JPH06349914A - Substrate - Google Patents

Substrate

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JPH06349914A
JPH06349914A JP5137223A JP13722393A JPH06349914A JP H06349914 A JPH06349914 A JP H06349914A JP 5137223 A JP5137223 A JP 5137223A JP 13722393 A JP13722393 A JP 13722393A JP H06349914 A JPH06349914 A JP H06349914A
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JP
Japan
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substrate
conductive pattern
contact
electrode
pattern portion
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5137223A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Seiichi Harufuji
誠一 春藤
Sosuke Tsuji
壯介 辻
Kenji Osawa
賢治 大沢
Shoichiro Harada
昇一郎 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi ULSI Engineering Corp
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi ULSI Engineering Corp, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi ULSI Engineering Corp
Priority to JP5137223A priority Critical patent/JPH06349914A/en
Publication of JPH06349914A publication Critical patent/JPH06349914A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H05K1/112Pads for surface mounting, e.g. lay-out directly combined with via connections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3452Solder masks

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a substrate which can easily but firmly come into contact with the mounted part such as an electronic part. CONSTITUTION:This substrate can be electrically conducted to the mounted part through the intermediary of an electrode, and the substrate 11 is composed of a substrate main body 12 which becomes the base, an inner layer wiring 13 wired inside the substrate main body 12, a conductive pattern part 14 which is a contact part with the mounted part, and an insulating layer 16 provided with a hole part 16a positioned on the conductive pattern part 14. Besides, a recessed type electrode is formed on the substrate 11 by the hole part 16a and the conductive pattern part 14.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基板に実装される部
品、特に電子部品と、該電子部品が実装される基板との
接触を容易にする電極の実装技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrode mounting technique for facilitating contact between a component mounted on a substrate, particularly an electronic component and a substrate on which the electronic component is mounted.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の基板の構造の一例を図8の部分断
面図に示す。
2. Description of the Related Art An example of the structure of a conventional substrate is shown in a partial sectional view of FIG.

【0003】図8を用いて、前記基板の構成を説明する
と、図示しない電子部品などの被実装部品のテストを行
う基板1は、ベースとなる基板本体2と、該基板本体2
の内部に配線される基板内層配線3と、前記被実装部品
の端子との接触部である導通パターン部4とから構成さ
れるものである。
The structure of the substrate will be described with reference to FIG. 8. A substrate 1 for testing mounted components such as electronic components (not shown) is a substrate body 2 serving as a base and the substrate body 2
And the conductive pattern portion 4 which is a contact portion with the terminal of the mounted component.

【0004】次に、前記基板1を用いて、前記被実装部
品のテストを行う場合の前記被実装部品と基板1との接
触について説明すると、その接触は、図示しないコネク
タを介して行うか、あるいは、基板1の表面に設けられ
る導通パターン部4に半田付けをしたり、または、スプ
リングピン5を押し付けることにより実施される。
Next, the contact between the mounted component and the substrate 1 when the mounted component is tested using the substrate 1 will be described. The contact is made through a connector (not shown), or Alternatively, the conductive pattern portion 4 provided on the surface of the substrate 1 is soldered or the spring pin 5 is pressed.

【0005】ここで、LSIテスタなどのテストを行う
基板1は、頻繁に交換されるため、前記基板1の接触部
である導通パターン部4と前記被実装部品またはスプリ
ングピン5との位置合わせを容易にするように、前記導
通パターン部4が、実際の必要寸法より、少し大きめに
形成されている場合が多い。
Here, since the substrate 1 to be tested, such as an LSI tester, is frequently replaced, the conductive pattern portion 4 which is the contact portion of the substrate 1 and the mounted component or the spring pin 5 are aligned with each other. For the sake of simplicity, the conductive pattern portion 4 is often formed to be slightly larger than the actual required size.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記図8に
示した従来技術において、LSIの高密度化に伴い、基
板1の接触部である導通パターン部4の密度を高くしよ
うとすると、前記導通パターン部4の面積を小さくしな
ければならない。
However, in the prior art shown in FIG. 8, when the density of the conductive pattern portion 4 which is the contact portion of the substrate 1 is increased as the density of the LSI is increased, the conductive The area of the pattern portion 4 must be reduced.

【0007】その結果、基板1と前記被実装部品との接
触部の位置合わせが困難になる。
As a result, it becomes difficult to align the contact portion between the substrate 1 and the mounted component.

【0008】さらに、導通パターン部4が凸状態となっ
ており、基板本体2の表面より突出しているため、微細
パターンが形成される場合には、スプリングピン5や前
記被実装部品が導通パターン部4から脱落して、接触不
良を引き起こすことがある。
Further, since the conductive pattern portion 4 is in a convex state and protrudes from the surface of the substrate body 2, when the fine pattern is formed, the spring pin 5 and the mounted component are connected to the conductive pattern portion. 4 may fall off and cause poor contact.

【0009】そこで、本発明の目的は、電子部品などの
被実装部品との接触を容易にし、かつ、強力にする基板
を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a substrate that facilitates contact with a mounted component such as an electronic component and makes the substrate stronger.

【0010】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
Among the inventions disclosed in the present application, a brief description will be given to the outline of typical ones.
It is as follows.

【0012】すなわち、設置される電極を介して、被実
装部品と電気的導通をとることが可能な基板であって、
前記基板に凹形状の電極が設けられるものである。
That is, a substrate which can be electrically connected to a mounted component through an installed electrode,
A concave electrode is provided on the substrate.

【0013】また、前記凹形状の電極は、前記被実装部
品の端子と接触して電気的導通をとる導通パターン部
と、前記導通パターン部上に位置する孔部が設けられる
絶縁層とからなるものである。
The concave electrode is composed of a conductive pattern portion that comes into electrical contact with the terminals of the mounted component and an insulating layer provided with a hole located on the conductive pattern portion. It is a thing.

【0014】さらに、前記凹形状の電極は、テーパ孔を
備える基板本体と前記導通パターン部とからなるもので
ある。
Further, the concave electrode comprises a substrate body having a tapered hole and the conductive pattern portion.

【0015】[0015]

【作用】前記した手段によれば、被実装部品と電気的導
通をとることが可能な基板に、凹形状の電極が設けられ
るため、前記電極における前記被実装部品の端子との接
触部が、その周辺に比べて低くなっている。
According to the above-described means, since the concave electrode is provided on the substrate capable of electrically conducting with the mounted component, the contact portion of the electrode with the terminal of the mounted component is It is lower than the surrounding area.

【0016】そのため、前記被実装部品の端子およびス
プリングピンが、前記凹形状の電極の接触部へ載せられ
た場合に、特別な治具を使用しなくても自己整合作用に
よって自然に位置合わせが行われる。
Therefore, when the terminal and the spring pin of the mounted component are placed on the contact portion of the concave electrode, the self-aligning action allows natural alignment without using a special jig. Done.

【0017】[0017]

【実施例】以下、本発明の実施例を詳細に説明する。EXAMPLES Examples of the present invention will be described in detail below.

【0018】(実施例1)図1は、本発明の一実施例で
ある基板の構造の一例を示す部分断面図であり、図2
は、図1による基板のスプリングピン15使用時の電極
部接触状況の一例を示す部分断面図であり、さらに、図
3は、図1による基板のフラットパッケージ搭載時の電
極部接触状況の一例を示す部分断面図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a partial sectional view showing an example of the structure of a substrate which is an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing an example of the contact state of the electrode portion when the spring pin 15 of the substrate according to FIG. 1 is used, and FIG. 3 is an example of the contact state of the electrode portion when the flat package of the substrate according to FIG. It is a fragmentary sectional view shown.

【0019】まず、図1を用いて、本発明による基板の
構成について説明すると、前記基板11は図示しない電
子部品などの被実装部品をテストするものであって、ベ
ースとなる基板本体12と、該基板本体12の内部に配
線される基板内層配線13と、前記被実装部品との接触
部である導通パターン部14と、前記導通パターン部1
4上に位置する孔部16aを備える絶縁層16とからな
るものであり、さらに、本発明による基板11には、絶
縁層16に設けられる孔部16aと導通パターン部14
とによって、凹形状の電極が形成されている。
First, the structure of the board according to the present invention will be described with reference to FIG. 1. The board 11 is for testing mounted parts such as electronic parts (not shown). The board inner layer wiring 13 wired inside the board body 12, a conductive pattern portion 14 which is a contact portion with the mounted component, and the conductive pattern portion 1
4 and the insulating layer 16 having the holes 16a located on the upper surface of the insulating layer 16, and the substrate 11 according to the present invention further includes the holes 16a provided in the insulating layer 16 and the conductive pattern portion 14.
A concave electrode is formed by and.

【0020】次に、図2を用いて、スプリングピン15
を使ってテストを行う場合の基板11の作用について説
明すると、スプリングピン15と基板11との接触、す
なわち電気的導通は、スプリングピン先端部15aと基
板11の導通パターン部14との接触によって行われ、
この時、導通パターン部14は、絶縁層16の表面より
も低い位置であるため、スプリングピン15に内蔵され
た図示しないばねの圧力によって、スプリングピン先端
部15aが前記孔部16aをすべり落ちて、導通パター
ン部14へ整合される。これによって、基板11とスプ
リングピン15との接触、すなわち電気的導通が完了す
る。
Next, referring to FIG. 2, the spring pin 15
The operation of the substrate 11 in the case of performing a test using the above will be described. The contact between the spring pin 15 and the substrate 11, that is, electrical conduction is performed by the contact between the spring pin tip portion 15a and the conduction pattern portion 14 of the substrate 11. I,
At this time, since the conductive pattern portion 14 is located lower than the surface of the insulating layer 16, the spring pin tip portion 15a slides down the hole portion 16a by the pressure of a spring (not shown) built in the spring pin 15. , To the conductive pattern portion 14. As a result, contact between the substrate 11 and the spring pin 15, that is, electrical conduction is completed.

【0021】また、接触完了後は、スプリングピン先端
部15aが、絶縁層16の孔部16aによって囲まれて
いるため、基板11とスプリングピン15とが簡単にず
れて接触不良などを起こすことはない。
After the contact is completed, the spring pin tip portion 15a is surrounded by the hole 16a of the insulating layer 16, so that the substrate 11 and the spring pin 15 are easily displaced from each other and a contact failure may occur. Absent.

【0022】次に、図3を用いて、フラットパッケージ
17を搭載する場合の基板11の作用について説明する
と、前記フラットパッケージ17と基板11との接触
は、フラットパッケージ17のリード17aと基板11
の導通パターン部14とによって行われ、接触後は、前
記リード17aが絶縁層16の孔部16aによって囲ま
れているため、基板11とフラットパッケージ17とが
簡単にずれて接触不良などを起こすことはない。
Next, the operation of the substrate 11 when the flat package 17 is mounted will be described with reference to FIG. 3. The contact between the flat package 17 and the substrate 11 is made by the leads 17a of the flat package 17 and the substrate 11 by contacting each other.
After the contact, the lead 17a is surrounded by the hole 16a of the insulating layer 16, so that the substrate 11 and the flat package 17 are easily displaced from each other to cause poor contact. There is no.

【0023】(実施例2)図4は、本発明の他の実施例
である基板の構造の一例を示す部分断面図である。
(Embodiment 2) FIG. 4 is a partial sectional view showing an example of the structure of a substrate which is another embodiment of the present invention.

【0024】図4を用いて、本実施例2による基板11
の構成について説明すると、ベースとなる基板本体12
と、該基板本体12の内部に配線される基板内層配線1
3と、図示しない被実装部品との接触部である導通パタ
ーン部14とからなるものである。
A substrate 11 according to the second embodiment will be described with reference to FIG.
Explaining the configuration of the above, the substrate main body 12 serving as a base
And an inner layer wiring 1 of the substrate which is wired inside the substrate body 12.
3 and a conductive pattern portion 14 which is a contact portion with a mounted component (not shown).

【0025】なお、前記基板本体12において、導通パ
ターン部14が形成される箇所は、該基板本体12がテ
ーパ孔16bを備えているため、結果的に導通パターン
部14も内面にテーパ状を備えた凹形状となる。
In the substrate body 12, the conductive pattern portion 14 is formed at the location where the conductive pattern portion 14 is formed, and as a result, the conductive pattern portion 14 also has a tapered inner surface. It becomes a concave shape.

【0026】したがって、実施例2による基板11に
は、前記基板本体12に備えられるテーパ孔16bと、
導通パターン部14とによって凹形状の電極が形成され
ることになる。
Therefore, in the substrate 11 according to the second embodiment, the tapered hole 16b provided in the substrate body 12 is provided.
The conductive pattern portion 14 forms a concave electrode.

【0027】次に、実施例2による基板11のスプリン
グピン15使用時の作用について説明すると、前記基板
本体12に備えられるテーパ孔16bによって、導通パ
ターン部14が凹形状となるため、前記実施例1におい
て説明した作用と同様に、スプリングピン先端部15a
が前記導通パターン部14の斜面を滑り落ちて、その中
心部へ整合され、これによって、基板11とスプリング
ピン15とが接触され、電気的に導通される。
Next, the operation of the substrate 11 according to the second embodiment when the spring pin 15 is used will be described. Since the conductive pattern portion 14 has a concave shape due to the tapered hole 16b provided in the substrate body 12, the above-described embodiment is used. Similar to the operation described in 1, the spring pin tip portion 15a
Slides down the inclined surface of the conductive pattern portion 14 and is aligned with the central portion thereof, whereby the substrate 11 and the spring pin 15 are brought into contact with each other and electrically connected.

【0028】また、接触後は、スプリングピン先端部1
5aが導通パターン部14の凹形状の中に収まっている
ため、基板11とスプリングピン15とが簡単にずれて
接触不良などを起こすことはない。
After the contact, the spring pin tip portion 1
Since 5a is accommodated in the concave shape of the conductive pattern portion 14, the substrate 11 and the spring pin 15 are not easily displaced from each other and a contact failure or the like does not occur.

【0029】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることは言うまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the embodiments and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

【0030】例えば、実施例1および実施例2において
説明した基板は、電子部品などの被実装部品を評価する
テスト基板(パフォーマンスボード)であるが、本発明
による基板は、実際に製品に適用される基板であっても
よい。
For example, the boards described in Embodiments 1 and 2 are test boards (performance boards) for evaluating mounted components such as electronic parts, but the board according to the present invention is actually applied to products. It may be a substrate.

【0031】さらに、実施例1および実施例2において
説明した基板本体12は、樹脂製であっても、あるいは
セラミック製であってもよい。また、必要部分に絶縁処
理が施されていれば金属製であってもよい。
Further, the substrate body 12 described in the first and second embodiments may be made of resin or ceramic. Further, it may be made of metal as long as the necessary portion is insulated.

【0032】また、本発明による基板の凹形状をなす電
極は、実施例1において示した電極(図1参照)の孔部
16aに、さらに、図5に示すような電極パターン18
を付設することによって、前記電極を2層構造としても
よい。この構造によって、スプリングピン15(図2参
照)あるいは被実装部品と基板11との接触をより強力
なものとすることができる。
The concave electrode of the substrate according to the present invention is provided in the hole portion 16a of the electrode (see FIG. 1) shown in the first embodiment, and the electrode pattern 18 as shown in FIG.
The electrode may have a two-layer structure by attaching. With this structure, the contact between the spring pin 15 (see FIG. 2) or the mounted component and the substrate 11 can be made stronger.

【0033】さらに、図6に示すように、本発明による
基板11は、実施例1において示した絶縁層16(図1
参照)の代わりに、導通パターン部14の周囲に絶縁性
樹脂19を塗布することによって形成される凹形状の電
極を備えるものであってもよい。
Further, as shown in FIG. 6, the substrate 11 according to the present invention has the insulating layer 16 (see FIG.
Instead of the reference pattern), a concave electrode formed by applying the insulating resin 19 around the conductive pattern portion 14 may be provided.

【0034】また、図7に示すように、基板実装部品2
0との電気的導通をとるための基板11の電極が、前記
基板実装部品20を含めて収容される大きさで凹形状に
形成されるものであってもよい。
Further, as shown in FIG.
The electrode of the substrate 11 for establishing electrical connection with 0 may be formed in a concave shape with a size to accommodate the substrate mounting component 20.

【0035】[0035]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0036】(1).被実装部品と電気的導通をとるこ
とが可能な基板に、凹形状の電極が設けられるため、前
記被実装部品と前記基板との接触時の位置合わせが容易
になる。
(1). Since the concave electrode is provided on the substrate that can be electrically connected to the mounted component, the alignment of the mounted component and the substrate at the time of contact becomes easy.

【0037】(2).被実装部品と電気的導通をとるこ
とが可能な基板に、凹形状の電極が設けられるため、前
記被実装部品と前記基板との接触後の位置ずれを防止で
きる。
(2). Since the concave electrode is provided on the substrate that can be electrically connected to the mounted component, it is possible to prevent the positional displacement after the mounting component and the substrate are brought into contact with each other.

【0038】(3).被実装部品と電気的導通をとるこ
とが可能な基板に、凹形状の電極が設けられるため、前
記電極の導通パターン部の金属を保護することが可能に
なる。
(3). Since the concave electrode is provided on the substrate that can be electrically connected to the mounted component, it is possible to protect the metal of the conductive pattern portion of the electrode.

【0039】(4).前記基板と前記被実装部品との接
触時の位置合わせが容易になるため、前記基板に設けら
れる電極の位置精度を高度化する必要がなくなる。
(4). Since the positioning of the board and the mounted component at the time of contact is facilitated, it is not necessary to improve the positional accuracy of the electrodes provided on the board.

【0040】(5).前記基板と前記被実装部品との接
触時の位置合わせが容易になるため、従来位置合わせ時
に使用していた治具を簡略化することができる。
(5). Since the alignment when the substrate and the mounted component are in contact with each other is facilitated, the jig used in the conventional alignment can be simplified.

【0041】(6).本発明による基板において、スプ
リングピンを使用してテストを行う場合、前記スプリン
グピンに内蔵されるばねの圧力により、前記スプリング
ピンの先端部が、前記基板に設けられる凹形状の電極に
位置整合されるため、非常に有効である。
(6). When a spring pin is used to perform a test on the substrate according to the present invention, the tip of the spring pin is aligned with the concave electrode provided on the substrate by the pressure of the spring built in the spring pin. Therefore, it is very effective.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例である基板の構造の一例を示
す部分断面図である。
FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing an example of the structure of a substrate that is an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例である基板のスプリングピン
使用時の電極部接触状況の一例を示す部分断面図であ
る。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing an example of a contact state of an electrode portion when using a spring pin of a substrate which is an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例である基板のフラットパッケ
ージ搭載時の電極部接触状況の一例を示す部分断面図で
ある。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing an example of a contact state of electrode portions when a flat package is mounted on a substrate which is an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施例2による基板の構造の一例を示
す部分断面図である。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing an example of the structure of a substrate according to a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の他の実施例による基板の構造の一例を
示す部分断面図である。
FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing an example of the structure of a substrate according to another embodiment of the present invention.

【図6】本発明の他の実施例による基板の構造の一例を
示す部分断面図である。
FIG. 6 is a partial cross-sectional view showing an example of the structure of a substrate according to another embodiment of the present invention.

【図7】本発明の他の実施例による基板の構造の一例を
示す部分断面図である。
FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing an example of the structure of a substrate according to another embodiment of the present invention.

【図8】従来の基板の構造の一例を示す部分断面図であ
る。
FIG. 8 is a partial cross-sectional view showing an example of the structure of a conventional substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,11 基板 2,12 基板本体 3,13 基板内層配線 4,14 導通パターン部 5,15 スプリングピン 15a スプリングピン先端部 16 絶縁層 16a 孔部 16b テーパ孔 17 フラットパッーケージ 17a リード 18 電極パターン 19 絶縁性樹脂 20 基板実装部品 1, 11 substrate 2, 12 substrate main body 3, 13 substrate inner layer wiring 4, 14 conduction pattern part 5, 15 spring pin 15a spring pin tip 16 insulating layer 16a hole 16b taper hole 17 flat package 17a lead 18 electrode pattern 19 Insulating resin 20 Board mounting parts

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 辻 壯介 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 大沢 賢治 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 日 立超エル・エス・アイ・エンジニアリング 株式会社内 (72)発明者 原田 昇一郎 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Issuke Tsuji 5-20-1 Kamimizuhoncho, Kodaira-shi, Tokyo Hiratsuko ELS Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Kenji Osawa Tokyo 5-20-1 Kamimizuhonmachi, Kodaira-shi Hitate Cho-LS Engineering Co., Ltd. (72) Inventor Shoichiro Harada 2326 Imai, Ome-shi, Tokyo Hitachi Device Development Center, Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 設置される電極を介して、被実装部品と
電気的導通をとることが可能な基板であって、前記基板
に凹形状の電極が設けられることを特徴とする基板。
1. A substrate capable of being electrically connected to a mounted component through an electrode to be installed, wherein the substrate is provided with a concave electrode.
【請求項2】 前記凹形状の電極は、被実装部品の端子
と接触して電気的導通をとる導通パターン部と、前記導
通パターン部上に位置する孔部が設けられる絶縁層とか
らなることを特徴とする請求項1記載の基板。
2. The concave electrode is composed of a conductive pattern portion that comes into electrical contact with a terminal of a mounted component and has an insulating layer provided with a hole located on the conductive pattern portion. The substrate according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記凹形状の電極は、被実装部品の端子
と接触して電気的導通をとる導通パターン部と、ベース
となる基板本体に設けられるテーパ孔とからなるもので
あることを特徴とする請求項1記載の基板。
3. The concave electrode comprises a conductive pattern portion that is in electrical contact with a terminal of a mounted component and has electrical conduction, and a tapered hole provided in a substrate body that serves as a base. The substrate according to claim 1.
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