JPH06756Y2 - 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー - Google Patents
蛍光ｘ線分析用試料ホルダーInfo
- Publication number
- JPH06756Y2 JPH06756Y2 JP173988U JP173988U JPH06756Y2 JP H06756 Y2 JPH06756 Y2 JP H06756Y2 JP 173988 U JP173988 U JP 173988U JP 173988 U JP173988 U JP 173988U JP H06756 Y2 JPH06756 Y2 JP H06756Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- mask plate
- plate
- base plate
- mask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」本考案は蛍光Ｘ線の波長分析によ
って試料の物質分析を行う場合に用いるための試料ホル
ダーに関する。
って試料の物質分析を行う場合に用いるための試料ホル
ダーに関する。
「従来の技術」従来の試料ホルダーは円筒状の容器本体
とその底面に配置した試料押上ばねと、容器の上部開口
面に螺着されるマスクと、からなるもので、容器本体に
板状の試料を挿入したのち、マスクを取り付けることに
より前記ばねで試料の表面をこのマスクに密着させる構
造であった。
とその底面に配置した試料押上ばねと、容器の上部開口
面に螺着されるマスクと、からなるもので、容器本体に
板状の試料を挿入したのち、マスクを取り付けることに
より前記ばねで試料の表面をこのマスクに密着させる構
造であった。
「考案が解決しようとする問題点」しかし上記装置は試
料面における所望の部分を正確にマスクの窓に対向させ
ることが極めて困難であると共に試料の着脱等も、これ
を容易に行い得ない欠点があった。
料面における所望の部分を正確にマスクの窓に対向させ
ることが極めて困難であると共に試料の着脱等も、これ
を容易に行い得ない欠点があった。
「問題点を解決するための手段」本考案は、マスク板と
基台板とを平行に配置して、それらの周辺を複数本の支
柱で固定すると共に上記２枚の板の間に試料台を配置し
てこれを上記支柱に摺動自在に嵌合し、かつ試料台と基
台板との間に上記試料台をマスク板の方向へ押圧するば
ねを設けたものである。
基台板とを平行に配置して、それらの周辺を複数本の支
柱で固定すると共に上記２枚の板の間に試料台を配置し
てこれを上記支柱に摺動自在に嵌合し、かつ試料台と基
台板との間に上記試料台をマスク板の方向へ押圧するば
ねを設けたものである。
「作用」従って試料台を例えば手で保持して、基台板を
作業台等に押し付けると、この基台板に支柱で連結され
たマスク板が押し上げられて、試料台とマスク板との間
隔が拡大される。すなわちこの状態で板状の試料を上記
試料台とマスク板との間に挿入すると共にその位置調整
を行って、基台板を作業台等から離隔すると、ばねの力
で試料が試料台とマスク板との間に挟まれて固定され
る。この試料ホルダーをＸ線蛍光分析装置に取り付ける
ことにより、試料面における所望の部分の分析を確実に
行うことができる。
作業台等に押し付けると、この基台板に支柱で連結され
たマスク板が押し上げられて、試料台とマスク板との間
隔が拡大される。すなわちこの状態で板状の試料を上記
試料台とマスク板との間に挿入すると共にその位置調整
を行って、基台板を作業台等から離隔すると、ばねの力
で試料が試料台とマスク板との間に挟まれて固定され
る。この試料ホルダーをＸ線蛍光分析装置に取り付ける
ことにより、試料面における所望の部分の分析を確実に
行うことができる。
「実施例」図面は本考案の一実施例で、第１図は平面
図、第２図は縦断面図、第３図は第２図のＡ−Ａ断面
図、である。このように本考案の装置は、マスク板１と
基台板２とを平行に配置して、例えば４本の支柱３，３
…でそれらを固定し、かつ上記マスク板１と基台板２と
の中間に試料台４をこれらと平行に配置して、試料台４
をこの試料台と基台板２との間に設けた例えば螺旋ばね
５でマスク板１の方向へ押圧し、試料台４とマスク板１
との間の側面を試料６の挿入口７となした構造である。
図、第２図は縦断面図、第３図は第２図のＡ−Ａ断面
図、である。このように本考案の装置は、マスク板１と
基台板２とを平行に配置して、例えば４本の支柱３，３
…でそれらを固定し、かつ上記マスク板１と基台板２と
の中間に試料台４をこれらと平行に配置して、試料台４
をこの試料台と基台板２との間に設けた例えば螺旋ばね
５でマスク板１の方向へ押圧し、試料台４とマスク板１
との間の側面を試料６の挿入口７となした構造である。
第４図は上記試料ホルダーに試料６を装着する状態の側
面図、また第５図はそのＢ−Ｂ断面図である。このよう
に例えば２本の鈎８．８を突設した作業台９を用いて、
その上に本考案の試料ホルダーを載置し、上記鈎８を試
料台４の縁に掛ける。この状態で作業台の下からプラン
ジャー１０で基台板２を矢印ｐのように突き上げると、
試料台４は上記鈎で固定されるから、ばね５が圧縮され
て基台板２とマスク板１とが鎖線のように上方へ移動
し、試料台４とマスク板１との間隔が拡大される。この
状態で作業台９上の板状試料６を適宜の押棒１１等で矢
印ｑのように試料台４上へ移動させると共にその位置調
整を行って、プランジャー１０を解放すると、ばね５の
力でマスク板１および基台板２が実線の位置に復帰し、
試料６がマスク板１と試料台４との間に挟み込まれる。
面図、また第５図はそのＢ−Ｂ断面図である。このよう
に例えば２本の鈎８．８を突設した作業台９を用いて、
その上に本考案の試料ホルダーを載置し、上記鈎８を試
料台４の縁に掛ける。この状態で作業台の下からプラン
ジャー１０で基台板２を矢印ｐのように突き上げると、
試料台４は上記鈎で固定されるから、ばね５が圧縮され
て基台板２とマスク板１とが鎖線のように上方へ移動
し、試料台４とマスク板１との間隔が拡大される。この
状態で作業台９上の板状試料６を適宜の押棒１１等で矢
印ｑのように試料台４上へ移動させると共にその位置調
整を行って、プランジャー１０を解放すると、ばね５の
力でマスク板１および基台板２が実線の位置に復帰し、
試料６がマスク板１と試料台４との間に挟み込まれる。
「考案の効果」このように本考案の試料ホルダーは、こ
れに板状の試料を装着する操作が極めて容易であると共
に特にその試料とマスク板との位置関係を容易に調整し
て、試料面における所望の部分を正確にマスク板の開口
部に配置することができる。
れに板状の試料を装着する操作が極めて容易であると共
に特にその試料とマスク板との位置関係を容易に調整し
て、試料面における所望の部分を正確にマスク板の開口
部に配置することができる。
第１図は本考案実施例の平面図、第２図はその縦断面
図、第３図は第２図のＡ−Ａ断面図、第４図は第１図乃
至第３図に示した試料ホルダーに試料を装着する状態の
一例を示した側面図、第５図は第４図のＢ−Ｂ断面図、
である。なお図において、１はマスク板、２は基台板、
３は支柱、４は試料台、５はばね、６は試料、７は試料
挿入口、８は鈎、９は作業台、１０はプランジャー、１
１は押棒である。
図、第３図は第２図のＡ−Ａ断面図、第４図は第１図乃
至第３図に示した試料ホルダーに試料を装着する状態の
一例を示した側面図、第５図は第４図のＢ−Ｂ断面図、
である。なお図において、１はマスク板、２は基台板、
３は支柱、４は試料台、５はばね、６は試料、７は試料
挿入口、８は鈎、９は作業台、１０はプランジャー、１
１は押棒である。
Claims (1)
- 【請求項１】板状試料の前面に密着するマスク板と上記
マスク板に平行な基台板とをそれらの周辺に配置した複
数の支柱で連結すると共に上記マスク板と基台板との中
間にこれらと平行に配置した試料台を上記支柱に摺動自
在に嵌合し、かつ上記基台板と試料台との間にこの試料
台を前記マスク板の方向へ押圧するばねを設けて、前記
マスク板と試料台との間に試料挿入口を配置した蛍光Ｘ
線分析用試料ホルダー
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP173988U JPH06756Y2 (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP173988U JPH06756Y2 (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01107962U JPH01107962U (ja) | 1989-07-20 |
| JPH06756Y2 true JPH06756Y2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=31201888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP173988U Expired - Lifetime JPH06756Y2 (ja) | 1988-01-12 | 1988-01-12 | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06756Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2549048Y2 (ja) * | 1992-09-24 | 1997-09-24 | 理学電機工業株式会社 | Ｘ線分析用の試料ホルダ |
-
1988
- 1988-01-12 JP JP173988U patent/JPH06756Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01107962U (ja) | 1989-07-20 |
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