JPH0645227A - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置

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JPH0645227A
JPH0645227A JP4319138A JP31913892A JPH0645227A JP H0645227 A JPH0645227 A JP H0645227A JP 4319138 A JP4319138 A JP 4319138A JP 31913892 A JP31913892 A JP 31913892A JP H0645227 A JPH0645227 A JP H0645227A
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JP
Japan
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chamber
gas
stage
laser interferometer
projection
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JP4319138A
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English (en)
Inventor
Shoichi Tanimoto
昭一 谷元
Kazunori Imamura
和則 今村
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 投影露光装置をチャンバー内に収納した上
で、さらにステージ位置決め精度を向上させる。 【構成】 ステージ位置計測用のレーザ干渉計(11)
の光路の揺らぎを小さくするために、チャンバー用空調
装置(18)とは別に、ステージとレーザ干渉計の周囲
に積極的に温度制御された気体を流す送風部材(30)
を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、投影光学系を用いて、
マスクのパターンを感光体(ウェハ)に露光する装置に
関し、特に感光体を保持して2次元移動するステージの
位置決め精度等を安定させた投影光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】縮小投影型露光装置は近年超LSIの生
産現場に多く導入され、大きな成果をもたらしている
が、その重要な性能の一つに重ね合せマッチング精度が
あげられる。このマッチング精度に影響を与える要素の
中で重要なものに投影光学系の倍率誤差がある。超LS
Iに用いられるパターンの大きさは年々微細化の傾向を
強め、それに伴ってマッチング精度の向上に対するニー
ズも強くなってきている。従って投影倍率を所定の値に
保つ必要性はきわめて高くなってきている。現在投影光
学系の倍率は装置の設置時に調整することにより倍率誤
差が一応無視できる程度になっている。しかしながら、
装置の稼働時における僅かな温度変化やクリーンルーム
内の僅かな気圧変動等、環境条件が変化しても倍率誤差
が生じないようにしたいという要求が高まっている。
【0003】また、環境条件の変化により倍率の変動だ
けでなく、投影光学系の結像面の位置が光軸方向に変動
する、いわゆる焦点変動も生じる。このため、この焦点
変動をそのまま放置しておくと、投影されたマスクのパ
ターン像が感光体であるウェハ上で解像不良となり、超
LSIの不良を招くことにもなる。そこで、この種の投
影型露光装置の多くは、例えば昭和55年11月1日発
行の文献、「電子材料」11月号の第43〜46頁に紹
介されているように、温度制御されたチャンバー内に収
納され、露光装置本体の周囲温度を極力一定にするよう
に配慮されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで投影露光装置
は、マスク(レチクル)上のパターンを投影光学系を介
して感光基板(ウェハ)上に投影するとともに、その感
光基板を結像面と平行な面内で精密に位置決めする必要
がある。そのため、感光基板は2次元移動する精密な移
動ステージ上に保持され、このステージの位置はレーザ
干渉計によって精密に測定されている。しかしながら、
単に空調されたチャンバー内に露光装置を収納しただけ
では、レーザ干渉計の測定が十分に安定して行われない
ことがわかった。これは、レーザ干渉計の光路内の気体
の屈折率の揺らぎが十分に小さくなっていないために起
こる。そこで本発明は投影露光装置のステージの位置を
測定するレーザ干渉計の光路を安定にし、ステージの位
置決め精度を向上させることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明においては、マス
ク(レチクルR)、投影光学系(7)、ステージ
(8)、及びレーザ干渉計(11)等で構成される露光
装置本体をチャンバー(20)内に収納して外気から遮
蔽することを前提としている。そして、チャンバー(2
0)内の全体に清浄な気体を供給するとともに、その気
体の温度を所定値に制御するチャンバー用気体制御手段
(送風機21、温度制御部22、HEPAフィルター2
3で構成される温度調整装置18)と、このチャンバー
用気体制御手段から供給される気体の一部を、ステージ
(8)とレーザ干渉計(11)との周囲に積極的に流す
ように送る送風部材(ファン30)とを設けるようにし
た。
【0006】
【作用】本発明によれば、チャンバー用気体制御手段
(温度調整装置18)からチャンバー内に供給される気
体の流れのみによって空調を行うだけではなく、ステー
ジ(8)やレーザ干渉計(11)の周囲に積極的に気体
を流すように、チャンバー用気体制御手段とは別の送風
部材(ファン30)を新たに設けたため、レーザ干渉計
の光路内の気体屈折率の揺らぎが低減される。
【0007】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例による投影露光
装置の概略的な構成図である。照明用の光源1は楕円形
の集光ミラー2の第1焦点位置に配置され、光源1から
の光は集光ミラー2の第2焦点位置に集光される。この
第2焦点位置には照明光を透過、及び遮断するシャッタ
ー3が設けられている。このシャッター3はパルスモー
タやソレノイド等の駆動部4によって開閉される。シャ
ッター3を透過した照明光は第1コンデンサーレンズ
5、第2コンデンサーレンズ6を通り、レチクル(マス
ク)Rを照明する。
【0008】レチクルRには所定の回路パターン等が形
成されており、そのパターンの光像は投影レンズ7によ
って、感光材を塗布したウェハW上に投影される。投影
レンズ7を構成する鏡筒には周囲に複数の通気孔7aが
設けられており、この通気孔7aは、投影レンズ7を構
成するレンズエレメントとレンズエレメントとの間の各
空間S1 、S2 、S3 を鏡筒の外側の雰囲気と連通させ
る。移動ステージ8(以下、単にステージ8と呼ぶ)は
ウェハWを載置するとともに、駆動部9により定盤10
の上を2次元的に移動するように設けられている。この
ステージ8の2次元的な位置はレーザ光を用いた光波干
渉計(以下、レーザ干渉計とする)11によって逐次測
定されている。
【0009】この定盤10は、エア・ダンパー12を有
する防振台13の上に載置されている。このため床14
を伝わってくる外部振動は露光装置に伝わらないように
遮断、もしくは減衰される。さらに、この定盤10には
投影レンズ7、レチクルR、及び第2コンデンサーレン
ズ6を所定の光学的な関係に保持するための支柱15が
設けられている。ただしレチクルRはレチクルホルダー
16に載置され、このレチクルホルダー16は、レチク
ルRが2次元的に移動可能なように支柱15に設けられ
ている。
【0010】チャンバー20は第2コンデンサーレンズ
6、レチクルR、投影レンズ7、ウェハW及びステージ
8を外気から遮断して、その内部を密閉状態にする如く
設けられている。このチャンバー20の内部には、内部
の気体(例えば空気)の温度を調整する温度調整装置1
8が設けられている。この温度調整装置18は、チャン
バー20内の下方の気体を上方へ送る送風機21と、送
風機21から送られた気体1を所定の温度に調節して排
出する温度制御部22と、温度制御部22からの気体を
チャンバー20内の上側で排出するようなフィルター2
3とで構成されている。温度制御部22は、例えば冷却
機、加熱機、温度センサー及び制御回路により構成さ
れ、温度センサーが排出される気体の温度を検出し、そ
の温度が所定値になるように制御回路により冷却機と加
熱機とを制御することによって、フィルター23からは
常に所定温度の気体が排出される。また、フィルター2
3は、通過する気体中の微小な塵(サブミクロンまでの
粒子)を取り去るようなHEPAフィルター(High Eff
iciency Particulate Air filter) であり、常に清浄な
気体をチャンバー20内に排出する。
【0011】さて、このチャンバー20内の気体の圧力
は圧力センサー25で検出され、その検出信号は圧力調
整装置26に送られる。この圧力調整装置26は検出信
号に基づいて、チャンバー20内の圧力が所定値になる
ように、管27を通じて圧力制御する。圧力調整装置2
6は外気に開放された管28を通じて、チャンバー20
内に気体を送り込むコンプレッサーと、チャンバー20
内の気体を排気する排気装置とで構成されており、この
コンプレッサーと排気装置を圧力センサー25からの検
出信号に基づいて制御することにより、チャンバー20
内は常に所定圧力に保たれる。尚、チャンバー20内の
上方には、光源1、集光ミラー2、シャッター3、駆動
部4、第1コンデンサーレンズ5のカバー19が設けら
れている。
【0012】さらに、チャンバー20内には投影レンズ
7の周囲に気体を強制的に流すためのファン30が設け
られている。ファン30は図中、矢印Aのように温度調
整装置18のフィルター23から排出された洗浄な気体
を、積極的に投影レンズ7にあてる働きをする。これに
より投影レンズ7の通気孔7aを介して空間S1
2 、S3 に気体の流れが起こり、投影レンズ7に入射
する光エネルギーの一部を内部のレンズエレメントL1
〜L4 が吸収することにより生じる熱的変動も低減させ
る。
【0013】すなわち、投影レンズ7内の各レンズエレ
メントL1 〜L4 の表面は、常に所定の温度及び所定の
圧力に制御された気体にさらされており、レンズエレメ
ントL1 〜L4 が光エネルギーの吸収により温度上昇し
ても、レンズエレメント自体の光学的な特性を狂わすこ
とがなく、空間S1 、S2 、S3 の圧力も一定なので、
この空間による屈折率も変化せずその結果、投影レンズ
7の光学的な特性の変動、例えば倍率変動や焦点変動が
押さえられ、常に初期の特性が保たれる。
【0014】ところで、レチクルRやウェハWは変換す
る必要がある。このためチャンバー20とは独立したウ
ェハ用予備室40と、レチクル用予備室50とが設けら
れている。ウェハ用予備室40には外気に対して気密可
能に開閉する扉41と、ウェハ用予備室40とチャンバ
ー20とを隔離する開閉可能な扉42とが設けられてい
る。ただし、扉41と扉42は同時には開かないように
制御されている。ウェハ用予備室40には、1枚のウェ
ハ、又は複数のウェハを段積み状態で格納するウェハカ
セットが、扉41を開いて運び込まれる。1枚のウェハ
の場合は、扉42が閉じて、扉41が開いた状態でウェ
ハ用予備室40内に搬入され、扉41が閉じてから扉4
2が開いて、そのウェハは不図示の自動搬送部によりス
テージ8まで運ばれる。また、ウェハカセットごとウェ
ハ用予備室40内に搬入される場合は、扉41を閉じた
後扉42を開いたままにして、自動搬送部によりウェハ
カセットからステージ8へ1枚ずつウェハを供給し、露
光が終了したら、そのウェハをステージ8からウェハカ
セットへ戻し、次にウェハを搬送するようにすればよ
い。
【0015】一方、レチクル用予備室50もウェハ用予
備室40と同様に、外気に対して気密状態にする開閉可
能な扉51と、レチクル用予備室50とチャンバー20
とを隔離する開閉可能な扉52とが設けられている。こ
のレチクル用予備室50内には1枚のレチクル、又は複
数のレチクルが搬入される。扉51、52の動作も扉4
1、42と同様に、同時に両方の扉51、52が開かな
いように制御されている。
【0016】さて、このような構成で圧力調整装置26
はチャンバー20内の圧力を一定の値、例えば760m
Hgに保ち、温度調整装置18はフィルター23を介し
て一定の温度、例えば25°Cの気体を図中矢印に示す
ように、第2コンデンサーレンズ6、レチクルR、投影
レンズ7に向けて排出する。この気体はチャンバー20
内を循環して、ウェハWやステージ8及びレーザ干渉計
11の周囲を積極的に通り、再び温度調整装置18の送
風機21に吸い込まれる。以上のように、レチクルR、
投影レンズ7、ウェハWは、常に一定の温度、一定の圧
力に保たれた気体中に設置され、さらに投影レンズ7の
内部にレンズエレメントL1 〜L4 も、その気体の流れ
にさらされているので、レチクルRを通り投影レンズ7
に入射する光エネルギーによって、光学特性の変動を起
こすことがなく、投影状態、すなわち倍率変動によるウ
ェハW上での投影像の伸縮状態や、焦点変動による投影
像の結像状態を常に最適なものに維持することができ
る。もちろん、ファン30による積極的な送風により、
レーザ干渉計11の光路の気体の屈折率の揺らぎも低減
される。
【0017】尚、この第1の実施例において、チャンバ
ー20の容積に対して、ウェハ用予備室40、レチクル
用予備室50の容積が十分に小さく、チャンバー20内
の圧力と外気圧力(大気圧)との差が小さい場合は、扉
42、扉52を開いてもチャンバー20内の圧力変動は
小さい。しかしながら、チャンバー20内の圧力と大気
圧との差が大きい場合は、扉42、扉52の開放により
チャンバー20内の圧力が急に変動することになる。そ
こでこの場合、扉42、扉52を開く速度を遅くして、
チャンバー20と各予備室との間で気体がリークする速
度を低くする。そして、チャンバー20内の圧力変化の
速さを小さくして、圧力調整装置26の圧力調節速度
(応答時間)が十分追随できるようにすればよい。又、
各予備室40、50に圧力調整装置を設け、予備室内の
圧力がチャンバー20内の圧力と同じになるように制御
しても同様の効果が得られる。
【0018】またウェハ用予備室40は複数設けておい
た方が、ウェハの出し入れに対して便利であり、例えば
ウェハをチャンバー20内に搬入するための予備室と、
チャンバー20内から搬出するための予備室とを別々に
すると、装置のスループットが向上するという利点があ
る。さらに、そのように搬入用と搬出用に予備室を分け
た場合でも、それぞれ複数の室を用意し、1つの室が外
気に対して閉じている時に、他の室が外気に対して開い
ているようにすれば、ウェハ交換の操作がより便利にな
る利点もある。
【0019】次に本発明の第2の実施例を図2を用いて
説明する。第1の実施例では第1のコンデンサーレンズ
5によってチャンバー20内と外気とを気密状態で遮断
するようにしたが、第2の実施例ではレチクルRによっ
て遮断するようにチャンバー20を構成した点で異な
る。すなわち図2のように、レチクルRの下面からステ
ージ8までがチャンバー20内に気密状態で格納され
る。このため、第2の実施例においても、レチクルRと
投影レンズ7の間の空間、投影レンズ7とウェハWとの
間の空間、及び投影レンズ7内の空間S1 、S2 、S3
は一定温度、一定圧力の気体で満たされ、ファン30に
よってレンズエレメントL1 〜L4 は熱的な光学特性の
変動を押さえられるから、レチクルRのパターンはウェ
ハW上に常に一定の倍率で、かつ最適な結像状態で投影
される。同時にファン30による積極的な空調により、
レーザ干渉計の光路もより安定なものになる。
【0020】尚、この実施例においては、レチクルRと
投影レンズ7との間の空間はチャンバー20内の制御さ
れた気体で満たすものとしたが、投影レンズ7のレチク
ルR側の第1番目のレンズエレメント(例えばレンズエ
レメントL1 )によって外気と遮断するように、チャン
バー20の壁を投影レンズ7の鏡筒と接合しておいても
同様の効果が得られる。この場合、投影レンズ7とウェ
ハWの間の空間、及び投影レンズ7内の空間S1
2 、S3 が一定温度、一定圧力の気体で満たされる。
【0021】以上、本発明の各実施例によれば投影光学
系を構成する光学要素の表面を空冷することにより、露
光エネルギーの吸収による熱的変化を軽減できるので、
安定した結像倍率や結像位置が得られるだけでなく、外
気の圧力や温度変化にかかわらず所定の結像特性を維持
できる利点がある。さらに、本発明の各実施例ではチャ
ンバー20を用いるので、ウェハWの置かれる雰囲気を
空気ではなく窒素等の他の気体に置換することもでき
る。このため感光材としてポジレジストだけでなく、ネ
ガレジストも使用できる。この場合には、ウェハ用予備
室40、又はレチクル用予備室50からの空気の混入が
予想されるので、使用する気体を単位時間に一方から供
給し、他方から排気する等して、気体の成分比を所定の
ものとする必要がある。また圧力調整装置26の外気に
開かれた管28をその気体の供給口として使用する場合
は使用気体の配管と接続しなければならない。
【0022】
【発明の効果】以上本発明によれば、ステージの位置を
レーザ干渉計を用いて測定するとき、レーザ光の波長が
変動しないので、一定の波長係数を掛けるだけで特別な
波長補正をしなくてよく、またレーザ光が通る空間の気
体の屈折率の揺らぎも小さくなって、ステージ位置測定
の再現性が良くなるので、ステージ位置決め精度が向上
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例による投影露光装置の構
成図。
【図2】本発明の第2の実施例による投影露光装置の構
成図。
【符号の説明】 1…光源 7…投影レンズ 7a…通気孔 8…ステージ 11…レーザ干渉計 18…温度調整装置 20…チャンバー 26…圧力調整装置 30…ファン

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】転写すべきパターンが形成されたマスクを
    照明する照明系と、該マスクのパターンの像を感光基板
    へ結像投影する投影光学系と、前記感光基板を保持して
    2次元移動するステージと、該ステージの位置を測定す
    るレーザ干渉計とを備えた投影露光装置において、 前記マスク、前記投影光学系、前記ステージ、及び前記
    レーザ干渉計を外気から遮蔽して収納するチャンバー
    と;該チャンバー内の全体に清浄な気体を供給するとと
    もに、該気体を所定温度に制御するチャンバー用気体制
    御手段と;前記レーザ干渉計の光路の揺らぎを低減する
    ために、前記チャンバー用気体制御手段から供給される
    気体の一部を、前記ステージと前記レーザ干渉計との周
    囲に積極的に流す送風部材とを設けたことを特徴とする
    投影露光装置。
  2. 【請求項2】前記チャンバー用気体制御手段は、前記チ
    ャンバー内の気体を吸い込むための送風機と、該送風機
    によって吸い込まれる気体の温度を調節する温度制御部
    と、該温度調節された気体を前記チャンバー内に排出す
    る位置に設けたHEPAフィルターとで構成された空調
    装置から成り、該空調装置の送風機は、前記送風部材に
    よって前記ステージと前記レーザ干渉計との周囲に積極
    的に流された気体を再び吸い込んで循環させることを特
    徴とする請求項第1項に記載の装置。
JP4319138A 1992-11-30 1992-11-30 投影露光装置 Pending JPH0645227A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6450288B1 (en) 1998-01-28 2002-09-17 Nikon Corporation Air-conditioning apparatus, partition and exposure apparatus
KR100443452B1 (ko) * 1995-09-12 2004-10-20 가부시키가이샤 니콘 주사형노광장치
JP2006332146A (ja) * 2005-05-24 2006-12-07 Nikon Corp 調整方法

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