JPH0639355A - 基板洗浄装置 - Google Patents
基板洗浄装置Info
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- JPH0639355A JPH0639355A JP19561392A JP19561392A JPH0639355A JP H0639355 A JPH0639355 A JP H0639355A JP 19561392 A JP19561392 A JP 19561392A JP 19561392 A JP19561392 A JP 19561392A JP H0639355 A JPH0639355 A JP H0639355A
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Abstract
ハキャリアに付着しているゴミを、ウェハ上に再付着さ
せることなく洗浄できる基板洗浄装置を実現することを
目的とする。 【構成】 半導体ウェハのバッチ式ウェット処理用の基
板洗浄装置であって、水洗槽10の下部に複数本の純水
供給パイプ11を互いに所定の隙間を設けて平行に設置
し、且つ各々のパイプ11には水洗槽10内に設けられ
たウェハキャリアに保持されて洗浄されるウェハのピッ
チと同一ピッチで且つウェハ11の枚数以上に設けられ
た純水吹出し穴15を有するように構成する。
Description
ウェット処理において、薬品処理後の水洗工程に用いら
れる基板処理装置に関する。
に、水洗槽1の下部に1本の純水供給パイプ2を設け、
該パイプ2に槽1の上方に向って純水を噴出する複数個
の穴3を設けたもので、ウェハを洗浄するときは、ウェ
ハ4をウェハキャリア5に入れて槽1の中の純水に浸漬
し、純水供給パイプ2から供給される純水によって洗浄
するようになっている。なお純水供給パイプ2の穴3の
ピッチは、ウェハキャリアに並べられたウェハのピッチ
の2〜3倍となっている。
槽1内の下から上に向かう純水の流れが乱れ、均一な流
れの状態を作れず、ウェハ4やキャリア5に付着してい
たゴミをウェハ全体にばらまく形となり、ウェハ上に再
付着するゴミが多く、製品の歩留りを低下させる要因と
なっている。
しているゴミを、ウェハ上に再付着させることなく洗浄
できる基板洗浄装置を実現しようとする。
おいては、半導体ウェハのバッチ式ウェット処理用の基
板洗浄装置であって、水洗槽10の下部に複数本の純水
供給用パイプ11を互いに所定の隙間を設けて平行に設
置し、且つ各々のパイプ11には水洗槽10内に設けら
れたウェハキャリアに保持されて洗浄されるウェハのピ
ッチと同一ピッチで且つウェハの枚数以上に設けられた
純水吹出し穴15を有することを特徴とする。また、そ
れに加えて、上記純水吹出し穴15において、パイプ1
1の純水供給側の穴径を他より大きくしたことを特徴と
する。
イプ11の根元には、それぞれに供給される純水の量を
調整できるように流路の面積を絞る流量調整用ボルト1
6を設けたことを特徴とする。この構成を採ることによ
り、ウェハやウェハキャリアに付着しているゴミを、ウ
ェハ上に再付着させることなく洗浄できる基板洗浄装置
が得られる。
きウェハ17のピッチと同一ピッチで穿設した複数本の
純水供給用パイプ11を水洗槽10の下部に設けたこと
により、該純水供給用パイプ11から出た純水は、ウェ
ハ17の手前から奥方向には、全体として均一な流速分
布となり、またウェハの直径方向には、ウェハの中心付
近を最大とする左右対称な流速分布を得ることができ
る。このように水洗槽内で、下から上へ均一な純水の流
れを作りだすことができ、ウェハやウェハキャリアに付
着していたゴミを、ウェハ上に再付着させることなく、
水洗槽の上部より槽外に排出することができる。
(b)図のa−a線における断面図、(b)は(a)図
のb−b線における断面図である。本実施例は同図に示
すように、水洗槽10と、該水洗槽10の下部に設けら
れた複数本の純水供給用パイプ11とを具備している。
そして該純水供給用パイプ11は、その詳細を図2に示
すように互いに僅かの間隙をあけて並列し、前部導水管
12に側部導水管13,13′を介して接続されている
インテークマニホールド14に接続されている。なお該
純水供給用パイプ11の他端は前部導水管12に固定さ
れているが該部は盲となっている。
槽10の上方に向って開口している複数個の純水吹出し
穴15が穿設されている。該穴15の数はウェハキャリ
アに載置されて洗浄されるウェハの枚数より多く、且つ
その穴間隔はウェハのピッチ(載置間隔)と等しくして
いる。そしてインテークマニホールド14に近い数個1
5a(図においては2個)の穴は他の穴より大きくして
純水供給パイプの端から端まで均一の流量分布が得られ
るようにしている。また、インテークマニホールド14
には各純水供給パイプ11の入口部分に、それぞれのパ
イプに流れ込む純水の量を調節できるように流路の断面
積を変える流量調節用ボルト16が設けられている。
1,図2により説明する。先ず図1の如く、ウェハ17
をウェハキャリア18に載置し、水洗槽10の純水中に
浸漬すると共に、前部導水管12の給水口12aから純
水を供給する。供給された純水は前部導水管12から側
部導水管13,13′及びインテークマニホールド14
を通って純水供給用パイプ11に入り、その純水吹出し
穴15から上方に向って噴出し、ウェハ17を洗浄す
る。
に合わせて明けてあり、また、パイプ11の根元側の穴
数個15aの穴径を大きくしてパイプ11の端から端ま
で均一の流量分布が得られるようにしてあるため、各々
の水流はウェハ表面を確実に流れウェハ表面へのゴミの
再付着を防止することができる。
純水の量を流量調節用ボルト16で制御することによ
り、ウェハ17の直径方向の流量分布を最適にすること
ができる。ウェハ上のゴミを低減させるためには、図2
(b)に曲線Aで示すような山形の流速分布が効果的で
ある。このような流速分布を実現するには、中央のボル
ト16は短かく、両端に行くほど長くすれば良い。
に設けた図示なき排水口より排水するときは、各純水供
給パイプ11が僅かな隙間(数mm)を隔てて設置してあ
るため、排液時の液の流れを邪魔することが少なく、ほ
ぼ鉛直方向の早い排液が可能となる。
の薬品処理後の水洗処理で、従来0.2μm 以上のゴミ
が数百個程度付着していたものを100個以下に減らす
ことができた。これにより歩留りの向上に寄与すること
ができる。
のa−a線における断面図、(b)は(a)図のb−b
線における断面図である。
を示す図で(a)は平面図、(b)は(a)図のb−b
線における断面図、(c)は(a)図のc−c線におけ
る断面図、(d)は(a)図のd−d線における断面図
である。
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体ウェハのバッチ式ウェット処理用
の基板洗浄装置であって、 水洗槽(10)の下部に複数本の純水供給用パイプ(1
1)を互いに所定の隙間を設けて平行に設置し、且つ各
々のパイプ(11)には水洗槽(10)内に設けられた
ウェハキャリアに保持されて洗浄されるウェハのピッチ
と同一ピッチで且つウェハの枚数以上に設けられた純水
吹出し穴(15)を有することを特徴とする基板洗浄装
置。 - 【請求項2】 上記純水吹出し穴(15)において、パ
イプ(11)の純水供給側の穴径を他より大きくしたこ
とを特徴とする請求項1の基板洗浄装置。 - 【請求項3】 上記各純水供給用パイプ(11)の根元
には、それぞれのパイプ(11)に供給される純水の量
を調整できるように流路の面積を絞る流量調整用ボルト
(16)を設けたことを特徴とする請求項1の基板洗浄
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19561392A JP3190124B2 (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | 基板洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19561392A JP3190124B2 (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | 基板洗浄装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0639355A true JPH0639355A (ja) | 1994-02-15 |
JP3190124B2 JP3190124B2 (ja) | 2001-07-23 |
Family
ID=16344081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19561392A Expired - Fee Related JP3190124B2 (ja) | 1992-07-22 | 1992-07-22 | 基板洗浄装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3190124B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030050796A (ko) * | 2001-12-19 | 2003-06-25 | 삼성전자주식회사 | 반도체 웨이퍼의 평탄화 설비 |
JP2015148747A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 液晶表示装置の製造方法および製造装置 |
-
1992
- 1992-07-22 JP JP19561392A patent/JP3190124B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030050796A (ko) * | 2001-12-19 | 2003-06-25 | 삼성전자주식회사 | 반도체 웨이퍼의 평탄화 설비 |
JP2015148747A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 液晶表示装置の製造方法および製造装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3190124B2 (ja) | 2001-07-23 |
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