JPH0643553U - 環境試験装置 - Google Patents

環境試験装置

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JPH0643553U
JPH0643553U JP8475192U JP8475192U JPH0643553U JP H0643553 U JPH0643553 U JP H0643553U JP 8475192 U JP8475192 U JP 8475192U JP 8475192 U JP8475192 U JP 8475192U JP H0643553 U JPH0643553 U JP H0643553U
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JP
Japan
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air
ccd camera
cooler
test tank
tube
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Pending
Application number
JP8475192U
Other languages
English (en)
Inventor
実文 入木田
幸史 大沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Graphtec Corp
Original Assignee
Graphtec Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Graphtec Corp filed Critical Graphtec Corp
Priority to JP8475192U priority Critical patent/JPH0643553U/ja
Publication of JPH0643553U publication Critical patent/JPH0643553U/ja
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  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 結露防止のための空気乾燥器を設置したり、
エアチューブを断熱したりすることなくエアチューブ内
の空気中の水分が結露するのを防止する。 【構成】 CCDカメラ16に空気を送り込むエアチュ
ーブ25の一部を冷却器7に近接させて内部の空気を冷
却、除湿する。これによって乾燥空気をCCDカメラ1
6に導く。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、電気部品等の被試験物の挙動等を観察する環境試験装置に関するも のである。
【0002】
【従来の技術】
近年、プリント基板に実装されたIC等のきわめて小容積の被試験物の環境試 験をしたいと云った要求がある。このような環境試験装置における被試験物の観 察は、被試験物を収納する試験槽に設けた観察窓を通して観察するか、CCDカ メラ等の撮影手段を試験槽内に設置して行なっている。この場合、試験槽の内部 は所定の環境条件(温度、湿度等)に設定されているため、特に極度な低温また は高温下でカメラによる観察に際しては、エアチューブによって外気をCCDカ メラに供給し、動作範囲内に保って被試験物の観察を行っている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、特に試験槽内を極度な低温に保って観察する場合、CCDカメ ラやエアチューブ全体を断熱材によって十分に断熱していないとCCDカメラユ ニットのケース内に供給された空気中の水分が温度差により水滴となってレンズ 面に付着し、カメラからの画像が不鮮明になるという問題があった。 そこで、結露を防止するために空気乾燥器を設置し、エアチューブ内の空気を 乾燥させることも考えられるが、その場合はそれだけ装置自体が高価になるとい う問題があった。
【0004】 したがって、本考案は上記したような従来の問題点に鑑みてなされたもので、 結露防止のための空気乾燥器を設置したり、エアチューブを断熱したりすること なくエアチューブ内の空気中の水分が結露するのを確実に防止し得るようにした 環境試験装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本考案に係る環境試験装置は、被試験物を収納す る試験槽と、この試験槽内に配設され被試験物を観察するCCDカメラユニット および試験槽内を冷却する冷却器と、前記CCDカメラユニットに外気を供給す るエアチューブとを備え、このエアチューブの一部を前記冷却器に近接もしくは 接触させて配管し、チューブ内の空気を冷却器によって冷却、除湿するようにし たものである。
【0006】
【作用】
本考案において、冷却器は試験槽内部を冷却し所定の観察温度に設定すると同 時に、エアチューブ内の外気を冷却、除湿する。これによりエアチューブ内の外 気は乾燥空気となり、CCDカメラユニットに供給される。
【0007】
【実施例】
以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明する。 図1は本考案に係る環境試験装置の一実施例を示す外観斜視図、図2は概略構 成図、図3はCCDカメラユニットの一部破断斜視図である。図1および図2に おいて、環境試験装置1は外部から隔絶された密閉構造をなす試験槽2を備えて いる。試験槽2は、前面開口部を気密に閉塞する開閉自在な観察窓付扉3を備え 、内部が内壁に沿って延びる壁体4によって温度制御部5と被試験物収納部6と に仕切られている。温度制御部5と被試験物収納部6は上下において互いに連通 している。温度制御部5には冷却器7、冷却器7の上方に位置するヒータ8およ びファン9が配設されている。冷却器7は、試験槽2の外部に配設された圧縮機 10、凝縮器11および膨張機構(弁)12に配管13を介して接続されており 、これらにより冷凍機14を構成している。配管13にはフロン等の冷媒が封入 されている。したがって、冷凍機14の運転により圧縮機10で冷媒を圧縮して 高圧冷媒ガスとし、このガスを凝縮器11で凝縮、液化して膨張機構12により 膨張させて低圧冷媒ガスとし冷却器7に導くと冷凍サイクルを形成して槽外およ び槽内との熱交換を行うため、試験槽2内を所望の低温に設定することができる 。また、ヒータ8によって試験槽2内の空気を加熱すると所望の高温に設定する ことができる。一方、被試験物収納部6内には電子部品等の被試験物15を観察 する観察手段としてのCCDカメラ16および照明装置17が配設されている。
【0008】 前記CCDカメラ16は、試験槽2内の熱の影響を受けないよう図3に示すよ うに断熱材からなるケース20内に収納されている。ケース20の前面開口部は ガラス21を備えたキャップ22によって気密に閉塞されており、これらCCD カメラ16、ケース20およびキャップ22によってCCDカメラユニット23 を構成している。ガラス21の表面には金属膜のコーティングにより透明な発熱 体(図示せず)が形成されている。そして、CCDカメラユニット23は、照明 装置17により照明される被試験物15の観察したい箇所を撮影できるよう、外 部からの操作により移動可能に配設されており、CCDカメラ16によって撮影 された被試験物15の画像がフレキシブルケーブル18を介してTVモニタ24 に送信、表示されるように構成されている。また前記ケース20には給気用エア チューブ25および排気用エアチューブ26の一端がそれぞれ接続されている。 給気用エアチューブ25は、外気をCCDカメラユニット23内に導きCCDカ メラ16を動作範囲内の温度に保持するためのもので、一旦試験槽2から外部に 導出された後再び試験槽2内に導入され、さらに試験槽2外に導かれて2つに分 岐され、その一方がポンプ27に、他方が気液分離器28内の液体29中に差し 込まれている。そして、エアチューブ25の試験槽2内に位置するカメラ側端部 は、断熱フレキシブルチューブ25aを形成し、試験槽2内に再導入されている チューブ部分は、前記冷却器7に近接もしくは密接されて除湿部25bを形成し ている。排気用エアチューブ26の他端側は試験槽2の外部に導出されている。 ポンプ27の駆動によってエアチューブ25内に送り込まれた外気は、除湿部2 5bを通過する際、冷却器7によって冷却される。この時、除湿部25b内の空 気の水分は管壁に結露し、気液分離器28に回収される。除湿された空気は、試 験槽2外のチューブ部分25cを通って常温まで暖められて乾燥空気となる。そ して、この乾燥空気は、断熱フレキシブルチューブ25aを通ってCCDカメラ ユニット23内に導かれCCDカメラ16を動作温度範囲内に保持する。
【0009】 ここで、CCDカメラユニット23内に供給される空気は乾燥空気であるため 、試験槽2内部が低温になった場合であってもガラス21(図3)の内面に結露 することがなく、また試験槽2が高温になった場合であってもガラス外面に形成 された発熱体を通電加熱することで結露することがない。したがって、試験槽2 内の被試験物15をCCDカメラ16により鮮明に撮影することができる。
【0010】 図4は本考案の他の実施例を示す概略構成図である。この実施例は冷却器7の 出口側に更に小型の冷却器31を設け、エアチューブ25の除湿部25bを試験 槽2の外部に導出して冷却器31に近接もしくは接触させ、更にこれらを図しな い断熱部材により覆ったものである。その他の構成は上記実施例と同様である。
【0011】 このような構成においても、エアチューブ25内の空気は冷却器31によって 冷却され、空気中の水分が除湿部25bの管壁に結露するため、CCDカメラユ ニット23に除湿された乾燥空気を供給することができる。
【0012】 図5は本考案の更に他の実施例を示す概略構成図である。この実施例は凝縮器 11を通った冷媒の一部を膨張機構12を経て冷却器7に導く一方、残りを膨張 機構40を経て除湿器31に導き、エアチューブ25の除湿部25bを除湿部3 1に近接もしくは接触させ、内部の空気を冷却、除湿するように構成したもので ある。その他の構成は図4に示した実施例と同様である。
【0013】 このような構成においては、膨張機構40の弁開度を調整することにより、冷 却能力が調整できるので、試験槽2内が高温の時は弁開度を開けてポンプ27よ り送り込まれる空気の温度を下げることによりCCDカメラユニット23内の温 度を制御することができる。
【0014】
【考案の効果】
以上説明したように本考案に係る環境試験装置によれば、CCDカメラに外気 を供給するエアチューブの一部を冷却器に近接もしくは接触させ、チューブ内を 通る空気を冷却器によって冷却、除湿するように構成したので、CCDカメラに 乾燥空気を供給することができ、低温観測時における結露の発生を防止すること ができる。したがって、良好な画像が得られ、また除湿のための空気乾燥器を別 個に設ける必要がなく安価に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係る環境試験装置の一実施例を示す外
観斜視図である。
【図2】概略構成図である。
【図3】CCDカメラユニットの一部破断斜視図であ
る。
【図4】本考案の他の実施例を示す概略構成図である。
【図5】本考案の更に他の実施例を示す概略構成図であ
る。
【符号の説明】
1 環境試験装置 2 試験槽 5 温度制御部 6 被試験物収納部 7 冷却器 8 ヒータ 9 ファン 10 圧縮機 11 凝縮器 12 膨張機構 13 配管 14 冷凍機 15 被試験物 16 CCDカメラ 23 CCDカメラユニット

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被試験物を収納する試験槽と、この試験
    槽内に配設され被試験物を観察するCCDカメラユニッ
    トおよび試験槽内を冷却する冷却器と、前記CCDカメ
    ラユニットに外気を供給するエアチューブとを備え、こ
    のエアチューブの一部を前記冷却器に近接もしくは接触
    させて配管し、チューブ内の空気を冷却器によって冷
    却、除湿することを特徴とする環境試験装置。
JP8475192U 1992-11-16 1992-11-16 環境試験装置 Pending JPH0643553U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8475192U JPH0643553U (ja) 1992-11-16 1992-11-16 環境試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8475192U JPH0643553U (ja) 1992-11-16 1992-11-16 環境試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0643553U true JPH0643553U (ja) 1994-06-10

Family

ID=13839400

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8475192U Pending JPH0643553U (ja) 1992-11-16 1992-11-16 環境試験装置

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JP (1) JPH0643553U (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015059873A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 エスペック株式会社 環境試験装置
JP2016138877A (ja) * 2015-01-23 2016-08-04 Jfeスチール株式会社 動的観察方法および動的観察装置
KR20210025285A (ko) * 2019-08-27 2021-03-09 주식회사 유니테스트 챔버형 검사장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015059873A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 エスペック株式会社 環境試験装置
JP2016138877A (ja) * 2015-01-23 2016-08-04 Jfeスチール株式会社 動的観察方法および動的観察装置
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