JPH0635169Y2 - 異物検出装置 - Google Patents
異物検出装置Info
- Publication number
- JPH0635169Y2 JPH0635169Y2 JP1989030621U JP3062189U JPH0635169Y2 JP H0635169 Y2 JPH0635169 Y2 JP H0635169Y2 JP 1989030621 U JP1989030621 U JP 1989030621U JP 3062189 U JP3062189 U JP 3062189U JP H0635169 Y2 JPH0635169 Y2 JP H0635169Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- foreign matter
- inspection object
- reflected light
- inspected
- light flux
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、被検査物の表面または内部に存在する異物を
検出する異物検出装置に関するものであり、特に、シー
ト上に積繊されたレーヨン綿に混入した異物（ごみ、焦
げ、機械油等）を検出するのに好適な異物検出装置に関
するものである。
検出する異物検出装置に関するものであり、特に、シー
ト上に積繊されたレーヨン綿に混入した異物（ごみ、焦
げ、機械油等）を検出するのに好適な異物検出装置に関
するものである。
異物検出装置に関連する従来の技術としては、実開昭59
−144966号公報に記載のもの等が知られている。
−144966号公報に記載のもの等が知られている。
上記公報に記載されている従来の技術について説明する
と、実開昭59−144966号公報には、光源と視野との間
に、透明板の表面に上記視野の長手方向と直交する方向
の多数の刻みをもつ拡散板を配置した照明装置が記載さ
れている。
と、実開昭59−144966号公報には、光源と視野との間
に、透明板の表面に上記視野の長手方向と直交する方向
の多数の刻みをもつ拡散板を配置した照明装置が記載さ
れている。
しかしながら、上記の従来の技術は以下のような問題点
を有していた。
を有していた。
即ち、実開昭59−144966号公報に記載の照明装置は、検
出物体（被検査物）を中心として光源（照明手段）の反
対側にセンサが配置されているため、被検査物を挟んで
一側に照明手段を、他側にセンサを取り付けるためのス
ペースが必要となり、何れかの側に照明手段或いはセン
サを取り付けるスペースがない場合には適用できない。
出物体（被検査物）を中心として光源（照明手段）の反
対側にセンサが配置されているため、被検査物を挟んで
一側に照明手段を、他側にセンサを取り付けるためのス
ペースが必要となり、何れかの側に照明手段或いはセン
サを取り付けるスペースがない場合には適用できない。
従って、本考案の目的は、被検査物の表面または内部に
存在する異物を被検査物の一方側に配設された照明手段
とイメージセンサカメラとによって検出することができ
る異物検出装置を提供することにある。
存在する異物を被検査物の一方側に配設された照明手段
とイメージセンサカメラとによって検出することができ
る異物検出装置を提供することにある。
本考案は、光透過性積繊物の表面または内部に存在する
異物を検出する異物検出装置であって、被検査物である
上記光透過性積繊物に光を照射する照明手段と該照明手
段の光の上記被検査物からの反射光を受光するイメージ
センサカメラとを備え、上記照明手段が上記イメージセ
ンサカメラのレンズの軸線を挟む位置に細隙を介して配
設された一対の棒状照明具を具備し、且つ上記被検査物
を介して上記照明手段の反対側に上記被検査物を透過し
た光を反射する反射板を具備し、該反射板は上記被検査
物と略同一の反射率を有することを特徴とする異物検出
装置を提供することによって上記目的を達成したもので
ある。
異物を検出する異物検出装置であって、被検査物である
上記光透過性積繊物に光を照射する照明手段と該照明手
段の光の上記被検査物からの反射光を受光するイメージ
センサカメラとを備え、上記照明手段が上記イメージセ
ンサカメラのレンズの軸線を挟む位置に細隙を介して配
設された一対の棒状照明具を具備し、且つ上記被検査物
を介して上記照明手段の反対側に上記被検査物を透過し
た光を反射する反射板を具備し、該反射板は上記被検査
物と略同一の反射率を有することを特徴とする異物検出
装置を提供することによって上記目的を達成したもので
ある。
本考案の異物検出装置によれば、照明手段から光を被検
査物に照明すると、イメージセンサカメラが上記被検査
物の表面からの反射光と、上記被検査物を介して上記照
明手段の反対側に上記被検査物を透過した光を反射する
反射板からの反射光とを受光して、合成反射光束の受光
強度の変化により被検査物の表面または内部に存在する
異物が検出される。特にシート上に積繊されたレーヨン
綿に混入した異物が検出される。
査物に照明すると、イメージセンサカメラが上記被検査
物の表面からの反射光と、上記被検査物を介して上記照
明手段の反対側に上記被検査物を透過した光を反射する
反射板からの反射光とを受光して、合成反射光束の受光
強度の変化により被検査物の表面または内部に存在する
異物が検出される。特にシート上に積繊されたレーヨン
綿に混入した異物が検出される。
以下、第１図乃至第６図に基づいて本考案の異物検出装
置の一実施例について説明する。第１図は異物検出装置
の一実施例の要部を示す斜視図、第２図は第１図に示す
異物検出装置の概略正面図、第３図は第１図に示す照明
手段を拡大して示す斜視図である。尚、本実施例の異物
検出装置は、積繊されたレーヨン綿の表綿または内部に
存在する異物を検出するため、シート（不織布）上にレ
ーヨン綿を積繊する装置（図示省略）の積繊部の下流側
に設けられている。
置の一実施例について説明する。第１図は異物検出装置
の一実施例の要部を示す斜視図、第２図は第１図に示す
異物検出装置の概略正面図、第３図は第１図に示す照明
手段を拡大して示す斜視図である。尚、本実施例の異物
検出装置は、積繊されたレーヨン綿の表綿または内部に
存在する異物を検出するため、シート（不織布）上にレ
ーヨン綿を積繊する装置（図示省略）の積繊部の下流側
に設けられている。
本実施例の異物検出装置は、第１図に示す如く、被検査
物（不織布上に積繊されたレーヨン綿）１の表面または
内部に存在する異物２を検出するためのもので、被検査
物１に光を照射する照明手段３と、該照明手段３の反対
側に上記被検査物１を介して配設され、上記被検査物１
の透過光を反射する反射板４と、該反射板４からの反射
光と上記被検査物１からの反射光とを受光して上記異物
部２を検出するイメージセンサカメラ５とを備えて構成
されている。
物（不織布上に積繊されたレーヨン綿）１の表面または
内部に存在する異物２を検出するためのもので、被検査
物１に光を照射する照明手段３と、該照明手段３の反対
側に上記被検査物１を介して配設され、上記被検査物１
の透過光を反射する反射板４と、該反射板４からの反射
光と上記被検査物１からの反射光とを受光して上記異物
部２を検出するイメージセンサカメラ５とを備えて構成
されている。
次に上記各構成要素について更に詳述する。
イメージセンサカメラ５は、等間隔、直線上に配列され
た2048ビットのイメージセンサデバイスの信号を制御回
路によって演算処理し、1.2m secでスキャンしてシート
（不織布）６上に約50mmの幅に積繊された被検査物（例
えば、レーヨン綿）１の表面または内部に存在する異物
２の有無判定を行う装置（例えば、富士電機（株）製PJ
I−E20S）であり、イメージセンサ５にはビデオ信号２
値化するためのスライスレベルSLが設定されており、ス
キャン中に１ビットでもスライスレベルSLを下回る値が
出た場合には異物２有りと判定するように構成されてい
る。
た2048ビットのイメージセンサデバイスの信号を制御回
路によって演算処理し、1.2m secでスキャンしてシート
（不織布）６上に約50mmの幅に積繊された被検査物（例
えば、レーヨン綿）１の表面または内部に存在する異物
２の有無判定を行う装置（例えば、富士電機（株）製PJ
I−E20S）であり、イメージセンサ５にはビデオ信号２
値化するためのスライスレベルSLが設定されており、ス
キャン中に１ビットでもスライスレベルSLを下回る値が
出た場合には異物２有りと判定するように構成されてい
る。
また、照明手段３は、イメージセンサカメラ５のレンズ
5Aの軸線を挟む位置に細隙を介して配設されたツイン蛍
光灯31、高周波蛍光灯点灯装置等を備えて構成されツイ
ン蛍光灯31（例えば、松下電工（株）製FPL36EX）は36
W、夫々のガラス管の細隙（後述する遮蔽板32間の細
隙）が1.0〜2.0mm、好ましくは略1.5mmであり、高周波
蛍光灯点灯装置（例えば、京都電機器（株）製LSA−DL2
7）の出力は約30KHzの高周波のものが用いられる。尚、
ツイン蛍光灯31、31の細隙からの光が直接イメージセン
サカメラ５に入らないようにするためにツイン蛍光灯3
1、31の相互に対向する側に遮蔽板32、32が設けられて
いる。また、微細なレーヨン綿が静電気によって照明手
段３に付着するのを防止するために、第３図に示す如く
静電気除去装置33、防塵カバー34、集塵フード35等が設
けられており、防塵カバー34には0.1〜0.2kg/cm2の加圧
エアーが吹き込まれ、集塵フード35にはブロアーへのダ
クトが接続されている。
5Aの軸線を挟む位置に細隙を介して配設されたツイン蛍
光灯31、高周波蛍光灯点灯装置等を備えて構成されツイ
ン蛍光灯31（例えば、松下電工（株）製FPL36EX）は36
W、夫々のガラス管の細隙（後述する遮蔽板32間の細
隙）が1.0〜2.0mm、好ましくは略1.5mmであり、高周波
蛍光灯点灯装置（例えば、京都電機器（株）製LSA−DL2
7）の出力は約30KHzの高周波のものが用いられる。尚、
ツイン蛍光灯31、31の細隙からの光が直接イメージセン
サカメラ５に入らないようにするためにツイン蛍光灯3
1、31の相互に対向する側に遮蔽板32、32が設けられて
いる。また、微細なレーヨン綿が静電気によって照明手
段３に付着するのを防止するために、第３図に示す如く
静電気除去装置33、防塵カバー34、集塵フード35等が設
けられており、防塵カバー34には0.1〜0.2kg/cm2の加圧
エアーが吹き込まれ、集塵フード35にはブロアーへのダ
クトが接続されている。
また、反射板４は、被検査物１を透過したツイン蛍光灯
31からの光を反射するように、上記照明手段３の反対側
に被検査物１を介して被検査物１に近接させて配設され
ており、照明光束を均一に反射するように形成されてい
ると共に、被検査物１と略同一の反射率を有するもので
ある。また、反射板４は、拡散または乱反射する反射面
を有していることが好ましく、本実施例においては、芯
材に塩化ビニール製白色プロジェクター用スクリーンを
巻き付けて反射板４を形成している。
31からの光を反射するように、上記照明手段３の反対側
に被検査物１を介して被検査物１に近接させて配設され
ており、照明光束を均一に反射するように形成されてい
ると共に、被検査物１と略同一の反射率を有するもので
ある。また、反射板４は、拡散または乱反射する反射面
を有していることが好ましく、本実施例においては、芯
材に塩化ビニール製白色プロジェクター用スクリーンを
巻き付けて反射板４を形成している。
次に、本考案の異物検出装置を用いた被検査物１の表面
または内部に存在する異物２を検出する異物検出方法の
一実施態様を説明する。
または内部に存在する異物２を検出する異物検出方法の
一実施態様を説明する。
被検査物１と略同一の反射率を有する反射板４が設けら
れているから、照明手段３のツイン蛍光灯31から被検査
物１に照射された光は、積繊厚み厚薄に拘わらず被検査
物１と反射板４との両方から略均一で略一定強度の合成
反射光束として得ることができ、同様に、被検査物１の
積繊形状、積繊密度等に拘わらず、略均一な合成反射光
束として得ることができる。例えば、被検査物１の積繊
厚みが厚い場合には光が透過し難く、被検査物１の表面
からの反射光束が多くなるが、反射板４からの透過光の
反射光束が少なくなり、また、積繊厚みが薄い場合には
光が透過し易く被検査物１の表面から反射光束が少なく
なるが、反射板４からの透過光の反射光束が多くなっ
て、総体的に被検査物１表面からの反射光束と反射光４
からの反射光束を合成した合成反射光束は略均一で一定
強度のものになる。
れているから、照明手段３のツイン蛍光灯31から被検査
物１に照射された光は、積繊厚み厚薄に拘わらず被検査
物１と反射板４との両方から略均一で略一定強度の合成
反射光束として得ることができ、同様に、被検査物１の
積繊形状、積繊密度等に拘わらず、略均一な合成反射光
束として得ることができる。例えば、被検査物１の積繊
厚みが厚い場合には光が透過し難く、被検査物１の表面
からの反射光束が多くなるが、反射板４からの透過光の
反射光束が少なくなり、また、積繊厚みが薄い場合には
光が透過し易く被検査物１の表面から反射光束が少なく
なるが、反射板４からの透過光の反射光束が多くなっ
て、総体的に被検査物１表面からの反射光束と反射光４
からの反射光束を合成した合成反射光束は略均一で一定
強度のものになる。
而して、被検査物１の表面または内部に異物２が存在す
ると合成反射光束が弱くなる現象を利用している。即
ち、イメージセンサカメラ５は、そのイメージセンサデ
バイスで合成反射光束の強弱を検出し、上記イメージセ
ンサカメラ５の光電変換素子により上記合成反射光束の
強弱をその強弱に比例した電気（電圧）信号に変換し、
その変換されたビデオ信号がスライスレベルSLを下回る
か否かによって、異物２の有無を検出するようになして
あるため、反射板４の有無或いは異物２の存在位置に応
じて、例えば、第４図に示す反射光束RLが得られる。
尚、第４図において、破線は反射光束RLの強さの基準レ
ベルを示しており、第４図に示される反射光束RLは被検
査物１が均一に積繊されていると仮定した場合のもので
ある。
ると合成反射光束が弱くなる現象を利用している。即
ち、イメージセンサカメラ５は、そのイメージセンサデ
バイスで合成反射光束の強弱を検出し、上記イメージセ
ンサカメラ５の光電変換素子により上記合成反射光束の
強弱をその強弱に比例した電気（電圧）信号に変換し、
その変換されたビデオ信号がスライスレベルSLを下回る
か否かによって、異物２の有無を検出するようになして
あるため、反射板４の有無或いは異物２の存在位置に応
じて、例えば、第４図に示す反射光束RLが得られる。
尚、第４図において、破線は反射光束RLの強さの基準レ
ベルを示しており、第４図に示される反射光束RLは被検
査物１が均一に積繊されていると仮定した場合のもので
ある。
即ち、本実施例の異物検出装置の如く反射板４が設けら
れている場合には、異物２が被検査物１の内部に存在す
ると、異物２が存在しない場合の反射光束RLは、被検査
物１の表面と反射板４からのそれぞれの反射光が合成さ
れた反射光束RLになってより強くなり、異物２が存在す
る部分の反射光束RLは、異物２が存在しない部分の反射
光束RLに比べて強さが大幅に低下する（第４図（ａ）参
照）。他方、反射板４が設けられていない場合には、異
物２が被検査部１の表面に存在すると、異物２が存在す
る部分は反射光束RLの強さが低下し（第４図（ｂ）参
照）、また、異物２が被検査物１の内部に存在すると、
異物２存在する部分においても反射光束RLの強さはあま
り低下していない（第４図（ｃ）参照）。従って、第４
図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）で明らかな如く、第４図
（ａ）に示すように反射板４が設けられている場合に
は、異物２を検出し易く、反射板４が設けられていない
場合には、第４図（ｂ）に示すように被検査物１の表面
に存在する異物２は検出できるが、第４図（ｃ）に示す
ように被検査物１の内部に存在する異物２は、異物２が
存在する部分と存在しない部分との反射光束RLの強さの
差異が明確でなく検出が難しい。このような現象は、被
検査物１が静止している場合と、移動している場合とで
は、反射光束の強度が異なり、被検査物が移動している
場合には反射光束の強度が低下することがある。
れている場合には、異物２が被検査物１の内部に存在す
ると、異物２が存在しない場合の反射光束RLは、被検査
物１の表面と反射板４からのそれぞれの反射光が合成さ
れた反射光束RLになってより強くなり、異物２が存在す
る部分の反射光束RLは、異物２が存在しない部分の反射
光束RLに比べて強さが大幅に低下する（第４図（ａ）参
照）。他方、反射板４が設けられていない場合には、異
物２が被検査部１の表面に存在すると、異物２が存在す
る部分は反射光束RLの強さが低下し（第４図（ｂ）参
照）、また、異物２が被検査物１の内部に存在すると、
異物２存在する部分においても反射光束RLの強さはあま
り低下していない（第４図（ｃ）参照）。従って、第４
図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）で明らかな如く、第４図
（ａ）に示すように反射板４が設けられている場合に
は、異物２を検出し易く、反射板４が設けられていない
場合には、第４図（ｂ）に示すように被検査物１の表面
に存在する異物２は検出できるが、第４図（ｃ）に示す
ように被検査物１の内部に存在する異物２は、異物２が
存在する部分と存在しない部分との反射光束RLの強さの
差異が明確でなく検出が難しい。このような現象は、被
検査物１が静止している場合と、移動している場合とで
は、反射光束の強度が異なり、被検査物が移動している
場合には反射光束の強度が低下することがある。
第５図（ａ）、（ｂ）は、被検査物１が静止状態にあ
り、その表面にも内部にも異物２が存在しない被検査物
１からの反射光束RLを、イメージセンサデバイスの光電
変換素子により反射光束RLの強弱に比例させて変換した
電気（電圧）信号ESのオシロスコープ波形を示す図で、
被検査物１の表面の照度が約50,000Luxの場合を示し、
第５図（ａ）は反射板４が設けられていない場合に出力
される電気（電圧）信号ESの一例を示すものであり、第
５図（ｂ）は反射板４が設けられている場合に出力され
る電気（電圧）信号ESの一例を示すものである。尚、被
検査物１は、平均約10mmの積繊厚みを有するものを用い
たが、積繊厚みが第５図（ｃ）に示す如く均一でないた
め、反射板４が設けられていない場合には、被検査物１
の表面からの反射光束RLが乱れ、それに応じて出力され
る電気（電圧）信号ESも第５図（ａ）に示す如く乱れ
る。また、被検査物１が連続的に搬送されて移動してい
る状態で検出すると、電気（電圧）信号ESの波高が低下
することがある。例えば、被検査物１が120m/分の速度
で搬送されている場合には、出力される電気（電圧）信
号ESが静止状態で出力される電気（電圧）信号ESより更
に乱れ、第４図（ａ）に示す状態より更に1v程度低下す
ることがある。従って、反射板４が設けられていない場
合には良品と不良品とのスライスレベルSLを第５図
（ａ）において破線で示す電圧（約0.8v）以下に設定す
る必要がある。他方、反射板４が設けられている場合に
は、上述の如く略均一で一定強度の合成反射光束を得る
ことができ、それに応じて出力される電気（電圧）信号
ESが第５図（ｂ）に示す如く、略均一で一定強度のもの
になる。尚、被検査物１が120m/分の速度で搬送されて
いる場合には、出力される電気（電圧）信号ESが乱れ、
第５図（ｂ）に示す状態より1v程低下することがあるの
で、反射板４が設けられた場合には良品と不良品とのス
ライスレベルSLを第５図（ｂ）において破線で示す電圧
（約1.8v）以下に設定するとよい。即ち、反射板４が設
けられることによって、良品と不良品とのスライスレベ
ルSLの電圧値を大幅に高くすることができ、被検査物１
の表面または内部に存在する異物２の検出が容易にな
る。
り、その表面にも内部にも異物２が存在しない被検査物
１からの反射光束RLを、イメージセンサデバイスの光電
変換素子により反射光束RLの強弱に比例させて変換した
電気（電圧）信号ESのオシロスコープ波形を示す図で、
被検査物１の表面の照度が約50,000Luxの場合を示し、
第５図（ａ）は反射板４が設けられていない場合に出力
される電気（電圧）信号ESの一例を示すものであり、第
５図（ｂ）は反射板４が設けられている場合に出力され
る電気（電圧）信号ESの一例を示すものである。尚、被
検査物１は、平均約10mmの積繊厚みを有するものを用い
たが、積繊厚みが第５図（ｃ）に示す如く均一でないた
め、反射板４が設けられていない場合には、被検査物１
の表面からの反射光束RLが乱れ、それに応じて出力され
る電気（電圧）信号ESも第５図（ａ）に示す如く乱れ
る。また、被検査物１が連続的に搬送されて移動してい
る状態で検出すると、電気（電圧）信号ESの波高が低下
することがある。例えば、被検査物１が120m/分の速度
で搬送されている場合には、出力される電気（電圧）信
号ESが静止状態で出力される電気（電圧）信号ESより更
に乱れ、第４図（ａ）に示す状態より更に1v程度低下す
ることがある。従って、反射板４が設けられていない場
合には良品と不良品とのスライスレベルSLを第５図
（ａ）において破線で示す電圧（約0.8v）以下に設定す
る必要がある。他方、反射板４が設けられている場合に
は、上述の如く略均一で一定強度の合成反射光束を得る
ことができ、それに応じて出力される電気（電圧）信号
ESが第５図（ｂ）に示す如く、略均一で一定強度のもの
になる。尚、被検査物１が120m/分の速度で搬送されて
いる場合には、出力される電気（電圧）信号ESが乱れ、
第５図（ｂ）に示す状態より1v程低下することがあるの
で、反射板４が設けられた場合には良品と不良品とのス
ライスレベルSLを第５図（ｂ）において破線で示す電圧
（約1.8v）以下に設定するとよい。即ち、反射板４が設
けられることによって、良品と不良品とのスライスレベ
ルSLの電圧値を大幅に高くすることができ、被検査物１
の表面または内部に存在する異物２の検出が容易にな
る。
第６図（ａ）、（ｂ）は、内部に、直径約5mmの球状の
黒い異物２が存在する被検査物１（第６図（ｃ）参照）
からの反射光束RLをイメージセンサデバイスの光電変換
素子により反射光束RLの強弱に比例させて変換した電気
（電圧）信号ESのオシロスコープ波形を示す第５図
（ａ）、（ｂ）に相当する図で、第６図（ａ）では異物
２が存在している位置に対応して出力される電気（電
圧）信号ESは約0.5vとなっており、第６図（ｂ）では異
物２が存在している位置に対応して出力される電気（電
圧）信号ESは約0.1vとなっている。尚、被検査物１が12
0m/分の速度で搬送されている場合には、異物２が存在
しない位置に対応して出力される電気（電圧）信号ESが
乱れ、第６図（ａ）、（ｂ）に示す状態より夫々1v程度
低下することがあるが、この場合でも、良品部分はスラ
イスレベルSL以上の電気（電圧）信号ESが出力され、不
良品部分、即ち異物２が存在する部分はスライスレベル
SL以下の電気（電圧）信号ESが出力されている。
黒い異物２が存在する被検査物１（第６図（ｃ）参照）
からの反射光束RLをイメージセンサデバイスの光電変換
素子により反射光束RLの強弱に比例させて変換した電気
（電圧）信号ESのオシロスコープ波形を示す第５図
（ａ）、（ｂ）に相当する図で、第６図（ａ）では異物
２が存在している位置に対応して出力される電気（電
圧）信号ESは約0.5vとなっており、第６図（ｂ）では異
物２が存在している位置に対応して出力される電気（電
圧）信号ESは約0.1vとなっている。尚、被検査物１が12
0m/分の速度で搬送されている場合には、異物２が存在
しない位置に対応して出力される電気（電圧）信号ESが
乱れ、第６図（ａ）、（ｂ）に示す状態より夫々1v程度
低下することがあるが、この場合でも、良品部分はスラ
イスレベルSL以上の電気（電圧）信号ESが出力され、不
良品部分、即ち異物２が存在する部分はスライスレベル
SL以下の電気（電圧）信号ESが出力されている。
即ち、反射板４が設けられていない場合にはスライスレ
ベルSLを0.8v程度に設定しなければならないのに対し
て、反射板４が設けられている場合にはスライスレベル
SLを1.8v程度に高く設定することができ、反射板４が設
けられた場合には反射板４が設けられていない場合に比
べ、スライスレベルSLの電圧値を大幅に高くすることが
できる。スライスレベルSLを0.8v程度に設定した場合に
は、被検査物１の内部に直径約2mmの球状の黒い異物２
が存在しているか否かを判別できるに過ぎないが、スラ
イスレベルSLを1.8v程度に設定した場合には、被検査物
１の内部に直径約2mmの球状のうす茶色の異物２が存在
しているか否か、或いは被検査物１の内部に直径約1.5m
mの球状の茶色の異物２が存在しているか否かまで判別
することができる。即ち、反射板４を設けることによっ
て、小さい異物２または淡い色の異物２の如く、光の反
射率が高い異物２であっても検出することができる。
ベルSLを0.8v程度に設定しなければならないのに対し
て、反射板４が設けられている場合にはスライスレベル
SLを1.8v程度に高く設定することができ、反射板４が設
けられた場合には反射板４が設けられていない場合に比
べ、スライスレベルSLの電圧値を大幅に高くすることが
できる。スライスレベルSLを0.8v程度に設定した場合に
は、被検査物１の内部に直径約2mmの球状の黒い異物２
が存在しているか否かを判別できるに過ぎないが、スラ
イスレベルSLを1.8v程度に設定した場合には、被検査物
１の内部に直径約2mmの球状のうす茶色の異物２が存在
しているか否か、或いは被検査物１の内部に直径約1.5m
mの球状の茶色の異物２が存在しているか否かまで判別
することができる。即ち、反射板４を設けることによっ
て、小さい異物２または淡い色の異物２の如く、光の反
射率が高い異物２であっても検出することができる。
以上、本考案の異物検出装置の一実施例及び本考案の異
物検出装置を用いた異物検出方法の一実施態様について
説明したが、本考案はこれらの実施例及び実施態様に制
限されるものでなく、例えば、本考案の異物検出装置に
よって、不織布６上に付着している異物２も検出しても
良い。
物検出装置を用いた異物検出方法の一実施態様について
説明したが、本考案はこれらの実施例及び実施態様に制
限されるものでなく、例えば、本考案の異物検出装置に
よって、不織布６上に付着している異物２も検出しても
良い。
また、検出できる異物２の形状は球状に限定されるもの
ではない。
ではない。
本考案の異物検出装置は、上述の如く構成されているか
ら、本考案の異物検出装置によれば、被検査物の表面ま
たは内部に存在する比較的小さくて淡い色の異物を検出
することができる。また、被検査物を介して照明手段の
反対側に設けた反射板が、上記被検査物と略同一の反射
率を有するため、被検査物に照射された光は、積繊厚み
の厚薄にかかわらず被検査物と反射板との両方から略均
一で略一定強度の合成反射光束として得ることができ、
上記の異物検出を一層確実に行なえる。更に、イメージ
センサカメラと照明手段とを略同一面上に配設すること
ができるため、異物検出装置全体を取り付けるためのス
ペースをコンパクト化することができる。
ら、本考案の異物検出装置によれば、被検査物の表面ま
たは内部に存在する比較的小さくて淡い色の異物を検出
することができる。また、被検査物を介して照明手段の
反対側に設けた反射板が、上記被検査物と略同一の反射
率を有するため、被検査物に照射された光は、積繊厚み
の厚薄にかかわらず被検査物と反射板との両方から略均
一で略一定強度の合成反射光束として得ることができ、
上記の異物検出を一層確実に行なえる。更に、イメージ
センサカメラと照明手段とを略同一面上に配設すること
ができるため、異物検出装置全体を取り付けるためのス
ペースをコンパクト化することができる。
第１図は異物検出装置の一実施例を示す斜視図、第２図
は第１図に示す異物検出装置の概略正面図、第３図は第
１図に示す照明手段を拡大して示す斜視図、第４図
（ａ）は反射板が設けられており、異物が被検査物の内
部に存在する場合の反射光束の状態を示す説明図、第４
図（ｂ）は反射板が設けられてなく異物が被検査物の表
面に存在する場合の反射光束の状態を示す説明図、第４
図（ｃ）は反射板が設けられてなく異物が被検査物の内
部に存在する場合の反射光束の状態を示す説明図、第５
図（ａ）は反射板が設けられてない場合に異物が存在し
ない被検査物からの反射光束に基づいて出力される電気
（電圧）信号の状態を示す説明図、第５図（ｂ）は反射
板が設けられている場合に出力される電気（電圧）信号
の状態を示す説明図、第５図（ｃ）は異物が存在しない
被検査物の断面図、第６図（ａ）、（ｂ）は、内部に異
物が存在する被検査物からの反射光束に基づいて出力さ
れる電気（電圧）信号の状態を示す第５図（ａ）、
（ｂ）に相当する図、第６図（ｃ）は異物が存在する被
検査物の断面図である。 1;被検査物、2;異物 3;照明手段、4;反射板 5;イメージセンサカメラ
は第１図に示す異物検出装置の概略正面図、第３図は第
１図に示す照明手段を拡大して示す斜視図、第４図
（ａ）は反射板が設けられており、異物が被検査物の内
部に存在する場合の反射光束の状態を示す説明図、第４
図（ｂ）は反射板が設けられてなく異物が被検査物の表
面に存在する場合の反射光束の状態を示す説明図、第４
図（ｃ）は反射板が設けられてなく異物が被検査物の内
部に存在する場合の反射光束の状態を示す説明図、第５
図（ａ）は反射板が設けられてない場合に異物が存在し
ない被検査物からの反射光束に基づいて出力される電気
（電圧）信号の状態を示す説明図、第５図（ｂ）は反射
板が設けられている場合に出力される電気（電圧）信号
の状態を示す説明図、第５図（ｃ）は異物が存在しない
被検査物の断面図、第６図（ａ）、（ｂ）は、内部に異
物が存在する被検査物からの反射光束に基づいて出力さ
れる電気（電圧）信号の状態を示す第５図（ａ）、
（ｂ）に相当する図、第６図（ｃ）は異物が存在する被
検査物の断面図である。 1;被検査物、2;異物 3;照明手段、4;反射板 5;イメージセンサカメラ
Claims (1)
- 【請求項１】光透過性積繊物の表面または内部に存在す
る異物を検出する異物検出装置であって、被検査物であ
る上記光透過性積繊物に光を照射する照明手段と該照明
手段の光の上記被検査物からの反射光を受光するイメー
ジセンサカメラとを備え、上記照明手段が上記イメージ
センサカメラのレンズの軸線を挟む位置に細隙を介して
配設された一対の棒状照明具を具備し、且つ上記被検査
物を介して上記照明手段の反対側に上記被検査物を透過
した光を反射する反射板を具備し、該反射板は上記被検
査物と略同一の反射率を有することを特徴とする異物検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989030621U JPH0635169Y2 (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 異物検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989030621U JPH0635169Y2 (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 異物検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02122346U JPH02122346U (ja) | 1990-10-05 |
| JPH0635169Y2 true JPH0635169Y2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=31255841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989030621U Expired - Lifetime JPH0635169Y2 (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | 異物検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635169Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2855949B2 (ja) * | 1992-03-10 | 1999-02-10 | 住友電装株式会社 | 圧着端子画像処理検査における照明方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4896181A (ja) * | 1972-03-24 | 1973-12-08 | ||
| US4189335A (en) * | 1978-09-28 | 1980-02-19 | The Dow Chemical Company | Method for determining distribution of a coating composition on a carpet structure |
| JPS62212556A (ja) * | 1986-03-13 | 1987-09-18 | Fujitsu Ltd | 表面状態観測装置 |
-
1989
- 1989-03-17 JP JP1989030621U patent/JPH0635169Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02122346U (ja) | 1990-10-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6175645B1 (en) | Optical inspection method and apparatus | |
| KR19980042882A (ko) | 이물질 검사를 위한 방법 및 장치 | |
| US6914679B2 (en) | Side light apparatus and method | |
| US3565536A (en) | Apparatus for detecting flaws in light transmissive tubing including a plurality of diametrically opposed light sources | |
| JPH0635169Y2 (ja) | 異物検出装置 | |
| JP3109254B2 (ja) | ピンホール検査装置 | |
| JP2002039952A (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
| JP2001141662A (ja) | 透明板状体の欠点検出方法および検出装置 | |
| JPH11304724A (ja) | 光透過性シートの穴検出装置及び穴検出方法 | |
| JPH02245644A (ja) | 異物検出装置 | |
| JPH0627716B2 (ja) | 不織布の欠陥検出装置 | |
| JPH05232040A (ja) | 外観検査用投光装置 | |
| JPH0448250A (ja) | ヒューズ配列検査装置 | |
| JPS6439543A (en) | Defective inspection device | |
| JPH0755720A (ja) | 透明および不透明フィルムの欠点検査装置 | |
| JPH0357944A (ja) | 板ガラス欠点検出装置 | |
| JP3253942B2 (ja) | 外観検査用投光装置 | |
| JP2003240726A (ja) | シートの欠点検出装置 | |
| JPS5834348A (ja) | ビン口欠陥検査装置 | |
| JP2000121574A (ja) | 鋼板の疵検査装置 | |
| JPS6013137B2 (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JPH10185828A (ja) | 透明平面体表面の欠陥検査方法及びその装置 | |
| JPH1196812A (ja) | 欠陥検出用の照明装置 | |
| JPH05232032A (ja) | 外観検査用投光装置 | |
| JP3631503B2 (ja) | ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法 |