JPH0664012B2 - 非破壊検査に使用するための磁束漏れプローブ - Google Patents

非破壊検査に使用するための磁束漏れプローブ

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JPH0664012B2
JPH0664012B2 JP62268025A JP26802587A JPH0664012B2 JP H0664012 B2 JPH0664012 B2 JP H0664012B2 JP 62268025 A JP62268025 A JP 62268025A JP 26802587 A JP26802587 A JP 26802587A JP H0664012 B2 JPH0664012 B2 JP H0664012B2
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    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
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Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、一般に、磁束漏れ検査を用いる管（pipe）及
び配管（tubing）の非破壊検査に関しており、より詳細
には、本発明は、そのような検査に使用するためのプロ
ーブに関する。
「従来の技術、発明が解決しようとする問題点」 管と配管の磁束漏れ検査の使用は、非破壊検査の技術に
おいてよく知られている。磁界は、検査中の材質中でつ
くられ、そして、感知器は、ひび割れ、窪み、あるいは
壁厚の変化などによるその物質の表面での磁束パターン
の変化を探知する。これまでは、例えば、ひび割れや窪
みのような欠陥による急激な応答を探知するために、渦
電流コイル探知器が使われ、一方、壁が薄くなることに
よってより緩慢な応答を探知するために、ホール効果感
知器が使われてきている。
近年、熱交換配管では、特定のフェライト系合金及び炭
素鋼の管が使われている。これらの物質は、その高い強
磁性体特性により使用期間中検査に問題を引き起こして
いる。これらの特性は、非磁性体配管検査用に広く使わ
れている標準渦電流技術の使用に重大な制限を与える。
現在、磁気飽和をした渦電流感知器が鉄製の管の検査に
制限付で使われている。しかしながら、この方法は、透
磁性の変化による間違った指示値を探知することや、管
のゆるやかなタイプの欠陥を感知せぬことや、検査中に
管を冷却する必要があること、及び複雑で高価なプロー
ブ及び計測器を含んでいるいくつかの不利益がある。こ
のように、非破壊鉄管検査用のよりよい方法及び装置に
対して、認識され広い工業分野での必要性がある。
本発明の一つの目的は、フェライト系ステンレス鋼及び
炭素鋼の管の非破壊検査に使用するための改良型プロー
ブである。
本発明の別の目的は、物質の欠陥による急激及び緩慢な
磁束変化の両方に応答する磁束漏れプローブである。
「問題点を解決するための手段、作用」 本発明の特徴は、検査中の表面から異なる間隔となるよ
うに、かつ該表面に平行な方向に互いに変位した位置
に、複数の磁束漏れコイル感知器を配置した磁束探知プ
ローブを設けることにある。すなわち、本発明による磁
束探知プローブは、管及び同様なものを非破壊検査する
ために使用するものであって、ほぼ円筒形のハウジング
と、検査中の管の壁を通る磁気のパターンをつくるため
の前記ハウジング内の磁気手段とを備える。この磁気手
段は、第１及び第２の磁極片と、前記第１及び第２の磁
極片の間に配置された第１及び第２の磁石と、前記第１
及び第２の磁石の間に配置された磁気コネクタと、から
なり、前記第１及び第２の磁極片と、前記第１及び第２
の磁石と、前記磁気コネクタとは前記ハウジング内に同
軸的に配置されて前記第１及び第２の磁石からの磁束が
前記第の磁極片から出て検査中の管を通り前記第２の磁
極片に戻るようになっており、前記ハウジング内におい
て、前記コネクタ上に該コネクタを取り巻くように第１
のコイルが配置され、前記第１のコイルに対して軸方向
に変位した位置において前記コネクタ上に設けられたス
ペーサ上に、該コネクタを取り巻くように、前記第１の
コイルから半径方向に変位して第２のコイルが配置さ
れ、前記第１及び第２のコイルは、検査中の管の欠陥に
よる磁束漏れを検出することにより、該欠陥の位置及び
大きさを検知するのに使用される２つの信号を発生する
ようになっており、前記第１及び第２のコイルに接続さ
れて該第１及び第２の信号を別々に伝達する電気的伝導
手段が設けられ、前記ハウジング内には、検査中の管の
磁束パターンの変化を感知して該管の壁厚の変化を検知
するためのホール効果感知装置が配置され、前記ホール
効果感知装置に接続されて該ホール効果感知装置からの
電気信号を伝達する電気的伝導手段が設けられたことを
特徴とする。
本発明の上記構成によれば、磁気コネクタ上に軸方向及
び半径方向に変位して２つのコイルが配置され、これら
のコイルがそれぞれ被検査体である管からの漏れ磁束を
検出する。２つのコイルは、軸方向及び半径方向に互い
に変位して配置されるので、これらのコイルにより検出
される漏れ磁束の変化により、管の欠陥の有無に加えて
欠陥の場所及び大きさを検出することができる。
「発明の効果」 以上述べたように、本発明においては、被検査体である
管壁からの漏れ磁束を検出するために軸方向及び半径方
向に変位して２つの検出コイルを設けたので、管の欠陥
の有無だけでなく、その欠陥の場所及び大きさを検出す
ることが可能になる。
本発明とその目的及び特徴とは、その図面と共に理解さ
れる下記の詳細な説明及び特許請求の範囲からさらに容
易に明らかになろう。
「実施例」 第３図は、内にあるプローブ10の位置をさらに描くため
に、部分的断面にて示されている管12内の作業環境内に
位置している本発明に従ったプローブ10の斜視図であ
る。このプローブ10は、内にプローブ感知素子への電気
的接続がなされているコード14により管を通じて引かれ
ている。
第２図は、管12内に断面図にて構成的に図示されている
プローブ10を含む非破壊検査システムの機能ブロック図
である。コード14は、押引ローラ16により、引かれ、そ
して、プローブ感知素子からの電気信号は、増幅器18を
通じて、CRT20や磁気テープ22、あるいは帯記録レコー
ダ24などの適切な記録手段に接続される。
プローブ10の構成図を特に見てみれば、閉磁気ループ内
の管12の壁を通過する全体として28で示される磁束のパ
ターンを、磁気手段26がつくる。本発明によれば、管12
の内部表面内のピット36での磁束パターン等のような磁
束漏れを監視するために、複数のコイル30及び32がプロ
ーブ構造体の内に設けられている。本発明の好ましい実
施例では、ホール感知器38も磁束パターンを監視するた
めに設けられている。
ここで、第１図に描かれたプローブの断面図を考える。
この第１図は、プローブの好ましい実施例をより詳細に
描いている。プローブは、内に４つの永久磁石26が配置
されたハウジング40と、磁気接続器44と、を含み、これ
らは、磁極片42とともに、プローブ内に内部磁束経路を
与える。検査のために管またはパイプ内にプローブが配
置されたときに、磁束は、ひとつの磁極片を離れ、パイ
プの壁を通り抜け、そして、他方の磁極片でプローブに
再び入り込む。
コネクタ44の外部表面に直接に第１のコイル30が取り付
けられ、一方、第２のコイル32は、スペーサ47によりコ
ネクタ44に取り付けられ、これら２つのコイル30及び32
は、半径方向に変位させられている。これら２つのコイ
ルの半径方向変位は、欠陥の場所と欠陥の規模との両方
を確認するのに利点のあることが証明されている。
ホール効果感知器38は、磁極片と検査をうけている管と
の間の磁束線を感知するために一方の磁極片42とプロー
ブのハウジング40との間に取り付けられている。プロー
ブの一方の端は、プラグ46によりシールされ、一方、プ
ローブの他の端は、内部開口を有するプラグ48を受け入
れ、この開口を通して、ホール効果装置及びコイルへの
電気的コネクタ50が通過する。コード14（図示せず）
は、プラグ48から外側に伸びている。
本発明の一特徴に従えば、２つのコイル30及び32の巻回
部分は、放射状に方向付けられる磁束を感知するように
設定されている。このことは、第４図の斜視図にてコイ
ルの１つの巻回部分に描かれている。リード線52及び54
は、該巻回部分に相互に接続されており、この巻回部分
は、コネクタ44上にあるいは円筒状コネクタ44に付けら
れた支持体46上に位置決めのために環状の形に形成され
ている。
２つの半径方向に変位されたコイルの使用は、窪みや亀
裂のような欠陥の場所や大きさを確認するのに特に利点
のあることが証明されている。このことは、第5A図及び
第5B図に描かれており、ここで、第5A図は、内にある欠
陥Ａ−Ｈを有するテストパイプ62の長さの断面図を示
す。欠陥の直径対幅の比率、及び、欠陥の深さは、第5A
図に記されている。第5B図は、テストプローブ内のコイ
ルがパイプの欠陥付近を通過するときに２つの半径方向
に変位したコイルにより発生された信号の帯状記録の印
刷を描いている。各コイルは、別々に、電子増幅器のチ
ャンネルに接続されている。
両コイルは、校正管のための磁束漏れ信号応答を与え、
この磁束漏れ信号応答は、スパイクの時間位置が欠陥の
位置に対応し、またこの信号スパイクの大きさが欠陥の
大きさに対応していることが判る。両チャンネルからの
信号の振幅を比較することで、欠陥の深さ及び発生点が
決定される。
同様にして、管の壁面の厚さの変化は、第6A図及び第6B
図に示されるように、ホール効果装置により検知され、
第6A図は、位置Ａ−Ｅでの壁厚変化を有するパイプの断
面を示し、第6B図は、ホール効果装置からの信号を示
す。ホール効果装置は、校正用パイプの厚さが変化する
ときはいつでも、信号を発生させ、そして、この信号の
大きさは、厚さの変化の大きさに正比例することが判
る。
第１図に描かれたプローブの実施例は、比較的薄い壁を
有するパイプや管を検査するのに特に利点がある。壁の
厚い管には、第７図に描かれた磁気回路が望ましい。第
３図及び第７図の同様の素子には、同一の参照番号が付
いている。この回路の主な差異は、磁石とコネクタ44と
の間の磁束の移動を促進するために、軟鋼のコネクタ44
の斜め又はテーパされた端部分である。
複数の半径方向変位磁束漏れコイル及び好ましくはホー
ル効果感知器を有する磁束漏れプローブは、フェライト
系合金及び炭素鋼材質のパイプ及び管の欠陥を感知する
のに特に有効であることが証明される。
特定の実施例を参照して本発明を説明してきたが、この
説明は、発明の例示的なものであって、発明の範囲を限
定するように解されるべきではない。特許請求の範囲に
より定められる発明の真の精神及び範囲から逸脱するこ
となく、種々の変更や適用を行うことが当業者には可能
であろう。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明の一実施例に基づくプローブの断面
図、 第２図は、第１図に示された本発明のプローブを使用す
る磁束漏れ検査装置の機能ブロック図、 第３図は、本発明のプローブの使用状態を示す斜視図、 第４図は、好ましい実施例に基づくプローブの内のコイ
ルの１つの巻回部分の断面図、 第5A図及び第5B図は、各々、管内の欠陥を示す管の断面
図、欠陥に応答し本発明に基づくプローブにより発生さ
せられる信号を示す図、 第6A図及び第6B図は、各々、欠陥を有する管の部分断面
図、欠陥に応答し本発明に基づくプローブにより発生さ
せられる信号を示す図、 第７図は、他の実施例に基づくプローブに使用するため
の磁気源手段の平面図である。 10……プローブ、12……管、 14……コード、16……押引ローラ、 18……増幅器、20……CRT、 22……磁気テープ、24……帯記録レコーダ、 26……磁気手段、28……磁束のパターン、 30……コイル、32……コイル、 38……ホール効果感知器、 40……ハウジング、42……磁極片、 44……コネクタ、46……プラグ、 48……プラグ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】管及び同様なものを非破壊検査するために
    使用する磁束探知プローブであって、 ほぼ円筒形のハウジングと、 検査中の管の壁を通る磁気のパターンをつくるための前
    記ハウジング内の磁気手段と、 を備え、 前記磁気手段は、 第１及び第２の磁極片と、 前記第１及び第２の磁極片の間に配置された第１及び第
    ２の磁石と、 前記第１及び第２の磁石の間に配置された磁気コネクタ
    と、 からなり、前記第１及び第２の磁極片と、前記第１及び
    第２の磁石と、前記磁気コネクタとは前記ハウジング内
    に同軸的に配置されて前記第１及び第２の磁石からの磁
    束が前記第の磁極片から出て検査中の管を通り前記第２
    の磁極片に戻るようになっており、 前記ハウジング内において、前記コネクタ上に該コネク
    タを取り巻くように第１のコイルが配置され、 前記第１のコイルに対して軸方向に変位した位置におい
    て前記コネクタ上に設けられたスペーサ上に、該コネク
    タを取り巻くように、前記第１のコイルから半径方向に
    変位して第２のコイルが配置され、 前記第１及び第２のコイルは、検査中の管の欠陥による
    磁束漏れを検出することにより、該欠陥の位置及び大き
    さを検知するのに使用される２つの信号を発生するよう
    になっており、 前記第１及び第２のコイルに接続されて該第１及び第２
    の信号を別々に伝達する電気的伝導手段が設けられ、 前記ハウジング内には、検査中の管の磁束パターンの変
    化を感知して該管の壁厚の変化を検知するためのホール
    効果感知装置が配置され、 前記ホール効果感知装置に接続されて該ホール効果感知
    装置からの電気信号を伝達する電気的伝導手段が設けら
    れたことを特徴とする磁束探知プローブ。
  2. 【請求項２】特許請求の範囲第１項に記載したプローブ
    において、前記コイルの各々は、ワイヤの複数の巻回部
    分を有し、前記巻回部分の各々は検査中の管の内壁に直
    角な方向の磁束漏れ成分を検出するように形成されたプ
    ローブ。
  3. 【請求項３】特許請求の範囲第１項に記載したプローブ
    において、ホール効果感知装置は、前記ハウジングに嵌
    め合わされた一方の磁極片上に取り付けられたプロー
    ブ。
JP62268025A 1986-10-31 1987-10-23 非破壊検査に使用するための磁束漏れプローブ Expired - Lifetime JPH0664012B2 (ja)

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JPS63133054A JPS63133054A (ja) 1988-06-04
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EP (1) EP0266103B1 (ja)
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AT (1) ATE105935T1 (ja)
AU (1) AU595748B2 (ja)
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