なデータ・レベルのレベル・サンプル値の信
号源が与えられている。第１処理路は、各エラー値サン
プルの二乗値を含む出力信号を発生する。第２処理路
は、エラー値サンプルと、比較レベル値とを比較して、
各比較の結果値を含む出力信号を発生する。第１処理路
の出力信号、第２処理路の出力信号、または、レベル・
サンプル値が選択され、そして、データ・タイプに関連
される。選択された信号に関連したデータ・タイプに一
致したことに応答して、選択された信号がゲートされ、
加算される。選択された信号が加算される時間の長さは
変化する。加算された値は、データのストア及び回収シ
ステムの精度を決定するために、選択されたテストに対
する入力変数として使用される。
ジ装置のためのデータのストア及び回収システムにおけ
るテスト・プロシージヤを遂行するための回路及び方法
を与える。データのストア及び回収システム中の読み取
り動作からのエラー・サンプル値は、出力信号を発生す
るために、第１処理路及び第２処理路に印加される。ま
た、論理的なデータ・レベルのレベル・サンプル値の信
号源が与えられている。第１処理路は、各エラー値サン
プルの二乗値を含む出力信号を発生する。第２処理路
は、エラー値サンプルと、比較レベル値とを比較して、
各比較の結果値を含む出力信号を発生する。第１処理路
の出力信号、第２処理路の出力信号、または、レベル・
サンプル値が選択され、そして、データ・タイプに関連
される。選択された信号に関連したデータ・タイプに一
致したことに応答して、選択された信号がゲートされ、
加算される。選択された信号が加算される時間の長さは
変化する。加算された値は、データのストア及び回収シ
ステムの精度を決定するために、選択されたテストに対
する入力変数として使用される。
【００１０】
【実施例】図１を参照すると、データのストア及び回収
システム１０及びインターフエース制御装置１４のブロ
ツク図が示されている。データのストア及び回収システ
ムの特定の駆動装置の細部の構造に限定されることなく
本発明を適用することができるから、データのストア及
び回収システム１０は、本発明を理解するのに必要な部
分のみが示されている。
システム１０及びインターフエース制御装置１４のブロ
ツク図が示されている。データのストア及び回収システ
ムの特定の駆動装置の細部の構造に限定されることなく
本発明を適用することができるから、データのストア及
び回収システム１０は、本発明を理解するのに必要な部
分のみが示されている。
【００１１】図１及び図２を参照すると、データのスト
ア及び回収システム１０は、各デイスク１８が少なくと
も１つの磁気面２０を持つデイスクの積層体１６を含ん
でいることが分る。デイスク１８は、スピンドル及びモ
ータを一体にした組立体２６によつて同時に回転され
る。各デイスク１８上のデータ情報は、デイスク面２０
の上で移動可能な対応する変換ヘツド２８によつて読み
取られ、あるいは、書き込まれる。
ア及び回収システム１０は、各デイスク１８が少なくと
も１つの磁気面２０を持つデイスクの積層体１６を含ん
でいることが分る。デイスク１８は、スピンドル及びモ
ータを一体にした組立体２６によつて同時に回転され
る。各デイスク１８上のデータ情報は、デイスク面２０
の上で移動可能な対応する変換ヘツド２８によつて読み
取られ、あるいは、書き込まれる。
【００１２】変換ヘツド２８は、支持軸３４の周りで同
時に回動するように装着されたアーム３２によつて担持
された可撓性スプリング３０上に設けられている。複数
個のアーム３２の内の１つのアームは、ヘツド駆動モー
タ３８により回動する運動で駆動される延長部材３６を
含んでいる。通常、種々の駆動装置が使われているが、
モータ３８は、追従されるべきデータ・シリンダに対し
てヘツドを整列して位置付けるために、半径方向に同期
して変換ヘツド２８を移動するよう制御される磁石及び
コアの組立体（図示せず）と協働するボイスコイル・モ
ータ（ＶＣＭ）３９を含んでいる。ＶＣＭ３９は、一定
の磁界内で移動可能であり、コイルの移動方向及び移動
速度は、印加される電流によつて制御される。デイスク
・フアイル、即ちデータのストア及び回収システム１０
の種々の素子は、ライン２６Ａ上のモータ制御信号及び
ライン３８Ａ上の位置制御信号のような制御装置１４に
より発生される信号によつて動作が制御される。
時に回動するように装着されたアーム３２によつて担持
された可撓性スプリング３０上に設けられている。複数
個のアーム３２の内の１つのアームは、ヘツド駆動モー
タ３８により回動する運動で駆動される延長部材３６を
含んでいる。通常、種々の駆動装置が使われているが、
モータ３８は、追従されるべきデータ・シリンダに対し
てヘツドを整列して位置付けるために、半径方向に同期
して変換ヘツド２８を移動するよう制御される磁石及び
コアの組立体（図示せず）と協働するボイスコイル・モ
ータ（ＶＣＭ）３９を含んでいる。ＶＣＭ３９は、一定
の磁界内で移動可能であり、コイルの移動方向及び移動
速度は、印加される電流によつて制御される。デイスク
・フアイル、即ちデータのストア及び回収システム１０
の種々の素子は、ライン２６Ａ上のモータ制御信号及び
ライン３８Ａ上の位置制御信号のような制御装置１４に
より発生される信号によつて動作が制御される。
【００１３】図３を参照すると、図１に示したデータの
ストア及び回収システムにおいて、データをストアし、
そして、検索する処理を示すブロツク図が示されてい
る。書き込まれるべきデータは、例えば、記録された全
ての行列において記録された偶数及び奇数の行列中の連
続したゼロの最小数、最大数及びゼロの最大ランレング
スのような、予め決められたランレングス制約条件を持
つ変調コード出力を与えるためのエンコーダ３００に印
加される。エンコーダ３００の出力は、エンコーダ３０
０の並列の９ビツト幅の出力を直列形式に変換する直列
化回路３０１に印加される。前置コーダ３０２は、直列
化回路３０１に後続しており、Ｄを単位遅延演算とし
て、１／（１−Ｄ2）の演算を行なうことが記載されて
いる。前置コーダ３０２は、（１−Ｄ2）に等化された
ヘツド及びデイスク転送機能の影響を取り除く。これ
は、デコーダ３２０から出力された使用者のデータがエ
ンコーダ３００に書き込まれた使用者のデータと同じデ
ータであることを可能にする。前置コーダ３０２は、エ
ンコーダ３００の構造を簡単にするために使用される。
前置コーダ３０２を使用しないと、１、０、０−１のペ
アー及び１−０のペアーのランレングスに制約条件を設
けなければならない。前置補償回路３０４は、前置コー
ダ３０２に接続され、書き込みドライバ３０６に印加さ
れる変調バイナリ・パルスを与える。前置補償回路３０
４は、データを表わす選択ビツトを書き込む時の遅延に
よつて、デイスク面に対してデータを書き込む時に発生
する非直線性ビツト・シフトを補償するのに使用され
る。前置補償回路３０４からの補償された出力は、書き
込み変換装置への書き込み電流を印加する書き込みドラ
イバ３０６に対する変調関数として印加される。
ストア及び回収システムにおいて、データをストアし、
そして、検索する処理を示すブロツク図が示されてい
る。書き込まれるべきデータは、例えば、記録された全
ての行列において記録された偶数及び奇数の行列中の連
続したゼロの最小数、最大数及びゼロの最大ランレング
スのような、予め決められたランレングス制約条件を持
つ変調コード出力を与えるためのエンコーダ３００に印
加される。エンコーダ３００の出力は、エンコーダ３０
０の並列の９ビツト幅の出力を直列形式に変換する直列
化回路３０１に印加される。前置コーダ３０２は、直列
化回路３０１に後続しており、Ｄを単位遅延演算とし
て、１／（１−Ｄ2）の演算を行なうことが記載されて
いる。前置コーダ３０２は、（１−Ｄ2）に等化された
ヘツド及びデイスク転送機能の影響を取り除く。これ
は、デコーダ３２０から出力された使用者のデータがエ
ンコーダ３００に書き込まれた使用者のデータと同じデ
ータであることを可能にする。前置コーダ３０２は、エ
ンコーダ３００の構造を簡単にするために使用される。
前置コーダ３０２を使用しないと、１、０、０−１のペ
アー及び１−０のペアーのランレングスに制約条件を設
けなければならない。前置補償回路３０４は、前置コー
ダ３０２に接続され、書き込みドライバ３０６に印加さ
れる変調バイナリ・パルスを与える。前置補償回路３０
４は、データを表わす選択ビツトを書き込む時の遅延に
よつて、デイスク面に対してデータを書き込む時に発生
する非直線性ビツト・シフトを補償するのに使用され
る。前置補償回路３０４からの補償された出力は、書き
込み変換装置への書き込み電流を印加する書き込みドラ
イバ３０６に対する変調関数として印加される。
【００１４】アナログ読み取り信号は、（１−Ｄ2）で
表示されたヘツド及びデイスクの演算ブロツク３０８で
受け取られる。読み取り信号は、アナログ信号からデイ
ジタル信号へのコンバータ（ＡＤＣ）３１２によつて、
６４個の６ビツト・サンプル値を与えるデイジタル形式
に変換される。次に、デイジタル・フイルタ３１６は、
これらのサンプル値を取り、これらのサンプル値を濾過
し、そして、等化されたデータ・サンプルを出力する。
デイジタル・フイルタ３１６の出力は、ビテルビ・デコ
ーダ３１８に印加される。ビテルビ・デコーダ３１８の
直列出力は、システムのデータ回収部分を終了するため
のデコーダ３２０に接続された並直列変換回路３１９に
おいて非直列化される。
表示されたヘツド及びデイスクの演算ブロツク３０８で
受け取られる。読み取り信号は、アナログ信号からデイ
ジタル信号へのコンバータ（ＡＤＣ）３１２によつて、
６４個の６ビツト・サンプル値を与えるデイジタル形式
に変換される。次に、デイジタル・フイルタ３１６は、
これらのサンプル値を取り、これらのサンプル値を濾過
し、そして、等化されたデータ・サンプルを出力する。
デイジタル・フイルタ３１６の出力は、ビテルビ・デコ
ーダ３１８に印加される。ビテルビ・デコーダ３１８の
直列出力は、システムのデータ回収部分を終了するため
のデコーダ３２０に接続された並直列変換回路３１９に
おいて非直列化される。
【００１５】また、デイジタル・フイルタ３１６の出力
は、ブロツク３１７において示された汎用エラー測定回
路に印加される。汎用エラー測定回路３１７は、等化さ
れたデータ・サンプルを入力として受け取り、そして、
等化データ・サンプルから発生されたエラー値サンプル
を用いるテストを遂行する。次に、テストの結果は、デ
ータのストア及び回収システム中のマイクロプロセツサ
のバスに利用可能にされる。
は、ブロツク３１７において示された汎用エラー測定回
路に印加される。汎用エラー測定回路３１７は、等化さ
れたデータ・サンプルを入力として受け取り、そして、
等化データ・サンプルから発生されたエラー値サンプル
を用いるテストを遂行する。次に、テストの結果は、デ
ータのストア及び回収システム中のマイクロプロセツサ
のバスに利用可能にされる。
【００１６】図４を参照すると、本発明の装置及び方法
に従つたエラー測定回路３１７のエラー測定を遂行する
回路を説明するブロツク図が示されている。ブロツク３
１６（図３を参照）からのデータ・サンプルの出力は、
ブロツク４１０で受け取られる。ブロツク４１０は、デ
ータ・サンプルからのエラー値サンプルの発生を示して
いる。エラー値サンプルは、データ・サンプルの予測さ
れた値と、受け取られたデータ・サンプルの値との間の
差を計算することによつて発生される。データ・サンプ
ルは、データのストア及び回収システム中にストアされ
た信号から得られる。正の１、負の１、または０のよう
なデータ・タイプは、受け取られたエラー値サンプルに
関連して発生された各エラー値サンプルに対して判別さ
れる。
に従つたエラー測定回路３１７のエラー測定を遂行する
回路を説明するブロツク図が示されている。ブロツク３
１６（図３を参照）からのデータ・サンプルの出力は、
ブロツク４１０で受け取られる。ブロツク４１０は、デ
ータ・サンプルからのエラー値サンプルの発生を示して
いる。エラー値サンプルは、データ・サンプルの予測さ
れた値と、受け取られたデータ・サンプルの値との間の
差を計算することによつて発生される。データ・サンプ
ルは、データのストア及び回収システム中にストアされ
た信号から得られる。正の１、負の１、または０のよう
なデータ・タイプは、受け取られたエラー値サンプルに
関連して発生された各エラー値サンプルに対して判別さ
れる。
【００１７】エラー値サンプルは、第１処理路、第２処
理路及び第３処理路に入力される。第１処理路へ入力さ
れたエラー値サンプルは、二乗演算回路４１２によつて
二乗される。二乗演算回路４１２は、各エラー値サンプ
ルの二乗値を含む出力信号を発生する。第２処理路に入
力されたエラー値サンプルは、比較器４１４によつて比
較レベル値４１６と比較される。比較器４１４は、入力
エラー値サンプルが比較レベル値４１６に等しいか、ま
たは大きい時には、論理値１の出力を発生し、入力エラ
ー値サンプルが比較レベル値４１６よりも小さい時に
は、論理値０の出力を発生する。
理路及び第３処理路に入力される。第１処理路へ入力さ
れたエラー値サンプルは、二乗演算回路４１２によつて
二乗される。二乗演算回路４１２は、各エラー値サンプ
ルの二乗値を含む出力信号を発生する。第２処理路に入
力されたエラー値サンプルは、比較器４１４によつて比
較レベル値４１６と比較される。比較器４１４は、入力
エラー値サンプルが比較レベル値４１６に等しいか、ま
たは大きい時には、論理値１の出力を発生し、入力エラ
ー値サンプルが比較レベル値４１６よりも小さい時に
は、論理値０の出力を発生する。
【００１８】第３処理路は、乗算器４１８とインバータ
４２０とを含んでいる。第３処理路へのエラー値サンプ
ル入力は、乗算器４１８及びインバータ４２０の両方に
より処理されるか、または、乗算器４１８及びインバー
タ４２０のいずれによつても処理されない。加えて、第
３処理路中のエラー値サンプル入力は、乗算器４１８及
びインバータ４２０のいずれによつても処理されない。
この選択は、遂行されるテストに従つてマイクロプロセ
ツサ４２１によつて行なわれる。
４２０とを含んでいる。第３処理路へのエラー値サンプ
ル入力は、乗算器４１８及びインバータ４２０の両方に
より処理されるか、または、乗算器４１８及びインバー
タ４２０のいずれによつても処理されない。加えて、第
３処理路中のエラー値サンプル入力は、乗算器４１８及
びインバータ４２０のいずれによつても処理されない。
この選択は、遂行されるテストに従つてマイクロプロセ
ツサ４２１によつて行なわれる。
【００１９】乗算器４１８は、データのストア及び回収
システム中にストアされた信号の勾配によつて、各エラ
ー値サンプルを乗算する。ストアされた信号に沿つた各
瞬間が関連した勾配を持つている。データ・サンプルに
関連してストアされた信号の勾配は、そのデータ・サン
プルから発生されたエラー値サンプルによつて乗算され
る。この乗算の結果は、若し、インバータ４２０がこの
処理の一部であれば、インバータ４２０中に入力され
る。
システム中にストアされた信号の勾配によつて、各エラ
ー値サンプルを乗算する。ストアされた信号に沿つた各
瞬間が関連した勾配を持つている。データ・サンプルに
関連してストアされた信号の勾配は、そのデータ・サン
プルから発生されたエラー値サンプルによつて乗算され
る。この乗算の結果は、若し、インバータ４２０がこの
処理の一部であれば、インバータ４２０中に入力され
る。
【００２０】インバータ４２０は、若し、乗算器４１８
が処理に含まれていれば、乗算されたエラー値サンプル
をその入力として受け取り、あるいは、若し、乗算器４
１８が処理に含まれていなければ、エラー値サンプルを
その入力として受け取る。インバータ４２０は、ゼロの
データ・タイプに関連して連続したエラー値サンプル、
または、乗算されたエラー値サンプルの入力に応答し
て、連続したエラー値サンプルの最後のサンプルの符
号、または、乗算され連続したエラー値サンプルの最後
のサンプルの符号を反転することによつて入力を変換す
る。
が処理に含まれていれば、乗算されたエラー値サンプル
をその入力として受け取り、あるいは、若し、乗算器４
１８が処理に含まれていなければ、エラー値サンプルを
その入力として受け取る。インバータ４２０は、ゼロの
データ・タイプに関連して連続したエラー値サンプル、
または、乗算されたエラー値サンプルの入力に応答し
て、連続したエラー値サンプルの最後のサンプルの符
号、または、乗算され連続したエラー値サンプルの最後
のサンプルの符号を反転することによつて入力を変換す
る。
【００２１】セレクタ４２２は、第１処理路の信号、第
２処理路の信号、第３処理路の信号、または、論理的な
データ・レベルのレベル・サンプル値の供給源からの信
号４２４を入力として受け取る。良好な実施例におい
て、サンプル値４２４の供給源は、セレクタ４２２への
入力として論理値１を与える。マイクロプロセツサ４２
１は、これらの処理路の内の１つの通路の出力信号を通
すか、または、レベル・サンプル源の信号４２４をゲー
ト４２６に通すためにセレクタ４２２を使用する。
２処理路の信号、第３処理路の信号、または、論理的な
データ・レベルのレベル・サンプル値の供給源からの信
号４２４を入力として受け取る。良好な実施例におい
て、サンプル値４２４の供給源は、セレクタ４２２への
入力として論理値１を与える。マイクロプロセツサ４２
１は、これらの処理路の内の１つの通路の出力信号を通
すか、または、レベル・サンプル源の信号４２４をゲー
ト４２６に通すためにセレクタ４２２を使用する。
【００２２】セレクタ４２２が、処理路の内の１つの処
理路の信号か、またはサンプル源の信号４２６によつて
発生された信号を入力として選択した後に、セレクタ４
２２は、ゲート４２６に選択された信号を出力する。デ
ータ・タイプの信号源４２８によつて供給された所望の
データ・タイプに応答して、ゲート４２６は、選択され
た信号を通過する。良好な実施例において、信号がゲー
ト４２６を通過する時間的な長さは、信号源４３０によ
つて示されているように、８６４ビツトか、または、２
０１６ビツトのいずれかの期間である。マイクロプロセ
ツサ４２１は、テストのために必要とされるサンプルの
数に従つてこの期間の長さを決める。
理路の信号か、またはサンプル源の信号４２６によつて
発生された信号を入力として選択した後に、セレクタ４
２２は、ゲート４２６に選択された信号を出力する。デ
ータ・タイプの信号源４２８によつて供給された所望の
データ・タイプに応答して、ゲート４２６は、選択され
た信号を通過する。良好な実施例において、信号がゲー
ト４２６を通過する時間的な長さは、信号源４３０によ
つて示されているように、８６４ビツトか、または、２
０１６ビツトのいずれかの期間である。マイクロプロセ
ツサ４２１は、テストのために必要とされるサンプルの
数に従つてこの期間の長さを決める。
【００２３】次に、ゲート４２６の出力は、累算器４３
２中で累算される。累算器４３２における結果値は、デ
ータのストア及び回収システム中のマイクロプロセツサ
４２１によつてアクセスすることができる。次に、この
結果値は、データのストア及び回収システムにおける問
題を判別するために利用することができる。
２中で累算される。累算器４３２における結果値は、デ
ータのストア及び回収システム中のマイクロプロセツサ
４２１によつてアクセスすることができる。次に、この
結果値は、データのストア及び回収システムにおける問
題を判別するために利用することができる。
【００２４】このエラー測定回路は、デイジタル・オシ
ロスコープ及び論理分析装置などのテスト装置にデータ
のストア及び回収システムを接続することによつて、従
来から遂行されてきた種々のテストを遂行するために使
用することができる。例えば、非直線性のビツト・シフ
トは、この回路を使用して測定することができる。デイ
スク上に書き込まれたデータ・パターンが、例えば、１
１１０１１の書き込み電流のデータ・パターンのような
１のビツトの後にビツト値の変化を持つている時、これ
らの値をストアするために使用された磁気領域と関連し
た磁界は、このデータ・パターンがシステムによつて読
み取られる時に、隣りの磁気領域の磁気的な境界と干渉
し、その結果、ビツトがシフトしたかのようになる。こ
れは、ビツトが再生された時に正しいデータ・パターン
を生じない。
ロスコープ及び論理分析装置などのテスト装置にデータ
のストア及び回収システムを接続することによつて、従
来から遂行されてきた種々のテストを遂行するために使
用することができる。例えば、非直線性のビツト・シフ
トは、この回路を使用して測定することができる。デイ
スク上に書き込まれたデータ・パターンが、例えば、１
１１０１１の書き込み電流のデータ・パターンのような
１のビツトの後にビツト値の変化を持つている時、これ
らの値をストアするために使用された磁気領域と関連し
た磁界は、このデータ・パターンがシステムによつて読
み取られる時に、隣りの磁気領域の磁気的な境界と干渉
し、その結果、ビツトがシフトしたかのようになる。こ
れは、ビツトが再生された時に正しいデータ・パターン
を生じない。
【００２５】事前に補償される値は、エラー測定回路に
よつて得られる非直線性のビツト・シフトについての情
報を用いてマイクロプロセツサ４２１によつて計算され
る。信号の記録は、先ず、データのストア及び回収シス
テムにおいて行なわれる。次に、この記録は図３に示し
たブロツク３１２及び３１６において読み取られ、フイ
ルタ回路で濾過される。次に、この信号から得られたサ
ンプルは、エラー値サンプルが発生される図４のブロツ
ク４１０の中に入力される。
よつて得られる非直線性のビツト・シフトについての情
報を用いてマイクロプロセツサ４２１によつて計算され
る。信号の記録は、先ず、データのストア及び回収シス
テムにおいて行なわれる。次に、この記録は図３に示し
たブロツク３１２及び３１６において読み取られ、フイ
ルタ回路で濾過される。次に、この信号から得られたサ
ンプルは、エラー値サンプルが発生される図４のブロツ
ク４１０の中に入力される。
【００２６】非直線性のビツト・シフトは、乗算器４１
８を用いて調べられる。エラー値サンプルは、エラー値
サンプルが発生されたデータ・サンプルと関連してスト
アされた信号の勾配によつて乗算される。セレクタ４２
２は、第３処理路を選択し、そして、処理されたエラー
値サンプルをゲート４２６に出力する。このテストにつ
いてデータ・サンプルをゲートするために用いられるデ
ータ・タイプは、ゼロのデータ・タイプだけである。従
つて、データ・タイプ４２８は、ゼロのデータ・タイプ
にセツトされる。ゼロのデータ・タイプと関連して処理
されたこれらのエラー値だけが、累算器にゲートされ、
ストアされる。処理された各エラー値サンプルは、累算
器４３２中にストアされた値に加えられる。テストが終
了した後に、累算器中にストアされた値は、データのス
トア及び回収システム中のマイクロプロセツサによつて
アクセスすることができ、図３に示された前置補償回路
３０４の中に事前の補償値として入力される。
８を用いて調べられる。エラー値サンプルは、エラー値
サンプルが発生されたデータ・サンプルと関連してスト
アされた信号の勾配によつて乗算される。セレクタ４２
２は、第３処理路を選択し、そして、処理されたエラー
値サンプルをゲート４２６に出力する。このテストにつ
いてデータ・サンプルをゲートするために用いられるデ
ータ・タイプは、ゼロのデータ・タイプだけである。従
つて、データ・タイプ４２８は、ゼロのデータ・タイプ
にセツトされる。ゼロのデータ・タイプと関連して処理
されたこれらのエラー値だけが、累算器にゲートされ、
ストアされる。処理された各エラー値サンプルは、累算
器４３２中にストアされた値に加えられる。テストが終
了した後に、累算器中にストアされた値は、データのス
トア及び回収システム中のマイクロプロセツサによつて
アクセスすることができ、図３に示された前置補償回路
３０４の中に事前の補償値として入力される。
【００２７】従来から行なわれている他のテストとして
は、デルタ飛翔高さ測定テストがある。予めエンコード
されたテスト・パターン１１００１１００が、デイスク
面２０の少なくとも１つの所定の領域に書き込まれてい
る。予めエンコードされたテスト・パターン１１００１
１００からの読み取られたデータ・サンプルの分析は、
飛翔高さの変化に対応した逸脱の平均値を識別するため
に用いられる。デルタ飛翔高さが低い時には、累算器４
３２中の結果値は小さい。デルタ飛翔高さが高い時に
は、累算器４３２中の結果値は大きい。
は、デルタ飛翔高さ測定テストがある。予めエンコード
されたテスト・パターン１１００１１００が、デイスク
面２０の少なくとも１つの所定の領域に書き込まれてい
る。予めエンコードされたテスト・パターン１１００１
１００からの読み取られたデータ・サンプルの分析は、
飛翔高さの変化に対応した逸脱の平均値を識別するため
に用いられる。デルタ飛翔高さが低い時には、累算器４
３２中の結果値は小さい。デルタ飛翔高さが高い時に
は、累算器４３２中の結果値は大きい。
【００２８】記録された信号のデータ・サンプルがブロ
ツク４１０の中に入力され、そして、エラー値サンプル
が発生される。第３処理路が選択され、乗算器４１８及
びインバータ４２０の両方が使用される。各エラー値サ
ンプルは、乗算器４１８によつて、エラー値サンプルが
発生されるデータ・サンプルと関連してストアされた信
号の勾配と乗算される。若し、エラー値サンプルが連続
したゼロの最後のゼロと関連したデータ・サンプルから
発生されたならば、エラー値サンプルの符号は反転され
る。セレクタ４２２は、処理されたエラー値サンプルを
ゲート４２６に出力する。このテストのデータ・サンプ
ルをゲートするために使用されるデータ・タイプは、ゼ
ロのデータ・タイプだけである。従つて、データ・タイ
プ４２８は、ゼロのデータ・タイプにセツトされる。テ
スト期間の長さは、測定期間の信号源のブロツク４３０
によつて選択され、８６４ビツトか、あるいは、２０１
６ビツトのいずれかである。処理された各エラー値サン
プルは、累算器４３２中にストアされた値に加算され
る。テストが終了した後、累算器４３２中にストアされ
た値は、飛翔高さを評価し、訂正するために、データの
ストア及び回収システム中のマイクロプロセツサ４２１
によつてアクセスすることができる。
ツク４１０の中に入力され、そして、エラー値サンプル
が発生される。第３処理路が選択され、乗算器４１８及
びインバータ４２０の両方が使用される。各エラー値サ
ンプルは、乗算器４１８によつて、エラー値サンプルが
発生されるデータ・サンプルと関連してストアされた信
号の勾配と乗算される。若し、エラー値サンプルが連続
したゼロの最後のゼロと関連したデータ・サンプルから
発生されたならば、エラー値サンプルの符号は反転され
る。セレクタ４２２は、処理されたエラー値サンプルを
ゲート４２６に出力する。このテストのデータ・サンプ
ルをゲートするために使用されるデータ・タイプは、ゼ
ロのデータ・タイプだけである。従つて、データ・タイ
プ４２８は、ゼロのデータ・タイプにセツトされる。テ
スト期間の長さは、測定期間の信号源のブロツク４３０
によつて選択され、８６４ビツトか、あるいは、２０１
６ビツトのいずれかである。処理された各エラー値サン
プルは、累算器４３２中にストアされた値に加算され
る。テストが終了した後、累算器４３２中にストアされ
た値は、飛翔高さを評価し、訂正するために、データの
ストア及び回収システム中のマイクロプロセツサ４２１
によつてアクセスすることができる。
【００２９】すべてのエラー値サンプルの平均値を決め
る必要がある場合がある。この場合において、第３処理
路が用いられ、そして、乗算器４１８及びインバータ４
２０のいずれも使用されない。セレクタ４２２は、第３
処理路を選択し、そして、ゲート４２６に各エラー値サ
ンプルを出力する。このテストに対してデータ・サンプ
ルをゲートするために使用されるデータ・タイプは、
０、１及び負の１を含むすべてのデータ・タイプであ
る。テスト期間の長さは、ブロツク４３０によつて選択
され、８６４ビツトか、または、２０１６ビツトのいず
れかである。テストが終了したときに累算器４３２中に
ストアされた結果値は、すべてのエラー値サンプルの合
計である。
る必要がある場合がある。この場合において、第３処理
路が用いられ、そして、乗算器４１８及びインバータ４
２０のいずれも使用されない。セレクタ４２２は、第３
処理路を選択し、そして、ゲート４２６に各エラー値サ
ンプルを出力する。このテストに対してデータ・サンプ
ルをゲートするために使用されるデータ・タイプは、
０、１及び負の１を含むすべてのデータ・タイプであ
る。テスト期間の長さは、ブロツク４３０によつて選択
され、８６４ビツトか、または、２０１６ビツトのいず
れかである。テストが終了したときに累算器４３２中に
ストアされた結果値は、すべてのエラー値サンプルの合
計である。
【００３０】受け取られたエラー値サンプルの数を数え
るために、他の読み取りが信号源４２４を選択するセレ
クタ４２２によつて遂行される。良好な実施例における
信号源４２４のデータ・レベルは、論理値１である。こ
のテストのデータ・タイプは、ブロツク４２８によつて
示されたデータ・タイプに従つてすべてのデータ・タイ
プがセツトされ、そして、そのテスト期間は、測定期間
のブロツク４３０によつて示されたように、８６４ビツ
トか、または、２０１６ビツトのいずれかにセツトされ
る。従つて、ゲート４２６は、各エラー値サンプルに対
して、累算器４３２へ論理値１を出力する。累算器４３
２中の結果値は、読み取られたエラー値サンプルの合計
数である。従つて、平均値は、読み取られたエラー値サ
ンプルの合計数及びすべてのエラー値サンプルの合計を
用いて計算することができる。
るために、他の読み取りが信号源４２４を選択するセレ
クタ４２２によつて遂行される。良好な実施例における
信号源４２４のデータ・レベルは、論理値１である。こ
のテストのデータ・タイプは、ブロツク４２８によつて
示されたデータ・タイプに従つてすべてのデータ・タイ
プがセツトされ、そして、そのテスト期間は、測定期間
のブロツク４３０によつて示されたように、８６４ビツ
トか、または、２０１６ビツトのいずれかにセツトされ
る。従つて、ゲート４２６は、各エラー値サンプルに対
して、累算器４３２へ論理値１を出力する。累算器４３
２中の結果値は、読み取られたエラー値サンプルの合計
数である。従つて、平均値は、読み取られたエラー値サ
ンプルの合計数及びすべてのエラー値サンプルの合計を
用いて計算することができる。
【００３１】第１処理路はデータのストア及び回収シス
テム全体の精度を評価するために使用される。二乗演算
回路４１２は、受け取つた各エラー値サンプルを二乗す
る。セレクタ４２２は、第１処理路を選択して、エラー
値サンプルの二乗値をゲート４２６に出力する。すべて
のデータ・タイプがゲートされる。テスト期間の長さは
変化する。ゲート４２６は、各エラー値サンプルの二乗
値を加算する累算器４３２にエラー値サンプルの二乗値
を出力する。より正確なシステムにおいては、エラー値
サンプルの二乗の和は小さい値である。
テム全体の精度を評価するために使用される。二乗演算
回路４１２は、受け取つた各エラー値サンプルを二乗す
る。セレクタ４２２は、第１処理路を選択して、エラー
値サンプルの二乗値をゲート４２６に出力する。すべて
のデータ・タイプがゲートされる。テスト期間の長さは
変化する。ゲート４２６は、各エラー値サンプルの二乗
値を加算する累算器４３２にエラー値サンプルの二乗値
を出力する。より正確なシステムにおいては、エラー値
サンプルの二乗の和は小さい値である。
【００３２】他の類別のテストとして、データのストア
及び回収システム中のノイズのレベルを決定するための
テストを行なうことができる。エラー値サンプルは、予
め決められた比較レベル値４１６に対して、比較器４１
４を用いて比較される。若し、エラー値サンプルが比較
レベル値４１６よりも大きいか、または等しければ、比
較器４１４は、論理値１を出力する。若し、エラー値サ
ンプルが比較レベル値４１６よりも小さければ、比較器
４１４は、論理値０を出力する。セレクタ４２２は、第
２処理路を選択し、そして、比較器４１４の結果をゲー
ト４２６に出力する。データ・タイプは、エラー測定回
路が読み取つたアナログからデイジタル変換器３１２の
レベルに従つて変化する。従つて、累算器４３２は、各
レベルに対する比較器４１４の出力を表わす。データの
ストア及び回収システム中のマイクロプロセツサは、各
出力を受け取り、そして、すべてのデータ・サンプル値
の配分を示すプロツトを作成する。この配分は、データ
のストア及び回収システム中のノイズの量を決定するの
に用いられる。
及び回収システム中のノイズのレベルを決定するための
テストを行なうことができる。エラー値サンプルは、予
め決められた比較レベル値４１６に対して、比較器４１
４を用いて比較される。若し、エラー値サンプルが比較
レベル値４１６よりも大きいか、または等しければ、比
較器４１４は、論理値１を出力する。若し、エラー値サ
ンプルが比較レベル値４１６よりも小さければ、比較器
４１４は、論理値０を出力する。セレクタ４２２は、第
２処理路を選択し、そして、比較器４１４の結果をゲー
ト４２６に出力する。データ・タイプは、エラー測定回
路が読み取つたアナログからデイジタル変換器３１２の
レベルに従つて変化する。従つて、累算器４３２は、各
レベルに対する比較器４１４の出力を表わす。データの
ストア及び回収システム中のマイクロプロセツサは、各
出力を受け取り、そして、すべてのデータ・サンプル値
の配分を示すプロツトを作成する。この配分は、データ
のストア及び回収システム中のノイズの量を決定するの
に用いられる。
【００３３】
【発明の効果】本発明は、エラー値サンプルを使用して
データのストア及び回収システム中のプロシージヤを遂
行するエラー測定回路を与える。
データのストア及び回収システム中のプロシージヤを遂
行するエラー測定回路を与える。
【図１】本発明を適用したデータのストア及び回収シス
テムのブロツク図である。
テムのブロツク図である。
【図２】図１のデータのストア及び回収システムの１つ
のデイスク面のためのアクセス機構を示す図である。
のデイスク面のためのアクセス機構を示す図である。
【図３】図１のデータのストア及び回収システムにおい
て、データをストアし、検索する処理を示すブロツク図
である。
て、データをストアし、検索する処理を示すブロツク図
である。
【図４】本発明に従つたデータのストア及び回収システ
ムにおいてエラーの測定を行なうための回路を示すブロ
ツク図である。
ムにおいてエラーの測定を行なうための回路を示すブロ
ツク図である。
１０ データのストア及び回収システム １４ インターフエース制御装置 １６ デイスクの積層体 １８ 磁気デイスク ２０ 磁気面 ２６ スピンドル・モータ組立体 ２８ 変換ヘツド ３０ 可撓性スプリング ３２ アーム ３４ 支持軸 ３８ ヘツド駆動モータ ３９ ボイスコイル・モータ ３００ エンコーダ ３０１ 直列化回路 ３０２ 前置コーダ ３０４ 前置補償回路 ３０６ 書き込みドライバ ３０８ 演算回路 ３１２ アナログ信号からデイジタル信号へのコンバー
タ ３１６ デイジタル・フイルタ ３１７ エラー測定回路 ３１８ ビテルビ・デコーダ ３１９ 並直列変換回路 ３２０ デコーダ ４１０ エラー・サンプルの発生 ４１２ 二乗演算回路 ４１４ 比較器 ４１６ 比較レベル ４１８ 勾配の乗算器 ４２０ トレーリング及び否定回路（インバータ） ４２１ マイクロプロセツサ ４２２ セレクタ ４２６ ゲート回路 ４２８ データ・タイプの信号源 ４３０ 測定期間を決める信号源 ４３２ 累算器
タ ３１６ デイジタル・フイルタ ３１７ エラー測定回路 ３１８ ビテルビ・デコーダ ３１９ 並直列変換回路 ３２０ デコーダ ４１０ エラー・サンプルの発生 ４１２ 二乗演算回路 ４１４ 比較器 ４１６ 比較レベル ４１８ 勾配の乗算器 ４２０ トレーリング及び否定回路（インバータ） ４２１ マイクロプロセツサ ４２２ セレクタ ４２６ ゲート回路 ４２８ データ・タイプの信号源 ４３０ 測定期間を決める信号源 ４３２ 累算器
フロントページの続き (72)発明者 リチャード・レオ・ガルブレイス アメリカ合衆国ミネソタ州、ロチェスタ ー、エヌダブリュ フィフティセカンド・ ストリート 2232
Claims (12)
- 【請求項１】 既知のデータ・タイプのデータ・サンプ
ルのためのエラー値に関するテスト・プロシージヤを遂
行する回路において、 データ・サンプルの受け取りに応答し、エラー値を発生
する手段と、 エラー値に応答し、各エラー値からテストの種別に関す
る評価サンプルを処理する手段と、 テストの種別の仕様に応答し、処理のタイプを選択する
手段と、 評価サンプルを累積する手段とからなるテスト・プロシ
ージヤを遂行する回路。 - 【請求項２】 複数個の処理路と、これらの処理路の内
の１つの処理路を選択する手段を含む請求項１に記載の
テスト・プロシージヤを遂行する回路。 - 【請求項３】 各エラー値は、データ・サンプルに関連
され、かつ、各エラー値は識別されたデータ・タイプを
有することを特徴とする請求項２に記載のテスト・プロ
シージヤを遂行する回路。 - 【請求項４】 データ・サンプルが特定のデータ・タイ
プに関連されており、回収された信号から得られたデー
タ・サンプルから、データのストア及び回収システム中
のテスト・プロシージヤを遂行する回路において、 データ・サンプルからエラー値サンプルを発生する手段
と、 エラー値サンプルをその入力として受け取り、かつ、各
エラー値サンプルの二乗値を含む出力信号を発生する手
段を含む第１処理路と、 エラー値サンプルをその入力として受け取り、かつ、そ
の入力を比較して、各比較結果を含む出力信号を発生す
る手段を含む第２処理路と、 論理的なデータ・レベルにあるサンプル信号源と、 出力信号か、またはサンプル信号から評価信号を選択す
る手段と、 各エラー値サンプルに対して特定のデータ・タイプを識
別する手段と、 評価信号のデータ・タイプと所望のデータ・タイプとの
一致に応答し、評価信号をゲートする手段と、 予め決められた期間の間、評価信号を累積する手段とか
らなるテスト・プロシージヤを遂行する回路。 - 【請求項５】 エラー値サンプルをその入力として受け
取り、かつ、出力信号としてエラー値サンプルを含む信
号を、選択手段に通過する手段を含む第３処理路を含む
ことを特徴とする請求項４に記載のテスト・プロシージ
ヤを遂行する回路。 - 【請求項６】 第３処理路は回収された信号の勾配によ
つて各エラー値サンプルを乗算する手段を含み、各エラ
ー値サンプルは関連された勾配を含むことを特徴とする
請求項５に記載のテスト・プロシージヤを遂行する回
路。 - 【請求項７】 データ・サンプルが特定のデータ・タイ
プに関連されており、回収された信号から得られたデー
タ・サンプルから、データのストア及び回収システム中
のテスト・プロシージヤを遂行する回路において、 データ・サンプルからエラー値サンプルを発生する手段
と、 エラー値サンプルをその入力として受け取り、かつ、各
エラー値サンプルの二乗値を含む出力信号を発生する手
段を含む第１処理路と、 エラー値サンプルをその入力として受け取り、かつ、そ
の入力を比較して、各比較結果を含む出力信号を発生す
る手段を含む第２処理路と、 エラー値サンプルをその入力として受け取り、かつ、エ
ラー値サンプルを含む信号をその出力として通過する第
３処理路と、 出力信号か、またはサンプル信号から評価信号を選択す
る手段と、 各エラー値サンプルに対して特定のデータ・タイプを識
別する手段と、 評価信号のデータ・タイプと所望のデータ・タイプとの
一致に応答し、評価信号をゲートする手段と、 予め決められた期間の間評価信号を累積する手段とから
なるテスト・プロシージヤを遂行する回路。 - 【請求項８】 第３処理路は、回収された信号の勾配に
よつて各エラー値サンプルを乗算する手段を含み、各エ
ラー値サンプルは関連した勾配を含むことを特徴とする
請求項７に記載のテスト・プロシージヤを遂行する回
路。 - 【請求項９】 第３処理路は、ゼロのデータ・タイプと
関連したデータ・サンプルによつて発生され、連続した
エラー値サンプルの入力に応答し、ゼロのデータ・タイ
プに関連したデータ・サンプルによつて発生された最後
のエラー値サンプルの符号を反転する手段を含むことを
特徴とする請求項８に記載のテスト・プロシージヤを遂
行する回路。 - 【請求項１０】 第３処理路は、ゼロのデータ・タイプ
と関連したデータ・サンプルによつて発生され、エラー
値サンプルの連続した入力に応答し、ゼロのデータ・タ
イプに関連したデータ・サンプルによつて発生された最
後のエラー値サンプルの符号を反転する手段を含むこと
を特徴とする請求項７に記載のテスト・プロシージヤを
遂行する回路。 - 【請求項１１】 第２処理路の結果値は、若し、エラー
値サンプルが比較レベル値よりも大きければ、論理的な
データ・レベル値１であることを特徴とする請求項７に
記載のテスト・プロシージヤを遂行する回路。 - 【請求項１２】 ハウジングと、 上記ハウジングに回転可能に装着された回転軸と、 上記回転軸に装着されたデイスクと、 上記デイスクへ情報を書き込み、そして、上記デイスク
から情報を読み取るために、上記デイスクの表面を横切
つて移動する変換器と、 上記デイスクに書き込まれるデータをエンコードし、か
つ、情報が上記デイスクから読み取られた後にデータを
デコードするデータ・チヤネルと、 上記データ・チヤネルからの信号を入力として受け取る
回路とからなる情報をストアし、かつ、回収する装置に
おいて、 上記回路は、 データ・サンプルの受け取りに応答し、エラー値を発生
する手段と、 エラー値に応答し、各エラー値から、テスト・ケースに
関する評価サンプルを処理する手段と、 テストの種別の仕様に応答し、処理のタイプを選択する
手段と、 評価サンプルを累積する手段とを含む情報をストアし、
かつ、回収する装置。
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|---|---|---|---|
| US07/922,591 US5392295A (en) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | Error measurement circuit |
| US922591 | 1992-07-30 |
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