JPH0660061B2 - 簿膜磁気ヘツド用スライダおよびその製造方法 - Google Patents

簿膜磁気ヘツド用スライダおよびその製造方法

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JPH0660061B2 JP60167286A JP16728685A JPH0660061B2 JP H0660061 B2 JPH0660061 B2 JP H0660061B2 JP 60167286 A JP60167286 A JP 60167286A JP 16728685 A JP16728685 A JP 16728685A JP H0660061 B2 JPH0660061 B2 JP H0660061B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、スライダの端面に磁性体、導電体および絶縁
体等の積層物よりなる薄膜トランスジユーサを形成した
形態の薄膜磁気ヘツドに使用するに好適なスライダに関
する。
〔発明の背景〕
磁気デイスクフアイルの分野において、薄膜磁気ヘツド
を磁気デイスクよりわずかに浮上した状態で使用する方
法が広く採用されているが、データ処理の技術が長足に
進歩し、データが記録デイスク面により高密度に詰め込
まれるようになつてきており、それに応じてヘツドとデ
イスク面との距離を一層小さくする必要が生じてきてい
る。このような薄膜磁気ヘツド用のスライダ材は、該ヘ
ツド形成プロセスにおいて薬品や熱等に対して安定であ
ること、機械加工時に変形や変質しないこと、必要な寸
法精度が十分に出やすいこと、切削,研削,研摩等の加
工が容易に行えること、および磁気デイスクとの摺動性
に優れること等が必要である。すなわち、これらの要求
を達成するためのスライダ材の物性値としては、 (イ) 熱膨張係数が薄膜トランスジユーサを含む磁気
ヘツドアセンブリに使用する材料に近いこと、例えば、
室温から400℃における熱膨張係数が7〜12×10
/℃であることが望ましい。
(ロ) 熱伝導率が例えば50W/m・K以上で熱的な
影響を低めるものであること、 (ハ) 硬さが極端に高くなく、例えば1500kg/mm2
下(荷重100N)で相手材を損傷させないこと、 (ニ) ヤング率が例えば2×104kg/mm2以上と高
く、位置決め等の作業性が良好であること、 (ホ) 比重が例えば4g/cm3以下と小さく、磁気ヘ
ツドの重量増加を小さくすることができること、 (ヘ) 曲げ強度が例えば300MPa以上と高いこ
と、 が要求される。
ところで、従来の薄膜磁気ヘツド用スライダ材として、
例えば特公昭58-5470 号公報に開示されているAl23
とTiCとの混合物から製造されるスライダ材は、熱伝
導率があまり大きくなく、さらに硬さが著しく大きいこ
と等のために、長時間の使用中に磁気デイスクと磁気ヘ
ツドとの接触による事故が発生しやすく、必ずしも信頼
性の点で十分ではないという問題があつた。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、従来の薄膜磁気ヘツド用スライダ材に
おける前述のとおりの問題点を解消し、特の熱伝導率が
大きく、しかも硬さが極端に大きくない、磁気デイスク
との摺動性に優れた薄膜磁気ヘツド用スライダおよびそ
の製造方法を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明者らは、前記目的を達成するための手段を鋭意研
究した結果、前記薄膜磁気ヘツド用スライダとして具備
すべき条件を満足する材料として、MaOとAlNの混
合物から製造された焼結体からなる材料が極めて優れて
いることを見い出したことに基づいて、完成されたもの
である。すなわち、本発明の薄膜磁気ヘツド用スライダ
は、MgOとAlNとの容量比が90:10〜20:8
0の範囲にあるMgOとAlNの混合物から製造された
焼結体からなることを特徴とするものである。
また、前記薄膜磁気ヘツド用スライダの製造方法とし
て、熱間加圧焼結法いわゆるホツトプレス法、熱間静水
圧焼結法(HIP方法)、あるいは加圧不活性ガス中で
の焼結法を用いることにより、気孔率が極めて低く、ス
ライダ材とした望ましい特性を有するMgOとAlNの
混合焼結体が得られることを知見して完成されたもので
ある。
すなわち、本発明の薄膜磁気ヘツド用スライダの製造方
法の具体的構成は以下のとおりである。
(イ) MgO粉末とAlN粉末をその容量比が90:
10〜20:80の範囲で均一に混合し、MgOとAl
Nの混合粉末を得たのち、該混合粉末を所定の形状の黒
鉛型に挿入し、非酸化性雰囲気中で1100〜2000℃に加熱
するとともに、該混合粉末に10〜70MPaの荷重を
負荷しながら焼結を行うことを特徴とするMgOとAl
Nの混合焼結体からなる薄膜磁気ヘツド用スライダの製
造方法。
(ロ) MgO粉末とAlN粉末をその容量比が90:
10〜20:80の範囲で均一に混合し、MgOとAl
Nの混合粉末を得たのち、該混合粉末を予備焼結し、9
0%以上の緻密度を有する予備焼結体とし、該予備焼結
体を非酸化性雰囲気中で1100〜2000℃、圧力100〜2
00MPaの熱間静水圧焼結法により本焼結を行うこと
を特徴とするMgOとAlNの混合焼結体からなる薄膜
磁気ヘツド用スライダの製造方法。
(ハ) MgO粉末とAlN粉末をその容量比が90:
10〜20:80の範囲で均一に混合し、MgO とAlN
の混合粉末を得たのち、該混合粉末を黒鉛型に挿入し、
加圧不活性ガス中で1100〜2000℃で焼結することを特徴
とするMgOとAlNの混合焼結体からなることを特徴
とする薄膜磁気ヘツド用スライダの製造方法。
ここで、本発明において薄膜磁気ヘツド用スライダとし
てMgOとAlNの混合物とした理由およびその混合比
を容量比で90:10〜20:80とした理由について
説明する。
MgOは、熱伝導率が大きいこと、ヤング率が大きいこ
と、硬さが極端に大きくないこと、比重が小さいこと、
機械加工性が優れていることなどの点でスライダとして
好適である。しかしながら一方で、熱膨張係数が大きい
こと、強度があまり大きくないこと等の点が欠点として
挙げられる。AlNは、ヤング率が大きいこと、熱伝導
率が大きいこと、硬さが極端に大きくないこと、比重が
小さいこと、強度が大きいことなどの点でスライダとし
て好適である。一方、AlNは、熱膨張係数が小さいこ
と、機械加工性があまり良くないこと等の欠点がある。
本発明は、上記したMgOとAlNのスライダとしての
長所を生かし、しかも短所を相補わせるために、MgO
とAlNを混合し、これを焼結することによつて、薄膜
磁気ヘツド用スライダ材を得ようとするものである。
本発明になるスライダは、MgOとAlNの比が容量比
で90:10〜20:80の範囲にある非末混合物から
製造された焼結体からなる。MgO 量が多すぎると、熱膨
張係数が大きすぎるこ、強度があまり大きくないことな
どの問題が生じ、逆にAlNの量が多すぎる場合、熱膨
張係数が小さすぎること、機械加工性がよくないことな
どの問題が生じるため、本発明においては、MgOとA
lNの混合容量比を90:10〜20:80に特定した
ものである。
また、前記焼結体は、強度、機械加工性および特性の均
一性の点から、気孔率が0.5%以下で、焼結粒の大き
さが平均値で10μm以下であることが好ましい。
次に、本発明の薄膜磁気ヘツド用スライダ材の製造方法
において、その製造条件を特定した理由について説明す
る。
すなわち、前述の特性を有する焼結体は、好ましくはホ
ツトプレス製造される。ホツトプレスの条件は一律には
決められないが、通常の条件としては、温度1100〜2000
℃、荷重10〜70MPaで、時間は焼結体の気孔率が
0.5%以下になるのに十分な時間行う。焼結時の雰囲
気も重要で、酸化性の雰囲気は使えない。すなわち、酸
化性の雰囲気中では昇温時AlNが酸化してしまうため
である。このため、焼結時の雰囲気は、真空またはアル
ゴン,ヘリウム,窒素のような不活性ガス雰囲気および
水素ガスのごとき還元性雰囲気中で焼結を行う。また、
原料粉末の粒径は、10μmであることが好ましい。す
なわち、原料粉末の粒径が小さければ小さいほど焼結が
容易である。また、粒径の小さい原料粉末を使用し、結
晶粒径が小さい焼結体を製造すれば、該焼結体からなる
スライダは、機械加工性に優れる。焼結体をホツトプレ
ス法で製造する場合、型材には通常黒鉛が使われる。温
度が1100℃より低い場合、焼結体は緻密化しにくい。温
度が2000℃以上になると、焼結時に粒成長が起こり、結
晶粒の著しく大きな焼結体になり、機械加工性が悪くな
り、特にチツピングの大きさを大きくなる。ホツトプレ
ス時の荷重が10MPaより低い場合、緻密な焼結体を
作ることが困難である。ホツトプレス圧力の上限は、型
材の材質によつて制限される。通常使用している黒鉛型
の場合、約70MPaが上限と考えられる。しかし、一
般的には大きなホツトプレス荷重を加えなくても、十分
に緻密な焼結体が得られ、20〜30MPaの荷重を加
えれば十分である。ホツトプレス時間は、焼結体が気孔
率0.5%以下になるのに十分な時間であればよい。
本発明の他の製造方法は、通常HIPと呼ばれている熱
間静水圧焼結法である。
HIPは、気孔率の小さい焼結体を得る方法として極め
て有効である。本発明におけるHIPは、温度1100℃か
ら2000℃の範囲で行う。この温度範囲が選ばれる理由
は、ホツトプレスの時と同じである。HIPの圧力は大
きれば大きいほど好ましく、通常は100〜200MP
aで行う。
本発明においては、前述のHIPによる本焼結を行うに
際し、MgOとAlNの混合粉末を予備焼結し、MgO
とAlNの粉末混合物が単純に混り合つているとして計
算した密度に対して、相対値で90%以上に緻密化して
いる予備焼結体を得て、これをHIPにより本焼結す
る。
さらに、本発明においては前記の焼結体を得る方法とし
て、無加圧焼結法も採用することができることを確認し
ているが、この無加圧焼結法の場合にも、温度1100〜20
00℃が好ましい。この温度の範囲で選ばれる理由は、ホ
ツトプレスの時と同じであるが、焼結時の雰囲気はホツ
トプレスの場合と同様に、酸化性雰囲気は使えない。無
加圧焼結時に好ましい雰囲気は不活性ガス雰囲気であ
る。無加圧焼結においては、ホツトプレスの場合と異な
り、成形体は黒鉛型で押えつけられていないため、昇温
時により熱分解しやすい。このため、無加圧焼結時の雰
囲気は不活性ガスで好ましくは加圧ガスの雰囲気が望ま
しい。
上記した方法によつて、本発明になるMgOとAlNと
の粉末混合物より製造された焼結体よりなるスライダ材
は、薄膜磁気ヘツド素子を形成するプロセスにおいて使
用する薬品や熱等に対して安定であること、熱膨張係数
が薄膜トランスジユーサを含む磁気ヘツドアセンブリに
使用する材料に近くできること、ヤング率が大きく変形
等が起こらないこと、熱伝導率が大きく、したがつて薄
膜磁気ヘツドとして使用しているときに発生する熱を逃
しやすいこと、ビツカーズ硬さが1500kg/mm2以下で、
長時間の使用に際しても磁気デイスクに対してダメージ
を与えないこと、比重が小さく、したがつて磁気デイス
ク上への浮上が容易に行えること、機械加工性に優れる
こと、摺動寿命が長いことなどの点で従来のスライダに
はない利点を多く合わせ持つ。
〔発明の実施例〕
実施例1 純度が99.9%で、平均粒径が0.6μmのMgO
に、純度が98%で、平均粒径3μmのAlN粉末を1
0〜90容量%添加して混合した。該粉末混合物は、金
型中で150MPaの荷重を加えて成形したのち、成形
体は黒鉛型の中に入れ、温度1900℃で30MPaの荷重
を加え、窒素ガス中で30分間ホツトプレスして焼結体
を得た。
本実施例によつて得た焼結体の密度は、いずれもMgO
とAlNが混合していると単純に計算した密度に対し
て、99.7〜100.2%の範囲にあつた。ここで、前述
の100.2 %はMgOとAlNの一部が反応した結果である
と考えられる。
すなわち、本実施例によつて得た焼結体の気孔率は極め
て低いものである。さらに、該焼結体の破断面または鏡
面研摩面を走査型電子顕微鏡を用いて観察したが、気孔
は観察できなかつた。一方、本実施例の焼結体のX線回
折の結果によれば、回折ピークはいずれもMgOとAl
Nが主であり、該焼結体はMgOとAlNが主成分であ
ることがわかつた。
第1表は、製造した焼結体の特性である。焼結体はMg
OとAlNが容量比で90:10〜20:80のとき熱
膨張係数,ヤング率,熱伝導率,硬さ,比重,強度とも
スライダ材として望ましい値を持つていることがわか
る。
実施例2 実施例1に記載したMgOおよびAlNの粉末を用い、
MgOとAlNを容量比で50:50として、ホツトプ
レス条件を変えて焼結体を得た。得られた焼結体は実施
例1の場合と同様に、X線的にはMgOとAlNの混合
物であつた。第2表は、製造した焼結体の特性である。
焼結体は温度が1100℃以上のとき、荷重が10MPa以
上のとき気孔率が0.5%以下になるように焼結するこ
とができる。また、気孔率が0.5%以下になるように
焼結できたものは、いずれも熱膨張係数,ヤング率,熱
伝導率,硬さ,比重,強度ともにスライダとして望まし
い特性を持つている。
実施例3 実施例1に記載したMgOとAlNの粉末を用い、Mg
Oの対しAlNを40Vol%添加した。その後、実施
例1に記載したものと同様にして焼結体を製造した。本
実施例においては、焼結時の雰囲気をアルゴンガス,ヘ
リウムガス,水素ガスまたは真空(1×10-2〜1×1
-5torr)とした。得られた焼結体の特性は、実施例1
に記載したNo.3の焼結体とほぼ同じであつた。
実施例4 平均粒径が0.2〜100μmのMgO粉末に平均粒径
が0.3〜100μmのAlN粉末を容量比で50Vo
l%添加した。その後、実施例1と同様にして焼結体を
製造した。第3表は、得られた焼結体の特性である。焼
結体は原料粉末の結晶粒径が50μm以下てあれば、十
分に緻密化しスライダとして好ましい特性をもつ。
実施例5 MgO粉末は平均粒径が0.4μmで、純度が99.9
%の粉末を用い、これに純度が98が平均粒径が0.7
μmのAlN粉末を40Vol%添加したのち混合し
た。該粉末混合物は金型中で50MPaの荷重を加えて
成形体としたのち、成形体は黒鉛製のルツボ内に入れ、
温度1900℃で30分間焼成して焼結体とした。このとき
の焼成雰囲気は窒素ガスとした。第4表は、得られた焼
結体の特性である。焼結体はスライダとして望ましい特
性を持つている。
実施例6 本発明の焼結体を用いてなるスライダの具体的な適用例
として、実施例1のNo.3の焼結体を用いた薄膜磁気ヘ
ツドで説明する。第1図は該焼結体をスライダ材として
用いた薄膜磁気ヘツドの斜視図である。また、比較のた
めにAl23とTiC(Vol比70:30)よりなる
焼結体をスライダとした薄膜磁気ヘツドを製造した。
上記薄膜磁気ヘツドは、周速を50m/sとして、コン
タクト・スタート・ストップ(CSS)寿命の測定に供
した。本発明になる焼結体を用いた薄膜磁気ヘツドは、
従来材であるAl23とTiCよりなる焼結体を用いた
薄膜磁気ヘツドのCSS寿命を1としたときの25倍の
寿命をもつた。
〔発明の効果〕
本発明の薄膜磁気ヘツド用スライダは、前記実施例にお
いても確認されているとおり、強度,熱伝導率およびヤ
ング率が高いというスライダ自体に要求される特性にお
いて優れているとともに、熱膨張係数が薄膜トランスジ
ユーサを含む磁気ヘツドアセンブリ使用する材料のそれ
に近く、かつ相手方の磁気デイスクを損傷させるほど極
端に高い硬度を有していないため、特に今後ますます進
展すると推測される高密度磁気デイスクフアイル用の薄
膜磁気ヘツド用スライダに用いられた場合の効果は極め
て大きい。
したがつて、前述の特性を有する新して薄膜磁気ヘツド
用スライダを開発し、かつそれを工業的に製造する方法
を開発した本発明の効果は極めて大きいものということ
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のスライダを用いた薄膜磁気ヘツドの斜
視図である。 1……スライダ、2……薄膜トランスジユーサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北沢 長四郎 茨城県日立市久慈町4026番地 株式会社日 立製作所日立研究所内 (72)発明者 大浦 正樹 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内 (72)発明者 長池 完訓 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】MgOとAlNとの容量比が90:10〜
    20:80の範囲にあるMgOとAlNの混合焼結体か
    らなることを特徴とする薄膜磁気ヘツド用スライダ。
  2. 【請求項2】前記混合焼結体の気孔率が0.5%以下で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜
    磁気ヘツド用スライダ。
  3. 【請求項3】MgO粉末とAlN粉末をその容量比が9
    0:10〜20:80の範囲で均一に混合し、MgO とA
    lNの混合粉末を得たのち、該混合粉末を所定の形状の
    黒鉛型に挿入し、非酸化性雰囲気中で1100〜2000℃に加
    熱するとともに、該混合粉末に10〜70MPaの荷重
    を負荷しながら焼結を行うことを特徴とするMgOとA
    lNの混合焼結体からなる薄膜磁気ヘツド用スライダの
    製造方法。
  4. 【請求項4】MgO粉末とAlN粉末をその容量比が9
    0:10〜20:80の範囲で均一に混合し、MgO とA
    lNの混合粉末を得たのち、該混合粉末を予備焼結し、
    90%以上の緻密度を有する予備焼結体とし、該予備焼
    結体を非酸化性雰囲気中で1100〜2000℃、圧力100〜
    200MPaの熱間静水圧焼結法により本焼結を行うこ
    とを特徴とするMgOとAlNの混合焼結体からなる薄
    膜磁気ヘツド用スライダの製造方法。
  5. 【請求項5】MgO粉末とAlN粉末をその容量比が9
    0:10〜20:80の範囲で均一に混合し、MgO とA
    lNの混合粉末を得たのち、該混合粉末を黒鉛型に挿入
    し、加圧不活性ガス中で1100〜2000℃で焼結することを
    特徴とするMgOとAlNの混合焼結体からなる薄膜磁
    気ヘツド用スライダの製造方法。
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WO2012056808A1 (ja) 2010-10-25 2012-05-03 日本碍子株式会社 セラミックス材料、半導体製造装置用部材、スパッタリングターゲット部材及びセラミックス材料の製造方法
WO2012056807A1 (ja) * 2010-10-25 2012-05-03 日本碍子株式会社 セラミックス材料、積層体、半導体製造装置用部材及びスパッタリングターゲット部材
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