JPH0665969B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH0665969B2 JPH0665969B2 JP27133784A JP27133784A JPH0665969B2 JP H0665969 B2 JPH0665969 B2 JP H0665969B2 JP 27133784 A JP27133784 A JP 27133784A JP 27133784 A JP27133784 A JP 27133784A JP H0665969 B2 JPH0665969 B2 JP H0665969B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- pulse motor
- filter
- spectrophotometer
- slit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 イ 産業上の利用分野 本発明は回折格子を用いた分光光度計における高次回折
光カット用フイルタの初期設定手段に関するものであ
る。
光カット用フイルタの初期設定手段に関するものであ
る。
ロ 従来技術 この種の分光光度計においては、第１図を借りて説明す
ると、光源L1からの光を凹面鏡M1で反射して入口スリツ
トS1に集光し、これをパルスモータPM1によつて回転制
御される回折格子Ｇで分光して、出口スリツトS2から所
望の単色光を出射させる。このとき出口スリツトS2から
は所望の単色光に混じって整数倍の波数をもつ高次回折
光が出射する。この高次回折光をカツトするために、各
波長域の高次回折光カツト用フイルタF1,F2,…を光路に
切り替え自在に挿入する。こうして得られた単色光は反
射鏡M2を経てハーフミラーM3と反射鏡M4によつて２つの
ビームに分割され、試料セルSAMと対照セルREFを透過し
て、測光装置１で両透過光が光電変換され、マイクロコ
ンピユータよりなる制御装置２において両信号の比から
試料の透過率が求められる。
ると、光源L1からの光を凹面鏡M1で反射して入口スリツ
トS1に集光し、これをパルスモータPM1によつて回転制
御される回折格子Ｇで分光して、出口スリツトS2から所
望の単色光を出射させる。このとき出口スリツトS2から
は所望の単色光に混じって整数倍の波数をもつ高次回折
光が出射する。この高次回折光をカツトするために、各
波長域の高次回折光カツト用フイルタF1,F2,…を光路に
切り替え自在に挿入する。こうして得られた単色光は反
射鏡M2を経てハーフミラーM3と反射鏡M4によつて２つの
ビームに分割され、試料セルSAMと対照セルREFを透過し
て、測光装置１で両透過光が光電変換され、マイクロコ
ンピユータよりなる制御装置２において両信号の比から
試料の透過率が求められる。
上記の構成において、高次回折光カツト用フイルタF1,F
2,…は回折格子Ｇと関連して切り替える必要があり、従
来はフイルタを取り付けた回転円板をカム機構などを用
いて回折格子Ｇと連動させる方法がとられていたが、機
械的構造が複雑になるという欠点があつた。そこで最
近、回折格子Ｇ駆動用のパルスモータPM1とは独立に、
フイルタ切り替え用パルスモータPM2を設け、分析デー
タ処理用のマイクロコンピユータを利用して、このパル
スモータPM2を制御する方法が試みられている。この方
法は機械的構造が簡単になるという利点があるものの、
パルスモータPM2の回転角の初期設定のために、マイク
ロスイツチ、光電スイツチなどの位置検出手段を設置す
る必要があつた。
2,…は回折格子Ｇと関連して切り替える必要があり、従
来はフイルタを取り付けた回転円板をカム機構などを用
いて回折格子Ｇと連動させる方法がとられていたが、機
械的構造が複雑になるという欠点があつた。そこで最
近、回折格子Ｇ駆動用のパルスモータPM1とは独立に、
フイルタ切り替え用パルスモータPM2を設け、分析デー
タ処理用のマイクロコンピユータを利用して、このパル
スモータPM2を制御する方法が試みられている。この方
法は機械的構造が簡単になるという利点があるものの、
パルスモータPM2の回転角の初期設定のために、マイク
ロスイツチ、光電スイツチなどの位置検出手段を設置す
る必要があつた。
ハ 発明の目的 本発明は上記の点に鑑みてされたものであり、高次回折
光カツト用フイルタ群を取り付けた回転円板の位置検出
手段として、分光光度計に本来備わつている測光装置を
利用することにより、マイクロスイツチや光電スイツチ
などを用いた位置検出手段およびそのための回路を省略
することを目的とするものである。
光カツト用フイルタ群を取り付けた回転円板の位置検出
手段として、分光光度計に本来備わつている測光装置を
利用することにより、マイクロスイツチや光電スイツチ
などを用いた位置検出手段およびそのための回路を省略
することを目的とするものである。
ニ 発明の構成 上記の目的を達成するために本発明は、光源からの光を
回折格子で分光し、高次回折光カツト用フイルタに通し
たのち試料を透過させ、透過光を測光装置で測定するよ
うにした分光光度計において、周辺に複数の上記フイル
タを列設した回転円板をパルスモータで駆動せしめると
共に、該回転円板の上記フイルタと同一円周上にスリツ
ト、ピンホールなどによる位置検出マークを設け、パル
スモータを回転させながら１ステツプ毎に上記測光装置
の出力を判別することにより上記位置検出マークを検出
して、パルスモータの回転角の初期設定を行うようにし
た制御装置を備えたものであり、測定に先立ちフイルタ
切り替え用パルスモータを１回転させて、測光装置で位
置検出マークを検出させることにより、従来のマイクロ
スイツチあるいは光電スイツチなどを用いることなく、
パルスモータの回転角の初期設定を行うようにしたもの
である。
回折格子で分光し、高次回折光カツト用フイルタに通し
たのち試料を透過させ、透過光を測光装置で測定するよ
うにした分光光度計において、周辺に複数の上記フイル
タを列設した回転円板をパルスモータで駆動せしめると
共に、該回転円板の上記フイルタと同一円周上にスリツ
ト、ピンホールなどによる位置検出マークを設け、パル
スモータを回転させながら１ステツプ毎に上記測光装置
の出力を判別することにより上記位置検出マークを検出
して、パルスモータの回転角の初期設定を行うようにし
た制御装置を備えたものであり、測定に先立ちフイルタ
切り替え用パルスモータを１回転させて、測光装置で位
置検出マークを検出させることにより、従来のマイクロ
スイツチあるいは光電スイツチなどを用いることなく、
パルスモータの回転角の初期設定を行うようにしたもの
である。
ホ 実施例 第１図は本発明の一実施例を示したものである。同図に
おいて、光源L1からの光は凹面鏡M1で反射され、入口ス
リットS1を通つて回折格子Ｇで分光され、出口スリツト
S2から出射する。この出射光から高次回折光を除去する
高次回折光カツト用フイルタF1,F2,…は、第２図に示す
ように、フイルタ切り替え用パルスモータPM2によつて
回転駆動される回転円板３の周辺に列設されており、こ
れらのフイルタ群F1,F2,…と一円周上に、位置検出マー
クとなるスリツトSLが設けられている。そして、回転円
板３は出口スリツトS2に近接して配置されている。高次
回折光カツト用フイルタF1,F2,…を通つた光はハーフミ
ラーM3によつて２つのビームに分割され、試料セルSAM
および対照セルREFを透過して、それぞれ測光装置１の
光検出器D1およびD2によつて光電変換される。光検出器
D1およびD2の出力はそれぞれ増幅器A1およびA2で増幅さ
れたのち、切替スイツチSWによつて交互に切り替えら
れ、Ａ／Ｄコンバータ９によつてデイジタル値に変換さ
れて、マイクロコンピユータよりなる制御装置２で演算
処理される。すなわち試料側の電圧がVs、対照側の電圧
がVrとすると、Ｔ＝Vs／Vr×100〔％〕によつて試料の
透過率が求められるのである。この透過率がパルスモー
タPM1で回折格子Ｇを順次回転させることにより、すべ
ての波長について求められる。制御装置２はCPU4、ROM
5、RAM6、デイスプレイ装置７などで構成され、分析デ
ータを処理すると共に各パルスモータPM1およびPM2を制
御することによつて測定波長およびフイルタF1,F2,…の
切り替えを行つている。
おいて、光源L1からの光は凹面鏡M1で反射され、入口ス
リットS1を通つて回折格子Ｇで分光され、出口スリツト
S2から出射する。この出射光から高次回折光を除去する
高次回折光カツト用フイルタF1,F2,…は、第２図に示す
ように、フイルタ切り替え用パルスモータPM2によつて
回転駆動される回転円板３の周辺に列設されており、こ
れらのフイルタ群F1,F2,…と一円周上に、位置検出マー
クとなるスリツトSLが設けられている。そして、回転円
板３は出口スリツトS2に近接して配置されている。高次
回折光カツト用フイルタF1,F2,…を通つた光はハーフミ
ラーM3によつて２つのビームに分割され、試料セルSAM
および対照セルREFを透過して、それぞれ測光装置１の
光検出器D1およびD2によつて光電変換される。光検出器
D1およびD2の出力はそれぞれ増幅器A1およびA2で増幅さ
れたのち、切替スイツチSWによつて交互に切り替えら
れ、Ａ／Ｄコンバータ９によつてデイジタル値に変換さ
れて、マイクロコンピユータよりなる制御装置２で演算
処理される。すなわち試料側の電圧がVs、対照側の電圧
がVrとすると、Ｔ＝Vs／Vr×100〔％〕によつて試料の
透過率が求められるのである。この透過率がパルスモー
タPM1で回折格子Ｇを順次回転させることにより、すべ
ての波長について求められる。制御装置２はCPU4、ROM
5、RAM6、デイスプレイ装置７などで構成され、分析デ
ータを処理すると共に各パルスモータPM1およびPM2を制
御することによつて測定波長およびフイルタF1,F2,…の
切り替えを行つている。
上述のように本発明においては、回折格子Ｇと高次回光
カツト用フイルタF1,F2,…とは別個のパルスモータPM1
およびPM2で回転制御されているので、各波長に対応し
た適当なフイルタを光路に挿入するためには、フイルタ
の位置がCPUに情報として与えられなければならない。
従来はこの位置検出を回転円板３に設けた突起等をマイ
クロスイツチや光電スイツチなどで検出することによつ
て行つていたのであるが、本発明では次のような手順で
フイルタ切り替え用パルスモータPM2の初期設定を行
う。
カツト用フイルタF1,F2,…とは別個のパルスモータPM1
およびPM2で回転制御されているので、各波長に対応し
た適当なフイルタを光路に挿入するためには、フイルタ
の位置がCPUに情報として与えられなければならない。
従来はこの位置検出を回転円板３に設けた突起等をマイ
クロスイツチや光電スイツチなどで検出することによつ
て行つていたのであるが、本発明では次のような手順で
フイルタ切り替え用パルスモータPM2の初期設定を行
う。
第２図において、スリツトSLは回転円板３の周辺に設け
られた光を透過しない凸部８に形成されている。そこで
まず回折格子Ｇの波長を適当な値たとえば500nmに固定
し、この状態でフイルタ切り替え用パルスモータPM2を
１ステツプずつ駆動しながら、各ステツプ毎の対照側電
圧VrをCPUに読み込みRAMに記憶させる。こうしてパルス
モータPM2が１回転する間に、制御装置２によつて凸部
８とスリツトSLとの組み合わせによる電圧信号Vrのパタ
ーンを判別してスリツトSLの位置を検出する。即ち回転
円板の凸部８の両側は円板の縁がなくて光が素透しにな
つているので、凸部８の前後の部分が出口スリツトS2の
後側を透過している間は電圧信号Vrはハイレベルであ
り、凸部８が出口スリツトを覆うとVrはローレベルとな
り、スリツトSLと出口スリツトS2とが一致するとVrは一
旦ハイレベルとなり再びローレベルとなつて第３図に示
すような変化をする。CPUはこの変化パターンを検知
し、Vrが第３図のＯ点を示したときの回転円板の位置を
記憶しておく。
られた光を透過しない凸部８に形成されている。そこで
まず回折格子Ｇの波長を適当な値たとえば500nmに固定
し、この状態でフイルタ切り替え用パルスモータPM2を
１ステツプずつ駆動しながら、各ステツプ毎の対照側電
圧VrをCPUに読み込みRAMに記憶させる。こうしてパルス
モータPM2が１回転する間に、制御装置２によつて凸部
８とスリツトSLとの組み合わせによる電圧信号Vrのパタ
ーンを判別してスリツトSLの位置を検出する。即ち回転
円板の凸部８の両側は円板の縁がなくて光が素透しにな
つているので、凸部８の前後の部分が出口スリツトS2の
後側を透過している間は電圧信号Vrはハイレベルであ
り、凸部８が出口スリツトを覆うとVrはローレベルとな
り、スリツトSLと出口スリツトS2とが一致するとVrは一
旦ハイレベルとなり再びローレベルとなつて第３図に示
すような変化をする。CPUはこの変化パターンを検知
し、Vrが第３図のＯ点を示したときの回転円板の位置を
記憶しておく。
こうしてスリツトSLの位置が一旦検出されれば、これを
原点として各フイルタF1,F1…の位置を確定することが
でき、測定波長に応じて適当なフイルタを光路に挿入す
ることが可能となる。なお本実施例では位置検出マーク
としてスリツトSLを用いたがスリツトの代わりにピンホ
ールを用いてもよく、また凸部そのものを位置検出マー
クとして用いてもよい。
原点として各フイルタF1,F1…の位置を確定することが
でき、測定波長に応じて適当なフイルタを光路に挿入す
ることが可能となる。なお本実施例では位置検出マーク
としてスリツトSLを用いたがスリツトの代わりにピンホ
ールを用いてもよく、また凸部そのものを位置検出マー
クとして用いてもよい。
ヘ 発明の効果 本発明は上述のように高次回折光カツト用フイルタの位
置を初期設定する際に、フイルタ群を取り付けた回転円
板上の位置検出マークを分光光度計そのものの測光装置
の出力を利用して検出するようにしたので、従来用いら
れていたマイクロスイツチや光電スイツチなどの位置検
出手段およびその関連の配線などが不要となるという利
点がある。
置を初期設定する際に、フイルタ群を取り付けた回転円
板上の位置検出マークを分光光度計そのものの測光装置
の出力を利用して検出するようにしたので、従来用いら
れていたマイクロスイツチや光電スイツチなどの位置検
出手段およびその関連の配線などが不要となるという利
点がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、第２図は
同上の要部斜視図、第３図はフイルタ原点検出時の測光
装置出力電圧の変化を示すグラフである。
同上の要部斜視図、第３図はフイルタ原点検出時の測光
装置出力電圧の変化を示すグラフである。
Claims (1)
- 【請求項１】光源からの光を回折格子で分光し、高次回
折光カット用フィルタに通したのち試料を透過させ、透
過光を測光装置で測定するようにした分光光度計におい
て、 複数種の上記高次光カット用フィルタと光が透過する一
つの位置検出マークとを一つの回転円板の同一円周上に
列設し、 上記円板を駆動するパルスモータと、このパルスモータ
の回転角の初期位置設定動作を制御する制御手段とを設
け、上記制御手段は上記初期位置設定動作において上記
パルスモータを回転させながら１ステップ毎に上記測光
装置の出力を判別することにより上記位置検出マークを
検出し、検出されたときの上記パルスモータの回転角位
置を初期位置とするよう動作するようにしたことを特徴
とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27133784A JPH0665969B2 (ja) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27133784A JPH0665969B2 (ja) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | 分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61148328A JPS61148328A (ja) | 1986-07-07 |
| JPH0665969B2 true JPH0665969B2 (ja) | 1994-08-24 |
Family
ID=17498649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27133784A Expired - Lifetime JPH0665969B2 (ja) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0665969B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63269025A (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-07 | Shimadzu Corp | フ−リエ変換赤外分光光度計 |
-
1984
- 1984-12-21 JP JP27133784A patent/JPH0665969B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61148328A (ja) | 1986-07-07 |
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