JPH0650399B2 - 自動露光装置 - Google Patents
自動露光装置Info
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- JPH0650399B2 JPH0650399B2 JP60268018A JP26801885A JPH0650399B2 JP H0650399 B2 JPH0650399 B2 JP H0650399B2 JP 60268018 A JP60268018 A JP 60268018A JP 26801885 A JP26801885 A JP 26801885A JP H0650399 B2 JPH0650399 B2 JP H0650399B2
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- Japan
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- original
- substrate
- plate
- original plate
- positioning
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、たとえばプリント回路基板の製作におい
て、所望の導電パターンを形成する際に光露光技術が用
いられるが、このような光露光工程で用いられる自動露
光装置に関するものである。
て、所望の導電パターンを形成する際に光露光技術が用
いられるが、このような光露光工程で用いられる自動露
光装置に関するものである。
[従来の技術] たとえばプリント回路基板を製作するに際し、光露光技
術を適用する場合、プリント回路基板となるべき基板
と、ホトマスクとしての原版を正確に位置合わせしなけ
ればならない。従来、一般的には、これら基板と原版と
の位置合わせは、各々に設けた複数個の位置決め穴にピ
ンを通すことによって行なわれていた。
術を適用する場合、プリント回路基板となるべき基板
と、ホトマスクとしての原版を正確に位置合わせしなけ
ればならない。従来、一般的には、これら基板と原版と
の位置合わせは、各々に設けた複数個の位置決め穴にピ
ンを通すことによって行なわれていた。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、上述のような位置決め方法には、次のような問
題点があった。
題点があった。
(1)基板の位置決め穴の加工時に、ピッチ公差が生
じ、また、原版の位置決め穴の加工時にも同様のピッチ
公差が生じる。また、位置決め穴の内径にも公差があ
り、精度の高い位置決め穴とピンとの嵌め合いでは、ピ
ンが基板と原版との各位置決め穴に貫通できないことが
ある。
じ、また、原版の位置決め穴の加工時にも同様のピッチ
公差が生じる。また、位置決め穴の内径にも公差があ
り、精度の高い位置決め穴とピンとの嵌め合いでは、ピ
ンが基板と原版との各位置決め穴に貫通できないことが
ある。
このため、位置決め穴の径に対し、ある程度の遊びのあ
る外径のピンを使用しているのが現状であるが、それが
原因で、原版と基板との位置合わせの精度を上げること
ができない。
る外径のピンを使用しているのが現状であるが、それが
原因で、原版と基板との位置合わせの精度を上げること
ができない。
(2)原版としては、一般に、厚み0.1mm程度のフィ
ルムを使用しているが、このため、温度変化による伸縮
が生じ、さらに精度を低下させている。
ルムを使用しているが、このため、温度変化による伸縮
が生じ、さらに精度を低下させている。
(3)原版が薄いフィルムのため、位置決め穴へのピン
の出し入れを繰返すことにより、摩耗が生じ、精度の保
持が難しい。
の出し入れを繰返すことにより、摩耗が生じ、精度の保
持が難しい。
このように、上記(1)〜(3)のように、基板と原版
との位置合わせが或る精度以上に上げられない欠点があ
るとき、プリント回路基板のパターンがより高密度化さ
れ、パターンの線幅もより狭くなりつつあるという近年
の傾向に十分対応できなくなる。
との位置合わせが或る精度以上に上げられない欠点があ
るとき、プリント回路基板のパターンがより高密度化さ
れ、パターンの線幅もより狭くなりつつあるという近年
の傾向に十分対応できなくなる。
さらに、次のような問題点もある。
(4)ピンが貫通したとき、特にプリント回路基板側よ
り摩耗のための破片ないしは屑が発生する。
り摩耗のための破片ないしは屑が発生する。
(5)多品種のプリント回路基板を得ようとするとき、
ロットの変更の都度、ピンの位置を精度良く移動する必
要があるが、そのような作業は比較的困難であり、ま
た、時間もかかる。
ロットの変更の都度、ピンの位置を精度良く移動する必
要があるが、そのような作業は比較的困難であり、ま
た、時間もかかる。
そこで、この発明は、上述したような問題点を解消し、
精度高く原版と基板との位置合わせを行なうことができ
る、自動露光装置を提供しようとするものである。
精度高く原版と基板との位置合わせを行なうことができ
る、自動露光装置を提供しようとするものである。
[問題点を解決するための手段および作用] この発明は、複数個の位置決めマークを有する基板の露
光すべき面側に、対応する複数個の位置決めマークを有
する原版を、両者の位置決めマークが位置合わせされた
状態で配置し、原版を通して光を照射して基板を自動的
に露光するための自動露光装置であって、上述の技術的
課題は、次のように解決される。
光すべき面側に、対応する複数個の位置決めマークを有
する原版を、両者の位置決めマークが位置合わせされた
状態で配置し、原版を通して光を照射して基板を自動的
に露光するための自動露光装置であって、上述の技術的
課題は、次のように解決される。
すなわち、この自動露光装置は、光が透過する構造とさ
れるとともに基板を真空吸着して保持するための吸着板
を備え、この吸着板の一方面側に位置検出用光源が配置
される。また、吸着板の他方面側には、原版を保持する
原版枠が置かれ、この原版枠は、原版を吸着面の他方面
側に位置させるためのものである。また、位置検出用光
源からの光を受けて基板および原版の各位置決めマーク
を検出するための光センサを備えるとともに、この光セ
ンサによって検出された基板の位置決めマークの位置を
記憶する第1の記憶手段、原版の位置決めマークの位置
を記憶する第2の記憶手段、ならびに第1の記憶手段に
記憶された基板の位置決めマークの位置と第2の記憶手
段に記憶された原版の位置決めマークの位置とを比較す
る比較回路を備え、比較回路により求められた両位置決
めマーク間の位置ずれは、吸着板と原版枠とを相対的に
縦、横、回転方向に移動させるX,Y,θ方向駆動機構
により修正される。さらに、吸着板上に保持された基板
と原版枠に保持された原版とを互いに密着させるように
これらを相対的に移動させるZ方向移動機構を備え、こ
のような原版と基板との密着状態で原版側から露光用光
源により光を照射して露光を達成する。
れるとともに基板を真空吸着して保持するための吸着板
を備え、この吸着板の一方面側に位置検出用光源が配置
される。また、吸着板の他方面側には、原版を保持する
原版枠が置かれ、この原版枠は、原版を吸着面の他方面
側に位置させるためのものである。また、位置検出用光
源からの光を受けて基板および原版の各位置決めマーク
を検出するための光センサを備えるとともに、この光セ
ンサによって検出された基板の位置決めマークの位置を
記憶する第1の記憶手段、原版の位置決めマークの位置
を記憶する第2の記憶手段、ならびに第1の記憶手段に
記憶された基板の位置決めマークの位置と第2の記憶手
段に記憶された原版の位置決めマークの位置とを比較す
る比較回路を備え、比較回路により求められた両位置決
めマーク間の位置ずれは、吸着板と原版枠とを相対的に
縦、横、回転方向に移動させるX,Y,θ方向駆動機構
により修正される。さらに、吸着板上に保持された基板
と原版枠に保持された原版とを互いに密着させるように
これらを相対的に移動させるZ方向移動機構を備え、こ
のような原版と基板との密着状態で原版側から露光用光
源により光を照射して露光を達成する。
このような構成において、さらに、次のような手順を制
御するための制御手段を備える。すなわち、この制御手
段によって、まず原版枠に保持された原版に位置検出用
光源からの光が吸着板を介して与えられる。それによっ
て、光センサにより原版の位置決めマークが検出され、
その位置が第2の記憶手段に記憶される。次に、この原
版を退去させ、吸着を吸着板に吸着固定し、光センサに
より基板の位置決めマークが検出され、その位置が第1
の記憶手段に記憶される。ここで、先に検出した原版の
位置決めマークの位置と後で検出した基板の位置決めマ
ークの位置とのずれが、比較回路で求められる。このデ
ータに基づいてX,Y,θ方向駆動機構が吸着板と原版
枠とを相対的に縦、横、回転方向に動かして、両位置決
めマーク間の位置ずれを修正する。次に、原版を保持し
た原版枠を再び前の位置検出を行なった位置まで戻して
から、基板と原版とをZ方向移動機構により互いに密着
させ、その状態で、露光用光源により基板が露光され
る。
御するための制御手段を備える。すなわち、この制御手
段によって、まず原版枠に保持された原版に位置検出用
光源からの光が吸着板を介して与えられる。それによっ
て、光センサにより原版の位置決めマークが検出され、
その位置が第2の記憶手段に記憶される。次に、この原
版を退去させ、吸着を吸着板に吸着固定し、光センサに
より基板の位置決めマークが検出され、その位置が第1
の記憶手段に記憶される。ここで、先に検出した原版の
位置決めマークの位置と後で検出した基板の位置決めマ
ークの位置とのずれが、比較回路で求められる。このデ
ータに基づいてX,Y,θ方向駆動機構が吸着板と原版
枠とを相対的に縦、横、回転方向に動かして、両位置決
めマーク間の位置ずれを修正する。次に、原版を保持し
た原版枠を再び前の位置検出を行なった位置まで戻して
から、基板と原版とをZ方向移動機構により互いに密着
させ、その状態で、露光用光源により基板が露光され
る。
[実施例] 以下、この発明を、図面に示された実施例に基づいて説
明する。
明する。
第1図は、この発明の一実施例を上面から見た図であっ
て、併せて関連の制御系がブロック図で示されている。
ここに示した自動露光装置は、基板1と原版2とを位置
合わせした上で、露光用光源3により基板1の露光を行
なおうとするものである。
て、併せて関連の制御系がブロック図で示されている。
ここに示した自動露光装置は、基板1と原版2とを位置
合わせした上で、露光用光源3により基板1の露光を行
なおうとするものである。
基板1および原版2は、第2図に示すように、複数個、
たとえば4個の位置決めマークとしての位置決め穴4お
よび5をそれぞれ備える。原版2には、所望のパターン
6が形成されていて、この原版2を通して露光用光源3
からの光が基板1に照射されたとき、基板1には、パタ
ーン6に相関するパターン7が転写される。基板1の露
光を受ける面には、感光材が塗布されるか、感光性フィ
ルムが貼着されている。なお、基板1の両面に導電パタ
ーンが形成されるときには、これら両面に感光材等が形
成されている。
たとえば4個の位置決めマークとしての位置決め穴4お
よび5をそれぞれ備える。原版2には、所望のパターン
6が形成されていて、この原版2を通して露光用光源3
からの光が基板1に照射されたとき、基板1には、パタ
ーン6に相関するパターン7が転写される。基板1の露
光を受ける面には、感光材が塗布されるか、感光性フィ
ルムが貼着されている。なお、基板1の両面に導電パタ
ーンが形成されるときには、これら両面に感光材等が形
成されている。
基板1および原版2の各位置決め穴4および5の位置を
検出するために、第1図に示すように、位置検出用光源
8および光センサ9が設けられる。位置検出用光源8
は、たとえば黄色以上の波長の光を与える光源で構成さ
れる。また、光センサ9としては、好ましくは、位置決
め穴4,5の形状を撮像できるディジタルアドレス方式
のセンサが用いられる。光センサ9は、X−Yテーブル
10上に取付けられ、それによって、基板1または原版
2の面方向に移動可能とされる。
検出するために、第1図に示すように、位置検出用光源
8および光センサ9が設けられる。位置検出用光源8
は、たとえば黄色以上の波長の光を与える光源で構成さ
れる。また、光センサ9としては、好ましくは、位置決
め穴4,5の形状を撮像できるディジタルアドレス方式
のセンサが用いられる。光センサ9は、X−Yテーブル
10上に取付けられ、それによって、基板1または原版
2の面方向に移動可能とされる。
基板1は、これを真空吸着する吸着板11によって保持
される。吸着板11は、第3図に拡大された断面図で示
されている。吸着板11は、たとえば、透明または乳白
色のアクリル樹脂等からなる2枚の板が、スペーサ枠1
2を挾んで貼合わされた構造となっている。この吸着板
11の一方面が基板1のための吸着面13とされる。吸
着面13は、平面であり、そこには多数の吸引穴14が
設けられている。吸着板11は、位置検出用光源8から
の光を透過するものであり、ここを透過した光の濃淡を
できるだけ防ぐため、吸引穴14には、第3図に示すよ
うに、面取りを施した方が好ましい。吸着板11の内部
の空間は、真空ポンプ15に連結される。
される。吸着板11は、第3図に拡大された断面図で示
されている。吸着板11は、たとえば、透明または乳白
色のアクリル樹脂等からなる2枚の板が、スペーサ枠1
2を挾んで貼合わされた構造となっている。この吸着板
11の一方面が基板1のための吸着面13とされる。吸
着面13は、平面であり、そこには多数の吸引穴14が
設けられている。吸着板11は、位置検出用光源8から
の光を透過するものであり、ここを透過した光の濃淡を
できるだけ防ぐため、吸引穴14には、第3図に示すよ
うに、面取りを施した方が好ましい。吸着板11の内部
の空間は、真空ポンプ15に連結される。
原版2は、第4図に拡大された断面図で示すような原版
枠16によって保持される。原版枠16は、枠部分17
を備え、この枠部分17によって、平らなガラス板等か
らなる透明板18が保持されている。この透明板18の
一方面に直接接した状態で、原版2が、たとえば粘着テ
ープ(図示せず)により固定される。
枠16によって保持される。原版枠16は、枠部分17
を備え、この枠部分17によって、平らなガラス板等か
らなる透明板18が保持されている。この透明板18の
一方面に直接接した状態で、原版2が、たとえば粘着テ
ープ(図示せず)により固定される。
基板1は、コンベアタイプのローダ19により搬入さ
れ、また搬出される。ローダ19は、第5図に正面図で
示すように、基板1を挾んだ状態で保持する複数個の受
座20を等間隔にエンドレスベルト21上に取付けたも
のである。基板1は、第5図の右端に示すように、受座
20が水平姿勢にあるときここに挿入され、第5図の左
端に示すように、逆の水平姿勢にあるとき取出される。
また、基板1は、エンドレスベルト21の水平部分上に
位置している垂直姿勢の状態で、フィンガ22(第7図
に示す。)により加工前のものが受座20から取出さ
れ、加工後のものが受座20内に戻される。
れ、また搬出される。ローダ19は、第5図に正面図で
示すように、基板1を挾んだ状態で保持する複数個の受
座20を等間隔にエンドレスベルト21上に取付けたも
のである。基板1は、第5図の右端に示すように、受座
20が水平姿勢にあるときここに挿入され、第5図の左
端に示すように、逆の水平姿勢にあるとき取出される。
また、基板1は、エンドレスベルト21の水平部分上に
位置している垂直姿勢の状態で、フィンガ22(第7図
に示す。)により加工前のものが受座20から取出さ
れ、加工後のものが受座20内に戻される。
次に、第6図ないし第9図を主として順次参照しなが
ら、この自動露光装置において達成される動作を説明す
る。なお、第6図ないし第9図は、第1図に示した自動
露光装置の要部を正面から示した図である。
ら、この自動露光装置において達成される動作を説明す
る。なお、第6図ないし第9図は、第1図に示した自動
露光装置の要部を正面から示した図である。
まず、第6図に示すように、原版2を貼付けた原版枠1
6がたとえば下方より上昇する。このとき、位置検出用
光源8からの光は、透明な吸着板11を通過して、原版
2に至る。そして、この光は、さらに、原版2の位置決
め穴5を通過する。この通過した光は、光センサ9によ
って検出される。この実施例では、1個の光センサ9が
用いられ、X−Yテーブル10が駆動されることによっ
て、光センサ9は、原版2の4個の位置決め穴5の位置
を順次測定する。このときの位置決め穴5の位置に関す
る測定データは、第1図に示したレジスタ23にストア
される。
6がたとえば下方より上昇する。このとき、位置検出用
光源8からの光は、透明な吸着板11を通過して、原版
2に至る。そして、この光は、さらに、原版2の位置決
め穴5を通過する。この通過した光は、光センサ9によ
って検出される。この実施例では、1個の光センサ9が
用いられ、X−Yテーブル10が駆動されることによっ
て、光センサ9は、原版2の4個の位置決め穴5の位置
を順次測定する。このときの位置決め穴5の位置に関す
る測定データは、第1図に示したレジスタ23にストア
される。
次に、第7図に示すように、原版2を保持した原版枠1
6は、下降される。そして、露光すべき1枚の基板1
が、ローダ19からフィンガ22によって挾んで吸着板
11の正面にまで搬送される。この場合、吸着板11と
基板1との間隔はできるだけ小さくしておく方が好まし
い。次に、真空ポンプ15を作動させ、吸着板11内に
負圧を与え、基板1を吸着面13上に吸着させるととも
に、フィンガ22を開く。その後、フィンガ22は、ロ
ーダ19の上まで戻る。この状態が第8図に示されてい
る。
6は、下降される。そして、露光すべき1枚の基板1
が、ローダ19からフィンガ22によって挾んで吸着板
11の正面にまで搬送される。この場合、吸着板11と
基板1との間隔はできるだけ小さくしておく方が好まし
い。次に、真空ポンプ15を作動させ、吸着板11内に
負圧を与え、基板1を吸着面13上に吸着させるととも
に、フィンガ22を開く。その後、フィンガ22は、ロ
ーダ19の上まで戻る。この状態が第8図に示されてい
る。
第8図に示すように、吸着板11に保持された基板1
は、同じ光センサ9により、原版2と同様に、その位置
が測定される。この測定データは、第1図に示したレジ
スタ23にストアされるとともに、今までレジスタ23
にストアされていた原版22の位置に関するデータは、
レジスタ24にシフトされる。
は、同じ光センサ9により、原版2と同様に、その位置
が測定される。この測定データは、第1図に示したレジ
スタ23にストアされるとともに、今までレジスタ23
にストアされていた原版22の位置に関するデータは、
レジスタ24にシフトされる。
さらに第1図を参照して、両レジスタ23,24の各出
力は、比較回路25に入力され、ここで、基板1と原版
2との位置ずれが演算される。ここでの演算は、基板1
の4個の位置決め穴4と原版2の4個の位置決め穴5と
のそれぞれの位置が、平均して最も合うところを見出す
ようにされる。たとえば第2図において原版2上に点線
で示すように、基板1の位置決め穴4と原版2の位置決
め穴5とが合わない場合、1個の位置決め穴だけが合っ
て他のものが合わないような位置決めを行なおうとする
のではなく、4組の位置決め穴4,5相互のずれが平均
する位置になるように、位置修正のための演算を行な
う。
力は、比較回路25に入力され、ここで、基板1と原版
2との位置ずれが演算される。ここでの演算は、基板1
の4個の位置決め穴4と原版2の4個の位置決め穴5と
のそれぞれの位置が、平均して最も合うところを見出す
ようにされる。たとえば第2図において原版2上に点線
で示すように、基板1の位置決め穴4と原版2の位置決
め穴5とが合わない場合、1個の位置決め穴だけが合っ
て他のものが合わないような位置決めを行なおうとする
のではなく、4組の位置決め穴4,5相互のずれが平均
する位置になるように、位置修正のための演算を行な
う。
比較回路25から出力される位置ずれに関するデータ
は、出力回路26に与えられ、この出力回路26によっ
て、X,Y,θ方向駆動機構27が駆動される。X,
Y,θ方向駆動機構27は、位置決め穴4,5間の位置
ずれを修正するように、たとえば吸着板11を原版枠1
6に対して縦、横、回転方向に移動させるものである。
は、出力回路26に与えられ、この出力回路26によっ
て、X,Y,θ方向駆動機構27が駆動される。X,
Y,θ方向駆動機構27は、位置決め穴4,5間の位置
ずれを修正するように、たとえば吸着板11を原版枠1
6に対して縦、横、回転方向に移動させるものである。
次に、第9図に示すように、原版枠16が上昇され、前
の位置検出を行なった位置まで戻される。このとき、原
版2は、基板1に対して正しく位置合わせされた状態と
なっている。この状態で、吸着板11と原版枠16とが
互いに近づくように相対的に移動され、基板1と原版2
とが密着する状態とされる。吸着板11と原版枠16と
を相対的に移動させるZ方向移動機構の図示は省略され
ているが、これは、吸着板11のみをZ方向に移動させ
るものであっても、原版枠16のみをZ方向に移動させ
るものであっても、これら両者をZ方向に移動させるも
のであってもよい。
の位置検出を行なった位置まで戻される。このとき、原
版2は、基板1に対して正しく位置合わせされた状態と
なっている。この状態で、吸着板11と原版枠16とが
互いに近づくように相対的に移動され、基板1と原版2
とが密着する状態とされる。吸着板11と原版枠16と
を相対的に移動させるZ方向移動機構の図示は省略され
ているが、これは、吸着板11のみをZ方向に移動させ
るものであっても、原版枠16のみをZ方向に移動させ
るものであっても、これら両者をZ方向に移動させるも
のであってもよい。
第9図に示すように、基板1と原版2とが密着した状態
で、原版2側から露光用光源3の光が照射され、基板1
の一方面が露光される。このとき、光センサ9は露光用
光源3からの光を妨害しない位置にまで退去されてい
る。この露光用光源3は、たとえば紫外線を照射するも
ので、ここからの光は露光精度向上のため、平行光にす
るのが望ましい。
で、原版2側から露光用光源3の光が照射され、基板1
の一方面が露光される。このとき、光センサ9は露光用
光源3からの光を妨害しない位置にまで退去されてい
る。この露光用光源3は、たとえば紫外線を照射するも
ので、ここからの光は露光精度向上のため、平行光にす
るのが望ましい。
露光が終われば、吸着板1と原版枠16とが互いに離れ
るように移動し、フィンガ22(第7図)によって基板
1を挾み、ローダ19の元の位置にまで戻される。ここ
で、ローダ19のエンドレスベルト21は、1ピッチ送
られる。
るように移動し、フィンガ22(第7図)によって基板
1を挾み、ローダ19の元の位置にまで戻される。ここ
で、ローダ19のエンドレスベルト21は、1ピッチ送
られる。
以上のような動作を繰返すことにより、順次、自動的に
露光が行なわれる。
露光が行なわれる。
第10図および第11図は、原版枠16aの他の例を示
している。この原版枠16aは、原版2と基板1との密
着性をより高めるように考慮されている。
している。この原版枠16aは、原版2と基板1との密
着性をより高めるように考慮されている。
この原版枠16aは、透明板18を覆うように、透明フ
ィルム28が貼られ、透明フィルム28の周縁部は、ク
ランプ部材29により枠部分17に固定される。この透
明フィルム28は、剛性のある透明板18に比べてより
可撓性を有している。透明板18と透明フィルム28と
の間の隙間に連通するように、枠部分17には、小穴3
0が設けられる。この小穴30には、負圧または正圧が
選択的に与えられるように構成されている。原版2は、
透明フィルム28の外表面上に粘着テープ等(図示せ
ず)により貼付けられる。
ィルム28が貼られ、透明フィルム28の周縁部は、ク
ランプ部材29により枠部分17に固定される。この透
明フィルム28は、剛性のある透明板18に比べてより
可撓性を有している。透明板18と透明フィルム28と
の間の隙間に連通するように、枠部分17には、小穴3
0が設けられる。この小穴30には、負圧または正圧が
選択的に与えられるように構成されている。原版2は、
透明フィルム28の外表面上に粘着テープ等(図示せ
ず)により貼付けられる。
このような構成によれば、露光時において、原版2と基
板1との密着を高めるため、基板1を吸着した吸着板1
1と原版2を保持した原版枠16aとを密着させるよう
に押しつけた後、小穴30に正圧を与えれば、透明板1
8と透明フィルム28との間の隙間の空気圧が増大し、
透明フィルム28が、第11図に示すようにふくらむ。
したがって、基板1に原版2をさらに押しつけて、両者
の密着性はさらに高くなる。
板1との密着を高めるため、基板1を吸着した吸着板1
1と原版2を保持した原版枠16aとを密着させるよう
に押しつけた後、小穴30に正圧を与えれば、透明板1
8と透明フィルム28との間の隙間の空気圧が増大し、
透明フィルム28が、第11図に示すようにふくらむ。
したがって、基板1に原版2をさらに押しつけて、両者
の密着性はさらに高くなる。
また、原版2の位置測定時には、小穴30に負圧を与
え、透明板18と透明フィルム28との間を真空にすれ
ば、透明フィルム28は透明板18に密着し、原版2は
平面状態となる。
え、透明板18と透明フィルム28との間を真空にすれ
ば、透明フィルム28は透明板18に密着し、原版2は
平面状態となる。
なお、この透明フィルム28の加圧によるふくらみは、
原版枠16aと吸着板11との押しつけ状態で行なうた
め、0.2mm以内程度で、他の精度にほとんど影響を与
えるものではない。
原版枠16aと吸着板11との押しつけ状態で行なうた
め、0.2mm以内程度で、他の精度にほとんど影響を与
えるものではない。
第12図は、この発明のさらに他の実施例を上面から示
した概略図である。この実施例は、処理能力を高めるた
め、位置測定および位置決めを行なうステーションと露
光を行なうステーションとを別々にしたものである。な
お、第1図に示した実施例との対比を容易にするため、
相当の部分には同様の参照番号を付すことにする。
した概略図である。この実施例は、処理能力を高めるた
め、位置測定および位置決めを行なうステーションと露
光を行なうステーションとを別々にしたものである。な
お、第1図に示した実施例との対比を容易にするため、
相当の部分には同様の参照番号を付すことにする。
この自動露光装置においては、露光用光源3が、位置検
出用光源8および光センサ9とは、異なる軸線上に配置
される。また、吸着板11、原版枠16、およびフィン
ガ(図示せず。第7図のフィンガ22に相当。)は、2
組31,32設けられる。そして、これら第1組31と
第2組32とは、交互に位置測定および位置決めと、露
光とを行なう。すなわち、第12図では、第1組31が
光センサ9等によって位置測定および位置決めが行なわ
れており、第2組32が露光用光源3によって露光を行
なっている状態が示されている。次のステップにおいて
は、矢印33,34で示すように、第1組31と第2組
32とが入替わり、第1組31において露光が行なわ
れ、第2組32において位置測定および位置決めが行な
われる。したがって、これら位置測定および位置決め
と、露光との2種類の操作が同時に行なえるので、処理
能力は倍化される。
出用光源8および光センサ9とは、異なる軸線上に配置
される。また、吸着板11、原版枠16、およびフィン
ガ(図示せず。第7図のフィンガ22に相当。)は、2
組31,32設けられる。そして、これら第1組31と
第2組32とは、交互に位置測定および位置決めと、露
光とを行なう。すなわち、第12図では、第1組31が
光センサ9等によって位置測定および位置決めが行なわ
れており、第2組32が露光用光源3によって露光を行
なっている状態が示されている。次のステップにおいて
は、矢印33,34で示すように、第1組31と第2組
32とが入替わり、第1組31において露光が行なわ
れ、第2組32において位置測定および位置決めが行な
われる。したがって、これら位置測定および位置決め
と、露光との2種類の操作が同時に行なえるので、処理
能力は倍化される。
以上のように、この発明を、いくつかの実施例に関連し
て説明したが、これらの実施例では、基板1および原版
2等を垂直で扱う方式が採用された。このような垂直方
式は、装置をよりコンパクトにするとともに、露光時に
問題となる埃が付きにくいという利点があり、さらに、
基板のローディングおよびアンローディングも容易に行
なえるという利点もある。しかしながら、これらの利点
を望まないのであれば、いわゆる水平方式で基板および
原版等を取扱ってもよい。
て説明したが、これらの実施例では、基板1および原版
2等を垂直で扱う方式が採用された。このような垂直方
式は、装置をよりコンパクトにするとともに、露光時に
問題となる埃が付きにくいという利点があり、さらに、
基板のローディングおよびアンローディングも容易に行
なえるという利点もある。しかしながら、これらの利点
を望まないのであれば、いわゆる水平方式で基板および
原版等を取扱ってもよい。
また、上述した各実施例では、1個の光センサ9を用い
て複数個の位置決め穴4または5の位置を移動しながら
検出することを行なった。この構成によれば、複数個の
位置決め穴の位置検出に比較的時間がかかるという欠点
があるものの、それにも増して、処理すべき基板の種類
が多い場合、X−Yテーブル10の移動量を入力し直す
だけでロットの変更に対応することができ、多種少量生
産に適していると言える。しかしながら、個々の位置決
め穴に対応して光センサを1個ずつ設けて、位置検出の
時間を節約するように改良を図ってもよい。
て複数個の位置決め穴4または5の位置を移動しながら
検出することを行なった。この構成によれば、複数個の
位置決め穴の位置検出に比較的時間がかかるという欠点
があるものの、それにも増して、処理すべき基板の種類
が多い場合、X−Yテーブル10の移動量を入力し直す
だけでロットの変更に対応することができ、多種少量生
産に適していると言える。しかしながら、個々の位置決
め穴に対応して光センサを1個ずつ設けて、位置検出の
時間を節約するように改良を図ってもよい。
また、この発明は、基板の両面を露光する必要がある場
合にも適用することができる。この場合には、たとえば
第1図に示した露光用光源3から位置検出用光源8に至
る構成要素を左右対称的にもう1組設け、片面の露光が
済んだ基板1をローダ19で搬送する途中で、もう1度
フィンガにより取出し、もう一方の面を露光するように
すればよい。
合にも適用することができる。この場合には、たとえば
第1図に示した露光用光源3から位置検出用光源8に至
る構成要素を左右対称的にもう1組設け、片面の露光が
済んだ基板1をローダ19で搬送する途中で、もう1度
フィンガにより取出し、もう一方の面を露光するように
すればよい。
また、上述の実施例では、光センサ9により検知される
光は、位置決め穴4または5を通過した透過光であっ
た。これに対して、反射光を検出することも考えられ
る。しかしながら、特に基板1の位置決め穴4は、その
加工精度が悪く、極端に言えば、位置決め穴のエッジの
部分に小さな凹凸が形成されているのが通常である。し
たがって、光はこのような凹凸部分において乱反射する
ため、反射光に基づく位置検出は、信頼性に欠けるとい
う欠点がある。なお、これに関連して、位置決め穴は、
これに代えて、他のマークであってもよい。たとえば、
原版2であれば、パターン6と同様の方法で位置決めマ
ークを付すことが容易である。
光は、位置決め穴4または5を通過した透過光であっ
た。これに対して、反射光を検出することも考えられ
る。しかしながら、特に基板1の位置決め穴4は、その
加工精度が悪く、極端に言えば、位置決め穴のエッジの
部分に小さな凹凸が形成されているのが通常である。し
たがって、光はこのような凹凸部分において乱反射する
ため、反射光に基づく位置検出は、信頼性に欠けるとい
う欠点がある。なお、これに関連して、位置決め穴は、
これに代えて、他のマークであってもよい。たとえば、
原版2であれば、パターン6と同様の方法で位置決めマ
ークを付すことが容易である。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、光センサによる光学
的な手法により位置決めマークを検出して、位置決めマ
ークの位置のずれを比較回路で演算して、それに基づい
て基板または原版の位置を修正するので、複数個の位置
決めマークの位置が平均して最も合うような位置決めを
行なうことができる。また、光が透過する構造とされる
吸着板を用いて基板が固定されるので、従来のピンを用
いる方式に比べて、摩耗する要因がなく、この意味でも
高精度に位置合わせすることができる。
的な手法により位置決めマークを検出して、位置決めマ
ークの位置のずれを比較回路で演算して、それに基づい
て基板または原版の位置を修正するので、複数個の位置
決めマークの位置が平均して最も合うような位置決めを
行なうことができる。また、光が透過する構造とされる
吸着板を用いて基板が固定されるので、従来のピンを用
いる方式に比べて、摩耗する要因がなく、この意味でも
高精度に位置合わせすることができる。
また、吸着板に吸着された基板は、反りを有していて
も、この吸着板の吸着面により平面状態に矯正されるの
で、位置決めマークの位置の測定において、誤差が生じ
ることはない。原版においても、同様に、原版枠で保持
されるので、平面状態に保つことができる。これらのこ
とから、高い精度で原版と基板との位置合わせを行なう
ことができる。
も、この吸着板の吸着面により平面状態に矯正されるの
で、位置決めマークの位置の測定において、誤差が生じ
ることはない。原版においても、同様に、原版枠で保持
されるので、平面状態に保つことができる。これらのこ
とから、高い精度で原版と基板との位置合わせを行なう
ことができる。
また、処理すべき基板のロットが変更された場合、従来
は、ピンの位置を正確に変える必要があったが、この発
明の場合には、光センサのX−Y移動量を設定し直すだ
けでよく、多種少量生産に適している。
は、ピンの位置を正確に変える必要があったが、この発
明の場合には、光センサのX−Y移動量を設定し直すだ
けでよく、多種少量生産に適している。
第1図は、この発明の一実施例を上面から示した図であ
って、併せて制御系がブロック図で示されている。第2
図は、基板1と原版2との位置合わせ状態を説明するた
めの図である。第3図は、第1図の吸着板11を拡大し
て正面から示した断面図である。第4図は、第1図の原
版枠16を拡大して正面から示した断面図である。第5
図は、第1図のローダ19の正面図である。第6図ない
し第9図は、第1図の装置の動作を順次正面から示した
概略図である。第10図および第11図は、原版枠16
aの他の例を示した断面図である。第12図は、この発
明のさらに他の実施例を上面から示した図である。 図において、1は基板、2は原版、3は露光用光源、
4,5は位置決め穴、8は位置検出用光源、9は光セン
サ、10はX−Yテーブル、11は吸着板、14は吸引
穴、15は真空ポンプ、16,16aは原版枠、18は
透明板、25は比較回路、27はX,Y,θ方向駆動機
構、28は透明フィルム、30は小穴である。
って、併せて制御系がブロック図で示されている。第2
図は、基板1と原版2との位置合わせ状態を説明するた
めの図である。第3図は、第1図の吸着板11を拡大し
て正面から示した断面図である。第4図は、第1図の原
版枠16を拡大して正面から示した断面図である。第5
図は、第1図のローダ19の正面図である。第6図ない
し第9図は、第1図の装置の動作を順次正面から示した
概略図である。第10図および第11図は、原版枠16
aの他の例を示した断面図である。第12図は、この発
明のさらに他の実施例を上面から示した図である。 図において、1は基板、2は原版、3は露光用光源、
4,5は位置決め穴、8は位置検出用光源、9は光セン
サ、10はX−Yテーブル、11は吸着板、14は吸引
穴、15は真空ポンプ、16,16aは原版枠、18は
透明板、25は比較回路、27はX,Y,θ方向駆動機
構、28は透明フィルム、30は小穴である。
Claims (8)
- 【請求項1】複数個の位置決めマークを有する基板の露
光すべき面側に、対応する複数個の位置決めマークを有
する原版を、両者の位置決めマークが位置合わせされた
状態で配置し、原版を通して光を照射して基板を自動的
に露光するための自動露光装置であって、 光が透過する構造とされるとともに前記基板を真空吸着
して保持するための吸着板と、 前記吸着板の一方面側に配置される位置検出用光源と、 前記原版を前記吸着板の他方面側に位置させるように当
該原版を保持する原版枠と、 前記位置検出用光源からの光を受けて前記基板および前
記原版の各位置決めマークを検出するための光センサ
と、 前記光センサによって検出された前記基板の位置決めマ
ークの位置を記憶する第1の記憶手段と、 前記光センサによって検出された前記原版の位置決めマ
ークの位置を記憶する第2の記憶手段と、 前記第1の記憶手段に記憶された前記基板の位置決めマ
ークの位置と前記第2の記憶手段に記憶された前記原版
の位置決めマークの位置とを比較する比較回路と、 前記比較回路により求められた前記両位置決めマーク間
の位置ずれを修正するように前記吸着板と前記原版枠と
を相対的に縦、横、回転方向に移動させるX,Y,θ方
向駆動機構と、 前記吸着板上に保持された前記基板と前記原版枠に保持
された前記原版とを互いに密着させるように相対的に移
動させるZ方向移動機構と、 前記原版と前記基板とを密着させた状態で前記原版側か
ら露光用の光を照射する露光用光源と、 まず、前記原版枠に保持された前記原版に前記位置検出
用光源からの光を前記吸着板を介して与え、前記光セン
サにより原版の位置決めマークを検出してその位置を前
記第2の記憶手段に記憶し、また、前記原版を退去させ
た状態で前記吸着板に吸着固定した前記基板の位置決め
マークを前記光センサにより検出してその位置を前記第
1の記憶手段に記憶し、先に検出した前記原版の位置決
めマークの位置と後で検出した基板の位置決めマークの
位置とを前記比較回路で比較し、そのデータに基づいて
前記X,Y,θ方向駆動機構により前記吸着板と前記原
版枠とを相対的に縦、横、回転方向に動かして前記両位
置決めマーク間の位置ずれを修正し、次に前記原版を保
持した前記原版枠を再び前の位置検出を行なった位置ま
で戻してから、前記基板と前記原版とを前記Z方向移動
機構により互いに密着させ、その状態で前記露光用光源
により前記基板を露光するように制御する制御手段と を備えることを特徴とする、自動露光装置。 - 【請求項2】前記X,Y,θ方向駆動機構は、前記吸着
板を移動させる、特許請求の範囲第1項記載の自動露光
装置。 - 【請求項3】前記X,Y,θ方向駆動機構は、前記原版
枠を移動させる、特許請求の範囲第1項記載の自動露光
装置。 - 【請求項4】前記Z方向移動機構は、前記吸着板を移動
させる、特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか
に記載の自動露光装置。 - 【請求項5】前記Z方向移動機構は、前記原版枠を移動
させる、特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか
に記載の自動露光装置。 - 【請求項6】前記位置決めマークは穴で構成され、前記
光センサは前記穴を通過する透過光を検出する、特許請
求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の自動露
光装置。 - 【請求項7】前記複数個の位置決めマークは、1個の前
記センサで検出される、特許請求の範囲第1項ないし第
6項のいずれかに記載の自動露光装置。 - 【請求項8】前記原版枠は、相対的に剛性のある透明板
と相対的に可撓性のある透明フィルムとの二重構造を有
し、前記透明板と前記透明フィルムとの間の隙間の空気
圧を増大させることによって前記透明フィルムがふくら
むように構成され、前記原版は前記透明フィルムの外表
面上に固定される、特許請求の範囲第1項ないし第7項
のいずれかに記載の自動露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60268018A JPH0650399B2 (ja) | 1985-11-27 | 1985-11-27 | 自動露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60268018A JPH0650399B2 (ja) | 1985-11-27 | 1985-11-27 | 自動露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62125360A JPS62125360A (ja) | 1987-06-06 |
JPH0650399B2 true JPH0650399B2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=17452751
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60268018A Expired - Lifetime JPH0650399B2 (ja) | 1985-11-27 | 1985-11-27 | 自動露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0650399B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0227359A (ja) * | 1988-07-18 | 1990-01-30 | Hideo Tsubaki | 連続自動露光機 |
-
1985
- 1985-11-27 JP JP60268018A patent/JPH0650399B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62125360A (ja) | 1987-06-06 |
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