JPS598176Y2 - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計

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Publication number
JPS598176Y2
JPS598176Y2 JP16074076U JP16074076U JPS598176Y2 JP S598176 Y2 JPS598176 Y2 JP S598176Y2 JP 16074076 U JP16074076 U JP 16074076U JP 16074076 U JP16074076 U JP 16074076U JP S598176 Y2 JPS598176 Y2 JP S598176Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
mirror
sector
optical path
sector mirror
Prior art date
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Expired
Application number
JP16074076U
Other languages
English (en)
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JPS5376978U (ja
Inventor
修 秋山
正直 西田
Original Assignee
株式会社島津製作所
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Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社島津製作所 filed Critical 株式会社島津製作所
Priority to JP16074076U priority Critical patent/JPS598176Y2/ja
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  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は分光光度計、特に透過率ゼロパーセントライン
の変動を防止するように構或された分光光度計に関する
ものである。
分光光度計の一般的構或は第1図に概略示すように、分
光器部1、第1セクター室2、試料室3、第2セクター
室4のように構或される。
分光素子10で分光されて取り出される光源11からの
単色光は、分光器部1から第lセクター室2に入射する
この第1セクター室2に入射した単色光は、ミラー20
でセクターミラー21へ反射され、セクターミラー21
はこの光を対照試料側光路Rおよび測定試料側光路S上
に交互に振り分ける。
なお22はセクターミラー21の回転軸、23.24は
セクターミラー21で振り分けられた光を試料セル上に
収束照射するための反射ミラーである。
この第1セクター室1で対照試料側光路Rあるいは測定
試料側光路S上に振り分けられた光は、入射口Wriあ
るいはWsiを介して試料室3に入射して、対照試料セ
ル30、測定試料セル31を透過し、出射口Wroある
いはWsoを介して第2セクター室4に入射する。
この第2セクター室4に入射した試料の透過光は、ミラ
ー40.41によって反射され検出器42を収束照射し
て検出されるが、この光路内に第2セクターミラー43
、ミラー剃が挿入されているため、各試料を透過した光
は交互に検出されることとなる。
なお、45は第2セクターミラー43の回転軸で、上記
の第1セクター室のセクターミラー21の回転軸22と
同期回転する。
以上の構戒において、セクターミラー21が第2図aの
ような形状であると検出器42の検出信号は第2図bの
ような波形となる。
すなわち、セクターミラーの反射面210が対照試料側
光路R上に光を振り分け、切欠部211がそのまま光を
測定試料側光路S上に送り出すものとすると第2のセク
ターミラー43も同形であるので(但し回転位相はこの
実施例では約90゜ずれている)、検出器42は交互に
対照試料セル、あるいは測定試料セル側からの透過光を
各々の光路上において検出することになる(説明の便宜
上各光路上で検出された信号、すなわち透過光もR,S
とする)。
なお、セクターミラー上のZ部分は検出信号上での透過
率ゼロパーセントラインZをつくり出すための遮光部で
ある。
かくして、この検出信号R値とS値との比較によって対
照試料に対する測定試料の特性を測定することができる
しかしながら、この測定精度は、ゼロパーセントライン
の変動(ドリフト)に左右される。
このため従来の分光光度計にあっては、この変動を除く
ため、つまり正確なゼロパーセントラインを検出できる
ようにするために、第2図aのセクターミラーのZ部分
の遮光部分に黒色のラシャなどをはりつけ、光の各光路
への反射を防いで安定なゼロパーセントラインを得よう
としていた。
しかしこの方式でも遮光部分の黒ラシャなどは近赤外域
では数%から十数%の反射率を有し、その反射光が正規
の光路を通って検出されてしまうので、ゼロパーセント
ラインが変動することがあり十分な効果を得られないの
が実情であった。
以上にかんがみ、本案はセクターミラーを回転させる回
転軸上に、セクターミラーの反射面から軸方向に一定の
距離を隔てて配置され、かつセクターミラーの側方に広
がり部を有して測定試料側または対照試料側光路への光
をカットするとともにこのカットされた光の拡散反射光
を対照試料側または測定試料側光路からも逸脱させる遮
光板信号をゼロパーセントライン信号として利用するよ
うに構威し,たものである。
第3図,第5図,第6図は本考案によるセクターミラー
の構造および動作状態を説明する図である。
なお第1図,第2図と同一符号は対応する素子を示す。
図においてmは遮光板で、セクターミラー21の背後(
光の進行方向からみて)において回転軸22上にミラー
21の反射面210から軸方向に一定の距離を隔てて固
定されるとともにセクターミラーの側部に広がり部nを
もっている。
第3図aの状態にあっては、分光器部1がらの光はミラ
ー20で反射されセクターミラー21に至るが、セクタ
ーミラー21の切欠部211を通過してミラー24で反
射され測定試料側光路S上の試料セル31を照射するよ
うになる。
第3図bの状態にあっては、ミラー20で反射された光
は遮光板mの広がり部分nにより遮光され、側方へ、す
なわち、対照試料側光路外へ反射されてしまう(遮光板
は材質によっては光が吸収されて反射されないものであ
ってもよい)。
第3図Cの状態にあってはミラー20で反射された光は
、セクタ・−ミラー21の反射面210で反射され、さ
らにミラー23で反射され、対照試料側光路R上の試料
セル30を照射するようになる。
この第3図におけるセクターミラーを分光光度計に組み
込んだときの各状態におけるセクターミラー,遮光板か
らの反射光の方向を第4図において説明する。
この図においても第1図〜第3図における同一符号は、
対応する素子を示す。
第4図において、第1セクター室2における光路aは第
3図aに図示される状態にセクターミラーがあるときに
得られるものであり、同じく光路b,Cは、第3図b,
Cに図示される状態にセクターミラーがあるときに得ら
れる光路である。
図に明らかなごとく、光路C,aは各々ミラー23.2
4方向を指し、この光路上の光はミラー23.24に反
射されて試料室3の入口Wri ,Wsiから入射して
各試料セル30.31を照射する。
しかし光路b上の光は光路Cから逸脱しミラー23によ
っても反射されず、従って試料室3の入射口Wri等に
入射することもなく、従ってこの光路上の光は検出器4
2側からみれば完全に遮光されていることになる。
そこでこのタイミング状態のときの検知信号をゼロパー
セントライン信号とすれば、上記構威から明らかなよう
にドリフトのない安定したゼロパーセントライン信号が
得られる。
光路b上の光が完全に遮光さる理由は、遮光板mがセク
ターミラーから、特にミラーの反射面から回転軸の軸方
向に一定の距離を隔てて設けられているためにミラー2
3等にはこの遮光板mからの反射光が入射しないからで
ある。
一般にこの種の分光光度計における光学系は構造的に非
常に精密に構或されているので少しでも定められた光路
から外れた光は最終の検出器等には到達しないようにな
っている。
そこで、本案はこれらの構戊を逆に利用して遮光したい
光の光路を本来の光路から外ずすことによって完全な信
号或分を得るようにしたものであり、光路b上の光はミ
ラー23に人射せず、また拡散反射光の一部が万一人射
したとしても入射角度が光路Cと相違するため試料室の
入射口には入射されないのである。
なお、セクターミラーと遮光板との距離は利用する光学
系によって異なる。
以上の本考案の利用によって第2図bのごときゼロパー
セントラインの安定した信号を得ることができしかもこ
のゼロパーセントラインは波長特性をもたず、従って本
案は、広い波長範囲(紫外〜近赤外域まで)にわたって
利用できるのである。
なお、遮光板としては上記の実施例では光を反射する遮
光板として説明したが、これらに限られることはなく、
光を吸収するような材質をも利用することは可能である
が、完全に光を全波長範囲にわたって反射せずに吸収し
てしまう材質は存在しないので、ここでは敢えて遮光板
として反射する材質のもので説明した。
また以上の実施例では、遮光板をセクターミラーの光の
進行方向からみて背後に設けるようにしているが、逆に
セクターミラーの前方に配置しても同じような結果が得
られることはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の分光光度計の概略説明図、第2図は、第
1図の装置に利用されるセクターミラーと、これを利用
することによって得られる信号を説明する図、第3図は
本考案の遮光板を有するセクターミラーの構戊と、その
動作状態を説明する図、第4図は分光光度計に第3図の
セクターミラーを利用したときの光路状態を説明する図
、第5図は遮光板を有するセクターミラーの正面図、第
6図は同側面図で遮光板とセクターミラーが回転軸上で
軸方向に所定の間隔をおいて取り付けられた状態を示す
図である。 1・・・・・・分光器部、2・・・・・・第1セクター
室、3・・・・・・試料室、4・・・・・・第2セクタ
ー室、21・・・・・・セクターミラー、m・・・・・
・遮光板、a,b,C,R,S・・・・・・光路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. モノクロメータで分光された光をセクターミラーを介し
    て測定試料側と対照試料側に振り分け、測定試料と対照
    試料とを透過した光を比較検知して対照試料に対する測
    定試料の特性を測定するものにおいて、上記セクターミ
    ラーを回転させる回転軸上に、このセクターミラーの反
    射面から軸方向に一定の距離を隔てて配置され、かつ、
    このセクターミラーの側方に広がり部を有して試料方向
    に向う光をカットする遮光板を設け、光がこの遮光板に
    当っているときの検知信号をゼロパーセント信号とする
    ようにしたことを特徴とする分光光度計。
JP16074076U 1976-11-30 1976-11-30 分光光度計 Expired JPS598176Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16074076U JPS598176Y2 (ja) 1976-11-30 1976-11-30 分光光度計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16074076U JPS598176Y2 (ja) 1976-11-30 1976-11-30 分光光度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5376978U JPS5376978U (ja) 1978-06-27
JPS598176Y2 true JPS598176Y2 (ja) 1984-03-13

Family

ID=28768598

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16074076U Expired JPS598176Y2 (ja) 1976-11-30 1976-11-30 分光光度計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55116228A (en) * 1979-03-02 1980-09-06 Hitachi Ltd Spectrophotometer

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Publication number Publication date
JPS5376978U (ja) 1978-06-27

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