JPH06505836A - 共通の逐次比較制御を行う2系列多重変換器を有用化する2段a/d変換器 - Google Patents
共通の逐次比較制御を行う2系列多重変換器を有用化する2段a/d変換器Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
共通の逐次比較制御を行う2系列多重変換器を有用化する2段A/D変換器技術
分野
この発明は一般的にアナログからデジタル信号への変換器に関し、より詳しくは
、逐次比較および2段または2工程の変換方法を用いるような変換器に関する。
背景技術
アナログからデジタルへの変換の逐次比較法は、正確かつ比較的高速のデジタル
変換を生成するための技術の中で良(知られている。一般に、この方法を用いる
従来の変換器は、一連のデジットを生成する比較工程で、未知のアナログ入力信
号を1つまたはそれ以上の正確に知られた基準信号と比較する。各工程では、ア
ナログ入力信号と基準信号との相対的な大きさが比較されて、次の続(工程の間
に別の基準信号と比較される誤りまたは差信号が生成される。そのような各比較
工程は、所望のレベルの量子化が達成されるまでデジタルの桁を下げながら、最
終的な出力信号のデジットを与える。
典型的な従来の逐次比較型アナログ−デジタル(A/D)変換器が図1に示され
ている。アナログ入力信号VINが入力線11を通して比較器10に印加される
。
クロックおよび制御ロジック20は、変換開始信号に応答して、入力アナログ信
号VINの変換を取得し、かつ、初期化する。比較器10はクロックおよび制御
ロジック手段20へ信号を出力する。この手段20は、比較器10からの出力信
号の関数としてのデンタル出力を生むための内蔵逐次比較レジスタ(SAR)3
0を制御する。逐次比較レジスタ30からのデジタル出力は、内蔵デジタル−ア
ナログ変換器(DAC)40内のビットを活性化する。このDAC40は、そこ
に印加された既知の内部基準電圧VREFを持っている。DAC40からの出力
は再び比較器10に印加される。上記比較器10からクロックおよび制御ロジッ
ク手段20への信号は、アナログ入力信号と内蔵DAC40からのアナログ出力
信号との差を表している。
逐次比較型変換器の速さは、各比較工程を実行するのに要求される時間の総計に
よって決定される。正確な比較がなされるように回路の過渡エラーが必要最小限
のレベルに治まるのを許容するためには、概して、次の比較の前に十分な時間が
確保されねばならない。変換器がNビットのデジタル数にデジタル化するために
は、N個の整定期間が要求される。これらの変換器内の3つの基本的要素、逐次
比較レジスタ、DACおよび比較器のうち、DACと比較器との組み合わせで典
型的に要求されるレベルである半ビットの精度以上にする整定時間が、通常、各
期間の時間を決定する。例えば、DACと比較器とが、12ビツト変換器の期間
ごとに半ビットの精度に1μSeCで治まる場合は、全量l」\変換時間は約1
2μsecになる。
一般的に、変換時間を減少させ、変換器の動作速度を増すことが望まれているの
で、各ビットレベルに許される整定時間を減少させるために、先行技術において
幾つかの試みがなされてきた。しかしながら、単に各ビットレベルの整定時間を
減じることは、変換精度を危険にさらすことになる。変換速度を増すために2段
または粗/微細の変換技術を用いることが知られているが、回路の複雑さがコス
トを大きく増大させるにすぎない。そのような2段プロセスでは、デジタルビッ
トは、分離したアナログ−デジタル変換器によって2つのグループに分けられる
。
精度があまり要求されないことから各ビットの整定時間は減少し、それ故、変換
速度は増す。
逐次比較の各ビットレベルに対して異なった多重整定用クロックを採用すること
によって、変換速度を増す技術も知られている。しがしながら、これも実質的に
、総てのビットレベルに対して単一整定時間クロックを用いる回路に比して、回
路の複雑さとコストを増大させる。
変換のための時間を減じる別の方法が、米国特許出願、出願番号340705出
願日1989年4月20日、バフラニア(Bacrania)らによるもので述
べられている。それは、変換開始指令信号の受理の前に取得が初期化されるバッ
クサンプリング技術である。すなわち、変換信号を受理すると、取得またはサン
プル位相が終了され、比較位相が始まる。
ところで、アナログ−デジタル変換器の従来技術は、アナログ信号が連続的に受
け取られて変換されねばならない単一変換サイクルに集中されてきた。それ故、
バフラニアの比較でも、変換されるべき信号同士の相互関係は変換時間を節約す
るための源を与える。
そこで、この発明の目的は、複数の信号の変換速度を増すことができるアナログ
−デジタル変換器を提供することにある。
この発明の別の目的は、変換速度を増すだけでなく、従来のデバイスに比して無
効な死領域および電力を低減するアナログ−デンタル変換器を提供することにあ
る。
これらおよび他の目的は、アナログ−デジタル変換器または逐次比較回路からの
デンタル信号を変換するための偶および奇のデジタル−アナログ変換器を備え、
かつ、上記偶および奇の変換器によって交替する変換へ、上記偶および奇の変換
器と、アナログ−デジタル変換器装置とを制御することによって達成される。制
御回路が、上記偶および奇の変換器を、一方が取得位相にある間、他方が変換位
相にあるような反対の位相にあるように制御する。この位相の重なりは、実質的
に、一連のつながったアナログ信号を変換するための時間量を低減する。比較器
が上記偶および奇の変換器の各々に備えられる。上記制御回路は、取得中の偶ま
たは奇の変換器の比較器のりセツティングを、他方の偶または奇の変換器の変換
位相の開始と同時に始める。また、上記制御回路は、取得中の偶または奇の変換
位相の比較器のりセツティングを、他方の偶または奇の変換器の変換位相の終了
以前に終了する。
逐次比較法を用いる一実施例では、偶および奇の変換器の各々が、分離した粗デ
ジタルーアナログ変換器と、共通の微細デジタル−アナログ変換器とを含んでい
る。制御回路は、上記粗デンタルーアナログ変換器の各々の変換位相の開始部分
の間、上記微細デジタル−アナログ変換器をリセットする。この微細変換器を分
配することは、奇および偶の変換器の重なりから、変換を行うのに要求される時
間を増加させないだけでなく、要求される死んだ寸法と電力消費を低減する。
2段または2工程のフラッシュ法を用いる別の実施例では、第1のフラッシュ段
は、最大有効ヒツトまたはアナログ入力信号の比較を供給する粗アナログーデン
タル変換器である。デンタル−アナログ変換器が、アナログ入力信号の第1段の
比較のアナログ信号を供給する。上記比較アナログ信号は、奇および偶の第2段
の微細アナログ−デジタル変換器によって交替で処理される。デジタル出力信号
は、第1段からのデジタル信号と、偶または奇のいずれかの変換器のデジタル信
号との組み合わせである。
この発明の他の目的、利点と新しい特長は、添付図面とともに考察されたとき、
次に述べる発明の詳細な説明で明らかになる。
図面の簡単な説明
図1は従来の逐次比較型アナログ−デジタル変換器のブロック図である。
図2はこの発明の原理を組み入れた逐次比較型アナログ−デジタル変換器のブロ
ック図である。
図3は偶または奇の粗DACの概略図である。
図4は微細DACの概略図である。
図5はこの発明の原理に従う図2のアナログ−デジタル変換器の動作のためのタ
イミング図である。
図6は従来の2段または2工穆のフラッシュ型アナログ−デジタル変換器のブロ
ック図である。
図7はこの発明の原理を組み入れた2段または2工程のフラッシュ型アナログ−
デジタル変換器のブロック図である。
発明の開示
1つのアナログ−デジタル変換器が、図2に、図1で用いられたのと同一の参照
数字を対応する構成要素に付して示されている。上記数字の後の文字は、それら
が従来回路の一部または変形であることを示している。入力におけるクロックお
よび制御ロジック20は図2には示されておらず、次の信号を供給する。つまり
、FINE ZERO,RESET SAR,DISABLE、SAMPLE、
ODD、CLOCKである。付加的入力はVREFとVINである。
図1の精密DAC40は、逐次比較レジスタ30、例えば最大有効ビットからの
デジタル信号の粗変換を行うための一対の粗DAC,すなわち、偶DAC40a
と奇DAC40bとして示されている。粗DACの各々は、逐次比較レジスタ3
0からの最小有効ビットを受け取る共通の微細DAC40Cを分けあっている。
入力信号VINは、偶DAC40aと奇DAC4Qbに入力として供給される。
クロックおよび制御ロジック20からのDISABLE、SAMPLEおよびO
DD信号は、偶DAC40aと奇DAC40bに供給される。ODD信号はイン
バータ■1によって反転された状態で偶DAC40aに供給される。ODD信号
とその反転信号は、偶DAC40aと奇DAC40bに対してそれぞれC0NV
ERT。
ENABLE信号となっている。FINE ZERO信号は、基準信号VREF
とともに、微細DAC40cに供給される。微細DAC40Cのアナログ出力は
、偶DAC40aと奇DAC40bに対して、適当な基準信号VREFXととも
にVDACY入力として供給される。
偶DAC40aによって取得されるアナログ人力VINは、偶DAC40aのア
ナログ出力と比較され、比較器10aに供給される。奇DAC40bによって取
得されるアナログ人力VINは、奇DAC40bのアナログ出力と比較され、比
較器10bに供給される。偶DAC40aと奇DAC40tlからの制御信号Z
EROは、対応する比較器10a、10bに供給される。
比較器10aと10bの出力は、○DD信号によって制御されるマルチプレクサ
MUXを通して出力口ノックに供給される。マルチプレクサMUXの出力は、排
他的論理和ゲートXOR内で、5AR30からの5IGN信号と結合される。排
他的論理和ゲー1−XORの出力は、逐次比較レジスタ30にデジタル帰還信号
DATA INを供給するとともに、出力フリップフロップFFに入力を供給す
る。
フリップフロップFFは、クロックの制御下で、一連のデジタル出力信号○UT
DATAを与える。
RESET SAR信号は、クロック信号と同様に、5AR30に供給される。
逐次比較レジスタ30に対する第3の入力は、X0R30から得られるデジタル
信号DATAINである。逐次比較レジスタ30は、イネーブル信号ENBと同
様に、最大有効ビット制御X1.X2およびx3を偶DAC4Qaと奇DAC4
0bとの両方に供給する。正弦ピッhsIGNと同様に、最小有効ピッ)Yl、
T2およびT3は、5AR30によって微細DAC40cに供給される。上記正
弦ビットはXORにも供給される。
FINE ZERO信号以外は、クロックおよび制御ロジック20によって特別
な信号は供給されないことが注目されるべきである。○DD信号は変換信号SC
の初期値を再分類したものである。
偶および奇り、AC40a、40bの概略が図3に示されている。DI 5AB
LEおよびC0NVERT信号は、内蔵制御ロジック42の論理積ゲートに供給
される。制御ロジック42は、スイッチアレイ42を通してキャパシタアレイ4
8まで、取得またはサンプル位相と変換または保持位相とを制御するために、接
地またはVIN信号を選択する入力スイッチ45にスイッチ制御を供給する。D
ISABLEとC0NVERT信号との両方が低であるとき、上記入力スイッチ
は、取得位相のために接地からVINへ動かされる。また、C0NVERT信号
は、デコーダ44に供給される。デコーダ44は、スイッチ46を制御するため
に逐次比較レジスタからXI、X2およびx3とENBとを通して入力を受け取
る。
また、制御ロジック42は、C0NVERTとSAMPLE信号を受け取る論理
積ケートを含んでおり、C0NVERT、SAMPLE信号がそれぞれ低、高で
あるとき、制御信号ZEROをその出力比較器10aまたは10bに供給する。
比較器10は、C0NVERT信号によって制御される取得位相の間、SAMP
LE信号に応じたZEROffi号によってリセットまたはゼロにされる。また
、ZERO信号はVCACノードを接地するスイッチ47を閉じる。微細DAC
40cの出力は、入力VDACYおよび基準信号VREFXとして供給される。
図示の粗DACはセグメント型であり、Xl、X2およびX3は8セグメントの
うちのどれが入力VINを内に入るかを決定する。これが起こった後、ENBは
、微細DACによる微細(セグメント内の工程)分析のために、VDACYを適
当なセグメントキャパシタに接続する。この能力が必要とされない場合、粗DA
Cのものは3つのキャパシタステーンしか要しない。
微細DAC40cの細部は図4に示されている。5AR30からの入力信号Y1
、T2およびT3は、対応するキャパシタ48へのスイッチ46を制御するため
に使用される。5AR30からの5IGN信号は、スイッチ46を通してキャパ
シタ48に供給されるべきスイッチ43aへの基準信号として、+VREFか−
VREFかのどちらかを選択する。スイッチ43bは、また5IGN信号によっ
て制御され、偶および奇DAC40a、40bに出力信号VREFXを供給する
。
キャパシタアレイ48の出力に接続されているのは増幅器49であり、その帰還
キャパシタCYFは、信号FINE ZEROが高であるときスイッチ47によ
って短絡される。増幅器49の出力は、偶および奇の粗DAC40a、40bの
両方に供給されるアナログ信号VDACYである。
このアナログ−デジタル変換器の動作は、7デジツト変換について、図5のグラ
フを参照しながら説明される。クロック信号が最初の行に示されており、各サイ
クルは7個のクロックパルスを含んでいる。SAMPLE信号とFINEZER
O信号は各サイクルが高で始まり、サイクル中に低になり、低でサイクルを終え
る。ODD信号は、7クロツクパルスの1サイクルのための高と、1サイクルの
ための低との間で変化する。SARのビットは、Signビットで始まり、粗D
ACのための3つの最大有効ビットXI、X2およびX3と、微細DACのため
の3つの最小有効ビットYl、Y2およびT3とに続かれる。DATA Ol、
’T傷信号、偶および奇DACからの出力の7デジツトの間で変化し、SARビ
ットからの1クロツクパルスによって遅延されている。
サイクルは、RESET SAR信号が高、SAMPLE信号が高、FINEZ
ERO信号が高、○DD信号が低の状態でT1に始まる。SARビットは5IG
Nビツトであり、DATA OUTは奇DACの最後または最小の有効ビットで
ある。ODD信号が低であるから、偶DAC40aは変換位相ヘスイッチされて
おり、出力MUXは、逐次比較レジスタ30に帰還を与え、フリップフロップF
Fに出力を与えるために、偶DACの比較器10aの出力をXORの出力に接続
するように選択されている。奇DAC40bは取得またはサンプル位相にあり、
奇DACの比較器10bはリセットまたはゼロにされている。また、微細DAC
40cはリセットまたはゼロにされている。第4のクロック信号T4で、FIN
E ZERO信号は低になり、これにより、微細DAC40cにT5で始まる変
換位相の用意をさせる。第7のクロック信号で、SAMPLE信号は低になり、
これにより、奇DACの比較器10bのリセット状態と、奇DAC40bのキャ
パシタアレイ上のアナログ人力VINの保持状態を終了させる。第8のクロック
信号で、逐次比較レジスタはリセットされ、ODD信号は高になって、偶DAC
40aの変換位相を終了させ、奇DAC40bの変換位相を開始させる。微細D
AC40cはリセットされ、S AMP L Eは、偶DACの比較器10aを
リセットするとともに、このサイクルの間に偶DAC4Qaのキャパシタアレイ
上に新たな入力VINの取得を開始する。
要約すれば、各サイクルまたは変換は、逐次比較レジスタのりセツティング、微
細DAC40Cをリセッティング、および、2つの粗DACのうちの一方の変換
位相、他方の粗DACの取得位相の開始で始まる。また、取得中のDACの比較
器はリセットまたはゼロにされる。変換サイクルの終了前に、微細DACは、取
得位相を開始し、取得中のDACの比較器をリセッティングする。また、入力V
I Nのサンプリングは終了される。共通の微細DAC40Cを2つの粗DA
C40aおよび40bと組み合わせて用いることによって、2つの微細DACを
用いる場合に比して、電力消費とデッドスペース量が実質的に低減される。微細
DACのりセツティングは変換プロセスに重畳され、それ故、特別な分離したり
セツティングおよび取得の時間は要求されることがない。粗DAC40aおよび
40bは変換動作を交替するので、これらは入力信号をサンプルまたは取得する
のに十分な時間以上のものを持つ。故に、一連の信号を変換するのに要する時間
が実質的に減少される。
従来の2段または2工程のフラッシュ型アナログ−デジタル変換器が、第1の粗
フラッシュ段50と、デジタル−アナログ変換器段70と、第2の微細フラッノ
ユ段60とを含んだ状態で、図6に示されている。アナログ入力信号VINが第
1の変換器段50に供給され、基準信号VREFが第1および第2の変換器段5
0.60に供給される。第1段50は、抵抗の列またはアレイ52.複数の比較
器54および2進エンコーダ56を含んでいる。2進エンコーダ56は、比較器
54の状態の関数として、最大有効ビットのデジタル出力またはアナログ入力の
比較を供給する。デジタル−アナログ変換器段70は、上記抵抗列上の一対の点
を決定するアナログマルチプレクサを含んでいる。そこでは、比較器54は、1
からゼロへ状態を変え、これらを入力VREFとして第2段のフラッシュ変換器
60に供給する。2つのフラッシュ変換器段の間で、他のタイプのデジタル−ア
ナログ変換器が使用され得る。第2段のフラッシュ変換器60は、複数の並列キ
ャパシタアレイ62と、2進エンコーダ66に接続された比較器64を含んでい
る。
2進エンコーダ66のデジタル出力信号はアナログ人力VINの最小有効ビット
である。出力回路が上記2つのフラッシュ変換器段の出力を結合する。
図6の2段フラッノユアナログーデジタル変換器への本発明の適用が図7に示さ
れている。主な修正は、一対のフラッシュ変換器60a、60bが単一のフラッ
シュ変換器60の代わりに設けられていることである。偶および奇のフラッシュ
変換器60a、60bは、図2の変換器40a、40bで述べられたように、そ
れぞれ交替で作動される。一方が変換位相にあるとき、他方は取得位相にある。
また、単一のデジタル−アナログ変換器70を持つ単一の第1フラツンユ段50
は、切替わるフラッシュ段60a、60bとともに使用される。適当な制御信号
が切り替えを生むために供給される。また、フラッシュ変換器60a、60bの
出力にマルチプレクサが設けられ得る。
この発明は詳細に記述および図示されてきたけれども、同一のものは図示および
例示のものに限られ、それが制限のように解釈されるべきでないのは明瞭に理解
されるべきである。DAC40a、b、cは容量性のアレイのように示されたが
、抵抗性のアレイのような他のアレイが、いずれのまたは総てのDACに使用さ
れ得る。サンプル信号の低から高への遷移は、サイクルの開始から遅延され得る
。
この発明の精神と分野は添付の請求の範囲の文言によってのみ限定されるべきで
ある。
Claims (21)
- 1.アナログ入力信号を受け取るための入力手段と、入力アナログ信号に近似す る逐次デジタル信号を供給するための逐次比較手段と、 上記逐次デジタル信号を偶アナログ信号に変換するための偶変換器手段と、上記 逐次デジタル信号を奇アナログ信号に変換するための奇変換器手段と、上記偶お よび奇アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較して、上記逐次比較手段に結 果を供給するための比較器手段と、デジタル出力信号を供給するための出力手段 と、上記偶および奇変換器手段による変換を切り替えるように、上記逐次比較手 段と上記偶および奇変換器手段とを制御するための制御手段を応えたことを特徴 とするアナログーデジタル変換器。
- 2.請求項1に記載のアナログーデジタル変換器において、上記偶および奇変換 器手段は各々取得位相と変換位相とを有し、かつ、上記制御手段は上記偶および 奇変換器手段が反対の位相にあるように制御することを特徴とするアナログーデ ジタル変換器。
- 3.請求項2に記載のアナログーデジタル変換器において、上記偶および奇変換 器手段は各々キャパシタアレイを含むことを特徴とするアナログーデジタル変換 器。
- 4.請求項2に記載のアナログーデジタル変換器において、上記偶および奇変換 器手段は各々、スイッチで切り替えされるキャバシタ,再分布アレイを有するこ とを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 5.請求項2に記載のアナログーデジタル変換器において、上記比較器手段は、 上記偶アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較するための偶比較器手段と、 上記奇アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較するための奇比較器手段とを 有することを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 6.請求項5に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は、取 得中の変換器手段の比較器のリセッティングを他方の比較器手段の変換位相の開 始と同時に開始し、かつ、取得中の変換器手段の比較器のリセッティングを他方 の変換器手段の変換位相の終了前に終了することを特徴とするアナログーデジタ ル変換器。
- 7.請求項2に記載のアナログーデジタル変換器において、上記偶および奇変換 器手段は各々、分離した粗デジタル−アナログ変換器と、共通の微細デジタルー アナログ変換器とを有することを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 8.請求項7に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は、上 記粗デジタル−アナログ変換器の各々の変換位相の開始部分の間、上記微細デジ タル−アナログ変換器をリセットすることを特徴とするアナログーデジタル変換 器。
- 9.請求項1に記載のアナログーデジタル変換器において、上記比較器手段は、 上記偶アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較するための偶比較器手段と、 上記奇アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較するための奇比較器手段とを 有することを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 10.請求項9に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は、 取得中の変換器手段の比較器のリセッティングを他方の変換器手段の変換位相の 開始と同時に開始し、かつ、取得中の変換器手段の比較器のリセッティングを他 方の変換器手段の変換位相の終了前に終了することを特徴とするアナログーデジ タル変換器。
- 11.請求項1に記載のアナログーデジタル変換器において、上記偶および奇変 換器手段は各々、分離した粗デジタル−アナログ変換器と、共通の微細デジタル −アナログ変換器とを有することを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 12.請求項11に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は 、上記粗デジタル−アナログ変換器の各々の変換位相の開始部分の間、上記微細 デジタル−アナログ変換器をリセットすることを特徴とするアナログーデジタル 変換器。
- 13.請求項12に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は 、上記変換器手段の一方の取得位相を他方の変換器手段の変換位相の開始と同時 に開始し、かつ、一方の変換器手段の取得位相を他方の変換器手段の変換位相の 終了前に終了することを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 14.アナログ入力信号を受け取るための入力手段と、入力アナログ信号に近似 するデジタル信号を供給するためのアナログーデジタル手段と、 上記デジタル信号を偶アナログ信号に変換するための粗デジタル−アナログ変換 器および共通微細デジタル−アナログ変換器を有する偶変換器手段と、上記デジ タル信号を奇アナログ信号に変換するための粗デジタル−アナログ変換器および 上記共通微細デジタル−アナログ変換器を有する奇変換器手段と、上記偶および 奇アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較して、上記アナログーデジタル手 段に結果を供給するための比較器手段と、デジタル出力信号を供給するための出 力手段と、上記偶および奇変換器手段による変換を切り替えるように、上記アナ ログーデジタル手段と上記偶および奇変換器手段とを制御するための制御手段を 備えたことを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 15.請求項14に記載のアナログーデジタル変換器において、上記比較器手段 は、上記偶アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較するための偶比較器手段 と、上記奇アナログ信号を上記アナログ入力信号と比較するための奇比較器手段 とを有することを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 16.請求項15に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は 、取得中の変換器手段の比較器のリセッティングを他方の変換器手段の変換位相 の開始と同時に開始し、かつ、取得中の変換器手段の比較器のリセッティングを 他方の変換器手段の変換位相の終了前に終了することを特徴とするアナログーデ ジタル変換器。
- 17.請求項15に記載のアナログーデジタル変換器において、上記制御手段は 、上記粗デジタル−アナログ変換器の各々の変換位相の開始部分の間、上記微細 デジタル−アナログ変換器をリセットすることを特徴とするアナログーデジタル 変換器。
- 18.アナログ入力信号を受け取るための入力手段と、入力アナログ信号に近似 するデジタル信号を供給するためのアナログーデジタル手段と、 上記近似するデジタル信号を、近似するアナログ信号に変換するデジタル−アナ ログ手段と、 上記近似するアナログ信号を偶デジタル信号に変換するための偶変換器手段と、 上記近似するアナログ信号を奇デジタル信号に変換するための奇変換器手段と、 上記近似するデジタル信号と上記偶または奇デジタル信号のいずれかとの組み合 わせとして、デジタル出力信号を供給するための出力手段と、上記偶および奇変 換器手段による変換を切り替えるように、上記アナログーデジタル手段と、上記 デジタル−アナログ手段と、上記偶および奇変換器手段とを制御するための制御 手段を備えたことを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 19.請求項18に記載のアナログーデジタル変換器において、上記アナログー デジタル手段と、上記偶および奇変換器手段とが、フラッシュ型アナログーデジ タル変換器であることを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 20.請求項19に記載のアナログーデジタル変換器において、上記アナログー デジタル手段は抵抗アレイを含み、かつ、上記偶および奇変換器手段はキャパシ タアレイを含むことを特徴とするアナログーデジタル変換器。
- 21.請求項18に記載のアナログーデジタル変換器において、上記アナログー デジタル手段は抵抗アレイを含み、かつ、上記デジタル−アナログ手段は、上記 抵抗アレイに接続され、上記抵抗アレイから上記近似するデジタル信号の関数と してアナログ値を選択するためのアナログマルチプレクサを有することを特徴と するアナログーデジタル変換器。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US57536790A | 1990-08-30 | 1990-08-30 | |
US575,367 | 1990-08-30 | ||
PCT/US1991/006034 WO1992004777A1 (en) | 1990-08-30 | 1991-08-28 | Two stage a/d converter utilizing dual multiplexed converters with a common successive approximation control |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06505836A true JPH06505836A (ja) | 1994-06-30 |
Family
ID=24300034
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3516652A Pending JPH06505836A (ja) | 1990-08-30 | 1991-08-28 | 共通の逐次比較制御を行う2系列多重変換器を有用化する2段a/d変換器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5138319A (ja) |
EP (1) | EP0559657B1 (ja) |
JP (1) | JPH06505836A (ja) |
DE (1) | DE69104493T2 (ja) |
WO (1) | WO1992004777A1 (ja) |
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