JPH10334402A - 固定磁気記録装置 - Google Patents
固定磁気記録装置Info
- Publication number
- JPH10334402A JPH10334402A JP13638397A JP13638397A JPH10334402A JP H10334402 A JPH10334402 A JP H10334402A JP 13638397 A JP13638397 A JP 13638397A JP 13638397 A JP13638397 A JP 13638397A JP H10334402 A JPH10334402 A JP H10334402A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 書き込み電流値が一定である場合には、ＭＲ
ヘッドや磁気ディスク周辺の温度変化によって、オーバ
ーライト特性が劣化したり、ＭＲヘッドの抵抗値の上昇
にともなうエラーレートの劣化に対応できなかったりす
る問題を解決する。 【解決手段】 ＭＲヘッド及び磁気ディスク周辺の温度
変化を監視し、温度差が初期設定温度に対して規定値以
上に達すると、書き込み電流値を徐々に変化させながら
エラーレートを求め、エラーレートが最も良好な値を、
新たな書き込み電流値として更新する。
ヘッドや磁気ディスク周辺の温度変化によって、オーバ
ーライト特性が劣化したり、ＭＲヘッドの抵抗値の上昇
にともなうエラーレートの劣化に対応できなかったりす
る問題を解決する。 【解決手段】 ＭＲヘッド及び磁気ディスク周辺の温度
変化を監視し、温度差が初期設定温度に対して規定値以
上に達すると、書き込み電流値を徐々に変化させながら
エラーレートを求め、エラーレートが最も良好な値を、
新たな書き込み電流値として更新する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気抵抗効果を利用
した固定磁気記録装置に関するものであり、特に実際の
使用下において、温度変化に応じて書き込み電流値を、
エラーレートが最も低い最適値に更新可能なように構成
したものである。
した固定磁気記録装置に関するものであり、特に実際の
使用下において、温度変化に応じて書き込み電流値を、
エラーレートが最も低い最適値に更新可能なように構成
したものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、固定磁気記録装置の大半は、年々
増加する記録密度の要求に伴いＭＲヘッドを採用してい
る。ＭＲヘッドとは外部磁界によりその電気抵抗が変化
する、いわゆる磁気抵抗効果を利用した再生方式であ
る。
増加する記録密度の要求に伴いＭＲヘッドを採用してい
る。ＭＲヘッドとは外部磁界によりその電気抵抗が変化
する、いわゆる磁気抵抗効果を利用した再生方式であ
る。
【０００３】ＭＲヘッドはそれぞれ書き込み電流特性が
異なり、エラーレートが最も良好な時の書き込み電流値
は個々のヘッドで違ってくる。図３は複数のヘッド０〜
４の５個について、書き込み電流を変化させたときのエ
ラーの数の変化の実測例を示したものであり、個々のヘ
ッドで最適な電流値はそれぞれ異なっている。
異なり、エラーレートが最も良好な時の書き込み電流値
は個々のヘッドで違ってくる。図３は複数のヘッド０〜
４の５個について、書き込み電流を変化させたときのエ
ラーの数の変化の実測例を示したものであり、個々のヘ
ッドで最適な電流値はそれぞれ異なっている。
【０００４】そこで従来の固定磁気記録装置において
は、例えば特開平１−７６４０３号公報に示されるよう
に、ヘッドの書き込み電流値の最適値を考慮して、予め
出荷時に各々のヘッドごとに最適な書き込み電流値を検
査し、設定するように工夫されているものがある。
は、例えば特開平１−７６４０３号公報に示されるよう
に、ヘッドの書き込み電流値の最適値を考慮して、予め
出荷時に各々のヘッドごとに最適な書き込み電流値を検
査し、設定するように工夫されているものがある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、磁気ディスク周辺の温度が低下することに
よって、記録ディスクの保磁力が増大しオーバーライト
特性が劣化することがある。またＭＲヘッド周辺の温度
が上昇することにより、ＭＲヘッドの抵抗値が上昇して
カレントセンス方式であるヘッドアンプの出力が低下す
ることがあり、温度変化に対するエラーレートの劣化に
対応できないことがある。図４は異なる温度条件下で書
き込み電流を変化させたときのエラーの数の変化の実測
例を示したものであり、温度によって最適な電流値は異
なっている。
の構成では、磁気ディスク周辺の温度が低下することに
よって、記録ディスクの保磁力が増大しオーバーライト
特性が劣化することがある。またＭＲヘッド周辺の温度
が上昇することにより、ＭＲヘッドの抵抗値が上昇して
カレントセンス方式であるヘッドアンプの出力が低下す
ることがあり、温度変化に対するエラーレートの劣化に
対応できないことがある。図４は異なる温度条件下で書
き込み電流を変化させたときのエラーの数の変化の実測
例を示したものであり、温度によって最適な電流値は異
なっている。
【０００６】そこでこの問題を回避するため現状では、
温度変化を予め考慮した上で、常温でのエラーレートの
マージンを多めに確保するようにしているが、この確保
によって製品の歩留まりが悪くなったり、書き込み電流
を多めに流すために消費電流が増加したりするなどの欠
点があった。
温度変化を予め考慮した上で、常温でのエラーレートの
マージンを多めに確保するようにしているが、この確保
によって製品の歩留まりが悪くなったり、書き込み電流
を多めに流すために消費電流が増加したりするなどの欠
点があった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の固定磁気記録装置は、ＭＲヘッド及び磁気デ
ィスク周辺の温度変化を監視し、温度差が初期設定温度
に対して規定値以上に達すると、書き込み電流値を徐々
に変化させながらエラーレートを求め、エラーレートが
最も良好な値を、新たな書き込み電流値として更新する
ものである。
に本発明の固定磁気記録装置は、ＭＲヘッド及び磁気デ
ィスク周辺の温度変化を監視し、温度差が初期設定温度
に対して規定値以上に達すると、書き込み電流値を徐々
に変化させながらエラーレートを求め、エラーレートが
最も良好な値を、新たな書き込み電流値として更新する
ものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、ＭＲヘッドを備えた固定磁気記録装置において、前
記ＭＲヘッドの近傍に配置した温度センサが、予め定め
た温度差を検知したとき、前記ＭＲヘッドの書き込み電
流値を変化させながらエラーレートを求め、エラーレー
トが最も良好な値を、新たな書き込み電流値として更新
して、以降の書き込みを行うようにしたことを特徴とす
るものである。
は、ＭＲヘッドを備えた固定磁気記録装置において、前
記ＭＲヘッドの近傍に配置した温度センサが、予め定め
た温度差を検知したとき、前記ＭＲヘッドの書き込み電
流値を変化させながらエラーレートを求め、エラーレー
トが最も良好な値を、新たな書き込み電流値として更新
して、以降の書き込みを行うようにしたことを特徴とす
るものである。
【０００９】以下本発明の固定磁気記録装置について、
その実施例を図面を参照しながら具体的に説明する。図
１は本発明の一実施例を示すブロック図である。
その実施例を図面を参照しながら具体的に説明する。図
１は本発明の一実施例を示すブロック図である。
【００１０】図１において、１はヘッド構造部、２は磁
気ディスクを示している。ヘッド近傍に配置された温度
センサ３からの信号を温度検出回路４でアナログ信号を
デジタル信号に変換する。温度検出回路４から生成され
た温度変化の情報を温度差判定部５に受けると、温度差
判定部５は書き込み電流データテーブル７の初期設定温
度をもとに、温度差を演算する。
気ディスクを示している。ヘッド近傍に配置された温度
センサ３からの信号を温度検出回路４でアナログ信号を
デジタル信号に変換する。温度検出回路４から生成され
た温度変化の情報を温度差判定部５に受けると、温度差
判定部５は書き込み電流データテーブル７の初期設定温
度をもとに、温度差を演算する。
【００１１】予め、書き込み電流特性が大きく変動する
温度差を規定温度差と定義する。例えば量産試作時のデ
ータを基にエラーレートが一桁悪化する温度差を規定温
度差として予め統計的に算出する。実際には２０℃以上
になるとエラーレートの悪化が顕著に見られると予想さ
れるが、その値が大きいほど良い装置である。
温度差を規定温度差と定義する。例えば量産試作時のデ
ータを基にエラーレートが一桁悪化する温度差を規定温
度差として予め統計的に算出する。実際には２０℃以上
になるとエラーレートの悪化が顕著に見られると予想さ
れるが、その値が大きいほど良い装置である。
【００１２】その値が例えば２０℃の時は規定温度差を
２０℃と設定する。温度センサ3、温度検出回路４、温
度差判定部5を通じて温度差が２０℃に達しているかど
うかを判定し、２０℃に達している場合は、書き込み電
流最適化部６、書き込み電流データファイル７、書き込
み電流変更部８、書き込み電流回路９において最適化を
行う。書き込み電流変更部８、書き込み電流回路９にて
書き込み電流値を変更しながら、それぞれの書き込み電
流値の時のエラーレートを書き込み電流最適化部にて計
算する。
２０℃と設定する。温度センサ3、温度検出回路４、温
度差判定部5を通じて温度差が２０℃に達しているかど
うかを判定し、２０℃に達している場合は、書き込み電
流最適化部６、書き込み電流データファイル７、書き込
み電流変更部８、書き込み電流回路９において最適化を
行う。書き込み電流変更部８、書き込み電流回路９にて
書き込み電流値を変更しながら、それぞれの書き込み電
流値の時のエラーレートを書き込み電流最適化部にて計
算する。
【００１３】エラーレートが最も良好な時の書き込み電
流値を最適値として更新し、最適値を書き込み電流デー
タファイル７に格納する。そしてこのデータを参照し
て、データの記録の際に書き込み電流変更部８へ、変更
すべき所望の書き込み電流値を指示する。
流値を最適値として更新し、最適値を書き込み電流デー
タファイル７に格納する。そしてこのデータを参照し
て、データの記録の際に書き込み電流変更部８へ、変更
すべき所望の書き込み電流値を指示する。
【００１４】書き込み電流変更部８では、書き込み電流
の設定値を変更し、書き込み電流回路９を通じてデータ
を磁気ディスク２に書き込む。この手順を最後に最適値
を更新したときから温度差が２０℃以上変動する毎に繰
り返し常に温度にあった書き込み電流値を維持するよう
にする。
の設定値を変更し、書き込み電流回路９を通じてデータ
を磁気ディスク２に書き込む。この手順を最後に最適値
を更新したときから温度差が２０℃以上変動する毎に繰
り返し常に温度にあった書き込み電流値を維持するよう
にする。
【００１５】図２は図１に示す機能ブロック図の書き込
み電流最適化部６のフローチャートの一例を示してい
る。まずヘッドを測定する所望の位置にシークさせ、書
き込み電流値をｗｃ＝３０と設定する。そしてランダム
パターンにて設定された書き込み電流値で信号を書き込
み、その信号を読み込む。そしてこの読み込み信号につ
いてエラーの判定を行う。書き込み、読み込み及びエラ
ーの判定のサイクルを５００００セクタに及ぶまで続行
し、５００００セクタ実行したら、そのルーチンの中で
のエラー数を計数する。このような動作を書き込み電流
が３０ｍＡから４０ｍＡに至るまで２ｍＡステップづつ
増やしながら行い、それぞれの計数したエラー数の中
で、最小のエラー数の時の書き込み電流値を最適電流値
として採用する。
み電流最適化部６のフローチャートの一例を示してい
る。まずヘッドを測定する所望の位置にシークさせ、書
き込み電流値をｗｃ＝３０と設定する。そしてランダム
パターンにて設定された書き込み電流値で信号を書き込
み、その信号を読み込む。そしてこの読み込み信号につ
いてエラーの判定を行う。書き込み、読み込み及びエラ
ーの判定のサイクルを５００００セクタに及ぶまで続行
し、５００００セクタ実行したら、そのルーチンの中で
のエラー数を計数する。このような動作を書き込み電流
が３０ｍＡから４０ｍＡに至るまで２ｍＡステップづつ
増やしながら行い、それぞれの計数したエラー数の中
で、最小のエラー数の時の書き込み電流値を最適電流値
として採用する。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の固定磁気
記録装置によれば、実際の使用下において、ＭＲヘッド
やディスク周辺の温度が変動するたびに、書き込み電流
の最適値を更新するようにしたので、装置の温度による
特性の劣化を防止することができる。また常温でのマー
ジンを押さえて設計することができ製品の歩留まりの向
上も図れる。
記録装置によれば、実際の使用下において、ＭＲヘッド
やディスク周辺の温度が変動するたびに、書き込み電流
の最適値を更新するようにしたので、装置の温度による
特性の劣化を防止することができる。また常温でのマー
ジンを押さえて設計することができ製品の歩留まりの向
上も図れる。
【図１】本発明の固定磁気記録装置の一実施の形態にお
ける機能ブロック図
ける機能ブロック図
【図２】同実施の形態における書き込み電流最適化部の
フローチャート
フローチャート
【図３】書き込み電流のヘッド依存性の実測例を示す図
【図４】書き込み電流の温度依存性の実測例を示す図
１ ヘッド構造部 ２ 磁気ディスク ３ 温度センサ ４ 温度検出回路 ５ 温度差判定部 ６ 書き込み電流最適化部 ７ 書き込み電流データファイル ８ 書き込み電流変更部 ９ 書き込み電流回路
Claims (1)
- 【請求項１】 ＭＲヘッドを備えた固定磁気記録装置に
おいて、前記ＭＲヘッドの近傍に配置した温度センサ
が、予め定めた温度差を検知したとき、前記ＭＲヘッド
の書き込み電流値を変化させながらエラーレートを求
め、エラーレートが最も良好な値を、新たな書き込み電
流値として更新して、以降の書き込みを行うようにした
ことを特徴とする固定磁気記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13638397A JPH10334402A (ja) | 1997-05-27 | 1997-05-27 | 固定磁気記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13638397A JPH10334402A (ja) | 1997-05-27 | 1997-05-27 | 固定磁気記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10334402A true JPH10334402A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=15173877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13638397A Pending JPH10334402A (ja) | 1997-05-27 | 1997-05-27 | 固定磁気記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10334402A (ja) |
Cited By (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US6995937B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-02-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Methods using extended servo patterns with multi-pass servowriting and self-servowriting |
| US6995942B2 (en) | 2002-12-30 | 2006-02-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Systems for WORF improvement |
| US6999264B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-02-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Methods for variable multi-pass servowriting and self-servowriting |
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| US7027244B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-04-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Systems for self-servowriting using write-current variation |
| SG124226A1 (en) * | 1999-08-27 | 2006-08-30 | Seagate Technology Llc | Method and apparatus for run-time temperature compensation of giant magnetoresistive head bias current |
| US7106543B1 (en) | 2002-12-27 | 2006-09-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Methods for self-servowriting with multiple passes per servowriting step |
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| US7982991B2 (en) | 2006-05-24 | 2011-07-19 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method and apparatus for determining set value of write current of magnetic head |
-
1997
- 1997-05-27 JP JP13638397A patent/JPH10334402A/ja active Pending
Cited By (24)
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| US7099105B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-08-29 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Systems for selective multi-pass servowriting and self-servowriting |
| US7180695B2 (en) | 2002-12-27 | 2007-02-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Systems for self-servowriting with multiple passes per servowriting step |
| US7167335B1 (en) | 2002-12-27 | 2007-01-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Systems for variable multi-pass servowriting and self-servowriting |
| US7245451B2 (en) | 2002-12-27 | 2007-07-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Methods using extended servo patterns with variable multi-pass servowriting and self-servowriting |
| US7199962B1 (en) | 2002-12-27 | 2007-04-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Systems using extended servo patterns with multi-pass servowriting and self-servowriting |
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