JPH06503764A - 3次元物体の製造方法及び装置 - Google Patents

3次元物体の製造方法及び装置

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JPH06503764A
JPH06503764A JP4501660A JP50166092A JPH06503764A JP H06503764 A JPH06503764 A JP H06503764A JP 4501660 A JP4501660 A JP 4501660A JP 50166092 A JP50166092 A JP 50166092A JP H06503764 A JPH06503764 A JP H06503764A
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ランゲル,ハンス ジェイ.
カブレラ,ミゲル
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イーオーエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング イレクトロ オプティカル システムズ
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    • G03F7/0037Production of three-dimensional images
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C64/00Additive manufacturing, i.e. manufacturing of three-dimensional [3D] objects by additive deposition, additive agglomeration or additive layering, e.g. by 3D printing, stereolithography or selective laser sintering
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3次元物体の製造方法及び装置 本発明は、請求項1及び15の前提部分にそれぞれ記載された3次元物体の製造 方法及び装置に関する。
このような方法の例は、「ステレオグラフィ」または「ステレオリソグラフィ」 として知られ、Rev、Sci、Instrum、(科学器械評論)第52巻( 11)、1981年11月号、1770〜1773ページに掲載されたコダマヒ デオの論文「光硬化性ポリマーを用いた3次元プラスチックモデルの自動製造方 法」において説明されている。この方法の問題点は、物体の寸法の精度が保証さ れないことである。これは、特に、個々の層が固化する時にそれぞれの体積が変 わるため、成層構造全体に応力と変形を生じるという事実によるものである。
したがって、本発明の目的は、物体の製造における精度を高めることである。
この目的は、請求項1の特徴部分に記述された方法と、請求項15の特徴部分に 記述された装置のそれぞれによって達成される。
本発明の好ましい実施例によれば、物体の表面測定は、たとえばドイツ国特許公 開第3328753号に記載されているように、モアレ技術によって行われる。
この測定技術は、物体の固化した表面の誤差を速やかにかつ接触せずに測定でき るという利点を有する。固化装置、すなわち光源等の制御はコンピューターによ って通常行われ、このコンピューターは、CAD設計プログラムに基づいて製造 される物体のデータを決定するものであり、さらに、このコンピューターに評価 用表面測定データを与えれば、同じコンピューターにより測定結果に基づいて物 体データの修正をすることができるという、さらなる特別な利点が生じる。故に 、評価装置を別に設ける必要はない。
本発明のさらなる特徴と利点は図を参照した実施例の記述から明らかにされる。
図において、 図1は、本発明の方法を実行する装置の第1の実施例の概略立面図を示している 。
図2は、本発明による装置の第2の実施例の概略立面図を示している。
図1は、あるレベルすなわち液面3まで光硬化性液体樹脂2を満たした容器1を 示している。容器内部には、上記レベル3すなわち樹脂2の液面にそれぞれ平行 な略平面状の支持台4が配置されている。この支持台は移動手段5によってレベ ル3の面に垂直な方向に移動され上下に位置決めされる。
支持台4は、複数の層6a、 6b、6c、 6dからなる物体6を支持し、各 層は以下に述べるようにレベル3に平行に延在している。
液面3に隣接した最上層6dを固化させる固化装置7は、光源9を備えた照明装 置8を有し、この光源は光学系10を介して樹脂2の液面上に集束ビーム11を 照射する。好適な光源としては、用いられる樹脂の種類によって、紫外線光源、 レーザー光源、その他の光源がある。装置7の支持または位置決め手段12は装 置7の移動や旋回運動を可能にするため、集束ビームを液面3のあらゆる所望の 場所に位置合せすることができる。この位置合せは、装置7に接続したコンピュ ーター13によって制御される。この接続は、さらに、光源9の強度制御によっ てビーム11の強度を調節するためにも利用される。
測定装置14は、投光器16を有し、この投光器は、アーク灯やレーザーなどの 光源15を備え、光学系17を介して測定領域18を照明する。光の代わりに他 のいかなる電磁放射でも用いることができる。投射方向19に沿った投光器16 のビームの進路内には、変調パターンを発生する変調装置が、好ましくは線回折 格子である投射回折格子2oの形あるいはレーザー干渉計の形で、配置されてい る。ビームの発散によって、線回折格子もしくはレーザー干渉計は、それぞれ、 空間的に発散する光面の投射を生しる。
測定領域18は、投射方向19に対して角度をなす観測方向22に沿って画像記 録装置21によって観察される。画像記録装置21は、好ましくはビデオカメラ 、テレビカメラ、もしくはCCDカメラなどのカメラと、光学観測系24とを有 する。光学観測系は、測定領域18内の液面すなわち後述の方法で形成される物 体6の液面上に焦点を合わせることができる。線回折格子と同様に形成される基 準回折格子26が、観測ビーム25の進路内に配置される。基準回折格子26の 面は、投射回折格子20の面またはレーザー干渉計のそれぞれに平行であること が好ましい。
画像記録装置21は、ライン27を介してコンピューター13と連結している。
さらに、概略的に示された移動装置28が設けられ、コンピューター13に連結 され、観測される測定領域18に直交する方向に画像記録装置21を移動させ位 置決めを行う。
動作において、物体6の形状を定めるデータが設計プログラム等を用いてコンピ ューター内に生成される。これらのデータは、物体6の製造のため、次のように 処理される。すなわち、物体は、物体の大きさに比較して薄い多数の水平層に分 割され、この複数の層6a〜6dの各々に対する、たとえばCADデータなどの データセットの形で形状データを利用できるようにする。この、各層に対するデ ータの生成と処理は、各層の製造前もしくは製造と同時に実行することができる 。
次にコンピューター13は移動手段を制御して、物体の第1層6a1;対応する 層厚を有する液体樹脂層が支持台4の上側と液面3の間に残るように、支持台4 を液体樹脂2の液面3の下方の位置まで上昇させる。
続いて、位置決め手段12は照明装置8を制御し、コンピューター13内で生成 され処理された形状データに対応するポイントにおいて、ビーム11が液体樹脂 層にあたるようにする。この放射作用によって樹脂は公知のように重合、すなわ ち硬化し、液体層が固化する。
第1層6aの製造後、移動手段5をコンピューターによって制御し、再び、次層 6bの厚さに対応する液体樹脂層が第1層6aの液面を覆うように、支持台4を 次層の厚さ分だけ降下させる。この層6bの固化は、第1層6aに関して説明し たのと同様にして行われる。支持台4を引き続き降下させ、次の層6Cおよび6 dを固化させることにより、物体が完成する。
製造の後、物体6は後処理される。まず、液体樹脂の粘着性残存物が、たとえば 送風および乾燥によりもしくは適当な溶剤を用いて物体から取り除かれる。その 後、もし必要であれば、照光による後硬化が行われる。
次に行われる測定は、さらに、液面をつや消し状態もしくは散乱反射状態にする ための液面処理を必要とする。これは、エツチング、塗装、散乱反射層の被覆、 その地間様な公知のつや消し工程によって行うことができる。
後処理の後、物体6の測定が行われる。この目的のため、物体6は、図の右手に 示されているように、測定される液面が測定装置14の測定領域18内に入るよ うにして測定テーブル29上に置かれる。液面が投光器16によって照射され、 画像記録手段21を介して観察される。この目的のため、物体の液面から、もし くは測定テーブル29から画像記録装置21までの距離が調節される。投射回折 格子すなわち変調パターン20と基準回折格子26との干渉により、物体6の等 直線を表すモアレパターンが液面上に生じる。この線パターンの画像は画像記録 手段21により記録され、画像記録手段は、たとえば512X512個の走査点 の各々についてのグレイスケール上の対応値をコンピューター13に与える。コ ンピューターは公知の方法(たとえば移相法、ドイツ国特許公開第332875 3号参照)を用い、グレイ値の分布を各測定点における物体液面の高さに対応す る値に変換し、この高さを設定値と比較し、この比較を用いて修正値を算出し、 次の物体の製造に用いるために格納する。
引き続き同様な物体6を製造する際、格納された修正データに基づいて修正が行 われる。この目的のため、コンピューター13は、たとえば「適合度」分析を用 いて、物体6の個々のCADデータに測定修正データを割り当てる。これらの修 正データを関連するCADデータと組み合わせることによって、たとえば、観測 方向およびそれに直交する方向における物体の形状の判定された偏差を考察する ことによって、コンピューター13は修正CADデータを決定し、これを次の物 体の製造に用いる。このことは、たとえば次のいずれか、または、両方により行 うことができる。すなわち、たとえば光源9の出力を変化させることにより光ビ ーム11の強度を変化させて各層6a〜6dの厚さを変化させること、または、 物体6の形状が設定値から偏倚しているとして検出されたポイントにおけるビー ム11の位置付けを位置決め手段12を介して、物体の形状と輪郭が再びそのポ イントにおいて設定値と等しくなるように変更すること、である。同様にして、 次の物体を製造する際に輪郭の修正が行われる。
測定方法において、たとえばCCDチップが検出器および基準回折格子として同 時に用いられる場合や、位相測定輪郭法または位相測定三角法が用いられる場合 、基準回折格子26を省くことが可能である。この場合、反射された線パターン は画像記録手段21により、基準パターン(ソフトウェアモアレ)との比較によ って直接的に評価することができる。さらに、物体の輪郭と液面データの測定が 可能なものであれば、その他の適当な測定法を物体の測定に用いることができる 。機械的探知プローブを用いる方法または三角測量や光レーダなどの他の光学的 方法が例としてあげられる。これらの方法に特有な必要条件次第では、つや消し 面や散乱反射面を形成するための後処理は省くことができる。
したがって、上述の方法は閉ループ制御において物体の製造を修正することを可 能とし、この修正は、変形の主要な原因、すなわち固化および/または後硬化中 に発生する体積変化すなわち収縮による応力や変形だけでなく、照明装置の調整 誤り、樹脂の不均質性、支持台等の高さ調節における変動などのその他あらゆる 誤差を考慮したものである。
図2に示された装置において、図1に対応する部分には同一の参照符号を付しで ある。この装置は、物体6の固化される層の区域において液面3内に測定領域1 8が入るようにして、測定装置14が固化装置7と組み合わせられている点にお いて、図1の装置とは根本的に異なる。液面3における鏡面反射がモアレ測定を 撹乱することを防ぐために、この測定は蛍光もしくはリン光放射を用いて行われ る。この目的のため、樹脂2は蛍光性もしくはリン光性を持ち、または同様の性 質を有する着色物質が樹脂2に混合される。そして、光源15による照明は蛍光 またはリン光に等価の波長で行われる。たとえば紫外線光源がこの目的のために 用いられる。あるいは、図2に示されているように、たとえば紫外線放射などの 等価波長のみを、または、優先的に透過するフィルター29を照明放射の進路内 に設置することもできる。同様に、フィルター30が観察ビームの進路内に設け られ、樹脂や着色物質の蛍光放射もしくはリン光放射のみを、または、これらを 優先的に透過させる。
図2の装置において、ある層が固化し、続いて次層の厚さに対応する分だけ、支 持台を降下させた後、その時液体である樹脂の液面が測定され、コンピューター 13に格納されたデータと比較される。この測定は、コンピューターが液体層の 厚さと、それらの非平坦度が予め定められた許容範囲内にあることを決定するま で、連続した短い周期で繰り返される。それから、図1の装置を用いた場合と同 じ様にして層の固化を行わせる。この手順の利点は、固化前の待ち時間を可能な 限り最短に設定でき、かつ、実現できることである。液体層の液面測定の前後で この手順を促進するために、支持台4を次層の高さよりもさらに低く降下させ、 この結果としての、より厚い液体層の厚さを、液面3を水平に横切って移動する ワイパ一手段(図示せず)によって、正確な厚さまで減少させることもできる。
図1の実施例とは異なって、物体6は測定のために樹脂槽2から取り出されるこ とはなく、固化した液面と層の輪郭とは、槽内で液面3において、好ましくは、 各層の固化後に測定される。このことが可能となるのは、樹脂の蛍光もしくはリ ン光放射が散乱放射を起こし、フィルター30が鏡面反射放射を止めるからであ る。したがって、測定前に物体6を処理するための時間を要しない。さらに、本 発明によれば、層の測定時に検出された層の液面すなわち輪郭の誤差はただちに コンピューターに送られ、コンピューターは、次層の形状データを修正して、こ れらの偏差を補償し、物体6自体を修正する。この修正は次以降の同等な物体だ けに限定されるものではない。
固化した物体の輪郭を測定する際、固化した領域を液体樹脂から区分する境界は 、所望の解像度すなわち精度をもって検出されなければならない。このことは上 記の測定方法において可能である。なぜならば、反射された放射の蛍光帯域幅は 、樹脂の相の関数として変化し変移するからである。したがって、波長選択受信 機を用いれば、液体樹脂と固化した樹脂とを、ある地点において識別することが 可能である。また、各層の固化後に、測定される層が液面3の上方に位置する程 度まで、物体を液面3の上方にしばしの間持ち上げることももちろん可能である 。
液面3の全領域内の輪郭測定に必要な相当の測定精度を得るために、測定装置1 4を、固化した層6 a −dの液面を横切って走査しながら移動し、これによ り液面をゾーンごとに走査する可動測定ヘッドとして、設計することができる。
上記装置と方法の変更は可能である。たとえば、樹脂の固化は、その特性に応じ て、電磁放射その他の種類を用いて、また、熱や化学作用によって、達成するこ とができる。固化前の液体樹脂の層厚は、支持台4の降下によってだけでなく、 ポンプやディスプレーサなどと静止支持台との組み合わせによりレベル3を同様 に調節すなわち上昇させることによっても、または、たとえば吹付けにより、固 化した液面上に所定の層厚を与えることによっても、調節することができる。液 面座標の測定は、レーザー干渉や位相変調走時法を用いたレーザー走査(レーザ ーレーダー)などのその他の光学的方法によって行うことができる。特に、簡単 な光反射測定を用いて、層の固化前の液体樹脂の液面が平滑でかつ水平であるか どうかを判定することができる。この場合、検出される反射像は、たとえば斜角 の下で照明によって得られ、非平滑または傾斜液面の場合に変化する。
さらに、物体6をそのあらゆる側から観察し測定できるように、測定テーブルを ジンバル上に載置することができる。さらに図1の装置において、測定装置14 を製造に組み込むことが可能である。この目的のため、測定装置14は、支持台 4によって樹脂槽2から液面3の上方に物体が持ち上げられた状態で物体6を測 定できるように、配設される。この場合、物体を支持台4から測定テーブル29 へ搬送する必要はない。
また、本発明は、液体樹脂に限定されるものではない。粉末樹脂または金属を液 体樹脂の代わりに用いることもでき、これは光やレーザーの作用(レーザー焼結 )によって焼結される。
したがって、本発明によれば、光やレーザー作用を利用した成形により、成形品 や工作品を正確に製造することができる。特に部品の大量生産において好適であ る。なぜならば、寸法の修正は最初の1回のみか途中で数回行うだけですむから である。
国際調査報告 1崗−勧−^−―−−やCT/EP 91102441国際調査報告 PCT/EP 91102441 ;===二=:冑=;==諜=壬;dsml”1□11防v401Tba−−P s−sfflms im la m−1l−1−一−−wkle& we −轡 5−kr 1w −−@I Is−一一(81)指定国 EP(AT、BE、C H,DE。
DK、ES、FR,GB、GR,IT、LU、MC,NL、SE)、JP、US

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.すでに固化した層上に、光等の作用によって固化する最初は液状または粉末 状の物質からなる次層を上記物体の形状に応じて固化させて、積層された層を固 化することにより3次元物体を製造する方法において、物体の表面および/また は輪郭を測定し、測定結果を上記物体の予め定められたデータと比較し、製造の ための修正データをこの比較に基づいて決定することを特徴とする3次元物体の 製造方法。
  2. 2.上記表面測定は、第1の変調パターンを上記表面上に投射し、第2の変調パ ターンを介して投射方向に対して角度をもって上記表面を観察し、両変調パター ンの干渉から生じる線パターンに基づいて上記表面の座標を決定することにより 行われることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 3.上記測定は、層を固化した後に行われ、上記決定された修正データは次層を 固化する際に用いられることを特徴とする請求項1あるいは2に記載の方法。
  4. 4.上記測定は、少なくとも部分的に蛍光性またはリン光性をもつ物質の構内で 行われ、上記物体は層を固化した後に上記構内で測定されることを特徴とする請 求項1乃至3のいずれかに記載の方法。
  5. 5.上記変調パターンの投射は、蛍光またはリン光に等価の波長を有する光を用 いて行われ、上記観察は蛍光またはリン光放射の波長領域内で行われることを特 徴とする請求項4に記載の方法。
  6. 6.層を固化させた後、上記物体は上記固化可能な物質の槽から取り出され、上 記物体の処理ならびに測定を行い、以後次層を固化させることにより製造が継続 されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の方法。
  7. 7.上記物体を測定前に処理して散乱反射性の表面を形成したことを特徴とする 請求項6に記載の方法。
  8. 8.上記物体は測定前に後硬化されることを特徴とする請求項6あるいは7に記 載の方法。
  9. 9.層の固化前に、非平滑度を検出するために未固化層の表面を測定することを 特徴とする請求項2乃至8のいずれかに記載の方法。
  10. 10.上記固化は、上記表面の非平坦度が予め定められた臨界値より低い場合に 限り実行されることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11. 11.上記修正データは、上記予め定められたデータと組み合わされて以降の物 体の製造のための修正物体データを決定するために用いられることを特徴とする 請求項1乃至10のいずれかに記載の方法。
  12. 12.対応する点における上記予め定められたデータからの上記測定データの偏 差量によって、上記予め定められたデータを調整することを特徴とする請求項1 乃至11のいずれかに記載の方法。
  13. 13.上記予め定められたデータは、コンピューターから、集束光ビームを制御 する制御装置へデータセットとして供給され、上記測定された表面データはCA Dデータの修正用としてコンピューターに送られることを特徴とする前記請求項 のいずれかに記載の方法。
  14. 14.層の固化前に、固化される層の厚さよりも厚い液体層を生成し、その後、 液体層の厚さを固化される層の厚さに対応する値まで減少させることを特徴とす る請求項1乃至13のいずれかに記載の方法。
  15. 15.光等の作用によって固化する液状または粉末状の物質(2)の積層を生成 する手段(1,2,4)と、製造される物体の形状にしたがって上記層の各々の 固化を制御する手段(7)とを有する請求項1に記載の方法を実施するための装 置において、上記物体を走査する測定装置(14)と、上記測定データを上記層 の予め定められたデータと比較する手段(13)とを備え、上記測定装置(14 )と上記比較手段(13)は上記固化手段(7)と連結され、上記測定装置(1 4)により判定された上記測定結果にしたがってその制御を行うことを特徴とす る装置。
  16. 16.上記測定装置と上記固化手段(7)は、上記物体のデータセットを生成し 、上記データセットを上記測定装置(14)によって供給される表面データと比 較し、そこから修正物体データを決定し、上記修正物体データに基づいて上記固 化手段(13)を制御するコンピューター(13)に連結されることを特徴とす る請求項15に記載の装置。
  17. 17.上記測定装置(14)は、上記物体を照明する手段(15,16)と、上 記物体を上記照明方向に対して角度をもって観察する画像記録手段(21)と、 上記照明ビームの進路内に配された第1の回折格子(20)と、好ましくは、観 察ビームの進路内に配された第2の回折格子(26)と、上記記録手段に連結さ れた評価手段(13)とを有することを特徴とする請求項15あるいは16に記 載の装置。
  18. 18.上記積層を生成する手段(1,2,4)は、光硬化性液体樹脂(2)で満 たされた槽(1)と、上記槽内において上記樹脂の表面に対し直交する方向に移 動可能な支持台(4)とを有することを特徴とする請求項15乃至17のいずれ かに記載の装置。
  19. 19.上記固化手段は集束光ビーム(11)を発生する光源(9)と、上記光ビ ーム(11)の位置を固化される層の領域を横切って移動制御し、上記光ビーム の強度を調整する制御手段とを有することを特徴とする請求項15乃至18のい ずれかに記載の装置。
  20. 20.上記測定装置(14)は、上記槽(1)の表面を走査できるように配設さ れることを特徴とする請求項18あるいは19に記載の装置。
  21. 21.上記測定装置(14)に連結され上記測定された表面データと予め定めら れたデータを比較する比較手段と、上記比較手段ならびに上記固化手段(7)に 連結され上記固化手段を解放する解放手段とを備えたことを特徴とする請求項2 0に記載の装置。
  22. 22.上記照明手段(15,16)は上記物質(2)の蛍光またはリン光に等価 な放射を用いて上記物体を照明し、上記記録手段(21)は上記物質(2)の蛍 光またはリン光放射に同調されることを特徴とする請求項17乃至21のいずれ かに記載の装置。
  23. 23.上記記録手段(21)は蛍光またはリン光帯域幅の変移や変動を決定する 波長選択受信機を有することを特徴とする請求項22に記載の装置。
JP4501660A 1990-12-21 1991-12-18 3次元物体の製造方法及び装置 Pending JPH06503764A (ja)

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DE4112695.5 1991-04-18
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