JPH063689A - 液晶パネル - Google Patents
液晶パネルInfo
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- JPH063689A JPH063689A JP18449992A JP18449992A JPH063689A JP H063689 A JPH063689 A JP H063689A JP 18449992 A JP18449992 A JP 18449992A JP 18449992 A JP18449992 A JP 18449992A JP H063689 A JPH063689 A JP H063689A
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H—ELECTRICITY
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- H05K3/36—Assembling printed circuits with other printed circuits
- H05K3/361—Assembling flexible printed circuits with other printed circuits
Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶パネルのメタライジングされたＴＡＢ接
合端子とＴＡＢとを異方性導電膜で接合した場合に、そ
の接合部分を非破壊的に外観検査できるようにする。 【構成】 異方性導電膜を用いて液晶パネルとＴＡＢと
を接合するために、ＩＴＯ透明電極端子をメタライジン
グすることにより、不透明な金属薄膜２ｂを含むＴＡＢ
接合端子２を形成する。このときＴＡＢ接合端子の金属
薄膜２ｂの少なくとも一部に窓２ｃを開けることにより
透明領域を形成する。
合端子とＴＡＢとを異方性導電膜で接合した場合に、そ
の接合部分を非破壊的に外観検査できるようにする。 【構成】 異方性導電膜を用いて液晶パネルとＴＡＢと
を接合するために、ＩＴＯ透明電極端子をメタライジン
グすることにより、不透明な金属薄膜２ｂを含むＴＡＢ
接合端子２を形成する。このときＴＡＢ接合端子の金属
薄膜２ｂの少なくとも一部に窓２ｃを開けることにより
透明領域を形成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、異方性導電膜により
ＴＡＢと接合するために、金属薄膜が形成されたＴＡＢ
接合端子を有する液晶パネルに関する。特に、非破壊の
外観検査が容易なファインピッチのアクティブマトリッ
クス型液晶パネル、例えばＴＦＴ（薄膜トラジスタ）型
液晶パネルに関する。また、そのような液晶パネルの製
造方法に関する。
ＴＡＢと接合するために、金属薄膜が形成されたＴＡＢ
接合端子を有する液晶パネルに関する。特に、非破壊の
外観検査が容易なファインピッチのアクティブマトリッ
クス型液晶パネル、例えばＴＦＴ（薄膜トラジスタ）型
液晶パネルに関する。また、そのような液晶パネルの製
造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、ワードプロセッサーやコンピ
ュターなどの電子機器の表示素子として液晶パネルが用
いられており、外部回路に接続するために液晶パネルは
ＴＡＢと異方性導電膜により接続されている。この場
合、図４に示すように、液晶パネル１のガラス基板１ａ
上にＩＴＯなどの透明なＴＡＢ接合端子２が形成されて
おり（図４（ａ））、このＴＡＢ接合端子２と、有機フ
ィルム３ａと銅箔３ｂとを含むＴＡＢ３とを導電粒子４
ａを含む異方性導電膜４により接続している（図４
（ｂ））。
ュターなどの電子機器の表示素子として液晶パネルが用
いられており、外部回路に接続するために液晶パネルは
ＴＡＢと異方性導電膜により接続されている。この場
合、図４に示すように、液晶パネル１のガラス基板１ａ
上にＩＴＯなどの透明なＴＡＢ接合端子２が形成されて
おり（図４（ａ））、このＴＡＢ接合端子２と、有機フ
ィルム３ａと銅箔３ｂとを含むＴＡＢ３とを導電粒子４
ａを含む異方性導電膜４により接続している（図４
（ｂ））。
【０００３】ところで、このような異方性導電膜の接続
状態の評価項目としては、接着強度、反応率測定、導通
試験、外観試験などがあるが、中でも、導電粒子の潰れ
具合、色、パターン上の気泡の存在の有無などを光学顕
微鏡で目視する外観試験が、簡便に行うことのできる非
破壊の評価方法であり、また、温度、圧力等の接続条件
やプレスの平行度等の接続精度など多くの情報が得ら
れ、その情報に基づき接続の信頼性の予測が可能となる
点で一般的に行われている。
状態の評価項目としては、接着強度、反応率測定、導通
試験、外観試験などがあるが、中でも、導電粒子の潰れ
具合、色、パターン上の気泡の存在の有無などを光学顕
微鏡で目視する外観試験が、簡便に行うことのできる非
破壊の評価方法であり、また、温度、圧力等の接続条件
やプレスの平行度等の接続精度など多くの情報が得ら
れ、その情報に基づき接続の信頼性の予測が可能となる
点で一般的に行われている。
【０００４】従来の液晶パネル１とＴＡＢ３との接合状
態の外観試験は、ガラス基板１ａとＴＡＢ接合端子２が
透明なので、図４（ｂ）の矢印の方向から異方性導電膜
４の状態を透視することにより行われている。
態の外観試験は、ガラス基板１ａとＴＡＢ接合端子２が
透明なので、図４（ｂ）の矢印の方向から異方性導電膜
４の状態を透視することにより行われている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、近年、コン
トラスト、応答速度、視野角などの点で画像品質を向上
させるために、従来の単純マトリックス型液晶パネルに
代わってアクティブマトリックス型液晶パネル、中でも
高ファインピッチに対応できるＴＦＴ型液晶パネルが用
いられるようになっている。この場合、ファインピッチ
化に対応して接合抵抗値を低下させるために、ＴＡＢ接
合端子２としては図４（ｃ）に示したように、ＩＴＯ電
極端子２ａをアルミニウム等によりメタライジングして
金属薄膜２ｂを形成したものが使用されている。
トラスト、応答速度、視野角などの点で画像品質を向上
させるために、従来の単純マトリックス型液晶パネルに
代わってアクティブマトリックス型液晶パネル、中でも
高ファインピッチに対応できるＴＦＴ型液晶パネルが用
いられるようになっている。この場合、ファインピッチ
化に対応して接合抵抗値を低下させるために、ＴＡＢ接
合端子２としては図４（ｃ）に示したように、ＩＴＯ電
極端子２ａをアルミニウム等によりメタライジングして
金属薄膜２ｂを形成したものが使用されている。
【０００６】しかしながら、このようなメタライジング
したＴＡＢ接合端子２を有する液晶パネル１は、ＴＡＢ
接合端子２が金属薄膜２ｂのために不透明となっている
ので従来のように外観検査ができないという問題があっ
た。
したＴＡＢ接合端子２を有する液晶パネル１は、ＴＡＢ
接合端子２が金属薄膜２ｂのために不透明となっている
ので従来のように外観検査ができないという問題があっ
た。
【０００７】この発明は以上のような従来技術の課題を
解決しようとするものであり、メタライジングされたＴ
ＡＢ接合端子を有する液晶パネルとＴＡＢとを異方性導
電膜で接合する場合に、その接合部を非破壊的に外観検
査できるようにすることを目的とする。
解決しようとするものであり、メタライジングされたＴ
ＡＢ接合端子を有する液晶パネルとＴＡＢとを異方性導
電膜で接合する場合に、その接合部を非破壊的に外観検
査できるようにすることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明者は、ＴＡＢ接
合端子の少なくとも一部に透明部分を形成することによ
り上述の目的が達成できることを見出し、この発明を完
成させるに至った。
合端子の少なくとも一部に透明部分を形成することによ
り上述の目的が達成できることを見出し、この発明を完
成させるに至った。
【０００９】即ち、この発明は、異方性導電膜を用いて
ＴＡＢと接合するためのＴＡＢ接合端子を有する液晶パ
ネルにおいて、該ＴＡＢ接合端子は金属薄膜を有し、且
つその少なくとも一部に透明領域が形成されていること
を特徴とする液晶パネルを提供する。
ＴＡＢと接合するためのＴＡＢ接合端子を有する液晶パ
ネルにおいて、該ＴＡＢ接合端子は金属薄膜を有し、且
つその少なくとも一部に透明領域が形成されていること
を特徴とする液晶パネルを提供する。
【００１０】また、この発明は、 異方性導電膜により
ＴＡＢと接合するためのＴＡＢ接合端子を、ガラス基板
上の透明電極端子上に金属薄膜を設けることにより形成
する液晶パネルの製造方法において、ＴＡＢ接合端子の
少なくとも一部に透明領域を形成することを特徴とする
液晶パネルの製造方法を提供する。
ＴＡＢと接合するためのＴＡＢ接合端子を、ガラス基板
上の透明電極端子上に金属薄膜を設けることにより形成
する液晶パネルの製造方法において、ＴＡＢ接合端子の
少なくとも一部に透明領域を形成することを特徴とする
液晶パネルの製造方法を提供する。
【００１１】このようにこの発明の液晶パネルにおいて
は、ＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透明領域が形成
されていることを特徴とし、その他の構成は従来と同様
とすることができる。
は、ＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透明領域が形成
されていることを特徴とし、その他の構成は従来と同様
とすることができる。
【００１２】また、この発明の液晶パネルとＴＡＢとの
接合も従来と同様に行うことができ、例えば、異方性導
電膜の種類やその接合条件などに特に制限はない。
接合も従来と同様に行うことができ、例えば、異方性導
電膜の種類やその接合条件などに特に制限はない。
【００１３】この発明の液晶パネルの製造方法において
も、ＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透明領域を形成
する方法としては、例えばフォトリソグラフ技術を利用
して金属薄膜を部分的に除去すればよい。その他の工程
は従来と同様とすることができる。例えば、金属薄膜と
してアルミニウム膜をスパッタ法により形成することが
できる。
も、ＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透明領域を形成
する方法としては、例えばフォトリソグラフ技術を利用
して金属薄膜を部分的に除去すればよい。その他の工程
は従来と同様とすることができる。例えば、金属薄膜と
してアルミニウム膜をスパッタ法により形成することが
できる。
【００１４】以下、この発明を図面に基づいて詳細に説
明する。なお、前述の従来技術を表した図も含めて、同
一符号は同一または同等の構成要素を表している。
明する。なお、前述の従来技術を表した図も含めて、同
一符号は同一または同等の構成要素を表している。
【００１５】図１は、この発明による液晶パネルの好ま
しい態様の部分斜視図である。同図（ａ）にあるよう
に、この発明の液晶パネル１のＴＡＢ接合端子２は、ガ
ラス基板１ａ上に形成された金属薄膜２ｂに窓２ｃが設
けられている。従って、このようなＴＡＢ接合端子２と
ＴＡＢとを異方性導電膜で接合すると、図中矢印の方向
からガラス基板１ａとＴＡＢ接合端子２の窓２ｃを通し
て異方性導電膜の接合状態を観察することが可能とな
る。なお、窓２ｃを同図（ｂ）に示すような形状として
もよい。
しい態様の部分斜視図である。同図（ａ）にあるよう
に、この発明の液晶パネル１のＴＡＢ接合端子２は、ガ
ラス基板１ａ上に形成された金属薄膜２ｂに窓２ｃが設
けられている。従って、このようなＴＡＢ接合端子２と
ＴＡＢとを異方性導電膜で接合すると、図中矢印の方向
からガラス基板１ａとＴＡＢ接合端子２の窓２ｃを通し
て異方性導電膜の接合状態を観察することが可能とな
る。なお、窓２ｃを同図（ｂ）に示すような形状として
もよい。
【００１６】この場合、窓２ｃの形状及び大きさは、Ｔ
ＡＢ接合端子のパターン幅や異方性導電膜の導電粒子の
径やその濃度により適宜決定でき、例えば、異方性導電
膜の導電粒子の径が約１０μｍの場合には、少なくとも
３０μｍ×３０μｍの正方形とすることが好ましく、こ
の大きさより小さいときには外観検査の信頼性が低下す
る。
ＡＢ接合端子のパターン幅や異方性導電膜の導電粒子の
径やその濃度により適宜決定でき、例えば、異方性導電
膜の導電粒子の径が約１０μｍの場合には、少なくとも
３０μｍ×３０μｍの正方形とすることが好ましく、こ
の大きさより小さいときには外観検査の信頼性が低下す
る。
【００１７】また、窓２ｃは、液晶パネル１に設けられ
ているすべてのＴＡＢ接合端子２の少なくとも一つに設
ければよく、必ずしもすべてのＴＡＢ接合端子２に設け
る必要はない。また、一つのＴＡＢ接合端子２に複数の
窓２ｃを形成してもよい。
ているすべてのＴＡＢ接合端子２の少なくとも一つに設
ければよく、必ずしもすべてのＴＡＢ接合端子２に設け
る必要はない。また、一つのＴＡＢ接合端子２に複数の
窓２ｃを形成してもよい。
【００１８】図２は、この発明による液晶パネルの別の
好ましい態様の部分斜視図である。同図の液晶パネル１
は、ＴＡＢ接合端子２の末端部２ｄを金属薄膜２ｂで覆
わないようにしている。こうすることにより、図１と同
様に、図中矢印の方向からガラス基板１ａとＴＡＢ接合
端子２の末端部２ｄとを通して異方性導電膜の接合状態
を観察することが可能となる。
好ましい態様の部分斜視図である。同図の液晶パネル１
は、ＴＡＢ接合端子２の末端部２ｄを金属薄膜２ｂで覆
わないようにしている。こうすることにより、図１と同
様に、図中矢印の方向からガラス基板１ａとＴＡＢ接合
端子２の末端部２ｄとを通して異方性導電膜の接合状態
を観察することが可能となる。
【００１９】この場合、金属薄膜２ｂで覆わない末端部
２ｄの大きさは、ＴＡＢ接合端子２のパターン幅や異方
性導電膜の導電粒子の径やその濃度により適宜決定する
ことできる。
２ｄの大きさは、ＴＡＢ接合端子２のパターン幅や異方
性導電膜の導電粒子の径やその濃度により適宜決定する
ことできる。
【００２０】図３は、この発明による液晶パネルの更に
異なる好ましい態様の部分斜視図である。同図の液晶パ
ネル１は、ＴＡＢ接合端子２にスリット状に金属薄膜の
ない部分を設けている。こうすることにより、図１と同
様に、図中矢印の方向からガラス基板１ａとＴＡＢ接合
端子２のスリット部２ｅとを通して異方性導電膜の接合
状態を観察することが可能となる。
異なる好ましい態様の部分斜視図である。同図の液晶パ
ネル１は、ＴＡＢ接合端子２にスリット状に金属薄膜の
ない部分を設けている。こうすることにより、図１と同
様に、図中矢印の方向からガラス基板１ａとＴＡＢ接合
端子２のスリット部２ｅとを通して異方性導電膜の接合
状態を観察することが可能となる。
【００２１】この場合、金属薄膜を設けないスリット部
２ｅの大きさもやはり、異方性導電膜の導電粒子の径や
その濃度により適宜決定できる。
２ｅの大きさもやはり、異方性導電膜の導電粒子の径や
その濃度により適宜決定できる。
【００２２】
【作用】この発明の液晶パネルにおいては、不透明な金
属薄膜を有するＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透明
領域を形成するので、液晶パネルとＴＡＢとを異方性導
電膜により接合した場合に、接合箇所を直接に非破壊的
に外観検査することが可能となる。
属薄膜を有するＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透明
領域を形成するので、液晶パネルとＴＡＢとを異方性導
電膜により接合した場合に、接合箇所を直接に非破壊的
に外観検査することが可能となる。
【００２３】
【実施例】以下、この発明を実施例に基づいて具体的に
説明する。
説明する。
【００２４】実施例１ 図１（ａ）に示したような構造のＴＡＢ接合端子（１０
０μｍピッチ、端子幅５０μｍ、セグメント側一辺に１
１２０ピン、０．２μｍ厚のアルミニウム層）を有する
ＴＦＴ液晶パネルのすべてのＴＡＢ接合端子に、３０μ
ｍ×３０μｍの大きさの窓を端子の末端から約１ｍｍの
位置に設けた。
０μｍピッチ、端子幅５０μｍ、セグメント側一辺に１
１２０ピン、０．２μｍ厚のアルミニウム層）を有する
ＴＦＴ液晶パネルのすべてのＴＡＢ接合端子に、３０μ
ｍ×３０μｍの大きさの窓を端子の末端から約１ｍｍの
位置に設けた。
【００２５】この液晶パネルと、表面を錫メッキしたＴ
ＡＢ（１００μｍピッチ、７５μｍユーピレックス基材
使用）とを、異方性導電性接着剤（ＣＰ３１３１ＦＴ
（熱硬化型、導電性粒子として平均粒子径８μｍの半田
粒子を使用）、ソニーケミカル株式会社製）を用い、１
７０℃で４０ｋｇ／ｃｍ２という圧力で２０秒間熱圧着
して接合した。
ＡＢ（１００μｍピッチ、７５μｍユーピレックス基材
使用）とを、異方性導電性接着剤（ＣＰ３１３１ＦＴ
（熱硬化型、導電性粒子として平均粒子径８μｍの半田
粒子を使用）、ソニーケミカル株式会社製）を用い、１
７０℃で４０ｋｇ／ｃｍ２という圧力で２０秒間熱圧着
して接合した。
【００２６】得られた液晶パネルを図１（ａ）の矢印方
向から外観検査したところ、半田粒子が潰れて初期の大
きさの３〜５倍の大きさとなっているのが観察でき、し
かも接合部分の密着不良によるウキ等のために生ずる虹
色の干渉模様も観察されず、外観検査の結果は良好なも
のであった。また、この液晶パネルとＴＡＢとの電気的
接合状態に関しても導通不良は生じなかった。
向から外観検査したところ、半田粒子が潰れて初期の大
きさの３〜５倍の大きさとなっているのが観察でき、し
かも接合部分の密着不良によるウキ等のために生ずる虹
色の干渉模様も観察されず、外観検査の結果は良好なも
のであった。また、この液晶パネルとＴＡＢとの電気的
接合状態に関しても導通不良は生じなかった。
【００２７】実施例２ 窓の大きさを３０μｍ×１００μｍとする以外は実施例
１と同様にして液晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接
合した。その結果、実施例１と同じ評価結果が得られ
た。
１と同様にして液晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接
合した。その結果、実施例１と同じ評価結果が得られ
た。
【００２８】実施例３ 窓をＴＡＢ接合端子に一つおきに設ける以外は実施例２
と同様にして液晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接合
した。その結果、実施例１と同じ評価結果が得られた。
と同様にして液晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接合
した。その結果、実施例１と同じ評価結果が得られた。
【００２９】実施例４ 窓を中央のＴＡＢ接合端子に一つ設ける以外は実施例２
と同様にして液晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接合
した。その結果、実施例１と同じ評価結果が得られた。
と同様にして液晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接合
した。その結果、実施例１と同じ評価結果が得られた。
【００３０】実施例５ 窓を液晶パネルの両端のＴＡＢ接合端子にそれぞれ設け
る以外は実施例２と同様にして液晶パネルを製造し、さ
らにＴＡＢと接合した。その結果、実施例１と同じ評価
結果が得られた。
る以外は実施例２と同様にして液晶パネルを製造し、さ
らにＴＡＢと接合した。その結果、実施例１と同じ評価
結果が得られた。
【００３１】実施例６ 図１（ｂ）に示したような構造のＴＡＢ接合端子を有す
るＴＦＴ液晶パネルのすべてのＴＡＢ接合端子に、５０
μｍ×１００μｍの大きさの窓を端子の末端から約１ｍ
ｍの位置に設けた以外は実施例１と同様にして液晶パネ
ルを製造し、さらにＴＡＢと接合した。その結果、実施
例１と同じ評価結果が得られた。
るＴＦＴ液晶パネルのすべてのＴＡＢ接合端子に、５０
μｍ×１００μｍの大きさの窓を端子の末端から約１ｍ
ｍの位置に設けた以外は実施例１と同様にして液晶パネ
ルを製造し、さらにＴＡＢと接合した。その結果、実施
例１と同じ評価結果が得られた。
【００３２】実施例７ 異方性導電性接着剤（ＣＰ７１３１（熱硬化型、導電性
粒子として平均粒子径５μｍの樹脂粒子に表面金メッキ
した粒子を使用）、ソニーケミカル株式会社製）を用
い、１５０℃で４０ｋｇ／ｃｍ２という圧力で２０秒間
熱圧着して接合した以外は実施例１と同様にして液晶パ
ネルを製造し、得られた液晶パネルをＴＡＢと接合し
た。
粒子として平均粒子径５μｍの樹脂粒子に表面金メッキ
した粒子を使用）、ソニーケミカル株式会社製）を用
い、１５０℃で４０ｋｇ／ｃｍ２という圧力で２０秒間
熱圧着して接合した以外は実施例１と同様にして液晶パ
ネルを製造し、得られた液晶パネルをＴＡＢと接合し
た。
【００３３】得られた液晶パネルを、図１（ａ）の矢印
方向から外観検査したところ、導電粒子表面に金属光沢
が保持されており、しかも接続領域に気泡が存在してい
ないことが観察でき、外観検査の結果は良好なものであ
った。また、この液晶パネルとＴＡＢとの電気的接合状
態に関しても導通不良は生じなかった。
方向から外観検査したところ、導電粒子表面に金属光沢
が保持されており、しかも接続領域に気泡が存在してい
ないことが観察でき、外観検査の結果は良好なものであ
った。また、この液晶パネルとＴＡＢとの電気的接合状
態に関しても導通不良は生じなかった。
【００３４】実施例８ 図２に示したような構造のＴＡＢ接合端子を有するＴＦ
Ｔ液晶パネルのすべてのＴＡＢ接合端子の末端約１ｍｍ
をメタライジングしない以外は実施例１と同様にして液
晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接合した。その結
果、実施例１と同じ評価結果が得られた。
Ｔ液晶パネルのすべてのＴＡＢ接合端子の末端約１ｍｍ
をメタライジングしない以外は実施例１と同様にして液
晶パネルを製造し、さらにＴＡＢと接合した。その結
果、実施例１と同じ評価結果が得られた。
【００３５】
【発明の効果】この発明によれば、メタライジングされ
たＴＡＢ接合端子を有する液晶パネルであっても、それ
をＴＡＢと異方性導電膜により接合した場合に、その接
合状態を非破壊的に外観検査することができる。
たＴＡＢ接合端子を有する液晶パネルであっても、それ
をＴＡＢと異方性導電膜により接合した場合に、その接
合状態を非破壊的に外観検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明の液晶パネルの好ましい態様の部分斜
視図である。
視図である。
【図２】この発明の液晶パネルの別の態様の部分斜視図
である。
である。
【図３】この発明の液晶パネルの更に異なる態様の部分
斜視図である。
斜視図である。
【図４】従来の液晶パネルのＴＡＢ接合端子の説明図で
ある。
ある。
１ 液晶パネル １ａ ガラス基板 ２ ＴＡＢ接合端子 ２ａ ＩＴＯ電極端子 ２ｂ 金属薄膜 ２ｃ ＴＡＢ接合端子の窓 ２ｄ ＴＡＢ接合端子の末端部 ２ｅ ＴＡＢ接合端子のスリット部 ３ ＴＡＢ ３ａ 有機フィルム ３ｂ 銅箔 ４ 異方性導電膜 ４ａ 導電粒子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 和明 栃木県鹿沼市さつき町18番地 ソニーケミ カル株式会社鹿沼工場内
Claims (2)
- 【請求項１】 異方性導電膜を用いてＴＡＢと接合する
ためのＴＡＢ接合端子を有する液晶パネルにおいて、該
ＴＡＢ接合端子は金属薄膜を有し、且つその少なくとも
一部に透明領域が形成されていることを特徴とする液晶
パネル。 - 【請求項２】 異方性導電膜によりＴＡＢと接合するた
めのＴＡＢ接合端子を、ガラス基板上の透明電極端子上
に金属薄膜を設けることにより形成する液晶パネルの製
造方法において、ＴＡＢ接合端子の少なくとも一部に透
明領域を形成することを特徴とする液晶パネルの製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18449992A JPH063689A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 液晶パネル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18449992A JPH063689A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 液晶パネル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063689A true JPH063689A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=16154260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18449992A Pending JPH063689A (ja) | 1992-06-17 | 1992-06-17 | 液晶パネル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063689A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001026079A1 (en) * | 1999-10-06 | 2001-04-12 | Seiko Epson Corporation | Electrooptic device, method for manufacturing electrooptic device, and electronic apparatus |
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