JP2826485B2 - 磁気ディスク装置の読出し電圧測定方法 - Google Patents
磁気ディスク装置の読出し電圧測定方法Info
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- JP2826485B2 JP2826485B2 JP15472795A JP15472795A JP2826485B2 JP 2826485 B2 JP2826485 B2 JP 2826485B2 JP 15472795 A JP15472795 A JP 15472795A JP 15472795 A JP15472795 A JP 15472795A JP 2826485 B2 JP2826485 B2 JP 2826485B2
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- Japan
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- magnetic disk
- disk drive
- measuring
- voltage
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置の読
出し電圧測定方法に関し、特にセクタサーボ方式を採用
した磁気ディスク装置におけるデータ部の読出し電圧測
定方法に関する。
出し電圧測定方法に関し、特にセクタサーボ方式を採用
した磁気ディスク装置におけるデータ部の読出し電圧測
定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスク装置に搭載されている磁気
記録媒体の読出し電圧を測定することは、磁気記録媒体
のみならず他に搭載されている磁気ヘッドおよび記録再
生回路を含む総合的な装置性能を評価する上で重要な試
験項目の１つである。
記録媒体の読出し電圧を測定することは、磁気記録媒体
のみならず他に搭載されている磁気ヘッドおよび記録再
生回路を含む総合的な装置性能を評価する上で重要な試
験項目の１つである。
【０００３】ところで、セクタサーボ方式を採用した磁
気ディスク装置は、磁気記録媒体に書き込まれているデ
ータ列の間に、所定の間隔で磁気ヘッドを位置決めする
ための位置情報（サーボデータ）が書き込まれている。
このため、従来、セクタサーボ方式の磁気ディスク装置
において読出し電圧を測定する場合には、まず、磁気デ
ィスク装置が磁気記録媒体から読出した１トラック分の
信号と、この磁気ディスク装置が生成するサーボ部の位
置を示す信号とを読出し電圧測定回路に取り込み、サー
ボ部の区間については読出し電圧測定の算出からは除外
するようにしていた。
気ディスク装置は、磁気記録媒体に書き込まれているデ
ータ列の間に、所定の間隔で磁気ヘッドを位置決めする
ための位置情報（サーボデータ）が書き込まれている。
このため、従来、セクタサーボ方式の磁気ディスク装置
において読出し電圧を測定する場合には、まず、磁気デ
ィスク装置が磁気記録媒体から読出した１トラック分の
信号と、この磁気ディスク装置が生成するサーボ部の位
置を示す信号とを読出し電圧測定回路に取り込み、サー
ボ部の区間については読出し電圧測定の算出からは除外
するようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置の読出し電圧測定方法では、サーボ部の区間
は読出し電圧測定の算出からは除外するための読出し電
圧測定回路が必要になるという欠点がある。
ィスク装置の読出し電圧測定方法では、サーボ部の区間
は読出し電圧測定の算出からは除外するための読出し電
圧測定回路が必要になるという欠点がある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、セクタサーボ
方式を採用した磁気ディスク装置におけるデータ部の読
出し電圧測定方法であって、前記磁気ディスク装置の１
トラック分の読出し電圧のエンベロープ波形をサンプリ
ングし、サンプリング点における前記読出し電圧の電圧
レベルの度数分布を求め、前記度数分布から得られる最
も頻度数の高い読出し電圧レベル（Ｈｉｇｈ側／Ｌｏｗ
側）の値をそれぞれＡおよびＢとし、前記Ａにおける電
圧レベルと前記Ｂにおける電圧レベルとの差を求めるこ
とを特徴とする。
方式を採用した磁気ディスク装置におけるデータ部の読
出し電圧測定方法であって、前記磁気ディスク装置の１
トラック分の読出し電圧のエンベロープ波形をサンプリ
ングし、サンプリング点における前記読出し電圧の電圧
レベルの度数分布を求め、前記度数分布から得られる最
も頻度数の高い読出し電圧レベル（Ｈｉｇｈ側／Ｌｏｗ
側）の値をそれぞれＡおよびＢとし、前記Ａにおける電
圧レベルと前記Ｂにおける電圧レベルとの差を求めるこ
とを特徴とする。
【０００６】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００７】図１は、本発明の一実施例を実現するセク
タサーボ方式を採用した磁気ディスク装置の読出し電圧
のエンベロープ波形とその波形の電圧レベルの度数分布
との関係を示す図である。
タサーボ方式を採用した磁気ディスク装置の読出し電圧
のエンベロープ波形とその波形の電圧レベルの度数分布
との関係を示す図である。
【０００８】セクタサーボ方式の磁気ディスク装置にお
いて、この装置の１トラック分の読出し電圧を測定する
と、図１に示すような、読出し電圧をエンベロープ波形
１が得られる。次に、このエンベロープ波形１をサンプ
リングし、サンプリング点における読出し電圧の電圧レ
ベルについて度数分布を求める。
いて、この装置の１トラック分の読出し電圧を測定する
と、図１に示すような、読出し電圧をエンベロープ波形
１が得られる。次に、このエンベロープ波形１をサンプ
リングし、サンプリング点における読出し電圧の電圧レ
ベルについて度数分布を求める。
【０００９】セクタサーボ方式の磁気ディスク装置の１
トラック分のエンベロープ波形１をサンプリングした場
合、サーボ部２の読出し電圧とデータ部３の読出し電圧
とでは、電圧値およびサンプリング回数が明らかに異る
ため、図１に示すように、大小２つのピーク値を持つ度
数分布が得られる。この度数分布は、データ部３の方が
サーボ部２よりも大きくなり、これから得られる最も頻
度数の高い（大きなピーク値の）電圧値は、１トラック
分のデータ部における平均的な読出し電圧の電圧レベル
を示している。
トラック分のエンベロープ波形１をサンプリングした場
合、サーボ部２の読出し電圧とデータ部３の読出し電圧
とでは、電圧値およびサンプリング回数が明らかに異る
ため、図１に示すように、大小２つのピーク値を持つ度
数分布が得られる。この度数分布は、データ部３の方が
サーボ部２よりも大きくなり、これから得られる最も頻
度数の高い（大きなピーク値の）電圧値は、１トラック
分のデータ部における平均的な読出し電圧の電圧レベル
を示している。
【００１０】従って、これらの度数分布から得られた最
も頻度数の高い読出し電圧レベル（Ｈｉｇｈ側／Ｌｏｗ
側）の値を、それぞれピーク値Ａ４およびピーク値Ｂ５
とし、ピーク値Ａ４における電圧レベルとピーク値Ｂ５
における電圧レベルとの差を求めると、この差（電圧レ
ベル）が、求める磁気ディスク装置のデータ部３の読出
し電圧となる。
も頻度数の高い読出し電圧レベル（Ｈｉｇｈ側／Ｌｏｗ
側）の値を、それぞれピーク値Ａ４およびピーク値Ｂ５
とし、ピーク値Ａ４における電圧レベルとピーク値Ｂ５
における電圧レベルとの差を求めると、この差（電圧レ
ベル）が、求める磁気ディスク装置のデータ部３の読出
し電圧となる。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、読出し電
圧をエンベロープ波形をサンプリングし、サンプリング
点における読出し電圧の電圧レベルをヒストグラム化
し、その頻度数のピーク値を示す電圧レベルを基に読出
し電圧を求めることにより、セクタサーボを採用した磁
気ディスク装置の読出し電圧を測定する場合に、サーボ
部の区間を除外する回路を要することなく、容易にデー
タ部のみの読出し電圧を測定できるという効果がある。
圧をエンベロープ波形をサンプリングし、サンプリング
点における読出し電圧の電圧レベルをヒストグラム化
し、その頻度数のピーク値を示す電圧レベルを基に読出
し電圧を求めることにより、セクタサーボを採用した磁
気ディスク装置の読出し電圧を測定する場合に、サーボ
部の区間を除外する回路を要することなく、容易にデー
タ部のみの読出し電圧を測定できるという効果がある。
【図１】本発明を実現する磁気ディスク装置の読出し電
圧のエンベロープ波形とその波形の電圧レベルの度数分
布との関係を示す図である。
圧のエンベロープ波形とその波形の電圧レベルの度数分
布との関係を示す図である。
１ エンベロープ波形 ２ サーボ部 ３ データ部 ４ ピーク値Ａ ５ ピーク値Ｂ
Claims (1)
- 【請求項１】 セクタサーボ方式を採用した磁気ディス
ク装置におけるデータ部の読出し電圧測定方法であっ
て、 前記磁気ディスク装置の１トラック分の読出し電圧のエ
ンベロープ波形をサンプリングし、サンプリング点にお
ける前記読出し電圧の電圧レベルの度数分布を求め、前
記度数分布から得られる最も頻度数の高い読出し電圧レ
ベル（Ｈｉｇｈ側／Ｌｏｗ側）の値をそれぞれＡおよび
Ｂとし、前記Ａにおける電圧レベルと前記Ｂにおける電
圧レベルとの差を求めることを特徴とする磁気ディスク
装置の読出し電圧測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15472795A JP2826485B2 (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 磁気ディスク装置の読出し電圧測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15472795A JP2826485B2 (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 磁気ディスク装置の読出し電圧測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH097132A JPH097132A (ja) | 1997-01-10 |
| JP2826485B2 true JP2826485B2 (ja) | 1998-11-18 |
Family
ID=15590637
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15472795A Expired - Lifetime JP2826485B2 (ja) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | 磁気ディスク装置の読出し電圧測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2826485B2 (ja) |
-
1995
- 1995-06-21 JP JP15472795A patent/JP2826485B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH097132A (ja) | 1997-01-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980811 |