JPH06350013A - リードフレーム及び半導体装置並びに半導体装置の製造方法 - Google Patents

リードフレーム及び半導体装置並びに半導体装置の製造方法

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JPH06350013A
JPH06350013A JP5140625A JP14062593A JPH06350013A JP H06350013 A JPH06350013 A JP H06350013A JP 5140625 A JP5140625 A JP 5140625A JP 14062593 A JP14062593 A JP 14062593A JP H06350013 A JPH06350013 A JP H06350013A
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JP
Japan
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inner lead
semiconductor chip
terminal
lead
leads
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Nobuhiko Tada
信彦 多田
Naoki Mitsuyanagi
直毅 三柳
Yoshiaki Shimomura
義昭 下村
Shigeyuki Sakurai
茂行 桜井
Yoshiya Nagano
義也 長野
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ワイヤボンディングによる制約を低減すること
ができ高密度化が可能であり、また製造が容易でかつ低
コストなリードフレーム、及びその半導体装置、並びに
その半導体装置の製造方法を提供する。 【構成】リードフレーム4において、第1のインナーリ
ード群に属する長いインナーリード4aと第2のインナ
ーリード群に属する短いインナーリード4bが相隣合う
ように千鳥配置にする。また、半導体チップ2におい
て、端子2Aを含む外周側の第1の端子列と端子2Bを
含む内周側の第2の端子列を設け、インナーリード4a
と端子2Aをワイヤ7aにより接続し、インナーリード
4bと端子2Bをワイヤ7bにより接続する。また、各
インナーリード間を連結する連結部4fを設けておき、
インナーリードと端子の接続後に連結部4fを切り離
す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、四方向からアウターリ
ードを出したQFP(Quad Flat Package )と呼ばれる
プラスチックフラットパッケージの構成を備えた半導体
装置に係わり、特に、ここで使用されるリードフレー
ム、及びその半導体装置、並びにその半導体装置の製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】四方向からアウターリードを出したQF
P(Quad Flat Package )と呼ばれるプラスチックフラ
ットパッケージの構成を備える半導体装置は、金属製の
リードフレーム上に半導体チップが搭載され、各リード
(インナーリード)と半導体チップの端子とが電気的に
接続され、これらリードフレームのインナーリード部分
と半導体チップとが樹脂モールドによって封止されてい
る。このような半導体装置において、各インナーリード
と半導体チップの端子との接続は金線等によりワイヤボ
ンディングされることが多く、その時の半導体チップの
端子間の最小ピッチは約110μm程度である。
【0003】近年、半導体チップの高密度実装化、高集
積化がより一層激しく要求されてきており、これに対応
するため半導体チップを搭載するリードフレームも微細
かつ高精度の寸法及び形状を有するものが開発されてき
ている。特に、リードフレームの多ピン化が重点的に進
められており、これに伴って、インナーリード先端部の
ピッチを狭く微細に加工できるレーザ加工のような加工
技術が開発されている。
【0004】しかし、インナーリードと半導体チップの
端子との接続にワイヤボンディングを利用すると、ボン
ディングスペースのためにインナーリードの幅をある程
度確保する必要があり、上記レーザ加工のような微細加
工が可能な加工方法が開発されているにも拘らずインナ
ーリードの微細化は制約されてしまう。また、リードフ
レームを多ピン化し微細化すると、接続のためのワイヤ
の引き回しが複雑になり、接続時或いは樹脂モールドに
よる封止時にワイヤが絡まったり断線する心配がある。
【0005】これに対し、特開平1−225342号公
報に記載のように、インナーリードを複数の上下段に分
割し、各段のインナーリードと半導体チップの端子とを
それぞれ接続する方式が開発されている。これによれ
ば、インナーリードの先端部分にはワイヤボンディング
が可能な程度の幅をもたせることができ、ワイヤの引き
回しもある程度単純化されるので、半導体装置の多ピン
化、即ち高密度化が可能となり、小型化や高性能化を図
ることもできる。この場合、半導体チップの端子は、半
導体チップ周縁部に沿って一列に配置されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のワイヤボンディ
ングを利用した半導体装置の製造方法では、ボンディン
グスペースの制約やワイヤの引き回しの複雑化により、
ある程度以上の微細化及び多ピン化が不可能であった。
【0007】また、上記特開平1−225342号公報
に記載の方式によれば、一応はワイヤボンディングによ
る制約が低減し、半導体装置の多ピン化、即ち高密度化
が可能となるが、半導体装置の厚さが増大し、構造も複
雑となる。また、製造が容易ではなく、特に上下複数段
のインナーリードと半導体チップの端子をワイヤボンデ
ィングで接続することは非常に難しい。さらに、構造及
び製造が複雑であることにより製造コストが上昇する。
【0008】本発明の目的は、ワイヤボンディングによ
る制約を低減することができ高密度化が可能であり、ま
た製造が容易でかつ低コストなリードフレーム、及びそ
の半導体装置、並びにその半導体装置の製造方法を提供
することである。
【0009】
【課題を解決する手段】上記目的を解決するため、本発
明によれば、半導体チップの各端子と電気的に接続され
る多数のインナーリードと、前記インナーリードの外側
に連続するアウターリードとを有し、かつ中央部に前記
半導体チップが搭載されるリードフレームにおいて、前
記多数のインナーリードは互いに長さが異なる複数のイ
ンナーリード群より構成されると共に、相隣合うインナ
ーリードがそれぞれ異なるインナーリード群に属するよ
うに配置され、かつ各インナーリード間を連結する連結
部が設けられていること特徴とするリードフレームが提
供される。
【0010】また、上記目的を解決するため、本発明に
よれば、リードフレーム中央部に半導体チップを搭載
し、前記半導体チップの端子を前記リードフレームの多
数のインナーリードに金属線により電気的に接続し、こ
れら半導体チップ及びリードフレームのインナーリード
をモールド部にて一体的に封止した半導体装置におい
て、前記半導体チップの前記端子は前記半導体チップの
外縁部からの距離が異なる複数の端子列により構成さ
れ、前記多数のインナーリードは互いに長さが異なる複
数のインナーリード群より構成されると共に、相隣合う
インナーリードがそれぞれ異なるインナーリード群に属
するように配置されたことを特徴とする半導体装置が提
供される。
【0011】上記において好ましくは、最も近い距離に
ある端子列及びインナーリード群において各端子及び各
インナーリードがそれぞれ接続され、順次近い距離にあ
る端子列及びインナーリード群から遠い距離にある端子
列及びインナーリード群において各端子及び各インナー
リードがそれぞれ接続されている。
【0012】また、上記目的を解決するため、本発明に
よれば、上記のようなリードフレームを金属板より形成
し、次いで前記インナーリードと前記半導体チップの端
子を金属線により電気的に接続し、次いで前記インナー
リードの前記連結部をレーザ光により切断し、次いで前
記半導体チップと前記リードフレームとをモールド部に
て一体的に封止することにより半導体装置を製造するこ
とを特徴とする半導体装置の製造方法が提供される。
【0013】上記において好ましくは、前記インナーリ
ードと前記半導体チップの端子を金属線により電気的に
接続する際に、最も近い距離にある端子列及びインナー
リード群において各端子及び各インナーリードをそれぞ
れ接続し、順次近い距離にある端子列及びインナーリー
ド群から遠い距離にある端子列及びインナーリード群に
おいて各端子及び各インナーリードをそれぞれ接続す
る。
【0014】
【作用】上記のように構成した本発明によるリードフレ
ームにおいては、相隣合うインナーリードが異なるイン
ナーリード群に属することにより、搭載される半導体チ
ップ側から見て長さの異なるインナーリードが順に千鳥
配置されることになる。これにより、インナーリードの
本数を増やしても、即ち多ピン化したとしても、それぞ
れのインナーリードのピッチを狭くならないようにする
ことができ、その幅をワイヤボンディングが可能な程度
の幅にすることが可能となる。
【0015】また、上記各インナーリード間を連結する
連結部が設けられていることにより、半導体チップの端
子と接続されるインナーリードの先端部分付近の相互間
隔が固定され拘束されるため、半導体チップの端子とイ
ンナーリード先端部分との位置合せが容易に行え、この
接続部分の寸法精度及び位置決め精度が向上する。ま
た、インナーリード先端部分付近の剛性が向上するた
め、外的衝撃に対しても変形したりずれたりすることが
ない。
【0016】また、本発明による半導体装置において、
半導体チップの端子が半導体チップの外縁部から距離の
異なる複数の端子列を構成することにより、半導体チッ
プ搭載後に上記千鳥配置のインナーリード先端部と該端
子を接続する際に、金属線の接続作業が容易になり、接
続時或いは樹脂モールドによる封止時にワイヤが絡まっ
たり断線する心配がない。
【0017】さらに、上記リードフレームは一枚の金属
板を適宜に切り欠いて形成されたものであり、特開平1
−225342号公報に記載のリードフレームのような
多段構造をもたないので、半導体装置の厚さが比較的薄
くなり、内部構造も単純になる。従って、その製造も容
易にかつ低コストで行うことが可能となる。
【0018】また、上記のような半導体装置において
は、最も近い距離にある端子列及びインナーリード群に
おいて各端子及び各インナーリードがそれぞれ接続さ
れ、次に近い距離にある端子列及びインナーリード群に
おいて各端子及び各インナーリードがそれぞれ接続さ
れ、順次近い距離のものから遠い距離のものへと同様の
接続が行われる。これにより、金属線が整然と配列され
金属線のさばきが容易になり、従って、ワイヤボンディ
ングをさらに容易に行うことができ、一層金属線の接続
作業が容易になる。
【0019】また、本発明の半導体の製造方法において
は、リードフレームの形成、及びインナーリードと半導
体チップの端子との接続の後、インナーリード間を連結
していた連結部は、レーザ加工により切断されて個々の
インナーリードに切り離される。このレーザ加工は局部
的に急速加熱して溶融切断する方法であるため、寸法精
度良く加工される。続いて半導体チップとリードフレー
ムとをモールド部にて一体的に封止することにより半導
体装置が製造される。
【0020】
【実施例】本発明の一実施例について、図1から図8を
参照しながら説明する。まず、本実施例による半導体装
置及びリードフレームの構成について図1及び図2によ
り説明する。但し、図2は本実施例の半導体装置より樹
脂モールドを除去して示す平面図であり、対称性を考慮
して全体の1/4のみ示す。図1及び図2に示すように、
本実施例の半導体装置1においては、リードフレーム4
の中央部分に設けらたダイパッド4aに半導体チップ2
が接着剤で接着されることにより搭載されている。ま
た、リードフレーム4において、ダイパッド3を囲むよ
うにして多数のインナーリード4a,4bと、これらイ
ンナーリード4bに連続するアウターリード4cが配設
されている。
【0021】上記インナーリード4a,4bは、ダイパ
ッド3の方へ収束するように延びており、このうちイン
ナーリード4aはダイパッド3の方向に長く伸びた第1
のインナーリード群に属し、インナーリード4bはイン
ナーリード4aよりも短い第2のインナーリード群に属
する。そして、インナーリード4aとインナーリード4
bとは相隣合うように配置され、搭載される半導体チッ
プ2の側から見ると長さの異なるインナーリードが順に
(互い違いに)並んだ千鳥配置となっている。また、相
隣合うインナーリード4a,4bの間隙は、ダイパッド
3に近い内側部分が狭くなっており、特にインナーリー
ド4bに挟まれたインナーリード4aは板厚よりも極め
て狭く(例えば、金属板の板厚が0.15mmの場合で0.07
mm程度)となっている。しかもこの部分の加工はリー
ドフレームの加工において最も寸法精度や清浄度が厳し
い部分である。
【0022】また、半導体チップ2上の端子は半導体チ
ップの外縁部からの距離が異なる2つの端子列により構
成される。即ち、端子2Aは外周側の第1の端子列に属
し、端子2Bは内周側の第2の端子列に属する。そし
て、第1のインナーリード群に属するインナーリード4
aの先端が半導体チップ2の第1の端子列に属する端子
2Aとワイヤ7aにより電気的に接続され、第2のイン
ナーリード群に属するインナーリード4bの先端が半導
体チップ2の第2の端子列に属する端子2Bとワイヤ7
bにより電気的に接続される。つまり、近い距離にある
端子列及びインナーリード群において各端子及び各イン
ナーリードがそれぞれ接続され、遠い距離にある端子列
及びインナーリード群において各端子及び各インナーリ
ードがそれぞれ接続されることになり、ワイヤ7a,7
bが整然と配列される。上記ワイヤとしては、電気伝導
性がよく可撓性の金線等が用いられる。
【0023】上記構成により、結果的に各インナーリー
ド群におけるピッチを複数倍に拡大できるため、ワイヤ
ボンディング作業が容易になり、さらに、インナーリー
ドの本数を増やして多ピン化したとしても、それぞれの
インナーリードをワイヤボンディングが可能な程度の幅
にすることができる。つまり、ワイヤボンディングによ
る制約を低減し高密度化が可能となる。
【0024】また、ダイパッド3の周辺は腕4d以外は
切欠き部4eが設けられており、この切欠き部4eによ
りインナーリード4a,4bはダイパッド3と分離され
ている。そして、半導体チップ2及びインナーリード4
a,4bを含む部分が樹脂モールド5により封止されて
いる。また、アウターリード4cは樹脂モールド5の外
側で曲げ成形されており、このアウターリード4cは後
ほど半導体装置1がプリント基板上に搭載された時に、
プリント基板の回路パターンに接続される。
【0025】次に、上述した半導体装置1の製造方法の
一実施例を図3〜図8により説明する。但し、図4、図
5、図7、図8においては対称性を考慮して全体の1/4
のみ示す。
【0026】まず、図3のステップ100において、例
えば鋼、銅合金,42アロイ、コバール等の金属板をレ
ベラーにかけ、所定厚さに加工する。次にステップ10
1において、その金属板を加工し、図4に示すようなリ
ードフレームを形成する。この時、前述のように第1の
インナーリード群に属する長いインナーリード4aと第
2のインナーリード群に属する短いインナーリード4b
とを相隣合うように千鳥配置にする。また、各インナー
リード間を連結する連結部4fを設ける。この連結部4
fは後ほどワイヤボンディングする部分を避けて設けら
れる。このようなリードフレームを金属板より形成する
加工方法としては、従来からのプレス加工やエッチング
加工等があるが、特に微細かつ狭ピッチのインナーリー
ド4a,4bの加工方法としては、レーザ加工が適して
いる。次いで、上記のように加工した金属板の全面にハ
ンダメッキ処理を施す。
【0027】次にステップ102において、上記のよう
に形成されたリードフレームのダイパッド3上に半導体
チップ2を搭載、位置決めし両者を接着する。このと
き、半導体チップ2は接着剤の塗布した非回路形成面を
ダイパッド4aに対向するように配置する。なお、この
半導体チップの搭載及び位置決めはインナーリード4
a,4bとダイパッド3の同一平面状態を保ったまま行
う。また、この時、インナーリード4a,4bは連結部
4fで連結されているため、インナーリード4a,4b
の相互間隔が固定及び拘束され、半導体チップ2の端子
との位置合せが容易にかつ精度よく行える。
【0028】上記ダイパッド3上への半導体チップ2の
搭載、位置決め、及び両者の接着が完了した状態を図5
に示す。ここで、半導体チップ2上の端子は、前述のよ
うに半導体チップの外縁部からの距離が異なる2つの端
子列により構成され、端子2Aは外周側の第1の端子列
に属し、端子2Bは内周側の第2の端子列に属する。
【0029】次にステップ103において、第1のイン
ナーリード群に属するインナーリード4aの先端と半導
体チップ2の第1の端子列に属する端子2Aとをワイヤ
7aにより電気的に接続し、第2のインナーリード群に
属するインナーリード4bの先端と半導体チップ2の第
2の端子列に属する端子2Bとをワイヤ7bにより電気
的に接続する。
【0030】この時のワイヤボンディングの工程を図6
に示す。まず、図6(a)において、キャピラリ20先
端に作った金線7のボール部7cを半導体チップ2の端
子2Aに押し付けて圧着する。そして、図6(b)のよ
うに金線7を繰り出しながらキャピラリ20をインナー
リード4aの先端に移動させ、金線7を加圧停留させて
圧着する。その後、金線7は切断され、ワイヤ7aが形
成される。次に、図6(c)のようにキャピラリ20先
端に作った金線7のボール部7cを半導体チップ2の端
子2Bに押し付けて圧着し、図6(d)のように金線7
を繰り出しながらキャピラリ20をインナーリード4b
の先端に移動させ、金線7を加圧停留させて圧着する。
つまり、近い距離にある端子列及びインナーリード群に
おいて各端子及び各インナーリードがそれぞれ接続さ
れ、遠い距離にある端子列及びインナーリード群におい
て各端子及び各インナーリードがそれぞれ接続されるこ
とになり、ワイヤ7a,7bが整然と配列される。これ
により、金属線が整然と配列され金属線のさばきが容易
になり、ワイヤ同士の接触やからみ等の事故が防止され
る。従って、ワイヤボンディングをさらに容易に行うこ
とができる。
【0031】上記のようにしてインナーリード4a先端
と半導体チップ2の端子2Aとの接続、及びインナーリ
ード4b先端と半導体チップ2の端子2Bとの接続が順
次行われ、全ての接続が完了した状態は図7のようにな
る。また、図7に示すように、インナーリード4a,4
b先端と半導体チップ2の端子2A,2Bとの接続は、
インナーリード同士が連結部4fで連結されたまま行わ
れる。このようにインナーリード4a,4bは連結部4
fで連結されているのでこの部分の剛性が向上し、接続
時及び接続後における外的衝撃に対しても変形したりず
れたりすることがない。
【0032】次に、ステップ104において、図8に示
すように連結部4fのうち斜線で示す除去部4gがレー
ザ加工により順に切除され、最終的に全ての除去部4g
が切除されてインナーリード4a,4bが個々に切り離
される。このレーザ加工は大気中で行え、しかも装置が
安価であり、さらに局部的に急速加熱して溶融切断する
方法であるため、寸法精度良く加工され、また加工に伴
う変形が少なく加工能率が高い。尚、このようなレーザ
に代えて電子ビームを利用してもよい。また、連結部4
fはワイヤボンディングする部分を避けて設けられてい
るので、この切断はワイヤ7a,7bに邪魔されること
なく容易に行うことができる。
【0033】また、ワイヤ7a,7bは可撓性であるた
め、多数のワイヤの中にはたれて他のワイヤやリードフ
レームと接触するものが出てくる可能性がある。このた
め、金線7の表面を予めビニルやテフロン等の絶縁材料
で被覆して電気的短絡を防止することが好ましい。この
場合、端子2A,2Bやインナーリード4a,4bと金
線7との接触部分では、ワイヤボンディング時における
圧着や加圧により絶縁材料は溶融、除去される。これに
より、インナーリードと半導体チップの接続の信頼性が
一層向上する。
【0034】次にステップ105において、上記のよう
に接合された半導体チップ2、ダイパッド3、及びワイ
ヤボンディング後に個々に切り離されたインナーリード
4a,4bを樹脂モールド5にて一体的に封止する。続
いて、隣合うアウターリード4cを連結状に支持してい
るダムバー(図示せず)をレーザ加工によって切断す
る。このダムバーは、通常、半導体チップのモールド時
にレジンを堰止め、インナーリード及びアウターリード
を補強するために設けられるものである。
【0035】次にステップ106において、リードフレ
ーム4のアウターリードよりも外側の部分(図示せず)
をプレス加工等によって切断し、半導体チップ2とリー
ドフレーム4との接続を検査し、ステップ107におい
て、アウターリード4cを折り曲げ成形し、製品番号や
製造番号等をマーキングし、最後にステップ108にお
いて製品の検査をし、包装して出荷する。
【0036】以上のような本実施例では、リードフレー
ム4において、第1のインナーリード群に属する長いイ
ンナーリード4aと第2のインナーリード群に属する短
いインナーリード4bとを相隣合うように千鳥配置にす
るので、結果的に各インナーリード群におけるピッチを
複数倍に拡大でき、インナーリードの本数を増やして多
ピン化したとしても、それぞれのインナーリードをワイ
ヤボンディングが可能な程度の幅にすることができる。
【0037】また、半導体チップ2において、端子2A
を含む外周側の第1の端子列と端子2Bを含む内周側の
第2の端子列とを設け、第1のインナーリード群に属す
るインナーリード4aの先端と半導体チップ2の第1の
端子列に属する端子2Aとをワイヤ7aにより電気的に
接続し、第2のインナーリード群に属するインナーリー
ド4bの先端と半導体チップ2の第2の端子列に属する
端子2Bとをワイヤ7bにより電気的に接続するので、
ワイヤ7a,7bが整然と配列される。これにより、ワ
イヤボンディングを容易に行うことができ、ワイヤ同士
の接触やからみ等の事故が防止される。さらに、接続後
の信頼性が向上し接続部分の検査及び確認が容易にな
り、接続部分の強度も向上する。
【0038】また、各インナーリード間を連結する連結
部4fを設けるので、インナーリード4a,4bの先端
部分付近の相互間隔が固定及び拘束され、半導体チップ
2との位置合せを容易に行うことができる。従って、寸
法精度及び位置決め精度を向上できると共に、インナー
リード4a,4bの先端部分付近の剛性を向上できるた
め、外的衝撃に対しても変形したりずれたりすることが
ない。また、連結部4fはワイヤボンディングする部分
を避けて設けられているので、連結部4fの除去部4g
を切除し個々のインナーリード4a,4bに切り離す作
業をワイヤ7a,7bに邪魔されることなく容易に行う
ことができる。
【0039】さらに、本実施例のリードフレームは一枚
の金属板を適宜に切り欠いて形成されたものであり、特
開平1−225342号公報に記載のリードフレームの
ような多段構造をもたないので、半導体装置の厚さが比
較的薄くなり、内部構造も単純になる。従って、その製
造も容易にかつ低コストで行うことができる。
【0040】以上のように本実施例によれば、ワイヤボ
ンディングによる制約を低減し高密度化が可能になると
共に、製造を容易にすることができ低コスト化を図るこ
とができる。
【0041】尚、上記実施例ではリードフレーム4のイ
ンナーリード群及び半導体チップ2の端子列を各々2つ
としたが、インナーリード群及び端子列をこれよりも増
やすことによりさらに高密度化が可能になる。この場
合、最も近い距離にある端子列及びインナーリード群に
おいて各端子及び各インナーリードをそれぞれ接続し、
続いて次に近い距離にある端子列及びインナーリード群
において各端子及び各インナーリードをそれぞれ接続
し、順次近い距離のものから遠い距離のものへと同様の
接続を行うことにより、ワイヤを整然と配列することが
できる。また、本実施例の製造方法はQFP以外の構造
の半導体装置にも適用できる。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、リードフレームにおい
て、長さが異なるインナーリードを相隣合うように千鳥
配置にするので、インナーリードの本数を増やして多ピ
ン化しても、それぞれのインナーリードをワイヤボンデ
ィングが可能な程度の幅にすることができる。
【0043】また、リードフレームにおいて各インナー
リード間に連結部を設けるので、インナーリードの相互
間隔が固定及び拘束され、半導体チップとの位置合せを
容易に行うことができる。従って、寸法精度及び位置決
め精度を向上できると共に、インナーリード先端部分付
近の剛性を向上できるため、外的衝撃に対しても変形し
たりずれたりすることがない。
【0044】また、本発明によれば、半導体チップの端
子が半導体チップの外縁部から距離の異なる複数の端子
列を構成するので、上記千鳥配置のインナーリード先端
部と該端子を接続する際に、金属線の接続作業が容易に
なり、作業の能率が向上する。
【0045】また、インナーリードと半導体チップ端子
とをワイヤにより電気的に接続する際に、順次近い距離
のものから遠い距離のものへ接続するので、ワイヤが整
然と配列され、ワイヤ同士の接触やからみ等が防止され
る。さらに、接続後の信頼性が向上し接続部分の検査及
び確認が容易になると共に、接続部分の強度も向上す
る。
【0046】また、このインナーリード間を連結する連
結部はワイヤボンディングする部分を避けて設けられる
ので、個々のインナーリードに切り離す作業をワイヤに
邪魔されることなく容易に行うことができる。
【0047】さらに、本発明のリードフレームは一枚の
金属板を適宜に切り欠いて形成されたものであり、特開
平1−225342号公報に記載のリードフレームのよ
うな多段構造をもたないので、半導体装置の厚さが比較
的薄くなり、内部構造も単純になる。従って、その製造
も容易にかつ低コストで行うことができる。
【0048】以上のように本発明によれば、ワイヤボン
ディングによる制約を低減し高密度化が図れると共に、
製造を容易にすることができ低コスト化を図ることがで
きる。また、半導体装置の小形化、高性能化を実現する
こともできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による半導体装置の構成を示
す断面図である。
【図2】図1の半導体装置より樹脂モールドを除去して
示す平面図である。
【図3】図1及び図2に示した半導体装置の製造方法を
示す図である。
【図4】図1の半導体装置において使用されるリードフ
レームを示す図である。
【図5】図4のリードフレームのダイパッド上への半導
体チップの搭載、位置決め、及び両者の接着が完了した
状態を示す図である。
【図6】図5における半導体チップの端子とインナーリ
ードのワイヤボンディング工程を示す図であって、
(a)は金線7のボール部7cを半導体チップ2の端子
2Aに圧着した状態を、(b)は金線7を繰り出しなが
らキャピラリ20を移動させ、インナーリード4aの先
端に金線7を圧着した状態を、(c)は金線7のボール
部7cを半導体チップ2の端子2Bに圧着した状態を、
(d)は金線7を繰り出しながらキャピラリ20を移動
させ、インナーリード4bの先端に金線7を圧着した状
態を示す図である。
【図7】半導体チップの端子とインナーリードの接続が
全て完了した状態を示す図である。
【図8】レーザ加工または電子ビーム加工により順に切
除される部分を示す図である。
【符号の説明】
1 半導体装置 2 半導体チップ 2A 端子(第1の端子列に属する) 2B 端子(第2の端子列に属する) 4 リードフレーム 4a インナーリード(第1のインナーリード群に属す
る) 4b インナーリード(第2のインナーリード群に属す
る) 4f 連結部 4g (連結部4fのうちの)除去部 5 樹脂モールド部 7a ワイヤ 7b ワイヤ
フロントページの続き (72)発明者 桜井 茂行 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内 (72)発明者 長野 義也 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機株 式会社土浦工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップの各端子と電気的に接続さ
    れる多数のインナーリードと、前記インナーリードの外
    側に連続するアウターリードとを有し、かつ中央部に前
    記半導体チップが搭載されるリードフレームにおいて、 前記多数のインナーリードは互いに長さが異なる複数の
    インナーリード群より構成されると共に、相隣合うイン
    ナーリードがそれぞれ異なるインナーリード群に属する
    ように配置され、かつ各インナーリード間を連結する連
    結部が設けられていること特徴とするリードフレーム。
  2. 【請求項2】 リードフレーム中央部に半導体チップを
    搭載し、前記半導体チップの端子を前記リードフレーム
    の多数のインナーリードに金属線により電気的に接続
    し、これら半導体チップ及びリードフレームのインナー
    リードをモールド部にて一体的に封止した半導体装置に
    おいて、 前記半導体チップの前記端子は前記半導体チップの外縁
    部からの距離が異なる複数の端子列により構成され、前
    記多数のインナーリードは互いに長さが異なる複数のイ
    ンナーリード群より構成されると共に、相隣合うインナ
    ーリードがそれぞれ異なるインナーリード群に属するよ
    うに配置されたことを特徴とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 最も近い距離にある端子列及びインナー
    リード群において各端子及び各インナーリードがそれぞ
    れ接続され、順次近い距離にある端子列及びインナーリ
    ード群から遠い距離にある端子列及びインナーリード群
    において各端子及び各インナーリードがそれぞれ接続さ
    れていることを特徴とする請求項2記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 請求項1記載のリードフレームを金属板
    より形成し、次いで前記インナーリードと前記半導体チ
    ップの端子を金属線により電気的に接続し、次いで前記
    インナーリードの前記連結部をレーザ光により切断し、
    次いで前記半導体チップと前記リードフレームとをモー
    ルド部にて一体的に封止することにより半導体装置を製
    造することを特徴とする半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記インナーリードと前記半導体チップ
    の端子を金属線により電気的に接続する際に、最も近い
    距離にある端子列及びインナーリード群において各端子
    及び各インナーリードをそれぞれ接続し、順次近い距離
    にある端子列及びインナーリード群から遠い距離にある
    端子列及びインナーリード群において各端子及び各イン
    ナーリードをそれぞれ接続することを特徴とする請求項
    4記載の半導体装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6005293A (en) * 1996-07-30 1999-12-21 Nec Corporation Wire-bonded semiconductor device
JP2008258411A (ja) * 2007-04-05 2008-10-23 Rohm Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
KR101486790B1 (ko) * 2013-05-02 2015-01-28 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 강성보강부를 갖는 마이크로 리드프레임

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