JP3296327B2 - 磁気記録装置の設計開発システム - Google Patents
磁気記録装置の設計開発システムInfo
- Publication number
- JP3296327B2 JP3296327B2 JP11585599A JP11585599A JP3296327B2 JP 3296327 B2 JP3296327 B2 JP 3296327B2 JP 11585599 A JP11585599 A JP 11585599A JP 11585599 A JP11585599 A JP 11585599A JP 3296327 B2 JP3296327 B2 JP 3296327B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic recording
- design
- snr
- noise
- development system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気記録装置の設計
開発システムに関し、特に、磁気ヘッドと磁気ディスク
媒体とのリード・ライトマージン（Ｒ／Ｗマージン）に
対応するＳＮＲ（ｓｉｇｎａｌ ｔｏ ｎｏｉｓｅ ｒ
ａｔｉｏ）マージンを容易に算出可能として、磁気記録
装置の開発工数の削減を図り、開発効率化を可能とした
磁気記録装置の設計開発システムに関する。
開発システムに関し、特に、磁気ヘッドと磁気ディスク
媒体とのリード・ライトマージン（Ｒ／Ｗマージン）に
対応するＳＮＲ（ｓｉｇｎａｌ ｔｏ ｎｏｉｓｅ ｒ
ａｔｉｏ）マージンを容易に算出可能として、磁気記録
装置の開発工数の削減を図り、開発効率化を可能とした
磁気記録装置の設計開発システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】近年のＰＣ、ＥＷＳなどの普及とマルチ
メディア化が進展するなかで、磁気記録装置は大容量化
の一途をたどっており、年率６０％という脅威的なスピ
ードで記録密度の向上が図られている。その為、年々益
々高記録密度化が求められており、ＭＲ素子（磁気抵抗
効果素子）を再生素子に用いたヘッド（以下ＭＲヘッド
と称す）やＰＲＭＬ（ｐａｒｔｉａｌ ｒｅｓｐｏｎｓ
ｅ ｍａｘｉｍｕｍ ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）信号処理
技術など、新たな技術を導入し実現化する試みがなされ
ている。
メディア化が進展するなかで、磁気記録装置は大容量化
の一途をたどっており、年率６０％という脅威的なスピ
ードで記録密度の向上が図られている。その為、年々益
々高記録密度化が求められており、ＭＲ素子（磁気抵抗
効果素子）を再生素子に用いたヘッド（以下ＭＲヘッド
と称す）やＰＲＭＬ（ｐａｒｔｉａｌ ｒｅｓｐｏｎｓ
ｅ ｍａｘｉｍｕｍ ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）信号処理
技術など、新たな技術を導入し実現化する試みがなされ
ている。
【０００３】情報処理システムのホストに接続して使用
される磁気記録装置の装置全体の性能は、装置構成主要
部品である磁気ヘッドと磁気ディスク媒体とに大きく左
右されるのが一般的であり、磁気記録装置の性能を決定
づける主な要因は、磁気ヘッドによって磁気ディスク媒
体上に記録再生（リードライト：Ｒ／Ｗ）した時の波形
品質である。
される磁気記録装置の装置全体の性能は、装置構成主要
部品である磁気ヘッドと磁気ディスク媒体とに大きく左
右されるのが一般的であり、磁気記録装置の性能を決定
づける主な要因は、磁気ヘッドによって磁気ディスク媒
体上に記録再生（リードライト：Ｒ／Ｗ）した時の波形
品質である。
【０００４】従って、磁気記録装置を開発設計する場合
には、図８に示すような電磁変換特性パラメータと称さ
れる波形品質を示す指標の測定を行い、評価を行うのが
一般的である。この電磁変換特性パラメータの測定につ
いては、磁気ヘッド及び磁気ディスク媒体の製造完了時
に、検査データとして簡単に測定できる。
には、図８に示すような電磁変換特性パラメータと称さ
れる波形品質を示す指標の測定を行い、評価を行うのが
一般的である。この電磁変換特性パラメータの測定につ
いては、磁気ヘッド及び磁気ディスク媒体の製造完了時
に、検査データとして簡単に測定できる。
【０００５】ここで、上記電磁変換特性パラメータにつ
いて、ＭＲヘッドによって磁気ディスク媒体に記録され
た波形の模式図を示す図９を参照して説明する。
いて、ＭＲヘッドによって磁気ディスク媒体に記録され
た波形の模式図を示す図９を参照して説明する。
【０００６】図９を参照すると、孤立波出力とは波形干
渉がない状態での磁気記録信号の再生波形の振幅の大き
さを表す指標であり、特に、ＭＲヘッドにおいては、図
９に示すように正の孤立波（ｐｏｓｉｔｉｖｅ ｐｕｌ
ｓｅ）と負の孤立波（ｎｅｇａｔｉｖｅ ｐｕｌｓｅ）
とで振幅の大きさが異なるので、全体の孤立波出力とし
ては、以下のように表わされる。
渉がない状態での磁気記録信号の再生波形の振幅の大き
さを表す指標であり、特に、ＭＲヘッドにおいては、図
９に示すように正の孤立波（ｐｏｓｉｔｉｖｅ ｐｕｌ
ｓｅ）と負の孤立波（ｎｅｇａｔｉｖｅ ｐｕｌｓｅ）
とで振幅の大きさが異なるので、全体の孤立波出力とし
ては、以下のように表わされる。
【０００７】 Ｖｉｓｏ＝Ｖｐ＋Ｖｎ （１） また、波形非対称性は、この振幅の大きさの違いのこと
であり、以下の式で表わされる。
であり、以下の式で表わされる。
【０００８】 Ａｓｙ＝｛（Ｖｐ−Ｖｎ）／（Ｖｐ＋Ｖｎ）｝×１００ （２） 孤立波半値幅は、孤立波形の出力５０％の時間幅のこと
であり、再生波形の振幅と同様に、ＭＲヘッドにおいて
は、正と負の孤立波の半値幅が異なるので、以下のよう
に表される。
であり、再生波形の振幅と同様に、ＭＲヘッドにおいて
は、正と負の孤立波の半値幅が異なるので、以下のよう
に表される。
【０００９】 Ｐｗ５０＝（Ｐｗ５０ｐ＋Ｐｗ５０ｎ）／２ （３） しかし、磁気ヘッド、磁気ディスク媒体は共に製造バラ
ツキがあり、その結果、その特性もバラツキが出てしま
うという宿命を背負っている。つまり、電磁変換特性パ
ラメータだけによる評価では、装置全体の性能に対する
十分条件の判断はできるが、装置の善し悪しの度合いの
正確な判断はできない。
ツキがあり、その結果、その特性もバラツキが出てしま
うという宿命を背負っている。つまり、電磁変換特性パ
ラメータだけによる評価では、装置全体の性能に対する
十分条件の判断はできるが、装置の善し悪しの度合いの
正確な判断はできない。
【００１０】そこで、電磁変換特性パラメータの測定結
果を用いたシミュレーション計算により、エラーに対す
る記録再生の余裕度（以下、Ｒ／Ｗマージンと称す）に
着目した指標について算出し、それを装置全体の性能と
して評価を行ったり、或いは、エラーを発生しやすくス
トレスをかけて、例えば磁気ヘッドを意図的にオフトラ
ックさせてエラーを発生しやすくさせたり、エラー閾値
を意図的に変えてエラーを発生しやすくさせたりして、
短時間にＲ／Ｗマージンを測定できるような工夫がなさ
れている。
果を用いたシミュレーション計算により、エラーに対す
る記録再生の余裕度（以下、Ｒ／Ｗマージンと称す）に
着目した指標について算出し、それを装置全体の性能と
して評価を行ったり、或いは、エラーを発生しやすくス
トレスをかけて、例えば磁気ヘッドを意図的にオフトラ
ックさせてエラーを発生しやすくさせたり、エラー閾値
を意図的に変えてエラーを発生しやすくさせたりして、
短時間にＲ／Ｗマージンを測定できるような工夫がなさ
れている。
【００１１】特開平９−１８０３７３号公報では、位相
にストレスをかけた位相Ｒ／Ｗマージン、及び出力レベ
ル検出閾値にストレスをかけた出力レベルＲ／Ｗマージ
ンを短時間に測定し、各々の条件で最適値を求める技術
手法が開示されている。
にストレスをかけた位相Ｒ／Ｗマージン、及び出力レベ
ル検出閾値にストレスをかけた出力レベルＲ／Ｗマージ
ンを短時間に測定し、各々の条件で最適値を求める技術
手法が開示されている。
【００１２】しかし、新技術であるＰＲＭＬ信号処理方
式においては、上記位相にストレスをかけることが不可
能な為、短時間にＲ／Ｗマージンを測定することが困難
であり、膨大な時間及び手間を要してしまうという問題
がある。
式においては、上記位相にストレスをかけることが不可
能な為、短時間にＲ／Ｗマージンを測定することが困難
であり、膨大な時間及び手間を要してしまうという問題
がある。
【００１３】一方、ＭＲヘッドにおいては、従来の薄膜
ヘッド・ＭＩＧ（ｍｅｔａｌ ｉｎｇａｐ）ヘッドより
電磁変換特性のパラメータ数が多くなっているので、制
御が複雑になってくるという問題が発生している。更
に、磁気ヘッド個々の電磁変換特性は格段に良くなる
が、そのバラツキが従来の薄膜ヘッドより大変大きいと
いう問題も発生している。
ヘッド・ＭＩＧ（ｍｅｔａｌ ｉｎｇａｐ）ヘッドより
電磁変換特性のパラメータ数が多くなっているので、制
御が複雑になってくるという問題が発生している。更
に、磁気ヘッド個々の電磁変換特性は格段に良くなる
が、そのバラツキが従来の薄膜ヘッドより大変大きいと
いう問題も発生している。
【００１４】従って、実測Ｒ／Ｗマージンではなく計算
機シミュレーションを用いて評価を行おうとすると、す
べての電磁変換特性パラメータの組み合わせにおいて行
わなければならなくなり、この手法においても、膨大な
時間がかかるという問題がある。
機シミュレーションを用いて評価を行おうとすると、す
べての電磁変換特性パラメータの組み合わせにおいて行
わなければならなくなり、この手法においても、膨大な
時間がかかるという問題がある。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来の磁気記録
装置の設計開発手法は、ＰＲＭＬ信号処理方式の技術を
用いたときは、位相にストレスをかけてエラーを発生し
易くさせることが不可能な為、短時間にＲ／Ｗマージン
を測定することができず、膨大な時間を要し、ＭＲヘッ
ドを用いた場合には、電磁変換特性のパラメータ数が多
くなり、制御が複雑になってくると共に、磁気ヘッド個
々の電磁変換特性のバラツキが大きく、計算機シミュレ
ーションを用いて評価を行うとき、すべての電磁変換特
性パラメータの組み合わせにおいて行わなければならな
くなり、膨大な時間がかかるという課題がある。
装置の設計開発手法は、ＰＲＭＬ信号処理方式の技術を
用いたときは、位相にストレスをかけてエラーを発生し
易くさせることが不可能な為、短時間にＲ／Ｗマージン
を測定することができず、膨大な時間を要し、ＭＲヘッ
ドを用いた場合には、電磁変換特性のパラメータ数が多
くなり、制御が複雑になってくると共に、磁気ヘッド個
々の電磁変換特性のバラツキが大きく、計算機シミュレ
ーションを用いて評価を行うとき、すべての電磁変換特
性パラメータの組み合わせにおいて行わなければならな
くなり、膨大な時間がかかるという課題がある。
【００１６】本発明の目的は、測定した電磁変換特性毎
にその都度時間のかかる計算機シミュレーションを行わ
ずに、また、膨大な時間のかかるＲ／Ｗマージンの測定
評価を行わずに、Ｒ／Ｗマージンと同等のＳＮＲマージ
ンを簡単に計算することのできる磁気記録装置の設計開
発システムを提供することにある。
にその都度時間のかかる計算機シミュレーションを行わ
ずに、また、膨大な時間のかかるＲ／Ｗマージンの測定
評価を行わずに、Ｒ／Ｗマージンと同等のＳＮＲマージ
ンを簡単に計算することのできる磁気記録装置の設計開
発システムを提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気記録装置の
設計開発システムは、入力装置と、プログラム制御によ
り動作するデータ処理装置と、データ処理装置と接続さ
れデータ処理装置により演算した結果を出力する出力装
置と、データ処理装置と接続されデータ処理装置により
演算した結果を記憶する外部記憶装置とを有し、データ
処理装置は、演算式分析手段と、演算式を記憶する記憶
手段と、演算式分析手段と記憶手段とに接続され演算式
分析手段と記憶手段とを制御するシステムコントローラ
とを具備し、演算式分析手段は、磁気記録装置の電磁変
換特性パラメータより算出されるトータルＳＮＲ演算手
段と、電磁変換特性パラメータと信号処理方式とにより
算出される必要ＳＮＲ演算手段と、トータルＳＮＲ演算
手段と必要ＳＮＲ演算手段との差を算出するＳＮＲマー
ジン演算手段とを有することを特徴とする。
設計開発システムは、入力装置と、プログラム制御によ
り動作するデータ処理装置と、データ処理装置と接続さ
れデータ処理装置により演算した結果を出力する出力装
置と、データ処理装置と接続されデータ処理装置により
演算した結果を記憶する外部記憶装置とを有し、データ
処理装置は、演算式分析手段と、演算式を記憶する記憶
手段と、演算式分析手段と記憶手段とに接続され演算式
分析手段と記憶手段とを制御するシステムコントローラ
とを具備し、演算式分析手段は、磁気記録装置の電磁変
換特性パラメータより算出されるトータルＳＮＲ演算手
段と、電磁変換特性パラメータと信号処理方式とにより
算出される必要ＳＮＲ演算手段と、トータルＳＮＲ演算
手段と必要ＳＮＲ演算手段との差を算出するＳＮＲマー
ジン演算手段とを有することを特徴とする。
【００１８】トータルＳＮＲ演算手段は、磁気記録波形
の孤立波出力の信号振幅と、磁気ディスク媒体の雑音と
磁気ヘッドのアンプ雑音とからなる雑音との比の対数を
算出する手段を有することを特徴とする。
の孤立波出力の信号振幅と、磁気ディスク媒体の雑音と
磁気ヘッドのアンプ雑音とからなる雑音との比の対数を
算出する手段を有することを特徴とする。
【００１９】磁気ヘッドのアンプ雑音は、電圧性雑音と
電流性雑音とからなることを特徴とする。
電流性雑音とからなることを特徴とする。
【００２０】必要ＳＮＲ演算手段は、孤立波半値幅を規
格化した規格化半値幅と正負の孤立波の波形非対称性と
を算出する手段を有することを特徴とする。
格化した規格化半値幅と正負の孤立波の波形非対称性と
を算出する手段を有することを特徴とする。
【００２１】規格化半値幅は、磁気記録波形の孤立波半
値幅を磁化反転時間で除して算出されることを特徴とす
る。
値幅を磁化反転時間で除して算出されることを特徴とす
る。
【００２２】波形非対称性は、正負の孤立波の振幅の差
を正負の孤立波の振幅の和で除して算出されることを特
徴とする。
を正負の孤立波の振幅の和で除して算出されることを特
徴とする。
【００２３】電磁変換特性パラメータは、孤立波出力
と、波形非対称性と、孤立波半値幅と、磁気ディスク媒
体の雑音と、磁気ヘッドのアンプ雑音と、磁気ヘッド抵
抗と、磁気ディスク媒体ＳＮＲと、オーバーライト損失
とからなることを特徴とする。
と、波形非対称性と、孤立波半値幅と、磁気ディスク媒
体の雑音と、磁気ヘッドのアンプ雑音と、磁気ヘッド抵
抗と、磁気ディスク媒体ＳＮＲと、オーバーライト損失
とからなることを特徴とする。
【００２４】信号処理方式は、ＰＲ４ＭＬ（ｐａｒｔｉ
ａｌ ｒｅｓｐｏｎｓｅ ｃｌａｓｓ４ ｍａｘｉｍｕ
ｍ ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）であることを特徴とする。
ａｌ ｒｅｓｐｏｎｓｅ ｃｌａｓｓ４ ｍａｘｉｍｕ
ｍ ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）であることを特徴とする。
【００２５】トータルＳＮＲ演算手段は、オーバーライ
ト時の出力信号振幅と、磁気ディスク媒体の雑音と磁気
ヘッドのアンプ雑音とからなる雑音との比の対数を算出
する手段を有することを特徴とする。
ト時の出力信号振幅と、磁気ディスク媒体の雑音と磁気
ヘッドのアンプ雑音とからなる雑音との比の対数を算出
する手段を有することを特徴とする。
【００２６】
【発明の実施の形態】次に本発明の磁気記録装置の設計
開発システムの実施の形態について図面を参照して説明
する。
開発システムの実施の形態について図面を参照して説明
する。
【００２７】図１は、本発明の磁気記録装置の設計開発
システムの第一の実施の形態を示す構成ブロック図であ
る。
システムの第一の実施の形態を示す構成ブロック図であ
る。
【００２８】図１を参照すると、磁気記録装置の設計開
発システム３０は、入力装置１と、プログラム制御によ
り動作するデータ処理装置２と、データ処理装置２と接
続されデータ処理装置２により演算した結果を出力する
出力装置３と、データ処理装置２と接続されデータ処理
装置２により演算した結果を記憶する外部記憶装置４と
から構成され、データ処理装置２は、演算式分析手段２
１と、演算式を記憶する記憶手段２２と、演算式分析手
段２１と記憶手段２２とに接続され演算式分析手段２１
と記憶手段２２とを制御するシステムコントローラ（Ｍ
ＰＵ）２３とで構成され、演算式分析手段２１は、電磁
変換特性パラメータより算出されるトータルＳＮＲ演算
手段２５と、電磁変換特性パラメータと信号処理方式と
により算出される必要ＳＮＲ演算手段２６と、ＳＮＲマ
ージン演算手段２７とから構成されている。
発システム３０は、入力装置１と、プログラム制御によ
り動作するデータ処理装置２と、データ処理装置２と接
続されデータ処理装置２により演算した結果を出力する
出力装置３と、データ処理装置２と接続されデータ処理
装置２により演算した結果を記憶する外部記憶装置４と
から構成され、データ処理装置２は、演算式分析手段２
１と、演算式を記憶する記憶手段２２と、演算式分析手
段２１と記憶手段２２とに接続され演算式分析手段２１
と記憶手段２２とを制御するシステムコントローラ（Ｍ
ＰＵ）２３とで構成され、演算式分析手段２１は、電磁
変換特性パラメータより算出されるトータルＳＮＲ演算
手段２５と、電磁変換特性パラメータと信号処理方式と
により算出される必要ＳＮＲ演算手段２６と、ＳＮＲマ
ージン演算手段２７とから構成されている。
【００２９】次に、上述のように構成された磁気記録装
置の設計開発システム３０の動作について説明する。
置の設計開発システム３０の動作について説明する。
【００３０】図２は、磁気記録装置の設計開発システム
３０の動作をフローチャートで示す図である。
３０の動作をフローチャートで示す図である。
【００３１】図２を参照すると、まず、ステージ１で
は、新規に本発明の磁気記録装置の設計開発システム３
０を構築するか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステージ
２へ、ＮＯの場合はステージ３に分岐する。
は、新規に本発明の磁気記録装置の設計開発システム３
０を構築するか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステージ
２へ、ＮＯの場合はステージ３に分岐する。
【００３２】ステージ３では、必要ＳＮＲ演算手段２６
にて適用している後述の必要ＳＮＲ演算式について、再
構築をする必要があるかどうかを判断し、ＹＥＳであれ
ばステージ４に、ＮＯであればステージ５に分岐する。
にて適用している後述の必要ＳＮＲ演算式について、再
構築をする必要があるかどうかを判断し、ＹＥＳであれ
ばステージ４に、ＮＯであればステージ５に分岐する。
【００３３】ステージ２では、予め、ＳＮＲを変化させ
るとビットエラーレート（以下ＢＥＲと称す）がどのよ
うに変化するかを計算機シミュレーションによって様々
な条件下で検討をする。但し、磁気記録装置を設計開発
する度（仕様変更毎）に、この元となる計算機シミュレ
ーションをしていたのでは、設計開発工数面から得策で
はないので、なるだけ共通となるように規格化して行う
方が都合がよい。そこで、本実施の形態では、磁気記録
波形（孤立波形）のモデルとして一般的なローレンツ波
形（ｙとする）を用いた計算機シミュレーションとす
る。
るとビットエラーレート（以下ＢＥＲと称す）がどのよ
うに変化するかを計算機シミュレーションによって様々
な条件下で検討をする。但し、磁気記録装置を設計開発
する度（仕様変更毎）に、この元となる計算機シミュレ
ーションをしていたのでは、設計開発工数面から得策で
はないので、なるだけ共通となるように規格化して行う
方が都合がよい。そこで、本実施の形態では、磁気記録
波形（孤立波形）のモデルとして一般的なローレンツ波
形（ｙとする）を用いた計算機シミュレーションとす
る。
【００３４】このローレンツ波形は、単純な重畳（重ね
合わせ）計算を用いることにより、実際の磁気記録装置
内のデータ系列に対応する磁気記録波形を簡単に表記す
ることができ、更に、重畳されたローレンツ波形におい
て、２次歪み（Ｄ）のパラメータを用いて、波形振幅に
非対称性を持たせることができる。つまり、ＭＲヘッド
の再生波形のような非対称性のある波形を、うまく表記
することができる。
合わせ）計算を用いることにより、実際の磁気記録装置
内のデータ系列に対応する磁気記録波形を簡単に表記す
ることができ、更に、重畳されたローレンツ波形におい
て、２次歪み（Ｄ）のパラメータを用いて、波形振幅に
非対称性を持たせることができる。つまり、ＭＲヘッド
の再生波形のような非対称性のある波形を、うまく表記
することができる。
【００３５】ここで、一般的なローレンツ波形の関数式
を以下に示す。
を以下に示す。
【００３６】 ｙ（ｔ）＝Ｖｉｓｏ／｛１＋（２ｔ／Ｐｗ５０）2 ｝ （４） 但し、tは時間成分である。
【００３７】また、重畳したローレンツ波形をz(t)とす
ると、非対称性のある波形は以下のように表すことがで
きる。
ると、非対称性のある波形は以下のように表すことがで
きる。
【００３８】 Ｚ（ｔ）＝ｚ（ｔ）＋ｚ（ｔ）2 ×Ｄ （５） 但し、Ｄは波形非対称性を示す（Ｄ＝Ａｓｙ）。
【００３９】一方、孤立波半値幅についても、できるだ
け各装置共通化して使用することができるように、規格
化することにする。本実施の形態では、チャネル内部の
磁化反転時間（Ｔｃ）で割った変換式により規格化半値
幅（Ｋ）として、ユーザーの転送レートとチャネル内部
の転送レートとの比（コードレート）の違いによる必要
ＳＮＲの差をなくすことができる。規格化半値幅（Ｋ）
は、次式で表示される。
け各装置共通化して使用することができるように、規格
化することにする。本実施の形態では、チャネル内部の
磁化反転時間（Ｔｃ）で割った変換式により規格化半値
幅（Ｋ）として、ユーザーの転送レートとチャネル内部
の転送レートとの比（コードレート）の違いによる必要
ＳＮＲの差をなくすことができる。規格化半値幅（Ｋ）
は、次式で表示される。
【００４０】 Ｋ＝Ｐｗ５０／Ｔｃ （６） 図３に、信号処理方式をＰＲ４ＭＬとし、規格化半値幅
Ｋ＝２とした場合において、２次歪み（Ｄ）をパラメー
タとしてＳＮＲとＢＥＲとの関係を示す計算機シミュレ
ーション結果の一例を示す。なお、実際には図３の条件
以外の様々なＫ及びＤの組み合わせで行なう必要があ
る。
Ｋ＝２とした場合において、２次歪み（Ｄ）をパラメー
タとしてＳＮＲとＢＥＲとの関係を示す計算機シミュレ
ーション結果の一例を示す。なお、実際には図３の条件
以外の様々なＫ及びＤの組み合わせで行なう必要があ
る。
【００４１】次に、ステージ４について詳細に説明す
る。
る。
【００４２】まず、磁気記録装置全体としての設計目標
となるＢＥＲとＳＮＲとの関係について説明する。
となるＢＥＲとＳＮＲとの関係について説明する。
【００４３】装置の設計目標ＢＥＲは、エラーコレクシ
ョンコード（ＥＣＣ）によって異なるのが一般的であ
り、更に、設計思想によっても異なるが、生のビットエ
ラーレートとして、ＢＥＲ＝１０-6の場合にどれだけＲ
／Ｗマージンがあるかをみることとする。図３に示すＳ
ＮＲとＢＥＲとの関係を示す計算機シミュレーション結
果より、まず、ＢＥＲ＝１０-6を満たすＳＮＲを読み取
る。次にその結果を用いて、最小二乗法による２次関数
式として、各条件での必要ＳＮＲ式を導出する。ＳＮＲ
とＫとの関係を図４、ＳＮＲとＤとの関係を図５に各々
示す。
ョンコード（ＥＣＣ）によって異なるのが一般的であ
り、更に、設計思想によっても異なるが、生のビットエ
ラーレートとして、ＢＥＲ＝１０-6の場合にどれだけＲ
／Ｗマージンがあるかをみることとする。図３に示すＳ
ＮＲとＢＥＲとの関係を示す計算機シミュレーション結
果より、まず、ＢＥＲ＝１０-6を満たすＳＮＲを読み取
る。次にその結果を用いて、最小二乗法による２次関数
式として、各条件での必要ＳＮＲ式を導出する。ＳＮＲ
とＫとの関係を図４、ＳＮＲとＤとの関係を図５に各々
示す。
【００４４】最後に、上記２次関数式を元に、いかなる
Ｋ及びＤにおいても必要ＳＮＲを計算できるように、係
数を検討する。本実施の形態においては、各係数は以下
のように表すことができる。
Ｋ及びＤにおいても必要ＳＮＲを計算できるように、係
数を検討する。本実施の形態においては、各係数は以下
のように表すことができる。
【００４５】 必要ＳＮＲ＝（−４．４４６）×Ｋ＋２．０９５×Ｋ2 ＋４．４９８×１０ -3 ×Ｄ2 ＋２３．６４２ （７） これを必要ＳＮＲ関数式とし、必要ＳＮＲ演算手段２６
に適用する。この必要ＳＮＲ関数式を、設計開発システ
ムとしていつでもこれを呼び出し演算できるようにする
場合には、データ処理装置２の記憶手段２２によって、
上記演算式を記憶しておく。
に適用する。この必要ＳＮＲ関数式を、設計開発システ
ムとしていつでもこれを呼び出し演算できるようにする
場合には、データ処理装置２の記憶手段２２によって、
上記演算式を記憶しておく。
【００４６】次に、ステージ５では、トータルＳＮＲ演
算手段２５にて適用している後述のトータルＳＮＲ演算
式について、再構築をする必要があるかを判断し、新規
にトータルＳＮＲ演算式を作成する場合、或いは現状の
関数式を更新する場合は、ステージ６に分岐し、それ以
外の場合はステージ７に分岐する。
算手段２５にて適用している後述のトータルＳＮＲ演算
式について、再構築をする必要があるかを判断し、新規
にトータルＳＮＲ演算式を作成する場合、或いは現状の
関数式を更新する場合は、ステージ６に分岐し、それ以
外の場合はステージ７に分岐する。
【００４７】次に、ステージ６におけるトータルＳＮＲ
演算式の導出について説明する。
演算式の導出について説明する。
【００４８】トータルＳＮＲは、実際に測定した電磁変
換特性パラメータより計算されるＳＮＲであり、磁気記
録装置においては、信号振幅（Ｓ）と雑音（Ｎ）との比
を対数で表したものであり、以下の式で表される。
換特性パラメータより計算されるＳＮＲであり、磁気記
録装置においては、信号振幅（Ｓ）と雑音（Ｎ）との比
を対数で表したものであり、以下の式で表される。
【００４９】 トータルＳＮＲ＝２０Ｌｏｇ（Ｓ／Ｎ） （８） ここで磁気記録装置においては、信号振幅と雑音とは一
般的に以下の式で計算される。
般的に以下の式で計算される。
【００５０】 Ｓ＝Ｖｉｓｏ／２ （９） Ｎ2 ＝Ｎｍ2 ＋Ｎｃ2 （１０） 上式において、媒体雑音（Ｎｍ）は実測値をパラメータ
として入力することができ、ヘッドアンプ雑音（Ｎｃ）
については、電圧性雑音（Ｖｎ）と電流性雑音（Ｉｎ）
とからなり、以下のような関係式になる。
として入力することができ、ヘッドアンプ雑音（Ｎｃ）
については、電圧性雑音（Ｖｎ）と電流性雑音（Ｉｎ）
とからなり、以下のような関係式になる。
【００５１】 Ｎｃ2 ＝Ｖｎ2 ＋（Ｉｎ×Ｒｍｒ）2 （１１） 但し、Ｒｍｒは、磁気ヘッド抵抗であり、Ｎｃについて
は実測値を毎回使用するようにしても良いが、Ｖｎ及び
Ｉｎは磁気ヘッドからの信号を増幅する回路に依存し、
バラツキが少ないので、Ｖｎ及びＩｎを固定値としても
よい。
は実測値を毎回使用するようにしても良いが、Ｖｎ及び
Ｉｎは磁気ヘッドからの信号を増幅する回路に依存し、
バラツキが少ないので、Ｖｎ及びＩｎを固定値としても
よい。
【００５２】これらをトータルＳＮＲ演算式として、ト
ータルＳＮＲ演算手段２５に適用する。このトータルＳ
ＮＲ演算式を、設計開発システムとしていつでもこれを
呼び出し演算できるようにする場合には、データ処理装
置２の記憶手段２２によって、トータルＳＮＲ演算式を
記憶しておく。
ータルＳＮＲ演算手段２５に適用する。このトータルＳ
ＮＲ演算式を、設計開発システムとしていつでもこれを
呼び出し演算できるようにする場合には、データ処理装
置２の記憶手段２２によって、トータルＳＮＲ演算式を
記憶しておく。
【００５３】次に、ステージ７では、実際の磁気ヘッド
・磁気ディスク媒体を用いて、図８に示す電磁変換特性
パラメータを測定する。なお、任意の条件で各々実測し
ても良いし、磁気ヘッドや磁気ディスク媒体の出荷検査
データなどを流用しても良い。
・磁気ディスク媒体を用いて、図８に示す電磁変換特性
パラメータを測定する。なお、任意の条件で各々実測し
ても良いし、磁気ヘッドや磁気ディスク媒体の出荷検査
データなどを流用しても良い。
【００５４】次に、ステージ８では、ステージ７よって
得られた電磁変換特性パラメータを、入力装置１を用い
てデータ処理装置２１に送信し、データ処理装置２１の
トータルＳＮＲ演算手段２５において、トータルＳＮＲ
を演算する。
得られた電磁変換特性パラメータを、入力装置１を用い
てデータ処理装置２１に送信し、データ処理装置２１の
トータルＳＮＲ演算手段２５において、トータルＳＮＲ
を演算する。
【００５５】トータルＳＮＲを演算後、ステージ９で
は、ステージ８と同様に、ステージ７よって得られた電
磁変換特性パラメータを、入力装置１を用いてデータ処
理装置２１に送信し、データ処理装置２１の必要ＳＮＲ
演算手段２６において、必要ＳＮＲを演算する。
は、ステージ８と同様に、ステージ７よって得られた電
磁変換特性パラメータを、入力装置１を用いてデータ処
理装置２１に送信し、データ処理装置２１の必要ＳＮＲ
演算手段２６において、必要ＳＮＲを演算する。
【００５６】次に、ステージ１０では、ＳＮＲマージン
演算手段２７で、ステージ８及びステージ９にて演算さ
れたトータルＳＮＲと必要ＳＮＲとの差を演算し、ＳＮ
Ｒマージンを算出し、ＳＮＲマージンにより良否判定及
び検討を行う。良否判定の一例としては、上記演算手段
に盛り込まれていないＲ／Ｗマージン損失要因よりもＳ
ＮＲマージンが大きいかどうかを判定する。例えば、上
述の演算式の場合には、オフトラック要因によるＲ／Ｗ
マージンの悪化については盛り込まれていないので、そ
の悪化見積もり分以上にＳＮＲマージンが大きい磁気ヘ
ッドと磁気ディスク媒体の組み合わせにおいては良と判
定する。逆に、ＳＮＲマージンが小さければ不良と判定
し、部品交換・部品仕様変更・測定条件変更・設計仕様
変更などの検討を行う。なお、磁気ヘッド・磁気ディス
ク媒体個々についての検討を行っても良いし、いくつか
サンプルを取り、統計的手法により検討しても良い。そ
の検討結果を出力装置３に出す。また、任意の時に出力
装置３に出される結果を外部記憶装置４に記憶させる。
演算手段２７で、ステージ８及びステージ９にて演算さ
れたトータルＳＮＲと必要ＳＮＲとの差を演算し、ＳＮ
Ｒマージンを算出し、ＳＮＲマージンにより良否判定及
び検討を行う。良否判定の一例としては、上記演算手段
に盛り込まれていないＲ／Ｗマージン損失要因よりもＳ
ＮＲマージンが大きいかどうかを判定する。例えば、上
述の演算式の場合には、オフトラック要因によるＲ／Ｗ
マージンの悪化については盛り込まれていないので、そ
の悪化見積もり分以上にＳＮＲマージンが大きい磁気ヘ
ッドと磁気ディスク媒体の組み合わせにおいては良と判
定する。逆に、ＳＮＲマージンが小さければ不良と判定
し、部品交換・部品仕様変更・測定条件変更・設計仕様
変更などの検討を行う。なお、磁気ヘッド・磁気ディス
ク媒体個々についての検討を行っても良いし、いくつか
サンプルを取り、統計的手法により検討しても良い。そ
の検討結果を出力装置３に出す。また、任意の時に出力
装置３に出される結果を外部記憶装置４に記憶させる。
【００５７】次に、ステージ１１では、ステージ１０の
検討結果に従い、他の条件・或いは他の部品の検討を行
うか否かの判断をする。
検討結果に従い、他の条件・或いは他の部品の検討を行
うか否かの判断をする。
【００５８】以上説明したように、ステージ１〜１１の
動作により、図８に示すような電磁変換特性パラメータ
について測定をすれば、ＳＮＲマージンを演算すること
ができ、短時間に従来のＲ／Ｗマージンと同様の結果を
得ることができる。
動作により、図８に示すような電磁変換特性パラメータ
について測定をすれば、ＳＮＲマージンを演算すること
ができ、短時間に従来のＲ／Ｗマージンと同様の結果を
得ることができる。
【００５９】なお、仮にＢＥＲ＝１０-5でのＳＮＲマー
ジンを演算したい場合は、時間のかかる計算機シミュレ
ーションの再実行、及びトータルＳＮＲ計算式の再構築
をする必要がない。図３及びその他の条件時においての
ＳＮＲとＢＥＲとの計算機シミュレーション結果より、
ＢＥＲ＝１０-5を満たすＳＮＲを読み取り、そのデータ
を用いて、上述のＢＥＲ＝１０-5でのＳＮＲマージン演
算と同様の作業をするだけで、ＳＮＲマージンの演算が
可能である。
ジンを演算したい場合は、時間のかかる計算機シミュレ
ーションの再実行、及びトータルＳＮＲ計算式の再構築
をする必要がない。図３及びその他の条件時においての
ＳＮＲとＢＥＲとの計算機シミュレーション結果より、
ＢＥＲ＝１０-5を満たすＳＮＲを読み取り、そのデータ
を用いて、上述のＢＥＲ＝１０-5でのＳＮＲマージン演
算と同様の作業をするだけで、ＳＮＲマージンの演算が
可能である。
【００６０】次に、本発明の磁気記録装置の設計開発シ
ステム３０のＳＮＲマージンと、磁気記録装置の従来の
方法で測定したＲ／Ｗマージンとの比較結果について説
明する。
ステム３０のＳＮＲマージンと、磁気記録装置の従来の
方法で測定したＲ／Ｗマージンとの比較結果について説
明する。
【００６１】図６（ａ）は、本発明の磁気記録装置の設
計開発システム３０により得られたＳＮＲマージンと、
従来の方法で測定されたＲ／Ｗマージンとの対比を示す
図である。
計開発システム３０により得られたＳＮＲマージンと、
従来の方法で測定されたＲ／Ｗマージンとの対比を示す
図である。
【００６２】図６（ａ）を参照すると、横軸は本発明の
磁気記録装置の設計開発システム３０から得られた結果
のＳＮＲマージン、縦軸は従来のＲ／Ｗマージン（Ｖｉ
ｔｅｒｂｉ Ｍａｒｇｉｎ）測定結果とし、図中の実線
はＳＮＲマージンを従来の方法で測定されたＲ／Ｗマー
ジン値に変換する理論式を示しているが、実測値は理論
式曲線と比較すると若干のバラツキが出てはいるが、Ｓ
ＮＲマージンは磁気記録装置の実測されたＲ／Ｗマージ
ンから計算できる理論値と比較的よく一致しているとい
える。
磁気記録装置の設計開発システム３０から得られた結果
のＳＮＲマージン、縦軸は従来のＲ／Ｗマージン（Ｖｉ
ｔｅｒｂｉ Ｍａｒｇｉｎ）測定結果とし、図中の実線
はＳＮＲマージンを従来の方法で測定されたＲ／Ｗマー
ジン値に変換する理論式を示しているが、実測値は理論
式曲線と比較すると若干のバラツキが出てはいるが、Ｓ
ＮＲマージンは磁気記録装置の実測されたＲ／Ｗマージ
ンから計算できる理論値と比較的よく一致しているとい
える。
【００６３】また、図６（ｂ）は、磁気記録装置設計開
発時において、電磁変換特性パラメータを測定した結果
をプロットしたものである。測定条件は、磁気ディスク
媒体は特定のある一枚に固定し、磁気ヘッドは４０サン
プルについて測定を行い、その実測データの内、孤立波
出力（Ｖｉｓｏ）及び孤立波半値幅（Ｐｗ５０）につい
てプロットしている。なお、横軸に孤立波半値幅、縦軸
に孤立波出力を表し、この磁気記憶装置において、従来
まで使用していたＰｗ５０の規格値及びＶｉｓｏの規格
値を破線でそれぞれ示す。更に、この磁気記録装置で用
いた本発明の磁気記録装置の設計開発システム３０によ
って演算された結果を実線で表す。
発時において、電磁変換特性パラメータを測定した結果
をプロットしたものである。測定条件は、磁気ディスク
媒体は特定のある一枚に固定し、磁気ヘッドは４０サン
プルについて測定を行い、その実測データの内、孤立波
出力（Ｖｉｓｏ）及び孤立波半値幅（Ｐｗ５０）につい
てプロットしている。なお、横軸に孤立波半値幅、縦軸
に孤立波出力を表し、この磁気記憶装置において、従来
まで使用していたＰｗ５０の規格値及びＶｉｓｏの規格
値を破線でそれぞれ示す。更に、この磁気記録装置で用
いた本発明の磁気記録装置の設計開発システム３０によ
って演算された結果を実線で表す。
【００６４】図６（ｂ）を参照すると、従来の規格値を
満たす磁気ヘッドは、Ｐｗ５０が狭くＶｉｓｏが大きい
破線で囲まれたエリアにある１４サンプルである。従っ
て、歩留りとしては、３５．０％となる。しかし、Ｒ／
Ｗマージンから、装置として使用できる磁気ヘッドとい
う観点から検討すると、実線より右上のエリアにある磁
気ヘッドであり、３０サンプルが良品であり、歩留まり
としては、７５．０％となる。つまり、従来の規格値を
用いる方法では、本来、使用可能な磁気ヘッドまで、不
良と判定していることが分かる。
満たす磁気ヘッドは、Ｐｗ５０が狭くＶｉｓｏが大きい
破線で囲まれたエリアにある１４サンプルである。従っ
て、歩留りとしては、３５．０％となる。しかし、Ｒ／
Ｗマージンから、装置として使用できる磁気ヘッドとい
う観点から検討すると、実線より右上のエリアにある磁
気ヘッドであり、３０サンプルが良品であり、歩留まり
としては、７５．０％となる。つまり、従来の規格値を
用いる方法では、本来、使用可能な磁気ヘッドまで、不
良と判定していることが分かる。
【００６５】次に本発明の磁気記録装置の設計開発シス
テムの第二の実施の形態について説明する。
テムの第二の実施の形態について説明する。
【００６６】第二の実施の形態は、本発明の磁気記録装
置の設計開発システム３０の精度を上げるために、ＰＲ
４ＭＬ信号処理方式において、Ｏ／Ｗ（オーバーライ
ト）による損失をも考慮したものであり、第一の実施の
形態と異なる点は、トータルＳＮＲの演算式において、
第一の実施の形態では信号振幅に孤立波振幅（Ｖｉｓ
ｏ）を用いるのに対して、第二の実施の形態ではＯ／Ｗ
込みの出力振幅（Ｖｏｗ）を用いて演算を行う点のみで
あり、他は第一の実施の形態と同一のため、以下、異な
る点に関して重点的に説明する。
置の設計開発システム３０の精度を上げるために、ＰＲ
４ＭＬ信号処理方式において、Ｏ／Ｗ（オーバーライ
ト）による損失をも考慮したものであり、第一の実施の
形態と異なる点は、トータルＳＮＲの演算式において、
第一の実施の形態では信号振幅に孤立波振幅（Ｖｉｓ
ｏ）を用いるのに対して、第二の実施の形態ではＯ／Ｗ
込みの出力振幅（Ｖｏｗ）を用いて演算を行う点のみで
あり、他は第一の実施の形態と同一のため、以下、異な
る点に関して重点的に説明する。
【００６７】まず、Ｏ／Ｗによる損失について、理想的
なＰＲ４ＭＬ等化器通過後の孤立波波形を示す図７を参
照して説明する。
なＰＲ４ＭＬ等化器通過後の孤立波波形を示す図７を参
照して説明する。
【００６８】図７の○印に示すように、理想的なＰＲ４
ＭＬの伝達関数においては、サンプリング点が±１か０
と言う３値しか出てこないという信号体系である。ま
た、信号体系のサンプリング値としては出てこないが、
アナログ波形としてのピークの値はサンプリング値１の
１．２９倍となることが分かっている。
ＭＬの伝達関数においては、サンプリング点が±１か０
と言う３値しか出てこないという信号体系である。ま
た、信号体系のサンプリング値としては出てこないが、
アナログ波形としてのピークの値はサンプリング値１の
１．２９倍となることが分かっている。
【００６９】実際には色々な雑音があり、信号波形をＰ
Ｒ４ＭＬ伝達関数に通すと、■印のようなサンプリング
点となり、理論値に対してバラツキが出てくる。この
内、Ｏ／Ｗに依るバラツキ分、即ちＯ／Ｗに依る損失分
の導出としては、出力振幅がＯ／Ｗにより低下し、トー
タルＳＮＲに影響すると見なせる。つまり、装置全体に
与えるＯ／Ｗによる損失は、信号振幅がＯ／Ｗによりど
の程度に低下するかについて検討すればよく、出力振幅
の最大値であるピークが書き残りサンプリング点に重畳
した場合が、最悪値であり、ピーク値はサンプリング値
の１．２９倍であるので、その値に連動した低下と見な
すことができる。
Ｒ４ＭＬ伝達関数に通すと、■印のようなサンプリング
点となり、理論値に対してバラツキが出てくる。この
内、Ｏ／Ｗに依るバラツキ分、即ちＯ／Ｗに依る損失分
の導出としては、出力振幅がＯ／Ｗにより低下し、トー
タルＳＮＲに影響すると見なせる。つまり、装置全体に
与えるＯ／Ｗによる損失は、信号振幅がＯ／Ｗによりど
の程度に低下するかについて検討すればよく、出力振幅
の最大値であるピークが書き残りサンプリング点に重畳
した場合が、最悪値であり、ピーク値はサンプリング値
の１．２９倍であるので、その値に連動した低下と見な
すことができる。
【００７０】従って、Ｏ／Ｗ込みの出力振幅（Ｖｏｗ）
は以下のような関係式で導出できる。
は以下のような関係式で導出できる。
【００７１】 Ｖｏｗ＝Ｖｉｓｏ×（１−１．２９×１０(O/W/20) ） （１２） 次に、図２に示すフローチャートのステージ５におい
て、トータルＳＮＲ演算式の再構築を選択し、ステージ
６で上記検討を盛り込めば、Ｏ／Ｗを考慮した設計開発
システムを構築することができる。つまり、トータルＳ
ＮＲ演算式の導出において、信号振幅（Ｓ）に孤立波振
幅（Ｖｉｓｏ）を用いる代わりに、Ｏ／Ｗ込みの出力振
幅（Ｖｏｗ）を用いることにより、Ｏ／Ｗによる損失に
ついてをも考慮した設計開発システムとすることができ
る。
て、トータルＳＮＲ演算式の再構築を選択し、ステージ
６で上記検討を盛り込めば、Ｏ／Ｗを考慮した設計開発
システムを構築することができる。つまり、トータルＳ
ＮＲ演算式の導出において、信号振幅（Ｓ）に孤立波振
幅（Ｖｉｓｏ）を用いる代わりに、Ｏ／Ｗ込みの出力振
幅（Ｖｏｗ）を用いることにより、Ｏ／Ｗによる損失に
ついてをも考慮した設計開発システムとすることができ
る。
【００７２】なお、上述の第一および第二の実施の形態
では、信号処理方式としてＰＲ４ＭＬ処理方式について
述べたが、ＥＰＲ４ＭＬ（ｅｘｐａｎｄ ｐａｒｔｉａ
ｌｒｅｓｐｏｎｓｅ ｃｌａｓｓ４ ｍａｘｉｍｕｍ
ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）、ＥＥＰＲ４ＭＬ（ｅｘｐａｎ
ｄ ｅｘｐａｎｄ ｐａｒｔｉａｌ ｒｅｓｐｏｎｓｅ
ｃｌａｓｓ４ ｍａｘｉｍｕｍ ｌｉｋｅｌｉｈｏｏ
ｄ）、ピークディテクションの各信号処理方式について
も、データ処理装置２の演算式分析手段２１により、Ｓ
ＮＲマージンの演算が可能であり、本発明に含まれるこ
とはいうまでもない。
では、信号処理方式としてＰＲ４ＭＬ処理方式について
述べたが、ＥＰＲ４ＭＬ（ｅｘｐａｎｄ ｐａｒｔｉａ
ｌｒｅｓｐｏｎｓｅ ｃｌａｓｓ４ ｍａｘｉｍｕｍ
ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）、ＥＥＰＲ４ＭＬ（ｅｘｐａｎ
ｄ ｅｘｐａｎｄ ｐａｒｔｉａｌ ｒｅｓｐｏｎｓｅ
ｃｌａｓｓ４ ｍａｘｉｍｕｍ ｌｉｋｅｌｉｈｏｏ
ｄ）、ピークディテクションの各信号処理方式について
も、データ処理装置２の演算式分析手段２１により、Ｓ
ＮＲマージンの演算が可能であり、本発明に含まれるこ
とはいうまでもない。
【００７３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の磁気記録
装置の設計開発システムは、従来多大な時間と労力をか
けていたＲ／Ｗマージンの測定をすることなく、磁気ヘ
ッドと磁気ディスク媒体との記録再生マージンに対応す
るＳＮＲマージンを容易に算出することが可能となり、
磁気記録装置の開発工数の削減を図り、開発効率化がで
きるという効果がある。
装置の設計開発システムは、従来多大な時間と労力をか
けていたＲ／Ｗマージンの測定をすることなく、磁気ヘ
ッドと磁気ディスク媒体との記録再生マージンに対応す
るＳＮＲマージンを容易に算出することが可能となり、
磁気記録装置の開発工数の削減を図り、開発効率化がで
きるという効果がある。
【００７４】また、構成部品である磁気ヘッド及び記録
媒体に関して、精度良く良否判定することが可能とな
り、歩留り及び信頼性を向上できるという効果がある。
媒体に関して、精度良く良否判定することが可能とな
り、歩留り及び信頼性を向上できるという効果がある。
【００７５】更に、必要ＳＮＲの関数式を規格化してい
るので、種々の磁気記録装置において共通に使用するこ
とができるという効果がある。
るので、種々の磁気記録装置において共通に使用するこ
とができるという効果がある。
【図１】本発明の磁気記録装置の設計開発システムの一
実施の形態を示す構成ブロック図である。
実施の形態を示す構成ブロック図である。
【図２】本発明の磁気記録装置の設計開発システムの動
作を示すフローチャート図である。
作を示すフローチャート図である。
【図３】計算機シミュレーションによるＳＮＲとＢＥＲ
との関係を示す図である。
との関係を示す図である。
【図４】ＳＮＲとＫとの関係を示す図である。
【図５】ＳＮＲとＤとの関係を示す図である。
【図６】図６（ａ）は、本発明の磁気記録装置の設計開
発システムにより得られたＳＮＲマージンと、従来の方
法で測定されたＲ／Ｗマージンとの対比を示す図、図６
（ｂ）は、電磁変換特性パラメータを測定した結果を示
す図である。
発システムにより得られたＳＮＲマージンと、従来の方
法で測定されたＲ／Ｗマージンとの対比を示す図、図６
（ｂ）は、電磁変換特性パラメータを測定した結果を示
す図である。
【図７】ＰＲ４ＭＬ等化器通過後の孤立波波形を示す図
である。
である。
【図８】電磁変換特性パラメータを示す図である。
【図９】ＭＲヘッドによって磁気ディスク媒体に記録さ
れた波形の模式図を示す。
れた波形の模式図を示す。
１ 入力装置 ２ データ処理装置 ３ 出力装置 ４ 外部記憶装置 ２１ 演算式分析手段 ２２ 記憶手段 ２３ システムコントローラ（ＭＰＵ） ２５ トータルＳＮＲ演算手段 ２６ 必要ＳＮＲ演算手段 ２７ ＳＮＲマージン演算手段 ３０ 磁気記録装置の設計開発システム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 5/00 - 5/02 G11B 5/09 G11B 20/10 G11B 20/18
Claims (9)
- 【請求項１】 入力装置と、プログラム制御により動作
するデータ処理装置と、前記データ処理装置と接続され
前記データ処理装置により演算した結果を出力する出力
装置と、前記データ処理装置と接続され前記データ処理
装置により演算した結果を記憶する外部記憶装置とを有
し、前記データ処理装置は、演算式分析手段と、演算式
を記憶する記憶手段と、前記演算式分析手段と前記記憶
手段とに接続され前記演算式分析手段と前記記憶手段と
を制御するシステムコントローラとを具備し、前記演算
式分析手段は、磁気記録装置の電磁変換特性パラメータ
より算出されるトータルＳＮＲ演算手段と、前記電磁変
換特性パラメータと信号処理方式とにより算出される必
要ＳＮＲ演算手段と、前記トータルＳＮＲ演算手段と前
記必要ＳＮＲ演算手段との差を算出するＳＮＲマージン
演算手段とを有することを特徴とする磁気記録装置の設
計開発システム。 - 【請求項２】 前記トータルＳＮＲ演算手段は、磁気記
録波形の孤立波出力の信号振幅と、磁気ディスク媒体の
雑音と磁気ヘッドのアンプ雑音とからなる雑音との比の
対数を算出する手段を有することを特徴とする請求項１
記載の磁気記録装置の設計開発システム。 - 【請求項３】 前記磁気ヘッドのアンプ雑音は、電圧性
雑音と電流性雑音とからなることを特徴とする請求項２
記載の磁気記録装置の設計開発システム。 - 【請求項４】 前記必要ＳＮＲ演算手段は、孤立波半値
幅を規格化した規格化半値幅と正負の孤立波の波形非対
称性とを算出する手段を有することを特徴とする請求項
１記載の磁気記録装置の設計開発システム。 - 【請求項５】 前記規格化半値幅は、磁気記録波形の孤
立波半値幅を磁化反転時間で除して算出されることを特
徴とする請求項４記載の磁気記録装置の設計開発システ
ム。 - 【請求項６】 前記波形非対称性は、前記正負の孤立波
の振幅の差を前記正負の孤立波の振幅の和で除して算出
されることを特徴とする請求項４記載の磁気記録装置の
設計開発システム。 - 【請求項７】 前記電磁変換特性パラメータは、前記孤
立波出力と、前記波形非対称性と、前記孤立波半値幅
と、前記磁気ディスク媒体の雑音と、前記磁気ヘッドの
アンプ雑音と、磁気ヘッド抵抗と、磁気ディスク媒体Ｓ
ＮＲと、オーバーライト損失とからなることを特徴とす
る請求項１記載の磁気記録装置の設計開発システム。 - 【請求項８】 前記信号処理方式は、ＰＲ４ＭＬである
ことを特徴とする請求項１記載の磁気記録装置の設計開
発システム。 - 【請求項９】 前記トータルＳＮＲ演算手段は、オーバ
ーライト時の出力信号振幅と、前記磁気ディスク媒体の
雑音と前記磁気ヘッドのアンプ雑音とからなる雑音との
比の対数を算出する手段を有することを特徴とする請求
項１記載の磁気記録装置の設計開発システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11585599A JP3296327B2 (ja) | 1999-04-23 | 1999-04-23 | 磁気記録装置の設計開発システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11585599A JP3296327B2 (ja) | 1999-04-23 | 1999-04-23 | 磁気記録装置の設計開発システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000306202A JP2000306202A (ja) | 2000-11-02 |
| JP3296327B2 true JP3296327B2 (ja) | 2002-06-24 |
Family
ID=14672818
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11585599A Expired - Fee Related JP3296327B2 (ja) | 1999-04-23 | 1999-04-23 | 磁気記録装置の設計開発システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3296327B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102779531A (zh) * | 2011-05-12 | 2012-11-14 | 新科实业有限公司 | 闭路式测量磁头信噪比及媒介信噪比的方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100359584C (zh) * | 2000-09-27 | 2008-01-02 | 希捷科技有限公司 | 在存储设备内确定均衡信噪比的方法和装置 |
| JP2010165385A (ja) * | 2007-03-26 | 2010-07-29 | Fujitsu Ltd | リード特性評価支援装置およびリード特性評価支援方法 |
-
1999
- 1999-04-23 JP JP11585599A patent/JP3296327B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102779531A (zh) * | 2011-05-12 | 2012-11-14 | 新科实业有限公司 | 闭路式测量磁头信噪比及媒介信噪比的方法 |
| CN102779531B (zh) * | 2011-05-12 | 2016-07-20 | 新科实业有限公司 | 闭路式测量磁头信噪比及媒介信噪比的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000306202A (ja) | 2000-11-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6356402B2 (en) | Recording equalizer and magnetic recording/reproducing apparatus using the equalizer | |
| US6292912B1 (en) | Disk drive having built-in self-test system for characterizing performance of the drive | |
| US5357520A (en) | Method and apparatus for precompensation value determination in a PRML data channel | |
| US8325432B2 (en) | Systems and methods for servo data based harmonics calculation | |
| JP2001110004A (ja) | 熱による劣化が起こる十分に高密度に記録されたデータをリフレッシュするための回路及びその方法 | |
| US6175460B1 (en) | Magnetic recording and reproduction apparatus | |
| JP3296327B2 (ja) | 磁気記録装置の設計開発システム | |
| US6903889B2 (en) | Method and apparatus for tuning a magnetoresistive bias parameter in a data storage system | |
| JP2004055136A (ja) | 磁気ヘッドの磁気記録幅測定方法およびその装置 | |
| US7561358B2 (en) | Multi-register read channel optimization | |
| JP5010510B2 (ja) | 磁気ディスク装置の試験方法および試験装置 | |
| JPH11110713A (ja) | 磁気抵抗ヘッドの孤立再生波形規定方法、及びこれを用いた磁気ディスク装置 | |
| US7791830B2 (en) | Signal processing circuit and magnetic storage apparatus | |
| US6877116B1 (en) | Method and apparatus for determining bit error rate in a sampled data system without requiring read channel circuitry | |
| US7230783B2 (en) | Mitigation of MR read head distortion | |
| US7529049B2 (en) | Method and system for testing of magnetic disks using F-BER | |
| US7957087B2 (en) | Servo write method and servo write system for hard-disk drive | |
| JP3522994B2 (ja) | 磁気記録再生装置 | |
| JP3057282B2 (ja) | デジタル記録再生特性評価方法 | |
| KR20080083523A (ko) | 기록매체의 디펙 검사 방법 및 이를 이용한 디스크드라이브 | |
| JP2954104B2 (ja) | バルクハウゼンノイズ検出方法 | |
| KR100424131B1 (ko) | 샘플링된 데이터 시스템의 비트 에러율을 결정하는 방법 및 장치 | |
| JP4504928B2 (ja) | 薄膜磁気ヘッドの書き込み素子の特性評価方法 | |
| JP3767037B2 (ja) | 振幅検出器およびそれを使用したディスク装置 | |
| JP2826485B2 (ja) | 磁気ディスク装置の読出し電圧測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020312 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080412 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090412 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100412 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |