JPS6223843B2 - - Google Patents
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- JPS6223843B2 JPS6223843B2 JP56115447A JP11544781A JPS6223843B2 JP S6223843 B2 JPS6223843 B2 JP S6223843B2 JP 56115447 A JP56115447 A JP 56115447A JP 11544781 A JP11544781 A JP 11544781A JP S6223843 B2 JPS6223843 B2 JP S6223843B2
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- JP
- Japan
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- object holder
- plates
- plate
- holder
- inverted microscope
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000036316 preload Effects 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 244000005700 microbiome Species 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/26—Stages; Adjusting means therefor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0088—Inverse microscopes
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S269/00—Work holders
- Y10S269/902—Work holder member with v-shaped notch or groove
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、倒立形顕微鏡、即ちオブゼクトを下
から観察する顕微鏡に関する。
から観察する顕微鏡に関する。
この種の、当初は容器底に沈積した試料、例え
ば化学反応生成物、微生物、組識培養等を調査す
るために構成された倒立形顕微鏡は、ますますユ
ニバーサル顕微鏡として使用されるようになつ
た。それというのも、正常な観察の際、即ち正立
形顕微鏡で観察可能な試料を調査する際にも、何
らの欠点も生じないし、逆に倒立形顕微鏡の大抵
大きな安定性が屡々有利に作用するからである。
ば化学反応生成物、微生物、組識培養等を調査す
るために構成された倒立形顕微鏡は、ますますユ
ニバーサル顕微鏡として使用されるようになつ
た。それというのも、正常な観察の際、即ち正立
形顕微鏡で観察可能な試料を調査する際にも、何
らの欠点も生じないし、逆に倒立形顕微鏡の大抵
大きな安定性が屡々有利に作用するからである。
倒立形顕微鏡を用いて調査する場合には、この
種々異なつた寸法を有するオブゼクトは最も簡単
には視野の範囲内に開口を備えたオブゼクトホル
ダ上に載せられるだけである。しかしながら、こ
のようにして載せられた試料はずれる場合があ
り、大抵の場合台表面に試料を固定させることは
必須要件である。
種々異なつた寸法を有するオブゼクトは最も簡単
には視野の範囲内に開口を備えたオブゼクトホル
ダ上に載せられるだけである。しかしながら、こ
のようにして載せられた試料はずれる場合があ
り、大抵の場合台表面に試料を固定させることは
必須要件である。
西ドイツ国実用新案登録第7232969号から、
種々異なつたオブゼクトを保持するために、被検
オブゼクトの寸法に合された種々の交換可能な特
殊オブゼクトホルダを使用することが公知であ
る。このような系の欠点は、一連の種々のオブゼ
クトホルダがコスト高になるだけではない。更
に、種々のオブゼクトで操作する場合に操作者は
連続的にオブゼクトホルダを交換することが強い
られ、このことは不便でありかつ系が多くの保持
装置を有する程に手間がかかる。
種々異なつたオブゼクトを保持するために、被検
オブゼクトの寸法に合された種々の交換可能な特
殊オブゼクトホルダを使用することが公知であ
る。このような系の欠点は、一連の種々のオブゼ
クトホルダがコスト高になるだけではない。更
に、種々のオブゼクトで操作する場合に操作者は
連続的にオブゼクトホルダを交換することが強い
られ、このことは不便でありかつ系が多くの保持
装置を有する程に手間がかかる。
従つて、本発明の課題は、多種多様な寸法を有
する可能な限り多様なオブゼクトを受容すること
ができかつ操作が簡単である、倒立形顕微鏡用の
オブゼクトホルダを提供することであつた。
する可能な限り多様なオブゼクトを受容すること
ができかつ操作が簡単である、倒立形顕微鏡用の
オブゼクトホルダを提供することであつた。
この課題は特許請求の範囲第1項記載に基づ
き、オブゼクトホルダが主として2つの相対的に
移動可能に支承された板から成り、該板の向かい
合つた、段部を有する側に試料を載せるために設
けられたほぼV字型の凹所を有し、該凹所が板の
移動によつて寸法を変える開口を形成することに
よつて解決される。
き、オブゼクトホルダが主として2つの相対的に
移動可能に支承された板から成り、該板の向かい
合つた、段部を有する側に試料を載せるために設
けられたほぼV字型の凹所を有し、該凹所が板の
移動によつて寸法を変える開口を形成することに
よつて解決される。
本発明の利点は、ホルダ内で把持部材により
種々様々な大きさ及び形を有するオブゼクトを固
定しかつ場合により段の上部によつて締付けるこ
とができ、しかもオブゼクトの大きさには無関係
にオブゼクトの下側、即ち被検領域において、オ
ブゼクトが載せられる段部の下方部分による陰蔽
がほとんど生じないことにある。
種々様々な大きさ及び形を有するオブゼクトを固
定しかつ場合により段の上部によつて締付けるこ
とができ、しかもオブゼクトの大きさには無関係
にオブゼクトの下側、即ち被検領域において、オ
ブゼクトが載せられる段部の下方部分による陰蔽
がほとんど生じないことにある。
更に、凹所がV字形を有していることによりペ
トリシヤーレ及びエーレンマイヤーフラスコにお
けるような著しく異なつた直径を有する円筒状容
器の特に確実な保持が保証される。
トリシヤーレ及びエーレンマイヤーフラスコにお
けるような著しく異なつた直径を有する円筒状容
器の特に確実な保持が保証される。
また、有利な1実施態様によれば標準的長方形
のオブゼクトスライドを受容するために、段部の
後方部分に夫々1対の切欠きが設けられている、
従つて板を引離した後にオブゼクトスライドをそ
の寸法に合う凹所に嵌合させることができる。更
に、標準オブゼクトスライドを用いて屡々操作す
る場合には、板の適当な引出し位置に準溝を設け
るのが有利である。それによつて位置の迅速な調
整を行ないかつ板によつて形成されるトングの緩
すぎる開口、しいてはオブゼクトスライドの落下
を阻止することができる。
のオブゼクトスライドを受容するために、段部の
後方部分に夫々1対の切欠きが設けられている、
従つて板を引離した後にオブゼクトスライドをそ
の寸法に合う凹所に嵌合させることができる。更
に、標準オブゼクトスライドを用いて屡々操作す
る場合には、板の適当な引出し位置に準溝を設け
るのが有利である。それによつて位置の迅速な調
整を行ないかつ板によつて形成されるトングの緩
すぎる開口、しいてはオブゼクトスライドの落下
を阻止することができる。
長方形の横断面を有する大きな組識培養フラス
コ又はいわゆる“寺崎室”を受容するために、段
部の上方の後方部分は両板上の周辺領域で相互に
平行に延びているのが有利である。この際、平行
な段部に沿つて側方でずれるのを阻止するために
は、例えば2つのねじピンの形の側方ストツパが
働く、これらのピンは著しく大きなオブゼクトを
保持する際にじやまになる場合には容易に取外す
ことができる。
コ又はいわゆる“寺崎室”を受容するために、段
部の上方の後方部分は両板上の周辺領域で相互に
平行に延びているのが有利である。この際、平行
な段部に沿つて側方でずれるのを阻止するために
は、例えば2つのねじピンの形の側方ストツパが
働く、これらのピンは著しく大きなオブゼクトを
保持する際にじやまになる場合には容易に取外す
ことができる。
あらゆる位置で板が例えば不意の衝突によりず
れるのを防止するために、該板は有利にはそれら
の案内装置と摩擦接続されているか又はばね力に
よつて相対的に緊定されている、従つて当該オブ
ゼクトはその受容部に締付けられる。試料の迅速
な交換は、両者の板を、一方の板を移動させると
他方が反対方向に運動するように相互に連結すれ
ば容易になる。その際には、操作者は一方の手で
オブゼクトホルダを操作しかつ他方の手でオブゼ
クトをその寸法に応じて後退させた段上に載せる
ことができる。
れるのを防止するために、該板は有利にはそれら
の案内装置と摩擦接続されているか又はばね力に
よつて相対的に緊定されている、従つて当該オブ
ゼクトはその受容部に締付けられる。試料の迅速
な交換は、両者の板を、一方の板を移動させると
他方が反対方向に運動するように相互に連結すれ
ば容易になる。その際には、操作者は一方の手で
オブゼクトホルダを操作しかつ他方の手でオブゼ
クトをその寸法に応じて後退させた段上に載せる
ことができる。
次に図示の実施例につき本発明を詳細に説明す
る。
る。
第1図及び第3図に示したオブゼクトホルダ1
は、主として中心開口19を有する基板9から成
り、該中心開口の周囲に板2a及び2bを案内す
る夫々1対の条片15a,15c及び15b,1
5dが配置されている。板の運動範囲は、夫々基
板9上の突起14a及び14b及び板2a及び2
b内の相応するスリツト13a及び13bによつ
て制限されている。
は、主として中心開口19を有する基板9から成
り、該中心開口の周囲に板2a及び2bを案内す
る夫々1対の条片15a,15c及び15b,1
5dが配置されている。板の運動範囲は、夫々基
板9上の突起14a及び14b及び板2a及び2
b内の相応するスリツト13a及び13bによつ
て制限されている。
板は向かい合つた2つのV字形凹所5a及び5
bを有し、これらは板を突合わせた状態で対角線
で分割される方形の開口4を形成する。板2a及
び2bの突合わされる側には、夫々1つの段部3
a及び3bが設けられており、これらの上に試料
が載せられる。段部3a及び3bの後方の上縁部
は、板2の周辺領域7で平行に延びしておりかつ
縁部7によつて保持される矩形の試料のためのね
じピン8a及び8bの形の夫々1つのストツパを
有する。段部3の上方縁部は中央範囲に4つの切
欠き6a〜dを有し、これらはばね線材21a及
び21bによつて形成される係止位置に板を適当
に引出した状態で標準オブゼクトスライドを受容
するための長方形の凹所を形成する。
bを有し、これらは板を突合わせた状態で対角線
で分割される方形の開口4を形成する。板2a及
び2bの突合わされる側には、夫々1つの段部3
a及び3bが設けられており、これらの上に試料
が載せられる。段部3a及び3bの後方の上縁部
は、板2の周辺領域7で平行に延びしておりかつ
縁部7によつて保持される矩形の試料のためのね
じピン8a及び8bの形の夫々1つのストツパを
有する。段部3の上方縁部は中央範囲に4つの切
欠き6a〜dを有し、これらはばね線材21a及
び21bによつて形成される係止位置に板を適当
に引出した状態で標準オブゼクトスライドを受容
するための長方形の凹所を形成する。
ノブ12a及び12bを用いて板2a及び2b
を運動させることができる。板は第3図に示すよ
うに、条片15のV字形溝内にピン17によつて
固定されたプラスチツク棒16a及び16bに対
して摩擦作用を受けて重い感じで摺動する。
を運動させることができる。板は第3図に示すよ
うに、条片15のV字形溝内にピン17によつて
固定されたプラスチツク棒16a及び16bに対
して摩擦作用を受けて重い感じで摺動する。
それに対して、第2図に示すオブゼクトホルダ
11の実施形では、板2a,2bは案内条片15
a〜d内の球20上を軽く摺動する。板2bは旋
回点を基板9上に有するレバー10a及び桿10
b,10cを介して反対方向に運動するように板
2aと連結されている。ばね19が両者の板2a
及び2bに向かい合つた方向のプレロードをかけ
る。
11の実施形では、板2a,2bは案内条片15
a〜d内の球20上を軽く摺動する。板2bは旋
回点を基板9上に有するレバー10a及び桿10
b,10cを介して反対方向に運動するように板
2aと連結されている。ばね19が両者の板2a
及び2bに向かい合つた方向のプレロードをかけ
る。
トングのジヨーとして作用する段部の上方部分
によつて、段部の下方部分3a及び3bの上にあ
るペトリシヤーレの底板17が締付けられる。試
料全体を綿密に調する場合には、例えば十字形支
持台上に固定されているか又は底板9が十字形支
持台の構成部材であるオブゼクトホルダ全体を移
動させることができる。
によつて、段部の下方部分3a及び3bの上にあ
るペトリシヤーレの底板17が締付けられる。試
料全体を綿密に調する場合には、例えば十字形支
持台上に固定されているか又は底板9が十字形支
持台の構成部材であるオブゼクトホルダ全体を移
動させることができる。
第1図は本発明の第1実施例の平面図、第2図
は同第2実施例の平面図及び第3図は第1図の
−線に沿つた断面図である。 1,11……オブゼクトホルダ、2a,2b…
…板、3a,3b……段部、4……開口、5a,
5b……凹所、6a〜d……切欠き、8a,8b
……ストツパ、9……基板、10a〜c……連結
装置、15a〜d……案内条片、17……試料、
19……ばね部材。
は同第2実施例の平面図及び第3図は第1図の
−線に沿つた断面図である。 1,11……オブゼクトホルダ、2a,2b…
…板、3a,3b……段部、4……開口、5a,
5b……凹所、6a〜d……切欠き、8a,8b
……ストツパ、9……基板、10a〜c……連結
装置、15a〜d……案内条片、17……試料、
19……ばね部材。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 種々異なつた寸法を有するオブゼクトを受容
するための、倒立形顕徴鏡用のオブゼクトホルダ
において、オブゼクトホルダ1が主として2つの
相対的に移動可能に支承された板2a,2bから
成り、該板の向かい合つた、段部3a,3bを有
する側に試料17を載せるために設けられたほぼ
V字形の凹所5a,5bを有し、該凹所が板2
a,2bの移動によつて寸法を変える開口4を形
成することを特徴とする、倒立形顕徴鏡用のオブ
ゼクトホルダ。 2 段部3a,3bの後方部分に標準オブゼクト
スライドを受容するために夫々1対の切欠き6
a,6c,6b,6dが設けられている、特許請
求の範囲第1項又は第2項記載のオブゼクトホル
ダ。 3 段3a,3bの後方部分が両板2a,2bの
周辺領域で矩形の試料を受容するために相互に平
行に延びておりかつ少なくとも1つの側方ストツ
パ8a,8bを有している、特許請求の範囲第1
項又は第2項記載のオブゼクトホルダ。 4 両板2a,2bが相対的に自由運動可能であ
りかつそれらの案内装置9,15a〜dと摩擦接
続されている、特許請求の範囲第1項から第3項
までのいずれか1項に記載のオブゼクトホルダ。 5 両板2a,2bの間に、一方の板2aを移動
させると他方の板2bを反対方向に運動させる連
結装置10a,10b,10cが設けられてい
る、特許請求の範囲第1項から第3項までのいず
れか1項に記載のオブゼクトホルダ。 6 両板2a,2bに反対方向のプレロードをか
けるばね部材19が設けられている、特許請求の
範囲第1項から第5項までのいずれか1項に記載
のオブセクトホルダ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3028154A DE3028154C2 (de) | 1980-07-25 | 1980-07-25 | Objekthalter für inverse Mikroskope |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5756812A JPS5756812A (en) | 1982-04-05 |
JPS6223843B2 true JPS6223843B2 (ja) | 1987-05-26 |
Family
ID=6108042
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56115447A Granted JPS5756812A (en) | 1980-07-25 | 1981-07-24 | Object holder for inversion type microscope |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4436385A (ja) |
EP (1) | EP0045010B1 (ja) |
JP (1) | JPS5756812A (ja) |
AT (1) | ATE4072T1 (ja) |
DE (1) | DE3028154C2 (ja) |
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JP2009074865A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Hamamatsu Photonics Kk | カートリッジ及び試験片測定装置 |
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-
1980
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1981
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