JPH0652005A - 同期式順序回路のテストパターン生成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】故障検出率を高めテストパターン生成処理の高
速化とテスト時間の短縮を図る同期式順序回路のテスト
パターン生成方法を提供する。 【構成】ステップ１０は状態遷移記述を用いて状態遷移
の初期状態から誤った遷移先状態までの状態遷移を実現
する系列と正常な遷移状態及び誤った遷移先状態を区別
する系列とを接続し特定の遷移故障を検出するパターン
系列を生成し、ステップ２０はパターン系列により遷移
する各状態に対応したパターン毎に記憶素子部から組み
合せ回路部に出力される値を固定したままで他の遷移故
障を検出する拡張パターン系列を生成する。ステップ３
０はパターンをクロックに同期させて組み合せ回路部に
順次外部入力として与えクロックを投入して外部出力を
観測した後に拡張パターンをクロックを固定したままで
次々と加えて外部出力を観測する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、同期式順序回路につい
て遷移故障を含む状態を仮定し、故障を含む状態と故障
を含まない状態を識別する入力系列を求める同期式順序
回路のテストパターン生成方法に関する。このテストパ
ターン生成方法は、特に、製造された回路に混入した不
良品を良品と分離する「検査」の過程で用いられるため
のテストパターンを生成する処理であって、電子回路の
信頼性を向上するために不可欠な処理である。

【０００２】

【従来の技術】従来、同期式順序回路（記憶素子を含む
複数の論理回路で構成されこれらの論理回路が同期して
動作する回路）内における故障を検出するテストパター
ン生成方法においては、回路内の信号線の論理値が常に
１又は０のままとなる故障（縮退故障）が対象とされて
きた。

【０００３】しかし、高位レベルの設計が一般的に行わ
れるに伴って、物理的動作にとらわれない高位レベルの
故障モデルとこれを対象とした故障検査が求められるよ
うになってきた。このような高位レベルの設計における
同期式順序回路の故障を検出する方法としては、仕様が
状態遷移記述で与えられたときの遷移故障による故障検
査がきわめて有効である。ここで、遷移故障とは、同期
式順序回路の記憶素子部の値（０，１）の組み合せであ
る「状態」に着目し、外部入力と記憶素子部に投入され
るクロックとの変化によって起こる状態遷移において、
遷移先状態が正しい遷移状態から変わる故障である。

【０００４】図１１に状態遷移記述の一例として状態遷
移図及び状態遷移表を示す。図１１に示す状態遷移記述
における各状態ｓｔ０〜ｓｔ３は、記憶素子部の値
（０，１）の組み合せに対応付けられ、状態遷移の論理
は外部入力を入力する組み合せ回路部で実現される。そ
して、ある状態において、外部入力が組み合せ回路部に
入力されたときに正しい遷移状態から遷移状態が変わっ
てしまう遷移故障が発生することがある。なお、このと
きに外部出力の値は変化しないと仮定する。遷移故障
は、例えばある状態ｓｔ０において外部入力が０であっ
た場合に、次の状態がｓｔ１で出力値が０となるはずで
あるが、次の状態がｓｔ２となるような故障である。

【０００５】また、遷移故障を検出するためのテスト系
列は図１２に示すように初期化系列、活性化系列、故障
伝搬系列の３種類の系列が接続されて構成される。初期
化系列は状態遷移の初期状態から故障を仮定した遷移の
遷移元状態に至る状態遷移を実現する。活性化系列は正
常な遷移を起こさせる入力であって、実際には１パター
ンだけの系列である。故障伝搬系列は正常な遷移の場合
と故障があった場合を区別するための系列である。

【０００６】前述した状態遷移記述からこれらのテスト
系列を求める方法は基本的には次のようである。初期化
系列は、初期状態から状態遷移の木を作り、対象となる
遷移の遷移元状態を広さ優先で探索する。活性化系列
は、自明である。故障伝搬系列は遷移先の状態と他の状
態とを区別する系列を全て作成する。

【０００７】このような方法によれば、回路合成を適用
した状態遷移回路に対して遷移故障モデルに基づいてテ
スト系列を生成した場合に、１００％の遷移故障検出
率、平均９９％の縮退故障検出率を実現できる。また、
従来の縮退故障モデルに対する方法と比較して検出率は
同等であり、しかも処理速度は１００以上高速である。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
遷移故障モデルに対する上記方法は、次のような２つの
問題があった。 （ａ）まず、状態数、状態遷移数が増加すると、処理時
間が急速に増大する傾向があった。すなわち、状態数
Ｎ、状態遷移数Ｍとすると、遷移故障の過程故障数はＭ
（Ｎ−１）で与えられる。一般に状態数が増加すると、
状態遷移数も増大するため、状態数の増加に伴い過程故
障数が急速に増大する。実際の処理においては、ある状
態遷移に対する遷移故障をグループ分けして代表故障だ
けを扱うように工夫しているが、グループ分け自体の処
理時間が増大するために処理時間が増大している。前記
方法を用いた実験結果にあっても、過程故障数の増大と
ともに処理時間が急速に増大している。 （ｂ）また、テストパターン数が縮退故障の方法におけ
るテストパターン数と比較して増加してしまう。すなわ
ち、遷移故障は状態遷移記述という抽象度の高い記述に
対して定義されており、基本的には回路の実現方法に依
存しない故障モデルである。これに対して縮退故障モデ
ルは回路の特定の実現方法に密着したモデルである。

【０００９】従って、遷移故障モデルは縮退故障よりも
より広い範囲をカバーするモデルであると考えられる。
このため、遷移故障を検出するテスト系列は一般に縮退
故障を検出する系列よりも長くなる傾向にあった。実験
結果にあっても、テスト系列長は多くの場合に縮退故障
の１〜３倍となっていた。

【００１０】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、ある故障を検出する
入力系列が求められた段階で、その入力系列を拡張する
ことによって、故障検出率を高めると同時にテストパタ
ーン長を短縮し、テストパターン生成処理の高速化とテ
スト時間の短縮を図る同期式順序回路のテストパターン
生成方法を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するために次のような構成とした。本発明は仕様が状態
遷移記述で与えられた同期式順序回路に対してテストパ
ターンを与える手順を変更したことを特徴とする。すな
わち、パターンを加える前に拡張パターンを加えて外部
出力値を観測するというループを付加している。

【００１２】図１は本発明の原理図であり、図１を参照
して以下に同期式順序回路のテストパターン生成方法を
説明する。パターン系列ステップ１０は、状態遷移記述
を用いて状態遷移の初期状態から誤った遷移先状態まで
の状態遷移を実現する系列と正常な遷移状態及び誤った
遷移先状態を区別する系列とを接続して特定の遷移故障
を検出するためのパターン系列を生成する。拡張パター
ン系列ステップ２０は、パターン系列によって遷移する
各状態に対応したパターン毎に、記憶素子部から組み合
せ回路部に出力される値を固定したままで他の遷移故障
を検出するための拡張パターン系列を生成する。

【００１３】回路適用ステップ３０は、前記パターンを
クロックに同期させて組み合せ回路部に順次外部入力と
して与えクロックを投入して外部出力を観測した後に、
前記拡張パターンをクロックを固定したままで次々と加
えて外部出力を観測する。

【００１４】より好ましくは、以下のようにするのがよ
い。すなわち、前記拡張パターン系列ステップ２０は、
前記パターン系列によって遷移する各状態に対応したパ
ターン毎に、記憶素子部から組み合せ回路部に出力され
る値を固定したままで乱数値を外部入力に加えて状態遷
移レベルの故障シミュレーションを行うことにより他の
遷移故障を検出する拡張パターン系列を生成する。

【００１５】また、前記拡張パターン系列ステップ２０
は、前記パターン系列によって遷移する各状態に対応し
たパターン毎に、記憶素子部から組み合せ回路部に出力
される値を固定したままで状態遷移記述を解析して正常
な遷移先状態とそれ以外の状態を区別する拡張パターン
系列を生成する。

【００１６】

【作用】本発明によれば、ステップ１０で、ある遷移故
障を検出するテストパターン系列のパターンを生成した
後に、ステップ２０で、各パターン設定時における記憶
素子部の値を固定したままで他の故障を検出する拡張パ
ターンを生成する。

【００１７】そして、ステップ３０で、パターンをクロ
ックに同期させて組み合せ回路部に順次外部入力として
与えクロックを投入して外部出力を観測した後に、前記
拡張パターンをクロックを固定したままで次々と加えて
外部出力を観測する。

【００１８】すなわち、正規のパターンを加える前に拡
張パターンを加えて外部出力値を観測するステップを付
加し、拡張パターンを加えるときにはクロックを固定し
たままで行なうので、回路本来の動作を乱すことはな
く、本来の回路動作では検出できないような故障が検出
できるようになる。

【００１９】これにより、従来ならば状態を区別するた
めの系列が必要であったが、拡張パターンを適用するの
みで済む場合が多いので、テストパターン数を削減で
き、しかもテストパターン生成時間を短縮できる。

【００２０】

【実施例】以下、本発明の具体的な実施例について説明
する。 ＜実施例１＞図２は実施例１によるテストパターン生成
方法の手順を説明するためのフローチャート、図３はテ
スト系列の拡張の手順を示すフローチャートである。図
４は図１１に示す状態遷移記述に対してテストパターン
生成方法を具体的に適用したパターン例を示す図、図５
は図１１に示す状態遷移記述に対してテストパターン生
成方法を具体的に適用した拡張パターン例を示す図であ
る。

【００２１】ここでは、図４に示すように初期状態はｓ
ｔ０であると仮定し、状態ｓｔ１から状態ｓｔ２への遷
移における遷移故障を考察する。外部入力０１に対して
本来ならば、状態ｓｔ２に遷移して出力１１を出力する
はずであるが、状態ｓｔ１から状態ｓｔ０に遷移して出
力０１を出力する遷移故障を考察する。この遷移故障を
検出する手順を図２を参照しながら説明する。 ＜遷移故障用テストパターンの生成処理＞まず、ステッ
プ２１で、全ての故障が検出された否かを判断し、全て
の故障が検出されていない場合にはステップ２２で、未
検出故障のいずれかを選択する。

【００２２】次に、ステップ２３で、未検出故障に対し
て遷移故障用のテストパターンを生成する。図４に示す
例であれば、初期状態ｓｔ０から状態ｓｔ１へ遷移させ
る初期化系列、状態ｓｔ１から状態ｓｔ２へ遷移させる
活性化系列、状態ｓｔ２と状態ｓｔ０とを区別する故障
伝搬系列の３種類のテストパターン系列を生成する。こ
のテストパターン系列の各パターンを｛０１，０１，０
１｝とする。各パターン｛０１，０１，０１｝は図４に
示すスラッシュ／の左側の値にそれぞれ対応している。

【００２３】次に、求められたテストパターン系列を
｛０１，０１，０１｝として、ステップ２４で、テスト
パターン系列の拡張を試行する。図４に基づき説明する
と、最初に入力に０１を加え、クロックを打った状態を
考える。正常の状態遷移では状態ｓｔ０から状態ｓｔ１
へ遷移するはずである。仮定故障が状態ｓｔ１から状態
ｓｔ２への遷移を対象としていることから、正しい遷移
が保証されているはずである。

【００２４】この段階において、別の故障を検出するよ
うにテストパターン系列の拡張を行なう。ミーリ型の同
期式順序回路では、外部入力の変更が即座に外部出力に
反映されるので、クロックを打たずに外部入力を変更し
て回路内の動作を調べることができる。この特徴を用い
てテスト系列の拡張を行なう。 ＜テストパターン系列の拡張処理＞このテストパターン
の拡張は図３に従って処理される。また、これに対応し
て図５に示す拡張パターン例を適宜説明する。まず、図
３において、ステップ３１で、初期状態を設定する。図
５に示す例では状態ｓｔ０を設定する。そして、ステッ
プ３２で、テストパターン系列は残っているか否かを判
断する。

【００２５】ここで、テストパターン系列が残っている
場合にはステップ３３で、遷移先状態を設定する。図５
に示す例では、遷移先状態ｓｔ１を設定し、本来の最初
の遷移が状態ｓｔ０から状態ｓｔ１であるため、まずこ
の遷移に対する故障を考察する。

【００２６】さらに、ステップ３４で、拡張パターンを
生成する。図５に示す例では拡張パターンとして｛１
１，０１｝を生成する。そこで、故障により遷移先が状
態ｓｔ２になったとすると、拡張パターン１１を状態ｓ
ｔ１，ｓｔ２に入力する。状態ｓｔ１では出力１０が出
力され、状態ｓｔ２では、出力０１が出力される。

【００２７】これにより、状態ｓｔ１と状態ｓｔ２とを
区別することができる。次に、ある拡張パターンの生成
処理が終了した場合には、ステップ３２に戻ってステッ
プ３２からステップ３４までの処理を拡張パターン毎に
繰り返し行なう。図５に示す例では、遷移先を状態ｓｔ
３に設定し、故障により遷移先が状態ｓｔ３になったと
すると、拡張パターン０１を状態ｓｔ１，ｓｔ３に入力
する。状態ｓｔ１では出力１１が出力され、状態ｓｔ３
では、出力１０が出力される。

【００２８】これにより、状態ｓｔ１と状態ｓｔ３とを
区別することができる。同様に状態ｓｔ１と状態０とを
区別することができる。従って、拡張パターンとして
｛１１，０１｝を用いれば、状態ｓｔ０から状態ｓｔ１
への遷移に対する全ての遷移故障を検出することができ
る。

【００２９】そして、テストパターン系列がなくなった
場合には、ステップ３５に進み、テストパターン系列の
拡張（ステップ２４の処理）を終了しステップ２１にリ
ターンする。さらに、ステップ２１で、全ての故障が検
出された場合にはステップ２５に進み処理を終了する。

【００３０】図６は本発明による同期式順序回路のテス
トパターンの生成方法のためのミーリ型の同期式順序回
路の構成ブロック図である。この同期式順序回路は図１
１に示す状態遷移記述から作成されたものであり、組み
合せ回路部１１と記憶素子部１２とを有している。

【００３１】組み合せ回路部１１は、外部入力値ＰＩと
記憶素子部１２から出力される値を入力して外部出力値
ＰＯを出力するようになっている。記憶素子部１２は、
組み合せ回路部１１から投入されるクロックにより各状
態の値を組み合せ回路部１１に出力するようになってい
る。

【００３２】このような構成の同期式順序回路は、記憶
素子部１２の値（０，１）の組み合せである「状態」に
着目し、外部入力値と記憶素子部１２に投入されるクロ
ックとの変化によって起こる状態遷移において、遷移先
状態が正しい遷移状態から変わる遷移故障を検出するよ
うになっている。 ＜方法を前記回路に適用する手順＞次に、図１１に示す
仕様が状態遷移記述で与えられた前記同期式順序回路に
前述したテストパターン生成方法を適用した場合につい
て説明する。図７は実施例１のテストパターン生成方法
によって作成されたテストパターンを回路に適用する手
順を説明するフローチャートである。

【００３３】図７において、まず、ステップ７１で、電
源（図示しない）を投入して記憶素子部１２の初期化を
行なう。次にステップ７２において、図２に示すステッ
プ２３で生成したテストパターンが残っているか否かを
判断する。そして、テストパターンが残っている場合に
は、ステップ７３において、図２に示すステップ２４で
生成した拡張パターンが残っているか否かを判断する。

【００３４】ここで、拡張パターンが残っている場合に
は、ステップ７４で、記憶素子部１２にクロックを投入
した後に拡張外部入力値（前記拡張パターン｛１１，０
１｝に対応）を設定する。さらに、ステップ７５で、組
み合せ回路部１１から出力される拡張外部出力値（前記
拡張パターンに対する出力に対応）を観測する。

【００３５】その後、ステップ７３に戻ってステップ７
３からステップ７５の処理を前記クロックを固定したま
ま（クロックを打たない）で、拡張パターン毎に繰り返
し行なう。

【００３６】そして、拡張パターンがなくなった場合に
は、ステップ７６に進み、外部入力値（前記パターン０
１に対応）を設定して組み合せ回路部１１に出力する。
また、その後にステップ７７で、組み合せ回路部１１か
ら出力される外部出力値を観測する。そして、ステップ
７８で、組み合せ回路部１１から記憶素子部１２に新た
なクロックを投入する（クロックを打つ）ことで、ステ
ップ７２に戻って拡張パターンの処理、すなわち、ステ
ップ７３からステップ７５までの処理をパターン毎に繰
り返し行なう。

【００３７】そして、パターンがなくなった場合には、
ステップ７９で、処理を終了する。これに対して、図８
に従来のテストパターン適用方法の手順を示す。従来の
テストパターン適用方法では、ステップ７１で記憶素子
部１２の初期化を行ない、ステップ７２でテストパター
ンが残っているか否かを判断し、テストパターンが残っ
ている場合には、ステップ７６で外部入力値を設定す
る。

【００３８】その後、ステップ７７で、組み合せ回路部
１１から出力される外部出力値を観測する。そして、ス
テップ７８で、組み合せ回路部１１から記憶素子部１２
にクロックを投入し、ステップ７２に戻ってステップ７
６からステップ７８までの処理をパターン毎に繰り返し
行なう。そして、パターンがなくなった場合には、ステ
ップ７９で、処理を終了する。

【００３９】このように実施例１のテストパターン生成
方法によれば、ある故障を検出するテストパターン系列
が求められ、その系列によって検出できる故障を挙げる
際に、本来のテストパターン系列に対する回路動作を変
更せずに系列を拡張している。すなわち、外部入力値を
組み合せ回路部１１に入力する前に、各パターンの設定
毎にクロックを打たないで他の遷移故障を検出するため
の拡張外部入力値を入力しこれに対する拡張外部出力値
を観測するステップ７３からステップ７５のループを設
けたので、回路本来の動作を乱すことはなく、拡張外部
入力を加えることで、本来の回路動作では検出できない
ような故障が検出できるようになる。

【００４０】これにより、従来ならば状態を区別するた
めの系列が必要であったが、拡張パターンを適用するの
みで済む場合が多いので、テストパターン数を削減で
き、しかもテストパターン生成時間を短縮できる。

【００４１】また、故障伝搬系列では検出できない故障
を拡張パターンによる系列で検出できるようになり、故
障検出率を向上できる。さらに、ある状態遷移に対する
複数の遷移故障を拡張系列で取り扱うことができるの
で、従来ならば個々に必要であった初期化系列を省略で
き、テスト系列をさらに削減することができる。 ＜実施例２＞図９は実施例２による拡張パターンの生成
方法の手順を示すフローチャートである。実施例１で
は、状態遷移記述に着目してクロックを打たずに状態を
区別できる入力を求めることで拡張パターンを生成した
が、実施例２では、乱数パターンを発生させて状態遷移
記述レベルの故障シミュレーションを適用して拡張パタ
ーンを生成する。

【００４２】以下、図９を参照してこの方法を説明す
る。ステップ９１で、故障が残っているか否かを判断
し、故障が残っている場合には、ステップ９２で、パタ
ーン数が規定値以下か否かを判断する。

【００４３】ここで、パターン数が規定値以下である場
合には、ステップ９３で、乱数値を発生させる。そし
て、ステップ９４で、状態遷移レベルの故障シミュレー
ションを行い、ステップ９５で、未検出故障を検出でき
たか否かを判断する。未検出故障を検出できた場合に
は、ステップ９６で、乱数値を拡張パターンに追加し、
ステップ９１に戻る。未検出故障を検出できない場合に
は、直ちにステップ９１に戻る。

【００４４】一方、ステップ９１で、故障が残っていな
い場合にはステップ９７に進み、ステップ２１にリター
ンする。また、ステップ９２で、パターン数が規定値以
下でない場合にはステップ９７に進み、ステップ２１に
リターンする。

【００４５】このような実施例２における拡張パターン
の生成方法にあっては、実施例１の効果を奏するととも
に、特に状態遷移が複雑な場合に効果が大である。 ＜実施例３＞図１０は実施例３による拡張パターンの生
成方法の手順を示すフローチャートである。実施例３で
は、状態遷移記述を解析して正常な遷移先状態とそれ以
外のの状態とを区別する拡張パターンを生成するもので
ある。

【００４６】以下、図１０を参照してこの方法を説明す
る。ステップ１０１で、故障が残っているか否かを判断
し、故障が残っている場合には、ステップ１０２で、パ
ターン数が規定値以下か否かを判断する。

【００４７】ここで、パターン数が規定値以下である場
合には、ステップ１０３で、未検出故障（遷移先状態）
を選択する。そして、ステップ１０４で、本来の遷移先
状態と遷移先状態とを区別できるか否かを判断し、両者
の状態を区別できた場合には、ステップ１０５で、区別
する入力を拡張パターンに追加し、ステップ１０１に戻
る。両者の状態を区別できない場合には、直ちにステッ
プ１０１に戻る。

【００４８】一方、ステップ１０１で、故障が残ってい
ない場合にはステップ１０６に進み、ステップ２１にリ
ターンする。また、ステップ１０２で、パターン数が規
定値以下でない場合にはステップ１０６に進み、ステッ
プ２１にリターンする。

【００４９】このような実施例３における拡張パターン
の生成方法にあっても、実施例１の効果を奏するととも
に、特に状態遷移が複雑な場合に効果が大である。

【００５０】

【発明の効果】本発明によれば、ある遷移故障を検出す
るテスト系列を生成し、テスト系列内の各パターン毎に
パターン拡張を行なうことによって、テスト系列に対す
る回路の応答を変えることなく、検出可能な故障を増加
させることができる。

【００５１】これにより、テストパターン生成処理量を
削減できるとともに、テスト系列が短くなり、装置のテ
スト時間を短縮することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】図２は実施例１によるテストパターン生成方法
の手順を説明するためのフローチャートである。

【図３】テスト系列の拡張の手順を示すフローチャート
である。

【図４】図１１に示す状態遷移記述に対してテストパタ
ーン生成方法を具体的に適用したパターン例を示す図で
ある。

【図５】図１１に示す状態遷移記述に対してテストパタ
ーン生成方法を具体的に適用した拡張パターン例を示す
図である。

【図６】本発明による同期式順序回路のテストパターン
の生成方法のためのミーリ型の同期式順序回路の構成ブ
ロック図である。

【図７】実施例１のテストパターン生成方法によって作
成されたテストパターンを回路に適用する手順を説明す
るフローチャートである。

【図８】従来のテストパターン適用方法の手順を示すフ
ローチャートである。

【図９】実施例２による拡張パターンの生成方法の手順
を示すフローチャートである。

【図１０】実施例３による拡張パターンの生成方法の手
順を示すフローチャートである。

【図１１】状態遷移図及び状態遷移表を示す図である。

【図１２】遷移故障を検出するテスト系列の概念図であ
る。

【符号の説明】

１１・・組み合せ回路部 １２・・記憶素子部 ＰＩ・・外部入力 ＰＯ・・外部出力 ｓｔ０〜ｓｔ３・・状態

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 仕様が状態遷移記述で与えられかつ記憶
   素子部と組み合せ回路部とを有する同期式順序回路に対
   して状態遷移を誤らせる遷移故障を検出するための同期
   式順序回路のテストパターン生成方法において、 状態遷移記述を用いて状態遷移の初期状態から誤った遷
   移先状態までの状態遷移を実現する系列と正常な遷移状
   態及び誤った遷移先状態を区別する系列とを接続して特
   定の遷移故障を検出するためのパターン系列を生成する
   パターン系列ステップ（１０）と、 前記パターン系列によって遷移する各状態に対応したパ
   ターン毎に、記憶素子部から組み合せ回路部に出力され
   る値を固定したままで他の遷移故障を検出するための拡
   張パターン系列を生成する拡張パターン系列ステップ
   （２０）と、 前記パターンをクロックに同期させて組み合せ回路部に
   順次外部入力として与えクロックを投入して外部出力を
   観測した後に、前記拡張パターンをクロックを固定した
   ままで次々と加えて外部出力を観測する回路適用ステッ
   プ（３０）とからなることを特徴とする同期式順序回路
   のテストパターン生成方法。
2. 【請求項２】 前記拡張パターン系列ステップ（２０）
   は、前記パターン系列によって遷移する各状態に対応し
   たパターン毎に、記憶素子部から組み合せ回路部に出力
   される値を固定したままで乱数値を外部入力に加えて状
   態遷移レベルの故障シミュレーションを行うことにより
   他の遷移故障を検出する拡張パターン系列を生成するこ
   とを特徴とする請求項１記載の同期式順序回路のテスト
   パターン生成方法。
3. 【請求項３】 前記拡張パターン系列ステップ（２０）
   は、前記パターン系列によって遷移する各状態に対応し
   たパターン毎に、記憶素子部から組み合せ回路部に出力
   される値を固定したままで状態遷移記述を解析して正常
   な遷移先状態とそれ以外の状態を区別する拡張パターン
   系列を生成することを特徴とする請求項１記載の同期式
   順序回路のテストパターン生成方法。