JPH064878A

JPH064878A - フォーカス引込み回路

Info

Publication number: JPH064878A
Application number: JP18622492A
Authority: JP
Inventors: Taizo Kusano; 泰三草野
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1992-06-20
Filing date: 1992-06-20
Publication date: 1994-01-14

Abstract

(57)【要約】【目的】メディア表面において誤フォーカス引込みを
行う恐れがなく、また、正常な引込み動作後のフォーカ
スはずれの検出も可能にする。【構成】スライスレベルとして、メディア表面の反射
によるレベルより高く、かつ、フォーカス制御中におい
てトラックにより変調されて得られる最低レベルより低
く設定し、あるいは、このようなレベルが得られるよう
に、フォーカス引込み前と開始後でレベルを切換える。【効果】スライスレベルが、フォーカス制御中におい
てトラックにより変調されて得られる最低レベルより低
く設定されているので、正常な引込み動作後のフォーカ
スはずれの検出も可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク装置や光
磁気ディスク装置その他各種の光学的に情報の記録／再
生を行う装置におけるフォーカス引込み回路に係り、特
に、メディア表面において誤フォーカス引込みを行う恐
れがなく、しかも、正常な引込み動作後のフォーカスは
ずれの検出も可能にして、信頼性と安定性とを向上させ
たフォーカス引込み回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、光ディスク装置や光磁気ディ
スク装置その他各種の光学的に情報の記録／再生を行う
装置においては、フォーカスサーボ制御が行われてい
る。また、そのためのフォーカスサーボ制御装置も、知
られている（例えば、特開昭６３−１７７３２０号公
報）。

【０００３】図９は、従来の光ディスク装置について、
その要部構成の一例を示す構成図である。図において、
１はディスク、２はスピンドルモータ、３は光ピックア
ップで、３ａは対物レンズ、４はＲＦアンプ、５はデジ
タル信号処理回路、６は合焦点近傍検出回路、７はフォ
ーカスエラー信号検出回路、８はフォーカスサーボ回
路、９はフォーカスドライブ回路を示し、また、ＦＯＫ
は合焦点の近傍に到達したことを検出する合焦点近傍到
達信号、ＦＥはフォーカスエラー信号を示す。

【０００４】この図９で、破線で囲まれた４つのブロッ
ク、すなわち、合焦点近傍検出回路６，フォーカスエラ
ー信号検出回路７，フォーカスサーボ回路８，フォーカ
スドライブ回路９で、フォーカスサーボ制御部を構成し
ている。ディスク１には、デジタル信号で情報が記録さ
れ、また、所定データ数毎に、フレーム同期信号や制御
データが記録されている。

【０００５】このディスク１は、スピンドルモータ２に
よって回転される。光ピックアップ３は、ディスク１上
に記録されているデジタル情報を、光学的に読み取り、
ＲＦアンプ４へ入力する。ＲＦアンプ４は、この光ピッ
クアップ３から出力されたＲＦ信号を増幅すると共に、
所定のスライスレベルで波形整形して、デジタル信号処
理回路５へ入力する。

【０００６】この場合に、破線で囲まれたフォーカスサ
ーボ制御部では、次のように作用する。合焦点近傍検出
回路６は、対物レンズ３ａが合焦点の近傍に到達したこ
とを検出して、合焦点近傍到達信号ＦＯＫを発生する。
フォーカスエラー信号検出回路７は、対物レンズ３ａの
合焦点までの距離に応じた値を有するフォーカスエラー
信号ＦＥを発生する。

【０００７】フォーカスサーボ回路８は、ディスク装填
後にフォーカスサーボがかけれらる位置まで、フォーカ
スエラー信号ＦＥによって対物レンズ３ａを移動させ、
その後に、フォーカスエラー信号ＦＥを使用してフォー
カスサーボを行う。フォーカスドライブ回路９は、図示
しないアクチュエータを駆動して、対物レンズ３ａを常
に合焦位置に保持する。

【０００８】次の図１０は、図９に示したフォーカスサ
ーボ回路８の詳細な構成を示す機能ブロック図である。
図における符号は図９と同様であり、また、８１はフォ
ーカスサーチ信号生成部、８２は第１の切換えスイッ
チ、８３は第２の切換えスイッチ、８４は合成回路、８
５はフォーカスサーボ補正部、８６はコントローラ、８
７は合焦点到達検出部、ＦＳはフォーカスサーチ信号、
ＦＡＲは対物レンズ３ａの合焦点に到達したことを検出
する合焦点到達信号を示す。

【０００９】フォーカス引込み時に、フォーカスドライ
ブ回路は、フォーカスサーボ回路８内のフォーカスサー
チ信号生成部８１からの低周波のフォーカスサーチ信号
ＦＳ（通常、数Ｈｚの三角波信号）によって、対物レン
ズ３ａを合焦点方向へ移動させる。そして、合焦点近傍
検出回路６により、対物レンズ３ａが合焦点の近傍に到
達したことが検出され、また、合焦点到達検出部８７に
よって、対物レンズ３ａが合焦点に到達したことが検出
されると、それ以後は、フォーカスエラー信号検出回路
７から出力されるフォーカスエラー信号ＦＥを用いて、
フォーカスサーボ制御が行われる。

【００１０】この場合に、合焦点近傍検出回路６は、光
ピックアップ３から所定レベルの信号が出力されている
か否かによって、対物レンズ３ａが合焦点の近傍に到達
したかどうかを判断する。一般的には、フォーカスサー
ボ用の２分割フォトダイオードから得られる２つの出力
の和信号（フォーカス和信号）が、ある所定のレベルを
超えたかどうかによって、合焦点の近傍に到達したか否
かが判断される。

【００１１】図１１は、フォーカスサーボ用の２分割フ
ォトダイオードからの出力信号を処理する合焦点近傍検
出回路について、その要部構成の一例を示す機能ブロッ
ク図である。図において、１１は２分割フォトダイオー
ド、１２は減算アンプ、１３は加算アンプ、１４はレベ
ル比較器（コンパレータ）を示し、また、ＦＥはフォー
カスエラー信号、ＦＯ（和）は光量和信号、ＦＯＫは合
焦点近傍検出回路から出力される合焦点の近傍に到達し
たことを検出する合焦点近傍到達信号、ＶSLは基準電圧
を示す。

【００１２】この図１１に示すように、フォーカスエラ
ー信号ＦＥは、２分割フォトダイオード１１からの各出
力が、減算アンプ１２で減算されて生成される。また、
光量和信号ＦＯ（和）、すなわち、フォーカス和信号
は、２分割フォトダイオード１１からの各出力が、加算
アンプ１３で加算されて生成される。

【００１３】そして、合焦点近傍到達信号ＦＯＫ、すな
わち、対物レンズ３ａが合焦点の近傍に到達したことを
検出する信号は、加算アンプ１３の出力であるフォーカ
ス和信号を、基準電圧ＶSLと比較することによって生成
される。これらのフォーカスエラー信号ＦＥ，フォーカ
ス和信号ＦＯ（和），合焦点近傍到達信号ＦＯＫは、対
物レンズ３ａの移動に伴って、次のように変化する。

【００１４】図１２は、図１１の回路の動作を説明する
ためのタイミングチャートで、(1)は対物レンズ３ａを
メディアの記録面に対して、合焦点付近でメディアの遠
い方から近い方へ移動させたときの信号、(2) は対物レ
ンズ３ａを遠い方から近づけてきて、記録面にフォーカ
スを引込んだときの信号を示す。各信号波形の符号は、
図１１の符号位置に対応している。

【００１５】フォーカスエラー信号ＦＥとフォーカス和
信号ＦＯ（和）は、この図１２(1)に示すように変化す
る。しかし、フォーカス和信号ＦＯ（和）を、一定レベ
ルでスライスして得られる合焦点近傍到達信号ＦＯＫを
生成する合焦点近傍検出回路では、所望のスライスレベ
ル（基準電圧ＶSL）を設定するのが困難である。

【００１６】図１３は、合焦点近傍検出回路において、
スライスレベルの設定方法を説明する図で、(1) はスラ
イスレベルを高くしたとき、(2) は低くしたときの状態
を示す。各信号波形の符号は図１１の符号位置に対応し
ており、はメディアの表面での反射部分、はメディ
アの記録面への引込み時点、はトラック変調による光
量ダウン部分、はスライスレベルが低い場合のメディ
アの記録面への引込み時点、Ｔは区間を示す。例えば、
この図１３(2) のように、スライスレベルＶSLを低く設
定すると、メディアの表面での反射によるフォーカス和
信号ＦＯ（和）によって、スライスレベルＶSLが引っか
かるので、で示すように、メディアの表面にフォーカ
スを引込んでしまう、という不都合が生じる。

【００１７】合焦点近傍到達信号ＦＯＫは、フォーカス
引込み後は、正常なフォーカシング制御の状態になって
いれば、あるレベル以上の反射光量が得られることか
ら、フォーカスはずれ検出用の信号として利用すること
も考えられる。逆に、図１３(1) のように、スライスレ
ベルＶSLを高く設定すると、で示すように、メディア
の記録面への引込みは行うが、で示すメディアグルー
ブによる光量ダウン時のフォーカス和信号ＦＯ（和）
が、スライスレベルＶSLに引っかかってしまい、区間Ｔ
において、合焦点近傍到達信号ＦＯＫが“Ｌ”（ロー）
レベルになる。

【００１８】すなわち、実際には、正常にフォーカシン
グしている状態であるのに、合焦点近傍到達信号ＦＯＫ
を利用してフォーカスはずれを検出しようとすると、誤
った判定が行われてしまう。したがって、図１３(2) の
ように、スライスレベルを低く設定すれば、合焦点近傍
到達信号ＦＯＫをフォーカスはずれ検出用の信号として
利用することは可能であるが、スライスレベルＶSLが引
っかかるので、メディアの表面にフォーカスを引込んで
しまう、という問題が生じ、図１３(1) のように、スラ
イスレベルを高く設定すると、メディアの記録面への引
込みは行えるが、合焦点近傍到達信号ＦＯＫを利用して
フォーカスはずれを検出しようとすると、誤った判定が
行われてしまう、という問題が生じるので、これらを両
立させたスライスレベルを設定することは困難である、
という不都合があった。

【００１９】

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
ディスク装置におけるこのような不都合、すなわち、ス
ライスレベルを高く設定すると、合焦点近傍到達信号Ｆ
ＯＫを利用してフォーカスはずれを検出することができ
ず、逆に、スライスレベルを低く設定すると、スライス
レベルが引っかかり、メディア表面において誤フォーカ
ス引込みが生じるので、これらを両立させたスライスレ
ベルを設定することできない、という不都合を解決し、
メディア表面において誤フォーカス引込みを行うことな
く、しかも、正常フォーカス引込み後のフォーカスはず
れ検出機能を併有するフォーカス引込み回路を提供する
ことを目的とする。

【００２０】

【課題を解決するための手段】この発明では、第１に、
光学的に情報の記録／再生を行う装置のフォーカス引込
み回路において、メディアから反射される光量和信号の
レベルを予め設定された比較レベルと比較するレベル比
較手段を備え、前記比較レベルは、メディア表面の反射
によるレベルより高く、かつ、フォーカス制御中におい
てトラックにより変調されて得られる最低レベルより低
く設定するように構成している。

【００２１】第２に、光学的に情報の記録／再生を行う
装置のフォーカス引込み回路において、メディアから反
射される光量和信号のレベルを所定の比較レベルと比較
するレベル比較手段と、該レベル比較手段の所定の比較
レベルを、第１の比較レベルあるいは第２の比較レベル
に切換える比較レベル切換え手段、とを備え、前記第１
の比較レベルは、メディア表面の反射によるレベルより
充分に高く設定し、前記第２の比較レベルは、フォーカ
ス制御中においてトラックにより変調されて得られる最
低レベルより充分に低く設定し、フォーカス引込み前に
は、前記第１の比較レベルで比較し、フォーカス引込み
開始後は、前記第２の比較レベルで比較するように、前
記比較レベル切換え手段を切換えるように構成してい
る。

【００２２】第３に、光学的に情報の記録／再生を行う
装置のフォーカス引込み回路において、メディアから反
射される光量和信号のレベルを所定の比較レベルと比較
するレベル比較手段と、該レベル比較手段に入力される
前記光量和信号のレベルを、第１のゲインあるいは第２
のゲインに切換えるゲイン切換え手段、とを備え、前記
第１のゲインは、メディア表面の反射によるレベルが、
前記所定の比較レベルより充分に低く設定し、前記第２
のゲインは、フォーカス制御中においてトラックにより
変調されて得られる最低レベルより充分に高くなるよう
に設定し、フォーカス引込み前には、前記第１のゲイン
に、フォーカス引込み開始後は、前記第２のゲインにな
るように、前記ゲイン切換え手段を切換えるように構成
している。

【００２３】

【作用】この発明では、基準電圧で決定されるスライス
レベルを、メディア表面の反射によるレベルより高く、
かつ、フォーカス制御中においてトラックにより変調さ
れて得られる最低レベルより低く設定することによっ
て、メディア表面において誤フォーカス引込みを行うこ
となく、しかも、正常フォーカス引込み後のフォーカス
はずれ検出機能も併有できるようにしている（請求項１
の発明）。また、スライスレベルを２つ設け、第１のレ
ベルは、メディア表面の反射によるレベルより充分に高
く設定し、第２のレベルは、フォーカス制御中において
トラックにより変調されて得られる最低レベルより充分
に低く設定し、フォーカス引込み前には、第１のレベル
で比較し、フォーカス引込み開始後は、第２のレベルで
比較するように、レベルを切換える（請求項２の発
明）。

【００２４】同様に、ゲインを変化させることによっ
て、スライスレベルが２つ得られるように構成し、第１
のゲインは、メディア表面の反射によるレベルが、所定
の比較レベルより充分に低く設定し、第２のゲインは、
フォーカス制御中においてトラックにより変調されて得
られる最低レベルより充分に高くなるように設定し、フ
ォーカス引込み前には、第１のゲインに、フォーカス引
込み開始後は、第２のゲインになるように切換える（請
求項３の発明）。このように、スライスレベルを設定す
ることによって、メディア表面において誤フォーカス引
込みを行うことなく、しかも、正常フォーカス引込み後
のフォーカスはずれ検出機能も併有できるフォーカス引
込み回路が得られる。

【００２５】

【実施例１】次に、この発明のフォーカス引込み回路に
ついて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明
する。この実施例は、請求項１の発明に対応しており、
スライスレベル、すなわち、比較レベルとして、メディ
ア表面の反射によるレベルより高く、かつ、フォーカス
制御中においてトラックにより変調されて得られる最低
レベルより低く設定することにより、正常なフォーカス
制御状態で、光量和信号がスライスレベルを下回らない
ようにして、フォーカス引込み後のフォーカスはずれの
検出用として兼用できるようにしている。

【００２６】図１は、この発明のフォーカス引込み回路
について、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック
図である。図における符号は図１１と同様であり、ま
た、２１と２２は入力アンプ、２３は合焦点近傍検出回
路で、２３ａはレベル比較器、２４はフォーカスサーボ
回路内のコントローラ、ＶSL１は基準電圧を示す。

【００２７】この図１では、フォーカスサーボ制御系に
おいて、その合焦点近傍検出回路２３の周辺回路（従来
例の図１０、参照）を示している。図示されないメディ
アから反射される光量信号は、２分割フォトダイオード
１１で受光されて、電流信号に変換される。この電流信
号を次段の入力アンプ２１，２２で電圧信号に変換し
て、減算アンプ１２と加算アンプ１３へ入力する。した
がって、減算アンプ１２からはフォーカスエラー信号Ｆ
Ｅが、また、加算アンプ１３からは光量和信号ＦＯ
（和）が、それぞれ出力される。合焦点近傍検出回路２
３は、レベル比較器２３ａを備えており、加算アンプ１
３から出力された光量和信号ＦＯ（和）を、基準電圧Ｖ
SL１と比較する。

【００２８】図２は、図１に示したこの発明のフォーカ
ス引込み回路の動作を説明するためのタイミングチャー
トである。各信号波形の符号は、図１の符号位置に対応
しており、また、とは図１３と同様で、はトラッ
ク変調による最低レベル、はメディア表面の反射によ
るレベルを示す。

【００２９】この図２に示すように、スライスレベルを
決定する基準電圧ＶSL１は、メディア表面からの反射光
量よりも高いレベルで、かつ、フォーカス制御中におい
て、トラックによって得られる最低レベル（メディアグ
ルーブでの反射時のレベル）よりも低く設定しておく。
フォーカス引込み時に、対物レンズをメディアに対して
遠い方から近づく方向へ移動させていくと、まず、メデ
ィア表面での反射によって、１つの信号が現われる。

【００３０】この状態では、光量和信号ＦＯ（和）は、
基準電圧ＶSL１よりも低いので、合焦点近傍検出回路２
３の出力、すわわち、合焦点近傍到達信号ＦＯＫは、
“Ｌ”レベルのままである。したがって、引込み動作は
行われない。対物レンズをさらに近づけていくと、メデ
ィアの記録面での反射による信号が現われる。

【００３１】そして、光量和信号ＦＯ（和）が基準電圧
ＶSL１を超えた時点で、合焦点近傍検出回路２３からの
合焦点近傍到達信号ＦＯＫが“Ｈ”レベルに変化する。
コントローラ（例えばＣＰＵ等）２４は、合焦点近傍検
出回路２３からの合焦点近傍到達信号ＦＯＫが“Ｈ”レ
ベルになったことによって、対物レンズが記録面での合
焦点近傍にあることを検知し、引込み動作を開始させる
ための指示信号を発生する。

【００３２】通常、引込み動作が開始されてフォーカス
制御状態になると、合焦点近傍到達信号ＦＯＫは不要に
なる。しかし、この発明では、基準電圧ＶSL１をフォー
カス制御中のトラック変調による最低レベルより低く設
定しているので、正常なフォーカス制御状態では、光量
和信号ＦＯ（和）が基準電圧ＶSL１を下回ることはな
い。

【００３３】したがって、この構成の回路を、フォーカ
ス引込み後のフォーカスはずれの検出用として兼用させ
ることが可能である。すなわち、フォーカス引込み後
に、合焦点近傍検出回路２３から出力される合焦点近傍
到達信号ＦＯＫが“Ｌ”レベルになることによって、コ
ントローラ２４は、フォーカスはずれが発生したことを
検知できるので、エラー処理の素速い対応が可能にな
る。

【００３４】以上のように、この発明のフォーカス引込
み回路では、比較レベルである基準電圧ＶSL１を、メデ
ィア表面の反射によるレベルより高く、かつ、フォーカ
ス制御中においてトラックにより変調されて得られる最
低レベルより低く設定しておき、正常なフォーカス制御
状態では、光量和信号がスライスレベルを下回らないよ
うにしている。したがって、フォーカス引込み後に、合
焦点近傍検出回路２３から出力される合焦点近傍到達信
号ＦＯＫが“Ｌ”レベルになった場合には、フォーカス
はずれが発生したことを検知することが可能になり、フ
ォーカス引込み後のフォーカスはずれの検出用として兼
用できる。

【００３５】

【実施例２】この発明のフォーカス引込み回路につい
て、第２の実施例を説明する。この実施例は、請求項２
の発明に対応している。

【００３６】フォーカスサーボ回路で検出される信号、
すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥや合焦点近傍到達
信号ＦＯＫ、合焦点到達信号ＦＡＲ等の検出信号は、ノ
イズが小さく、かつ、光学系、回路、メディア等の性能
による検出信号のバラツキが小さい場合には、先の実施
例で説明した要件を満たす基準電圧ＶSL１を設定するこ
とが可能である。しかし、量産装置で使用する場合に
は、ノイズやバラツキによって誤スライスが生じるこ
と、あるいは先の要件を満たす基準電圧ＶSL１が存在し
ないことも考えられる。

【００３７】そこで、この実施例では、フォーカス引込
み前と後とで、スライスレベルを決定する基準電圧（Ｖ
SL１）を変化させるようにしている。具体的には、フォ
ーカス引込み前の基準電圧（ＶSL２）は、メディア表面
の反射によるレベルより高く（記録面反射によるレベル
より低く）し、フォーカス引込み後の基準電圧（ＶSL
３）は、フォーカス制御中においてトラックにより変調
されて得られる最低レベルより充分に低く設定してお
く。

【００３８】図３は、この発明のフォーカス引込み回路
について、その要部構成の他の実施例を示す機能ブロッ
ク図である。図における符号は図１と同様であり、ま
た、２３ｂはレベル切換え回路、２５はコントローラ、
ＳＬはレベル切換え信号、ＶSL２とＶSL３は第１と第２
の基準電圧を示す。

【００３９】図４は、図３に示したこの発明のフォーカ
ス引込み回路の動作を説明するためのタイミングチャー
トである。各信号波形の符号は、図３の符号位置に対応
しており、また、は図２と同様で、はメディア表面
の反射によるレベル、はトラック変調による最低レベ
ル、は比較レベル切換え時点を示す。

【００４０】図３に示すように、第１基準電圧ＶSL２と
第２の基準電圧ＶSL３とを用意しておき、フォーカス引
込み前と後とで、スライスレベルを決定する基準電圧Ｖ
SL２とＶSL３とを、レベル切換え信号ＳＬで切換えるこ
とによって変化させるようにしている。すなわち、フォ
ーカス引込み後に、コントローラ２５から出力されるレ
ベル切換え信号ＳＬによって、合焦点近傍検出回路２３
からの合焦点近傍到達信号ＦＯＫが“Ｈ”レベルになっ
たことによって、フォーカス引込み回路内のレベル切換
え回路２３ｂにより比較レベルを切換えるようにしてい
る。

【００４１】このように、フォーカス引込み前と後と
で、異なる比較値レベルを設定するようにしておけば、
図４に示すように、余裕をもったレベルを設定すること
ができる。したがって、ノイズに対して強く、また、バ
ラツキに対してマージンをもったフォーカス引込み回路
が実現され、また、フォーカス引込み後のフォーカスは
ずれの検出用として兼用させることが可能になる。

【００４２】ところで、コントローラ２５は、例えばフ
ォーカス引込みに際して、従来例として示した先の図１
０において、合焦点近傍検出回路（図１０の６）からの
合焦点近傍到達信号ＦＯＫが“Ｈ”レベルで、かつ、フ
ォーカスサーボ回路８内の合焦点到達検出部８７から合
焦点到達信号ＦＡＲが発生されると、フォーカス引込み
が正常であると判断し、それ以後にフォーカスサーボを
開始する。図５は、フォーカス引込み時におけるレベル
切換え動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。各信号波形の符号は、図３の符号位置に対応してお
り、は図２と同様であり、また、ＦＡＲは合焦点到達
信号を示す。

【００４３】この図５に示すように、合焦点近傍到達信
号ＦＯＫが“Ｈ”レベルで、かつ、合焦点到達信号ＦＡ
Ｒが発生されると、このタイミングで図３のコントロー
ラ２５からレベル切換え信号ＳＬを出力して、レベル切
換え回路２３ｂのスライスレベルを、第１基準電圧ＶSL
２から第２の基準電圧ＶSL３に切換える。この発明のフ
ォーカス引込み回路では、合焦点到達信号ＦＡＲを検出
する合焦点到達検出部（図１０の８７）としては、ゼロ
クロスコンパレータを使用することができる。

【００４４】図６は、この発明のフォーカス引込み回路
で使用するのに好適な合焦点到達検出部の一例を示す機
能ブロック図である。図において、２６はコンパレータ
を示し、また、ＦＥはフォーカスエラー信号、ＦＡＲは
合焦点到達信号を示す。ゼロクロスコンパレータは、コ
ンパレータ２６の一方のレベル（−入力）をアースし
て、フォーカスエラー信号ＦＥと比較すれば、図５で説
明したような合焦点到達信号ＦＡＲが容易に得られる。

【００４５】

【実施例３】第３の実施例を説明する。この実施例は、
請求項３の発明に対応している。この第３の実施例で
は、合焦点近傍検出回路２３内のレベル比較器２３ａの
入力側の前に、ゲイン切換え回路（図７の２３ｃ）を設
けている。

【００４６】図７は、この発明のフォーカス引込み回路
について、その要部構成の第３の実施例を示す機能ブロ
ック図である。図における符号は図１と同様であり、ま
た、２３ｃはゲイン切換え回路、２７はコントローラ、
Ｒ０〜Ｒ２は抵抗器、ＳＷはスイッチ、ＳＧはゲイン切
換え信号、ＶSL４は基準電圧を示す。図８は、図７に示
したこの発明のフォーカス引込み回路の動作を説明する
ためのタイミングチャートである。各信号波形の符号
は、図７の符号位置に対応しており、また、とと
は図２と同様で、′はゲイン切換え時点を示す。

【００４７】ある適当な比較レベルＶSL４に対して、フ
ォーカス引込みの前には、レベル比較器２３ａへ入力さ
れる信号のレベル、すなわち、メディア表面の反射によ
るレベルが充分に低くなるように、また、フォーカス引
込み後には、フォーカス制御中においてトラックにより
変調されて得られる最低レベルが、比較レベルより充分
に高くなるように、合焦点近傍検出回路２３のゲインを
設定しておく。そして、フォーカス引込み後に、コント
ローラ２７が出力するゲイン切換え信号ＳＧによってゲ
インを切換えることにより、図８に示すように、比較レ
ベルＶSL４に対して余裕をもたせるように構成してい
る。

【００４８】先の図７に示したゲイン切換え回路２３ｃ
では、抵抗器Ｒ０〜Ｒ２の抵抗の値から、第１のゲイン
は、Ｒ１／（Ｒ０＋Ｒ１）、第２のゲインは、Ｒ２／
（Ｒ０＋Ｒ２）となる。したがって、そのゲイン比は、Ｒ１／（Ｒ０＋Ｒ１）：Ｒ２／（Ｒ０＋Ｒ２）となる。

【００４９】なお、この第３の実施例の場合にも、ゲイ
ン切換え信号ＳＧの発生タイミングや合焦点到達検出部
は、先の第２の実施例で、図５と図６によって説明した
のと同様である。すなわち、図６のレベル切換え信号Ｓ
Ｌの出力タイミングで、ゲイン切換え信号ＳＧを出力す
れば、第２の実施例と同様の作用、効果が得られる。

【００５０】

【発明の効果】請求項１の発明では、レベル比較器の比
較レベル（スライスレベル）が、メディア表面での反射
によるレベルよりも高く設定されているので、メディア
表面にフォーカスを引込む恐れがない。しかも、この比
較レベルは、フォーカス制御中においてトラックにより
変調されて得られる最低レベルより低く設定されている
ので、正常な引込み動作後のフォーカスはずれの検出も
可能である。したがって、フォーカス引込み回路の信頼
性と安定性とが向上される。

【００５１】請求項２の発明では、フォーカス引込みの
前後で、レベル比較器の比較レベルを切換えるようにし
ている。そのための比較レベルは、フォーカス引込みの
前には、メディア表面の反射によるレベルに対して充分
余裕があるように、フォーカス引込みの後には、フォー
カス制御中においてトラックにより変調されて得られる
最低レベルに対して充分余裕があるように、それぞれ設
定している。したがって、ノイズや光学系・回路系等に
よる検出信号レベルのバラツキが大きくても、メディア
表面への誤フォーカス引込みを行う恐れがなく、しか
も、フォーカス引込み後のフォーカスはずれも検出可能
なフォーカス引込み回路が実現される。

【００５２】請求項３の発明では、フォーカス引込みの
前後で、レベル比較器へ入力する信号のゲインを切換え
るようにしている。そのためのゲインは、フォーカス引
込みの前には、メディア表面の反射によるレベル比較器
への入力信号のレベルが、比較レベルより充分に低くな
るように、また、フォーカス引込みの後には、フォーカ
ス制御中においてトラックにより変調されて得られるレ
ベル比較器への入力信号のレベルが、比較レベルより充
分に高くなるように、それぞれ設定している。したがっ
て、先の請求項２の発明と同様の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明のフォーカス引込み回路について、そ
の要部構成の一実施例を示す機能ブロック図である。

【図２】図１に示したこの発明のフォーカス引込み回路
の動作を説明するためのタイミングチャートである。

【図３】この発明のフォーカス引込み回路について、そ
の要部構成の他の実施例を示す機能ブロック図である。

【図４】図３に示したこの発明のフォーカス引込み回路
の動作を説明するためのタイミングチャートである。

【図５】フォーカス引込み時におけるレベル切換え動作
を説明するためのタイミングチャートである。

【図６】この発明のフォーカス引込み回路で使用するの
に好適な合焦点到達検出部の一例を示す機能ブロック図
である。

【図７】この発明のフォーカス引込み回路について、そ
の要部構成の第３の実施例を示す機能ブロック図であ
る。

【図８】図７に示したこの発明のフォーカス引込み回路
の動作を説明するためのタイミングチャートである。

【図９】従来の光ディスク装置について、その要部構成
の一例を示す構成図である。

【図１０】図９に示したフォーカスサーボ回路８の詳細
な構成を示す機能ブロック図である。

【図１１】フォーカスサーボ用の２分割フォトダイオー
ドからの出力信号を処理する合焦点近傍検出回路につい
て、その要部構成の一例を示す機能ブロック図である。

【図１２】図１１の回路の動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。

【図１３】合焦点近傍検出回路においてスライスレベル
の設定方法を説明する図である。

【符号の説明】

１１２分割フォトダイオード１２減算アンプ１３加算アンプ２１入力アンプ２２入力アンプ２３合焦点近傍検出回路２３ａレベル比較器２３ｂレベル切換え回路２３ｃゲイン切換え回路２４フォーカスサーボ回路内のコントローラ２５コントローラ２７コントローラ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光学的に情報の記録／再生を行う装置の
フォーカス引込み回路において、メディアから反射される光量和信号のレベルを予め設定
された比較レベルと比較するレベル比較手段を備え、前記比較レベルは、メディア表面の反射によるレベルよ
り高く、かつ、フォーカス制御中においてトラックによ
り変調されて得られる最低レベルより低く設定すること
を特徴とするフォーカス引込み装置。
【請求項２】光学的に情報の記録／再生を行う装置の
フォーカス引込み回路において、メディアから反射される光量和信号のレベルを所定の比
較レベルと比較するレベル比較手段と、該レベル比較手段の所定の比較レベルを、第１の比較レ
ベルあるいは第２の比較レベルに切換える比較レベル切
換え手段、とを備え、前記第１の比較レベルは、メディア表面の反射によるレ
ベルより充分に高く設定し、前記第２の比較レベルは、フォーカス制御中においてト
ラックにより変調されて得られる最低レベルより充分に
低く設定し、フォーカス引込み前には、前記第１の比較レベルで比較
し、フォーカス引込み開始後は、前記第２の比較レベル
で比較するように、前記比較レベル切換え手段を切換え
ることを特徴とするフォーカス引込み回路。
【請求項３】光学的に情報の記録／再生を行う装置の
フォーカス引込み回路において、メディアから反射される光量和信号のレベルを所定の比
較レベルと比較するレベル比較手段と、該レベル比較手段に入力される前記光量和信号のレベル
を、第１のゲインあるいは第２のゲインに切換えるゲイ
ン切換え手段、とを備え、前記第１のゲインは、メディア表面の反射によるレベル
が、前記所定の比較レベルより充分に低く設定し、前記第２のゲインは、フォーカス制御中においてトラッ
クにより変調されて得られる最低レベルより充分に高く
なるように設定し、フォーカス引込み前には、前記第１のゲインに、フォー
カス引込み開始後は、前記第２のゲインになるように、
前記ゲイン切換え手段を切換えることを特徴とするフォ
ーカス引込み回路。