JPH0667102A - 射出光学装置 - Google Patents

射出光学装置

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JPH0667102A
JPH0667102A JP22416792A JP22416792A JPH0667102A JP H0667102 A JPH0667102 A JP H0667102A JP 22416792 A JP22416792 A JP 22416792A JP 22416792 A JP22416792 A JP 22416792A JP H0667102 A JPH0667102 A JP H0667102A
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JP
Japan
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semiconductor laser
optical device
lens
laser
opening member
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JP22416792A
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Kenichi Tomita
健一 冨田
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 レーザユニットの鏡筒内部で乱反射して射出
した不要な反射光を、開口部材でカットし、鏡筒内の反
射光が記録媒体である感光ドラム等に達するのを防ぎ、
画像品質の低下を防止する。 【構成】 光源である半導体レーザと、該半導体レーザ
を保持する基台と、前記半導体レーザからの射出光束を
平行光束化するコリメータレンズと、該コリメータレン
ズを保持するホルダーと、該ホルダーを内部支持する鏡
筒と、前記半導体レーザを発光駆動させる電気回路基板
と、該半導体レーザ,前記電気回路基板を保持する基台
と、前記鏡筒を支持する光学箱と、を有する射出光学装
置において、前記半導体レーザからの射出光束を透過し
ない低反射の部材からなる平板状の開口部材を、前記光
学箱上に前記鏡筒と分離して取り付けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像信号により変調さ
れたレーザビームを記録媒体上に走査して画像を記録す
る装置などに用いられるレーザビームコリメータユニッ
トや、半導体レーザを用いた光ディスク等の光学的情報
記録再生装置のピックアップユニットなどの射出光学装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、レーザビームを走査して画像の記
録を行うレーザビームプリンタなどの画像記録装置が広
く使用されている。以下、従来の画像記録装置に用いら
れているレーザ走査装置について図13に沿って説明す
る。
【0003】図13の概略構成図において、41は光源
である半導体レーザ、42はコリメータレンズ、43は
シリンドリカルレンズ、44は偏向器であるポリゴンミ
ラー、45は結像レンズ系、46は記録媒体である感光
ドラムであり、画像信号により変調された半導体レーザ
41からのビームはコリメータレンズ42により平行光
束とされ、偏向器44により偏向されて結像レンズ系4
5によって記録媒体46上に結像されて走査される。
【0004】ここにおいて、半導体レーザの射出光は発
光点より放射状に広がる性質を有することから、レーザ
ビームプリンターなどのレーザユニットに用いる場合に
は、コリメータレンズを用いて平行光束に変換して用い
るのが普通である。
【0005】図14はこのような従来のレーザユニット
の一例を示している。51は半導体レーザで、58は亜
鉛,アルミ等の中空の鏡筒で、その中に半導体レーザ5
1が圧入され実装されている。52はコリメータレンズ
であり、コリメータレンズホルダ53の内部に取り付け
られている。コリメータレンズホルダ53は半導体レー
ザの光軸とコリメータレンズの光軸合わせと、ピント調
整の終了後、鏡筒58に接着固定される。更にコリメー
タレンズホルダ53の先端にレーザビームを整形する開
口部材59を接着,カシメ等で固定し射出光学装置が完
成する。
【0006】従来の射出光学装置では、装置の小型化お
よび半導体レーザの小型化により、鏡筒の内径は小さく
なった。また、射出光学装置の取付部やコリメータレン
ズの樹脂製作化を行うにあたって、樹脂部材の熱等によ
る変動を吸収するために、焦点深度を深くして変動を吸
収する必要性が生じた。
【0007】コリメータレンズの焦点距離をf1、集光
レンズの焦点距離をf2、物体側のピントずれをt、像
側のピントずれをTとすると、これらの関係は、以下の
式(1)の通りである。
【0008】式(1) T=(f2/f1)2 t 上記式(1)よりコリメータレンズの焦点距離f1を長
くしたほうが像側のピントがずれにくくなる。つまり焦
点深度が深くなる。またレンズ径Dは装置の大きさによ
って限定されるので、Fナンバーは以下の式(2)より
大きくなる。Fナンバーが大きくなると、以下の式
(3)より開口数NAは小さくなる。このことによって
発光点とコリメータレンズの端部との角度uが小さくな
り、それに伴い、発光点から距離が長くなり、SIN-1
NAが半導体レーザ出射角θの1/2よりも小さくなっ
ていた。
【0009】式(2) F=|f/D| 式(3) NA=1/2F
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、こうし
た従来例の構成では、図15で説明するような問題点が
ある。
【0011】従来例に記載のように、SIN-1NAが半
導体レーザ出射角θの1/2よりも小さくなるような構
成にて、鏡筒58に金属のように光を反射し易い部材を
用いることで、発光点から放射状に射出されたレーザー
光は鏡筒58の内壁で図15(a)に示すように反射さ
れる。また、開口部材59を鏡筒58先端に取り付けて
も、図15(b)のように反射光は射出される。
【0012】このように、レーザユニットから不要な反
射光が射出されると、正規の光信号や、鏡筒外部の光学
部品に悪影響を与え、光学性能が低下する。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の射出光学装置によれば、光源である半導体
レーザと、該半導体レーザを固定する基台と、前記半導
体レーザの射出光束を平行光束化するコリメータレンズ
と、該コリメータレンズから射出された光束を整形する
開口部材と、該コリメータレンズを保持するホルダー
と、該ホルダーを支持する鏡筒と、前記半導体レーザを
発光駆動させる電気回路基板を有し、前記開口部材と前
記コリメータレンズの間隔を開けて取り付ける。このよ
うな構成により、鏡筒内部で乱反射した光を開口部材で
カットし、鏡筒内の反射光が記録媒体である感光ドラム
等に達するのを防ぎ、画像品質の低下を防いでいる。
【0014】
【実施例】図1は、本発明の射出光学装置を用いた走査
光学装置を示す図である。
【0015】同図において、20は、光ビームを出射す
る半導体レーザとこの出射した光ビームを略平行光とす
るコリメータレンズと画像情報により出射する光ビーム
を変調するレーザ駆動回路等から構成されるレーザユニ
ットである。
【0016】このレーザユニット20から出射される光
ビームは、開口部材6,第1の結像レンズであるシリン
ドリカルレンズ10を通過し、被走査体上に光ビームを
走査するための回転多面鏡12によって偏向走査され
る。30は回転多面鏡12を矢印方向に高精度に回転駆
動する駆動モータである。
【0017】この偏向走査された光ビームはfθ特性を
有する第2の結像レンズである凹レンズ22と第3の結
像レンズである凸レンズ23によって被走査体である感
光体ドラムに照射される。
【0018】そして、これらレーザユニット20や開口
部材6やレンズ群10,22,23および回転多面鏡1
2などは、それぞれ所望の位置に精度よく配設すべく高
精度に加工された光学箱7内に配設されている。
【0019】このように、本発明の射出光学装置は、光
源である半導体レーザと、該半導体レーザからの射出光
束を平行光束化するコリメータレンズと、前記半導体レ
ーザと前記コリメータレンズを内部に保持するレーザユ
ニット20と、該レーザユニットを支持する光学箱7
と、を有し、前記半導体レーザからの射出光束を透過し
ない低反射の部材からなる平板状の開口部材6を、前記
光学箱7上に、前記レーザユニット20と分離して取り
付けた構成を取っている。
【0020】図2に、本発明の射出光学装置の第1実施
例を示す。
【0021】この射出光学装置の概略構成図において、
1は光源である半導体レーザ、2は半導体レーザ1から
の射出光束を平行光束化するコリメータレンズ、3はコ
リメータレンズ2を支持するホルダーである。4はホル
ダー3,半導体レーザ1および電気回路基板5を支持す
る鏡筒である。鏡筒4は半導体レーザ1の発熱を放熱す
るために、金属等の放熱性の良い部材が用いられてい
る。5は半導体レーザ1を駆動する電気回路基板であ
る。ホルダー3は、光軸調整,ピント調整のためX−Y
−Z方向に調節され鏡筒4に固定される。
【0022】組み立てが終了した鏡筒4は光学箱7にネ
ジ8で固定される。またL字形に整形された開口部材6
は、鏡筒4から離れて光学箱7にネジ9で取り付けられ
る。光学箱7からは、ピン7a,7b,7c,7dが出
ており、鏡筒4と開口部材6を位置決めしている。開口
部材6は、半導体レーザ1からの射出光束を透過しない
低反射率の部材からなる。
【0023】開口部材6の取付位置の決定方法を図3お
よび図4を用いて説明する。
【0024】図3は鏡筒4内部で反射した光束の射出状
態を説明する図である。鏡筒4内部で反射された光束は
斜線部A,Bのように射出される。斜線部A,Bの光束
を遮るためには、半導体レーザの発光点からおよそ2L
の距離の位置に開口部材6を設けることが望ましい。こ
こで、Lは半導体レーザの発光点から鏡筒4先端までの
長さである。
【0025】図4は実際の開口部材6の取付位置を説明
する図である。12はレーザ光を偏向走査するためのポ
リゴンミラー、10は射出光学装置から射出された平行
光束をポリゴンミラー12の反射面上に線像化して集光
するためのシリンドリカルレンズである。
【0026】実際の走査光学装置等では、図4のように
その他の光学配置があるため、必ずしも鏡筒4の全長L
の2倍近い距離に開口部材6を配置できるとは限らな
い。その場合、実際の開口部材6の位置は、シリンドリ
カルレンズ10の射出光学装置側となる。これに加え
て、シリンドリカルレンズ10の調整しろおよびシリン
ドリカルレンズ10の調整工具11の取り付けしろを逃
げた位置において、可能な限りシリンドリカルレンズ1
0に近付けた位置が、鏡筒4内での反射光を最も効果的
にカットできる位置となる。
【0027】図5に、本発明の射出光学装置の第2実施
例を示す。
【0028】実施例1と同一部材は同一番号で示す。こ
の射出光学装置の概略構成図において、光学箱7の鏡筒
位置決めピン7a,7bにて開口部材6の位置決めも行
い、ネジ8にて鏡筒4と開口部材6を共に光学箱7に固
定する。
【0029】この場合ネジ部材が1点となり、コストダ
ウンが可能となる。また光学箱7上の位置決めピンの本
数が減るので、光学箱7の成形の簡易化および小型化に
寄与する。さらにレーザユニット20の位置決めと開口
部材6の位置決めを同一の基準ピンで行うため、開口部
材6の取り付け位置精度も向上する。
【0030】図6に、本発明の射出光学装置の第3実施
例を示す。
【0031】実施例1と同一部材は同一番号で示す。こ
の射出光学装置の概略構成図において、実施例1のよう
に位置決めされた開口部材6に対して、光学箱7から接
着ピン7eを出し、開口部材6の接着穴6bと嵌合させ
る。その際ピン7eの径は、穴6bの径よりも0.2〜
2mm程度小さくなるようにする。穴6bとピン7eの
嵌合部の隙間に光硬化型接着剤(紫外線硬化型接着剤)
を注入し、硬化させることで開口部材6を光学箱7に固
定する。
【0032】この場合ネジを廃止できるので、コストダ
ウンができる。またビス締め工具が入らないような狭い
場所にも固定が可能となる。
【0033】図7に、本発明の射出光学装置の第4実施
例を示す。
【0034】実施例1と同一部材は同一番号で示す。こ
の射出光学装置の概略構成図において、光学箱7を樹脂
で成形し、実施例1と同様の方法で開口部材6を光学箱
7に取り付け、位置決めピン7c,7dを熱溶着するこ
とで開口部材6を光学箱7に固定する。この場合ネジを
廃止できるので、コストダウンができる。また位置決め
ピンと固定用溶着ピンが兼用できるので、ネジが不要と
なり、開口部材が小型化できる。
【0035】図8に、本発明の射出光学装置の第5実施
例を示す。
【0036】実施例1と同一部材は同一番号で示す。こ
の射出光学装置の概略構成図において、開口部材6と光
学箱7を樹脂部材で一体成形とする。この場合、開口部
材6と光学箱7の樹脂成形の一体化により部品点数が削
減されるため、コストダウンに寄与する。
【0037】図9に、本発明の射出光学装置の第6実施
例を示す。
【0038】実施例1と同一部材は同一番号で示す。こ
の射出光学装置の概略構成図において、7fはシリンド
リカルレンズ10の調整を行うための基台である。11
はシリンドリカルレンズ10の調整工具であり、シリン
ドリカルレンズ10の側面をクランプしている。開口部
材6はシリンドリカルレンズ調整台7fに一体成形され
ている。
【0039】この場合、開口部材6はシリンドリカルレ
ンズ10により近くなるため、乱反射光をカットする効
果がより大きくなる。
【0040】図10に、本発明の射出光学装置の第7実
施例を示す。
【0041】前記実施例6と同一部材は同一番号で示
す。この射出光学装置の概略構成図において、シリンド
リカルレンズ10の調整工具11は、開口部材6とシリ
ンドリカルレンズ10両方をクランプしている。開口部
材6はシリンドリカルレンズ調整台7fに調整後ビス固
定される。この場合、開口部材6はシリンドリカルレン
ズ10により近くなるため、乱反射光をカットする効果
が最大となる。
【0042】図11に、本発明の射出光学装置の第8実
施例を示す。
【0043】前記実施例7と同一部材は同一番号で示
す。この射出光学装置の概略構成図において、シリンド
リカルレンズ10の調整工具11は、開口部材6とシリ
ンドリカルレンズ10両方をクランプしている。開口部
材6の底部はシリンドリカルレンズ10よりも幅の狭い
凸形状となっている。またシリンドリカルレンズ調整台
7fは凹形状となっており、開口部材6の底部と組み合
わされ、開口部材6はこれに沿ってスライドする。
【0044】シリンドリカルレンズ10が調整台7fに
乗せられたときに開口部材6と調整台両側にまたがって
光硬化接着剤を塗布する。開口部材6はシリンドリカル
レンズ調整台7fに調整後、光硬化接着剤によってシリ
ンドリカルレンズ10と同時に固定される。この場合、
開口部材6はシリンドリカルレンズ10により近くなる
ため、乱反射光をカットする効果が最大となる。またシ
リンドリカルレンズ10と同時に固定されるため組立コ
スト、組立時間の削減、部品点数の削減、および取り付
け精度の向上が可能となる。
【0045】図12に、本発明の射出光学装置の第9実
施例を示す。
【0046】前記実施例8と同一部材は同一番号で示
す。この射出光学装置の概略構成図において、シリンド
リカルレンズの10レーザ入射面には、開口の形状を残
して、光を透過させない物質が、蒸着または印刷等の技
術を用いてコーティングされている。この場合、開口部
がシリンドリカルレンズ10のレーザ入射面と一体にな
るため、乱反射光をカットする効果が最大となる。また
組立コスト、部品点数の削減、および取り付け精度が向
上する。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の射出光学
装置によれば、開口部材をレーザユニットと別部材と
し、鏡筒と分離して取り付けることにより、鏡筒内部の
乱反射を低下させ、光学性能を向上させる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の射出光学装置を用いた走査光学装置を
説明する図である。
【図2】本発明の第1実施例を示した射出光学装置を示
す要部斜視図である。
【図3】本発明の第1実施例における、鏡筒内部の反射
光の射出を説明する図である。
【図4】本発明の第1実施例における、開口部材の取付
位置を説明する図である。
【図5】本発明の第2実施例を示した射出光学装置を示
す要部斜視図である。
【図6】本発明の第3実施例を示した射出光学装置を示
す要部断面図である。
【図7】本発明の第4実施例を示した射出光学装置を示
す要部斜視図である。
【図8】本発明の第5実施例を示した射出光学装置を示
す要部斜視図である。
【図9】本発明の第6実施例を示した射出光学装置を示
す要部斜視図である。
【図10】本発明の第7実施例を示した射出光学装置を
示す要部斜視図である。
【図11】本発明の第8実施例を示した射出光学装置を
示す要部斜視図である。
【図12】本発明の第9実施例を示した射出光学装置を
示す要部斜視図である。
【図13】従来例の走査光学装置を示す要部斜視図であ
る。
【図14】従来例の射出光学装置を示す側面図である。
【図15】(a)は鏡筒内反射を説明する図、(b)は
鏡筒内反射と開口部材の取付位置を説明する図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ 2 コリメータレンズ 3 ホルダー 4 鏡筒 5 電気回路基板 6 開口部材 7 光学箱 10 シリンドリカルレンズ 12 ポリゴンミラー

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源である半導体レーザと、該半導体レ
    ーザを保持する基台と、前記半導体レーザからの射出光
    束を平行光束化するコリメータレンズと、該コリメータ
    レンズを保持するホルダーと、該ホルダーを内部支持す
    る鏡筒と、前記半導体レーザを発光駆動させる電気回路
    基板と、該半導体レーザ,前記電気回路基板を保持する
    基台と、前記鏡筒を支持する光学箱と、を有する射出光
    学装置において、前記半導体レーザからの射出光束を透
    過しない低反射の部材からなる平板状の開口部材を、前
    記光学箱上に、前記鏡筒と分離して取り付けたことを特
    徴とする射出光学装置。
  2. 【請求項2】 前記開口部材に接着用の穴を設け、前記
    光学箱から接着用のピンを突き出し、前記接着用の穴と
    前記接着用のピンを嵌合させた隙間に、光硬化型接着剤
    を流し込んで、前記開口部材を接着によって前記光学箱
    に固定した請求項1に記載の射出光学装置。
  3. 【請求項3】 前記開口部材と前記光学箱を、熱溶着に
    よって固定した請求項1に記載の射出光学装置。
  4. 【請求項4】 前記開口部材と前記光学箱を、樹脂部材
    にて一体で成形した請求項1に記載の射出光学装置。
  5. 【請求項5】 前記コリメータレンズによって平行光束
    化されたレーザ光束を線像化するシリンドリカルレンズ
    を更に有し、前記開口部材を前記シリンドリカルレンズ
    と共に、光硬化接着剤にて前記光学箱に固定した請求項
    1に記載の射出光学装置。
  6. 【請求項6】 前記半導体レーザの発光点から前記鏡筒
    先端までの長さをLとすると、前記開口部材の取り付け
    位置を前記半導体レーザの発光点から約2L以上離して
    取り付ける請求項1に記載の射出光学装置。
  7. 【請求項7】 前記コリメータレンズによって平行光束
    化されたレーザ光束を線像化するシリンドリカルレンズ
    を更に有し、該シリンドリカルレンズのレーザ入射面に
    開口形状の部分を残して、レーザ光束を透過させない物
    質をコーティングする請求項1に記載の射出光学装置。
  8. 【請求項8】 光源である半導体レーザと、該半導体レ
    ーザからの射出光束を平行光束化するコリメータレンズ
    と、該コリメータレンズを保持するホルダーと、該ホル
    ダーを内部支持する鏡筒と、該鏡筒を支持する光学箱
    と、を有する射出光学装置において、前記半導体レーザ
    からの射出光束を透過しない低反射の部材からなる平板
    状の開口部材を、前記光学箱上に、前記鏡筒と分離して
    取り付けたことを特徴とする射出光学装置。
  9. 【請求項9】 光源である半導体レーザと、該半導体レ
    ーザからの射出光束を平行光束化するコリメータレンズ
    と、前記半導体レーザと前記コリメータレンズを内部に
    保持するレーザユニットと、該レーザユニットを支持す
    る光学箱と、を有する射出光学装置において、前記半導
    体レーザからの射出光束を透過しない低反射の部材から
    なる平板状の開口部材を、前記光学箱上に、前記レーザ
    ユニットと分離して取り付けたことを特徴とする射出光
    学装置。
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