JPH0668468A - 光デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、例えば光磁気デイスクを使用して所
望の情報を記録再生する光磁気デイスク装置等の光デイ
スク装置に関し、従来に比して信頼性を向上する。 【構成】本発明は、温度検出手段１６〜２２から得られ
る光量補正用の温度検出結果ＶＴに基づいて、フアン制
御手段１２、１４、６０、６２で空冷用のフアン４をオ
ンオフ制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図３） 作用（図３） 実施例 （１）実施例の構成（図１〜図３） （２）実施例の効果 （３）他の実施例 発明の効果

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は光デイスク装置に関し、
例えば光磁気デイスクを使用して所望の情報を記録再生
する光磁気デイスク装置に適用し得る。

【０００３】

【従来の技術】従来、光磁気デイスク装置においては、
熱磁気記録の手法を適用して所望の情報を記録するよう
になされ、このため光ビーム照射位置の温度を所定温度
に保持するようになされている。

【０００４】すなわちこの種の光磁気デイスク装置にお
いては、レーザダイオードから射出した光ビームを光磁
気デイスクに集光し、このときこの光ビームの一部を分
離して受光素子に導く。これにより光磁気デイスク装置
においては、この受光素子の受光結果に基づいて光ビー
ムの光量を検出し、この光量を所定の基準値に保持す
る。

【０００５】さらに光磁気デイスク装置においては、匡
体内部の温度を検出し、この温度検出結果に基づいて、
光量制御用の基準値を補正する。これにより光磁気デイ
スク装置においては、例えば匡体の内部温度が変動する
と、その分光ビームの光量を補正して光ビーム照射位置
の温度を一定値に保持するようになされている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところでこの光ビーム
を射出するレーザダイオードにおいては、周囲温度が上
昇すると光磁気デイスクに対して光量を低減し得る反
面、その分寿命が短くなる特徴がある。

【０００７】従つて単に匡体内部の温度を検出し、この
温度検出結果に基づいて、光量制御用の基準値を補正し
ただけでは、光磁気デイスク装置全体としての信頼性が
低下する問題があつた。

【０００８】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、従来に比して信頼性を向上することができる光デイ
スク装置を提案しようとするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、光デイスクに光ビームＬ１を照射
して所望の情報を記録再生する光デイスク装置１におい
て、匡体２内部の温度を検出して温度検出結果ＶＴを出
力する温度検出手段１６〜２２と、光ビームＬ１を生成
する光源５０と、光ビームＬ１の光量を検出して光量検
出結果を出力する光量検出手段５２、５４と、光量検出
結果に基づいて光ビームＬ１の光量を所定の基準値ＶＣ
に保持すると共に、温度検出結果ＶＴに基づいて基準値
ＶＣを補正する光量制御手段１２、３０〜４８と、温度
検出結果ＶＴに基づいて空冷用のフアン４をオンオフ制
御するフアン制御手段１２、１４、６０、６２とを備え
るようにする。

【００１０】さらに本発明において、フアン制御手段１
２、１４、６０、６２は、温度検出結果ＶＴに基づい
て、匡体２内部の温度が第１の基準温度以上に上昇する
と、フアン４の駆動を開始し、匡体内部の温度が第２の
基準温度以下に降下すると、フアン４の駆動を停止し、
第１の基準温度を第２の基準温度より所定温度だけ高い
温度に設定する。

【００１１】さらに本発明において、温度検出手段１６
〜２２は、温度検出用のトランジスタ２０を有し、トラ
ンジスタ２０のベースエミツタ間電圧の温度特性を利用
して匡体２内部の温度を検出する。

【００１２】

【作用】光量検出結果に基づいて光ビームＬ１の光量を
所定の基準値ＶＣに保持すると共に、温度検出結果ＶＴ
に基づいてこの基準値ＶＣを補正し、この温度検出結果
ＶＴに基づいて併せて空冷用のフアン４をオンオフ制御
することにより、簡易な構成で匡体２の内部温度上昇を
回避することができる。

【００１３】さらに第１の基準温度を第２の基準温度よ
り所定温度だけ高い温度に設定し、第１及び第２の基準
温度でそれぞれフアン４をオンオフ制御することによ
り、フアン４のオンオフ制御にヒステリシス特性を持た
せることができる。

【００１４】さらに温度検出用のトランジスタ２０のベ
ースエミツタ間電圧の温度特性を利用して匡体２内部の
温度を検出すれば、全体を集積回路化し得、さらに高い
精度で温度を検出することができる。

【００１５】

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。

【００１６】（１）実施例の構成 図１及び図２において、１は全体として光磁気デイスク
装置を示し、匡体２の内部に光磁気デイスク等を収納す
る。この匡体２においては、背面に冷却用のフアン４を
配置し、フアン制御回路６でフアン駆動用のモータを駆
動してフアン４を回転することにより、エアーフイルタ
１０を介して冷却用の空気を外部から流入し、これによ
り光磁気デイスク装置１全体の温度を低減するようにな
されている。

【００１７】図３に示すように、フアン制御回路６は、
システム制御回路１２から出力される制御信号に基づい
てモータ１４を駆動し、これにより冷却用のフアン４を
駆動する。このときフアン制御回路６は、光ビームの光
量を補正するために検出する温度検出結果ＶＴを基準に
してモータ１４をオンオフ制御し、これにより全体構成
を簡略化すると共に、必要に応じてフアン４を駆動して
効率良く冷却するようになされている。

【００１８】すなわちフアン制御回路６は、正及び負電
源＋Ｂ２及び−Ｂ間に抵抗１６及び半固定抵抗１８を直
列接続し、これにより抵抗１６及び半固定抵抗１８で所
定の基準電圧Ｖ１を生成する。さらにフアン制御回路６
は、この基準電圧Ｖ１をトランジスタ２０のベースに与
え、このトランジスタ２０はエミツタ抵抗２２を介して
負電源−Ｂに接続され、エミツタ出力を演算増幅回路２
４に出力する。

【００１９】これによりフアン制御回路６は、周囲温度
に応じて規則的に変化するトランジスタ２０のベースエ
ミツタ間電圧を利用して匡体２内部の温度を検出し、こ
の温度検出結果を演算増幅回路２４に出力する。かくし
てトランジスタのベースエミツタ間電圧を使用して匡体
内部の温度を検出することにより、フアン制御回路６に
おいては、匡体内部の温度を高い精度で検出することが
でき、さらに全体を集積回路化することができる。

【００２０】なおこの実施例の場合、トランジスタ２０
においては、光磁気デイスクの近傍に配置され、これに
より匡体内部のなかでも光磁気デイスクと温度差の少な
い位置の温度を検出するようになされている。

【００２１】演算増幅回路２４は、帰還抵抗２６を有す
る所定利得の反転増幅回路でなり、入力抵抗２８を介し
てトランジスタ２０のエミツタ出力を入力する。これに
より演算増幅回路２４は、トランジスタ２０のエミツタ
出力を所定利得で増幅して出力し、トランジスタ２０等
と共に匡体２の内部温度検出結果ＶＴを出力する温度検
出手段を形成するようになされている。

【００２２】演算増幅回路３０は、帰還抵抗３２、接地
抵抗３４を有する差動増幅回路でなり、入力抵抗３５を
介して温度検出結果ＶＴを反転入力端に入力する。さら
に演算増幅回路３０は、入力抵抗３６を介して、システ
ム制御回路１２から出力される制御電圧ＶＣを非反転入
力端に入力し、これにより制御電圧ＶＣの信号レベルを
温度検出結果ＶＴで補正して出力する。

【００２３】演算増幅回路３８は、帰還抵抗４０、位相
補償用コンデンサ４２を有する差動増幅回路でなり、入
力抵抗４４を介して演算増幅回路３０の出力信号を反転
入力端に入力する。さらに演算増幅回路３８は、出力信
号をトランジスタ４６に出力し、トランジスタ４６は、
エミツタ抵抗４８を介して正側電源＋Ｂ２にエミツタを
接続すると共に、コレクタ出力でレーザダイオード５０
を駆動する。

【００２４】これによりフアン制御回路６は、レーザダ
イオード５０の光ビームＬ１を光磁気デイスクに照射
し、所望の情報を記録再生し得るようになされている。

【００２５】さらにフアン制御回路６においては、光磁
気デイスク及びレーザダイオード間にビームスプリツタ
を介挿し、このビームスプリツタで光ビームＬ１の一部
を分離して受光素子５２で受光する。

【００２６】演算増幅回路３８は、この受光素子５２の
出力電流を抵抗５４で電流電圧変換し、抵抗５４の端子
電圧を非反転入力端に入力する。これにより演算増幅回
路３８においては、受光素子５２の受光結果に基づいて
光ビームＬ１の光量が演算増幅回路３０の出力電圧で決
まる値になるようにレーザダイオード５０を駆動する。

【００２７】これによりフアン制御回路６においては、
コントロール電圧ＶＣの形式で出力される基準値を温度
検出結果ＶＴで補正した後、この補正結果になるように
光ビームＬ１の光量を補正し、これにより光ビーム照射
位置の温度を一定値に保持するようになされている。

【００２８】さらにフアン制御回路６は、温度検出結果
ＶＴに基づいてモータ１４をオンオフ制御し、これによ
り匡体内部の温度が所定値以上に上昇しないように保持
する。すなわちシステム制御回路１２においては、内蔵
のアナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ）５６で温度検
出結果ＶＴをデイジタル信号に変換した後、中央処理ユ
ニツト（ＣＰＵ）５８に出力する。

【００２９】ここで中央処理ユニツト５８は、匡体内部
の温度が第１の基準温度より高い場合、出力ポートの論
理レベルを立ち上げることにより、ベース抵抗６０を介
してトランジスタ６２をオン状態に切り換え、これによ
りモータ１４を起動する。これに対して中央処理ユニツ
ト５８は、匡体内部の温度が第１の基準温度より約５度
低い第２の基準温度以下に下がると、出力ポートの論理
レベルを立ち下げてトランジスタ６２をオフ状態に切り
換え、これによりモータ１４の回転を停止する。

【００３０】これによりフアン制御回路６においては、
匡体内部の温度が第１の基準温度より高くならないよう
に保持することにより、レーザダイオード５０の温度が
所定温度以上に上昇しないように保持し、これによりレ
ーザダイオード５０の寿命の低下を未然に防止し、光デ
イスク装置全体の信頼性を向上するようになされてい
る。

【００３１】このときフアン制御回路６においては、匡
体内部の温度が第１の基準温度より高いときだけフアン
４を駆動することにより、その分消費電力を低減し得、
併せて耳障り風切り音の発生を低減することができる。

【００３２】さらにフアン制御回路６においては、第１
の基準温度より約５度低い第２の基準温度でフアン４を
停止制御することにより、ヒステリシス特性を持たせて
フアン４をオンオフ制御し得、これによりモータ１４の
頻繁なオンオフ動作を未然に防止してその分全体の信頼
性を向上することができる。

【００３３】さらにフアン制御用に専用の温度検出素子
を設けることなく、光量補正用の温度検出結果ＶＴを基
準にしてフアン４をオンオフ制御することにより、その
分全体構成を簡略化することができる。

【００３４】（２）実施例の効果 以上の構成によれば、光量補正用の温度検出結果ＶＴに
基づいて、フアン４をオンオフ制御することにより、簡
易な構成で匡体２の内部温度上昇を所定値以下に保持し
得、これによりレーザダイオードの寿命の低下を未然に
防止し得、簡易な構成で信頼性を向上することができ
る。

【００３５】（３）他の実施例 なお上述の実施例においては、トランジスタのベースエ
ミツタ間電圧を利用して温度を検出する場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、サーミスタ等の種々の
温度検出手段を広く適用することができる。

【００３６】さらに上述の実施例においては、光磁気デ
イスクを使用して所望の情報を記録再生する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、コンパクトデイス
クプレイヤ等、種々の光デイスク装置に広く適用するこ
とができる。

【００３７】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、光量補正
用の温度検出結果に基づいて併せて空冷用のフアンをオ
ンオフ制御することにより、簡易な構成で匡体の内部温
度上昇を回避することができ、その分従来に比して信頼
性を向上することができる光デイスク装置を得ることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光デイスク装置を示す
平面図である。

【図２】その背面図である。

【図３】そのフアン制御回路を示すブロツク図である。

【符号の説明】

１……光デイスク装置、２……匡体、４……フアン、６
……フアン制御回路、１２……システム制御回路、１４
……モータ、５０……レーザダイオード、５２……受光
素子。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光デイスクに光ビームを照射して所望の情
   報を記録再生する光デイスク装置において、 匡体内部の温度を検出して温度検出結果を出力する温度
   検出手段と、 上記光ビームを生成する光源と、 上記光ビームの光量を検出して光量検出結果を出力する
   光量検出手段と、 上記光量検出結果に基づいて上記光ビームの光量を所定
   の基準値に保持すると共に、上記温度検出結果に基づい
   て上記基準値を補正する光量制御手段と、 上記温度検出結果に基づいて空冷用のフアンをオンオフ
   制御するフアン制御手段とを具えることを特徴とする光
   デイスク装置。
2. 【請求項２】上記フアン制御手段は、 上記温度検出結果に基づいて、上記匡体内部の温度が第
   １の基準温度以上に上昇すると、上記フアンの駆動を開
   始し、上記匡体内部の温度が第２の基準温度以下に降下
   すると、上記フアンの駆動を停止し、上記第１の基準温
   度を上記第２の基準温度より所定温度だけ高い温度に設
   定したことを特徴とする光デイスク装置。
3. 【請求項３】上記温度検出手段は、温度検出用のトラン
   ジスタを有し、上記トランジスタのベースエミツタ間電
   圧の温度特性を利用して上記匡体内部の温度を検出する
   ことを特徴とする光デイスク装置。