JPH06347495A - ハイビジョン用伝送特性測定器 - Google Patents
ハイビジョン用伝送特性測定器Info
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- JPH06347495A JPH06347495A JP5137118A JP13711893A JPH06347495A JP H06347495 A JPH06347495 A JP H06347495A JP 5137118 A JP5137118 A JP 5137118A JP 13711893 A JP13711893 A JP 13711893A JP H06347495 A JPH06347495 A JP H06347495A
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- reflected wave
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Circuits Of Receivers In General (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は放送波の伝送を中断させることな
く、かつ測定作業を容易にしながらハイビジョン放送受
信システムのＲＦ特性を把握させる。 【構成】 同期検出回路２およびＡ／Ｄ変換回路３によ
ってハイビジョン放送受信システムから出力されるＭＵ
ＳＥ信号中に含まれるＶＩＴ信号を抽出した後、ＳＩ比
演算回路４によって前記ＶＩＴ信号中の反射波成分特性
であるＳＩ比を測定するとともに、第１ＤＦＴ回路６お
よび補正回路７、第２ＤＦＴ回路８、ピーク検出回路９
によって前記ＶＩＴ信号中の反射波成分特性である遅延
時間を測定し、これらＳＩ比、遅延時間に基づいて前記
ハイビジョン放送受信システムのＲＦ帯のＤＵ比、遅延
時間を提示する。
く、かつ測定作業を容易にしながらハイビジョン放送受
信システムのＲＦ特性を把握させる。 【構成】 同期検出回路２およびＡ／Ｄ変換回路３によ
ってハイビジョン放送受信システムから出力されるＭＵ
ＳＥ信号中に含まれるＶＩＴ信号を抽出した後、ＳＩ比
演算回路４によって前記ＶＩＴ信号中の反射波成分特性
であるＳＩ比を測定するとともに、第１ＤＦＴ回路６お
よび補正回路７、第２ＤＦＴ回路８、ピーク検出回路９
によって前記ＶＩＴ信号中の反射波成分特性である遅延
時間を測定し、これらＳＩ比、遅延時間に基づいて前記
ハイビジョン放送受信システムのＲＦ帯のＤＵ比、遅延
時間を提示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はハイビジョン放送受信シ
ステム内の高周波伝送特性を簡易に把握するために使用
するハイビジョン用伝送特性測定器に関する。
ステム内の高周波伝送特性を簡易に把握するために使用
するハイビジョン用伝送特性測定器に関する。
【０００２】［発明の概要］本発明はハイビジョン放送
受信システム内での反射波発生箇所を発見する手法にお
いて、ハイビジョン放送波に挿入されているＶＩＴ信号
などの特定信号を利用して簡易なシステムでハイビジョ
ン放送波のベースバンド信号の反射波成分を抽出して反
射波の特性であるＳＩ比と、遅延時間とを求めることに
より、前記ハイビジョン放送受信システムの高周波伝送
特性を把握できるようにするものである。
受信システム内での反射波発生箇所を発見する手法にお
いて、ハイビジョン放送波に挿入されているＶＩＴ信号
などの特定信号を利用して簡易なシステムでハイビジョ
ン放送波のベースバンド信号の反射波成分を抽出して反
射波の特性であるＳＩ比と、遅延時間とを求めることに
より、前記ハイビジョン放送受信システムの高周波伝送
特性を把握できるようにするものである。
【０００３】
【従来の技術】ハイビジョン放送受信システムにおいて
は、受信システム内のインピーダンス不整合点で反射波
が発生すると、受信画像にリンギングが現われることが
ある。
は、受信システム内のインピーダンス不整合点で反射波
が発生すると、受信画像にリンギングが現われることが
ある。
【０００４】そこで、ハイビジョン放送受信システムで
は、このような不都合が発生しないように、ネットワー
クアナライザを使用し、ハイビジョン放送受信システム
内における反射波の発生箇所を発見することが行われて
いる。
は、このような不都合が発生しないように、ネットワー
クアナライザを使用し、ハイビジョン放送受信システム
内における反射波の発生箇所を発見することが行われて
いる。
【０００５】この方法では、測定対象となるハイビジョ
ン放送受信システム内の放送伝送を中断させた後、ネッ
トワークアナライザの送信部をハイビジョン放送受信シ
ステムのヘッドエンドに接続するとともに、前記ネット
ワークアナライザの受信部を受信端末に接続し、この状
態でネットワークアナライザを動作させて特別な試験信
号を生成させ、これを前記ヘッドエンドに導きながら、
前記受信部によって受信端末に現われた試験信号を受信
し、これらの各試験信号を比較して前記ハイビジョン放
送受信システムの希望波と非希望波との比（以下ＤＵ
比）と、遅延時間とを求め、これらの各測定結果に基づ
いてシステム内における反射波の発生箇所を見つけ出し
ている。
ン放送受信システム内の放送伝送を中断させた後、ネッ
トワークアナライザの送信部をハイビジョン放送受信シ
ステムのヘッドエンドに接続するとともに、前記ネット
ワークアナライザの受信部を受信端末に接続し、この状
態でネットワークアナライザを動作させて特別な試験信
号を生成させ、これを前記ヘッドエンドに導きながら、
前記受信部によって受信端末に現われた試験信号を受信
し、これらの各試験信号を比較して前記ハイビジョン放
送受信システムの希望波と非希望波との比（以下ＤＵ
比）と、遅延時間とを求め、これらの各測定結果に基づ
いてシステム内における反射波の発生箇所を見つけ出し
ている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の反射波発生箇所測定方法では、ネットワークア
ナライザによって特別な試験信号を生成し、これをハイ
ビジョン放送受信システムのヘッドエンドに導かなけれ
ばならないため、測定を行なうとき、システム内の放送
波伝送を中断させなければならないのみならず、測定シ
ステム自体が煩雑になってしまうなどの問題があった。
た従来の反射波発生箇所測定方法では、ネットワークア
ナライザによって特別な試験信号を生成し、これをハイ
ビジョン放送受信システムのヘッドエンドに導かなけれ
ばならないため、測定を行なうとき、システム内の放送
波伝送を中断させなければならないのみならず、測定シ
ステム自体が煩雑になってしまうなどの問題があった。
【０００７】本発明は上記の事情に鑑み、放送波のベー
スバンド信号を利用してハイビジョン放送受信システム
のＳＩ比（ベースバンド信号の正規の値との位相差およ
び振幅差を示す値）および遅延時間を測定し、これらの
各測定結果に基づいてハイビジョン放送受信システムの
高周波伝送特性（以下ＲＦ特性）を容易に把握させるこ
とにより、放送波の伝送を中断させることなくハイビジ
ョン放送受信システムのＲＦ特性を把握させることがで
きるとともに、測定作業を容易にすることができるハイ
ビジョン用伝送特性測定器を提供することを目的として
いる。
スバンド信号を利用してハイビジョン放送受信システム
のＳＩ比（ベースバンド信号の正規の値との位相差およ
び振幅差を示す値）および遅延時間を測定し、これらの
各測定結果に基づいてハイビジョン放送受信システムの
高周波伝送特性（以下ＲＦ特性）を容易に把握させるこ
とにより、放送波の伝送を中断させることなくハイビジ
ョン放送受信システムのＲＦ特性を把握させることがで
きるとともに、測定作業を容易にすることができるハイ
ビジョン用伝送特性測定器を提供することを目的として
いる。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明によるハイビジョン用伝送特性測定器は、ハ
イビジョン放送受信システムから出力されるハイビジョ
ン放送波のベースバンド信号中に含まれる特定信号を抽
出する特定信号抽出部と、この特性信号抽出部によって
抽出された特定信号中の反射波成分特性であるＳＩ比を
求めるＳＩ比検出部と、前記特定信号抽出部によって抽
出された特定信号中の反射波成分特性である遅延時間を
求める遅延時間検出部とを備えたことを特徴としてい
る。
めに本発明によるハイビジョン用伝送特性測定器は、ハ
イビジョン放送受信システムから出力されるハイビジョ
ン放送波のベースバンド信号中に含まれる特定信号を抽
出する特定信号抽出部と、この特性信号抽出部によって
抽出された特定信号中の反射波成分特性であるＳＩ比を
求めるＳＩ比検出部と、前記特定信号抽出部によって抽
出された特定信号中の反射波成分特性である遅延時間を
求める遅延時間検出部とを備えたことを特徴としてい
る。
【０００９】
【作用】上記の構成において、特定信号抽出部によって
ハイビジョン放送受信システムから出力されるハイビジ
ョン放送波のベースバンド信号中に含まれる特定信号が
抽出された後、ＳＩ比検出部によって前記特性信号抽出
部で抽出された特定信号中の反射波成分特性であるＳＩ
比を求めるとともに、遅延時間検出部によって前記特定
信号抽出部で抽出された特定信号中の反射波成分特性で
ある遅延時間が求められ、これらＳＩ比、遅延時間に基
づいて前記ハイビジョン放送受信システムのＲＦ帯のＤ
Ｕ比、遅延時間が提示される。
ハイビジョン放送受信システムから出力されるハイビジ
ョン放送波のベースバンド信号中に含まれる特定信号が
抽出された後、ＳＩ比検出部によって前記特性信号抽出
部で抽出された特定信号中の反射波成分特性であるＳＩ
比を求めるとともに、遅延時間検出部によって前記特定
信号抽出部で抽出された特定信号中の反射波成分特性で
ある遅延時間が求められ、これらＳＩ比、遅延時間に基
づいて前記ハイビジョン放送受信システムのＲＦ帯のＤ
Ｕ比、遅延時間が提示される。
【００１０】
【実施例】次に、本発明における実施例の詳細な説明に
先だって、本発明の基本原理について図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
先だって、本発明の基本原理について図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
【００１１】まず、ネットワークアナライザを使用して
ハイビジョン放送受信システムのＤＵ比と、遅延時間と
を測定する従来の方法では、測定作業が難しいことか
ら、本発明者はもっと簡単な測定作業によって測定する
ことができる値、すなわちベースバンド信号のＳＩ比お
よび反射波遅延時間に着目し、これらベースバンド信号
のＳＩ比および反射波遅延時間を用いてＤＵ比および遅
延時間を用いたときと同じくハイビジョン放送受信シス
テム内における反射波の発生箇所を発見することができ
るかどうか実験を行なった。
ハイビジョン放送受信システムのＤＵ比と、遅延時間と
を測定する従来の方法では、測定作業が難しいことか
ら、本発明者はもっと簡単な測定作業によって測定する
ことができる値、すなわちベースバンド信号のＳＩ比お
よび反射波遅延時間に着目し、これらベースバンド信号
のＳＩ比および反射波遅延時間を用いてＤＵ比および遅
延時間を用いたときと同じくハイビジョン放送受信シス
テム内における反射波の発生箇所を発見することができ
るかどうか実験を行なった。
【００１２】図６はこのとき使用した実験システムの概
要を示すブロック図である。
要を示すブロック図である。
【００１３】この図に示す実験システムはＭＵＳＥ−Ｆ
Ｍ信号生成装置１０１と、第１、第２信号切替スイッチ
１０２、１０４と、測定対象装置１０３と、ネットワー
クアナライザ１０５と、ＳＩ比・反射波遅延時間測定装
置１０６とを備えている。
Ｍ信号生成装置１０１と、第１、第２信号切替スイッチ
１０２、１０４と、測定対象装置１０３と、ネットワー
クアナライザ１０５と、ＳＩ比・反射波遅延時間測定装
置１０６とを備えている。
【００１４】ＭＵＳＥ−ＦＭ信号生成装置１０１はＭＵ
ＳＥ試験信号を発生するＭＵＳＥ試験信号発生器１０７
と、このＭＵＳＥ試験信号発生器１０７から出力される
ＭＵＳＥ試験信号をＦＭ変調する変調器１０８とを備え
ており、ＳＩ比・反射波遅延時間測定装置１０６によっ
て前記測定対象装置１０３の試験を行なうとき、ＭＵＳ
Ｅ試験信号を生成するとともに、これをＦＭ変調したＭ
ＵＳＥ−ＦＭ試験信号を第１信号切替スイッチ１０２に
供給する。
ＳＥ試験信号を発生するＭＵＳＥ試験信号発生器１０７
と、このＭＵＳＥ試験信号発生器１０７から出力される
ＭＵＳＥ試験信号をＦＭ変調する変調器１０８とを備え
ており、ＳＩ比・反射波遅延時間測定装置１０６によっ
て前記測定対象装置１０３の試験を行なうとき、ＭＵＳ
Ｅ試験信号を生成するとともに、これをＦＭ変調したＭ
ＵＳＥ−ＦＭ試験信号を第１信号切替スイッチ１０２に
供給する。
【００１５】第１信号切替スイッチ１０２はベースバン
ド測定時には、前記ＭＵＳＥ−ＦＭ信号生成装置１０１
から出力されるＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を選択し、また
ＲＦ帯測定時には、前記ネットワークアナライザ１０５
から出力される特別な試験信号を選択し、この選択動作
によって得られたＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号（または、特
別な試験信号を用いる。以下同じ）を前記測定対象装置
１０３に供給する。
ド測定時には、前記ＭＵＳＥ−ＦＭ信号生成装置１０１
から出力されるＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を選択し、また
ＲＦ帯測定時には、前記ネットワークアナライザ１０５
から出力される特別な試験信号を選択し、この選択動作
によって得られたＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号（または、特
別な試験信号を用いる。以下同じ）を前記測定対象装置
１０３に供給する。
【００１６】測定対象装置１０３は前記第１信号切替ス
イッチ１０２から出力されるＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を
２つに分ける分配器１０９と、この分配器１０９によっ
て２分された一方のＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を遅延させ
て疑似的に反射波を生成する遅延ケーブル１１０と、こ
の遅延ケーブル１１０によって生成された反射波の位相
を調整する位相調整器１１１と、この位相調整器１１１
によって位相調整された反射波の大きさを調整するアッ
テネータ１１２と、このアッテネータ１１２によって大
きさが調整された反射波と前記分配器１０９から出力さ
れる他方のＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号とを混合して原信号
を反射波によって歪ませた信号を生成する混合器１１３
とを備えている。
イッチ１０２から出力されるＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を
２つに分ける分配器１０９と、この分配器１０９によっ
て２分された一方のＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を遅延させ
て疑似的に反射波を生成する遅延ケーブル１１０と、こ
の遅延ケーブル１１０によって生成された反射波の位相
を調整する位相調整器１１１と、この位相調整器１１１
によって位相調整された反射波の大きさを調整するアッ
テネータ１１２と、このアッテネータ１１２によって大
きさが調整された反射波と前記分配器１０９から出力さ
れる他方のＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号とを混合して原信号
を反射波によって歪ませた信号を生成する混合器１１３
とを備えている。
【００１７】そして、前記第１信号切替スイッチ１０２
から出力されるＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を取り込むとと
もに、分配器１０９によってこれを２分し、その一方を
遅延ケーブル１１０によって遅延させて疑似的な反射波
を生成するとともに、位相調整器１１１およびアッテネ
ータ１１２によって前記反射波の位相および大きさを調
整した後、前記分配器１０９によって得られた他方のＭ
ＵＳＥ−ＦＭ試験信号を原信号として、混合器１１３に
よって前記原信号と前記反射波とをミキシングして反射
波を含むＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を生成し、これを第２
信号切替スイッチ１０４に供給する。
から出力されるＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を取り込むとと
もに、分配器１０９によってこれを２分し、その一方を
遅延ケーブル１１０によって遅延させて疑似的な反射波
を生成するとともに、位相調整器１１１およびアッテネ
ータ１１２によって前記反射波の位相および大きさを調
整した後、前記分配器１０９によって得られた他方のＭ
ＵＳＥ−ＦＭ試験信号を原信号として、混合器１１３に
よって前記原信号と前記反射波とをミキシングして反射
波を含むＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を生成し、これを第２
信号切替スイッチ１０４に供給する。
【００１８】第２信号切替スイッチ１０４は前記測定対
象装置１０３から出力される反射波を含むＭＵＳＥ−Ｆ
Ｍ試験信号を取り込むとともに、ベースバンド測定時に
は、取り込んだ反射波を含むＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を
ＳＩ比・反射波遅延時間測定装置１０６に供給し、また
ＲＦ帯測定時には、取り込んだ反射波を含む特別な試験
信号をネットワークアナライザ１０５に供給する。
象装置１０３から出力される反射波を含むＭＵＳＥ−Ｆ
Ｍ試験信号を取り込むとともに、ベースバンド測定時に
は、取り込んだ反射波を含むＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を
ＳＩ比・反射波遅延時間測定装置１０６に供給し、また
ＲＦ帯測定時には、取り込んだ反射波を含む特別な試験
信号をネットワークアナライザ１０５に供給する。
【００１９】ネットワークアナライザ１０５は前記第
１、第２信号切替スイッチ１０２、１０４がＲＦ帯測定
時側に切り替えられ、前記測定対象装置１０３のＤＵ比
と、遅延時間とを測定するとき、特別な試験信号を生成
し、これを前記第１信号切替スイッチ１０２に供給しな
がら、第２信号切替スイッチ１０４から出力される反射
波を含む特別な試験信号を取り込んで、これらの各試験
信号を比較して前記測定対象装置１０３のＤＵ比と、遅
延時間とを求め、これらの各測定結果に基づいて測定対
象装置１０３内における反射波の発生箇所を見つけ出
す。
１、第２信号切替スイッチ１０２、１０４がＲＦ帯測定
時側に切り替えられ、前記測定対象装置１０３のＤＵ比
と、遅延時間とを測定するとき、特別な試験信号を生成
し、これを前記第１信号切替スイッチ１０２に供給しな
がら、第２信号切替スイッチ１０４から出力される反射
波を含む特別な試験信号を取り込んで、これらの各試験
信号を比較して前記測定対象装置１０３のＤＵ比と、遅
延時間とを求め、これらの各測定結果に基づいて測定対
象装置１０３内における反射波の発生箇所を見つけ出
す。
【００２０】また、ＳＩ比・反射波遅延時間測定装置１
０６は前記第１、第２信号切替スイッチ１０２、１０４
がベースバンド測定時側に切り替えられているとき、前
記第２信号切替スイッチ１０４から出力される反射波を
含むＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を取り込んで前記測定対象
装置１０３のＳＩ比と、遅延時間とを求め、これらの各
測定結果に基づいて測定対象装置１０３内における反射
波の発生箇所を見つけ出す。
０６は前記第１、第２信号切替スイッチ１０２、１０４
がベースバンド測定時側に切り替えられているとき、前
記第２信号切替スイッチ１０４から出力される反射波を
含むＭＵＳＥ−ＦＭ試験信号を取り込んで前記測定対象
装置１０３のＳＩ比と、遅延時間とを求め、これらの各
測定結果に基づいて測定対象装置１０３内における反射
波の発生箇所を見つけ出す。
【００２１】そして、この実験システムを使用し、第
１、第２信号切替スイッチ１０２、１０４をＲＦ帯測定
時側にし、この状態でネットワークアナライザ１０５を
動作させて測定対象装置１０３のＤＵ比と、遅延時間と
を測定し、さらに第１、第２信号切替スイッチ１０２、
１０４をベースバンド測定時側にし、この状態でＭＵＳ
Ｅ−ＦＭ信号生成装置１０１と、ＳＩ比・反射波遅延時
間測定装置１０６とを動作させて前記測定対象装置１０
３のＳＩ比と、遅延時間とを測定し、これらを比較した
とき、図７に示すベースバンドＳＩ比／ＲＦ帯ＤＵ比特
性図と、図８に示すベースバンド反射波遅延時間／ＲＦ
帯反射波遅延時間特性図とが得られた。
１、第２信号切替スイッチ１０２、１０４をＲＦ帯測定
時側にし、この状態でネットワークアナライザ１０５を
動作させて測定対象装置１０３のＤＵ比と、遅延時間と
を測定し、さらに第１、第２信号切替スイッチ１０２、
１０４をベースバンド測定時側にし、この状態でＭＵＳ
Ｅ−ＦＭ信号生成装置１０１と、ＳＩ比・反射波遅延時
間測定装置１０６とを動作させて前記測定対象装置１０
３のＳＩ比と、遅延時間とを測定し、これらを比較した
とき、図７に示すベースバンドＳＩ比／ＲＦ帯ＤＵ比特
性図と、図８に示すベースバンド反射波遅延時間／ＲＦ
帯反射波遅延時間特性図とが得られた。
【００２２】図７から分かるように、反射波の遅延時間
が小さい場合、またはサンプリング間隔（約６０ｍｓ）
の整数倍の場合、ＤＵ比と、ＳＩ比とがほぼ一致し、そ
れ以外のときには、ＤＵ比に比べてＳＩ比が大きくなる
傾向がある。
が小さい場合、またはサンプリング間隔（約６０ｍｓ）
の整数倍の場合、ＤＵ比と、ＳＩ比とがほぼ一致し、そ
れ以外のときには、ＤＵ比に比べてＳＩ比が大きくなる
傾向がある。
【００２３】そして、これらの差は反射波遅延時間との
相関関係が極めて強いことから、反射波遅延時間をパラ
メータとした補正値をＳＩ比に加えることにより、ＳＩ
比からＤＵ比を求めることができる。
相関関係が極めて強いことから、反射波遅延時間をパラ
メータとした補正値をＳＩ比に加えることにより、ＳＩ
比からＤＵ比を求めることができる。
【００２４】また、図８から分かるように、ＳＩ比や位
相に関係なく、ベースバンド信号の反射波遅延時間と、
ＲＦ帯の反射波遅延とがほぼ一致する。
相に関係なく、ベースバンド信号の反射波遅延時間と、
ＲＦ帯の反射波遅延とがほぼ一致する。
【００２５】これらのことから、ＭＵＳＥ−ＦＭ信号を
復調したＭＵＳＥ信号のＳＩ比と、遅延時間とを測定す
ることにより、ＲＦ帯のＤＵ比と、遅延時間とを把握で
きることが分かった。
復調したＭＵＳＥ信号のＳＩ比と、遅延時間とを測定す
ることにより、ＲＦ帯のＤＵ比と、遅延時間とを把握で
きることが分かった。
【００２６】そして、本発明では、ベースバンド信号中
の検出し易い信号としてＶＩＴ（Vertical Interval Te
st）信号を選択し、このＶＩＴ信号を利用して、そのＳ
Ｉ比と、遅延時間とを測定し、これらの測定結果に基づ
いてハイビジョン放送受信システム内の伝送路で生じる
反射波の発生箇所を見つけ出すようにした。
の検出し易い信号としてＶＩＴ（Vertical Interval Te
st）信号を選択し、このＶＩＴ信号を利用して、そのＳ
Ｉ比と、遅延時間とを測定し、これらの測定結果に基づ
いてハイビジョン放送受信システム内の伝送路で生じる
反射波の発生箇所を見つけ出すようにした。
【００２７】図１は上述した基本原理を使用した本発明
によるハイビジョン用伝送特性測定器の一実施例を示す
ブロック図である。
によるハイビジョン用伝送特性測定器の一実施例を示す
ブロック図である。
【００２８】この図に示すハイビジョン用伝送特性測定
器１は同期検出回路２と、Ａ／Ｄ変換回路３と、ＳＩ比
演算回路４と、ＤＵ比演算表示回路５と、第１ＤＦＴ
（Direct Fouier Transform ）回路６と、補正回路７
と、第２ＤＦＴ（Direct FouierTransform ）回路８
と、ピーク検出回路９と、遅延時間表示回路１０とを備
えており、ＭＵＳＥデコーダから出力されるベースバン
ド信号（ＭＵＳＥ信号）を取り込み、基準となるＶＩＴ
信号と、ハイビジョン放送受信システムで歪みを受けた
ＶＩＴ信号とをＡ／Ｄ変換するとともに、このＡ／Ｄ変
換処理によって得られる歪みを受けたＶＩＴ信号の各ゼ
ロクロス点に基づいて前記ベースバンド信号のＳＩ比を
求め、さらに前記Ａ／Ｄ変換処理によって得られた基準
となるＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ（ω）で歪みを受
けたＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ’（ω）を割算して
伝送路の伝達関数Ｘ（ω）を求めるとともに、この伝達
関数Ｘ（ω）をフーリェ変換してリップル周波数成分を
求めた後、このリップル周波数成分の最大振幅の周期に
基づいて反射波の遅延時間を算出し、これらＳＩ比と遅
延時間とに基づいてＲＦ帯のＤＵ比、遅延時間を把握さ
せる。
器１は同期検出回路２と、Ａ／Ｄ変換回路３と、ＳＩ比
演算回路４と、ＤＵ比演算表示回路５と、第１ＤＦＴ
（Direct Fouier Transform ）回路６と、補正回路７
と、第２ＤＦＴ（Direct FouierTransform ）回路８
と、ピーク検出回路９と、遅延時間表示回路１０とを備
えており、ＭＵＳＥデコーダから出力されるベースバン
ド信号（ＭＵＳＥ信号）を取り込み、基準となるＶＩＴ
信号と、ハイビジョン放送受信システムで歪みを受けた
ＶＩＴ信号とをＡ／Ｄ変換するとともに、このＡ／Ｄ変
換処理によって得られる歪みを受けたＶＩＴ信号の各ゼ
ロクロス点に基づいて前記ベースバンド信号のＳＩ比を
求め、さらに前記Ａ／Ｄ変換処理によって得られた基準
となるＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ（ω）で歪みを受
けたＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ’（ω）を割算して
伝送路の伝達関数Ｘ（ω）を求めるとともに、この伝達
関数Ｘ（ω）をフーリェ変換してリップル周波数成分を
求めた後、このリップル周波数成分の最大振幅の周期に
基づいて反射波の遅延時間を算出し、これらＳＩ比と遅
延時間とに基づいてＲＦ帯のＤＵ比、遅延時間を把握さ
せる。
【００２９】同期検出回路２はハイビジョン放送受信シ
ステムのＭＵＳＥデコーダから出力されるＭＵＳＥ信号
のＶＩＴ信号を取り込むとともに、このＭＵＳＥ信号の
同期検出を行なって前記Ａ／Ｄ変換回路３によって前記
ＭＵＳＥ信号中のＶＩＴ信号を取り込むのに必要なタイ
ミングでクロック信号を生成し、これを前記Ａ／Ｄ変換
回路３に供給する。
ステムのＭＵＳＥデコーダから出力されるＭＵＳＥ信号
のＶＩＴ信号を取り込むとともに、このＭＵＳＥ信号の
同期検出を行なって前記Ａ／Ｄ変換回路３によって前記
ＭＵＳＥ信号中のＶＩＴ信号を取り込むのに必要なタイ
ミングでクロック信号を生成し、これを前記Ａ／Ｄ変換
回路３に供給する。
【００３０】Ａ／Ｄ変換回路３は前記同期検出回路２か
ら出力されるクロック信号に基づいて前記ＭＵＳＥデコ
ーダから出力される基準となるＶＩＴ信号および歪みを
受けたＶＩＴ信号を取り込み、各ＭＵＳＥ信号の垂直ブ
ランキング期間中に含まれている基準ＶＩＴ信号および
歪みを受けたＶＩＴ信号を抽出するとともに、これらを
Ａ／Ｄ変換してＳＩ比演算回路４と、第１ＤＦＴ回路６
に供給する。
ら出力されるクロック信号に基づいて前記ＭＵＳＥデコ
ーダから出力される基準となるＶＩＴ信号および歪みを
受けたＶＩＴ信号を取り込み、各ＭＵＳＥ信号の垂直ブ
ランキング期間中に含まれている基準ＶＩＴ信号および
歪みを受けたＶＩＴ信号を抽出するとともに、これらを
Ａ／Ｄ変換してＳＩ比演算回路４と、第１ＤＦＴ回路６
に供給する。
【００３１】この場合、図２に示す如く基準ＶＩＴ信号
は横軸のゼロクロスポイントがＶＩＴ信号のサンプリン
グデータとなる波形、すなわち、図中白丸で示すような
波形になり、受信システムで歪みを受けたＶＩＴ信号は
ゼロクロスポイント以外の点がサンプリングデータとな
る波形、すなわち、図中黒丸で示すような波形になり、
これがＡ／Ｄ変換されてＳＩ比演算回路４と、第１ＤＦ
Ｔ回路６とに供給される。
は横軸のゼロクロスポイントがＶＩＴ信号のサンプリン
グデータとなる波形、すなわち、図中白丸で示すような
波形になり、受信システムで歪みを受けたＶＩＴ信号は
ゼロクロスポイント以外の点がサンプリングデータとな
る波形、すなわち、図中黒丸で示すような波形になり、
これがＡ／Ｄ変換されてＳＩ比演算回路４と、第１ＤＦ
Ｔ回路６とに供給される。
【００３２】ＳＩ比演算回路４は前記Ａ／Ｄ変換回路３
から出力される歪みを受けたＶＩＴ信号を取り込むとと
もに、次式に示す演算を行なってベースバンド信号のＳ
Ｉ比（Ｓ／Ｉ）を求め、これをＤＵ比演算表示回路５に
供給する。
から出力される歪みを受けたＶＩＴ信号を取り込むとと
もに、次式に示す演算を行なってベースバンド信号のＳ
Ｉ比（Ｓ／Ｉ）を求め、これをＤＵ比演算表示回路５に
供給する。
【００３３】 Ｓ／Ｉ＝１０・ｌｏｇΣ（αｉ）2 …（１） 但し、αｉ：ハイビジョン放送受信システムで歪みを受
けたＶＩＴ信号の各ゼロクロスポイントの値 ＤＵ比演算表示回路５は前記ＳＩ比演算回路４から出力
されるベースバンド信号のＳＩ比を取り込むとともに、
実験によって予め得られている補正係数、例えば図７に
示すベースバンドＳＩ比／ＲＦ帯ＤＵ比特性図によって
得られる補正係数を使用して前記ＳＩ比をＲＦ帯のＤＵ
比に変換し、これを表示する。
けたＶＩＴ信号の各ゼロクロスポイントの値 ＤＵ比演算表示回路５は前記ＳＩ比演算回路４から出力
されるベースバンド信号のＳＩ比を取り込むとともに、
実験によって予め得られている補正係数、例えば図７に
示すベースバンドＳＩ比／ＲＦ帯ＤＵ比特性図によって
得られる補正係数を使用して前記ＳＩ比をＲＦ帯のＤＵ
比に変換し、これを表示する。
【００３４】また、第１ＤＦＴ回路６は前記Ａ／Ｄ変換
回路３から出力される基準ＶＩＴ信号と、歪みを受けた
ＶＩＴ信号を取り込むとともに、これをフーリェ変換し
て図３に示す如く基準ＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ
（ω）と、歪みを受けたＶＩＴ信号の周波数振幅特性
Ｇ’（ω）とを求め、これらを補正回路７に供給する。
回路３から出力される基準ＶＩＴ信号と、歪みを受けた
ＶＩＴ信号を取り込むとともに、これをフーリェ変換し
て図３に示す如く基準ＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ
（ω）と、歪みを受けたＶＩＴ信号の周波数振幅特性
Ｇ’（ω）とを求め、これらを補正回路７に供給する。
【００３５】補正回路７は前記第１ＤＦＴ回路６から出
力される基準ＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ（ω）と、
歪みを受けたＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ’（ω）と
を取り込むとともに、次式に示す演算を行なって図４に
示す如く伝送路の伝達関数Ｘ（ω）を求め、これを第２
ＤＦＴ回路８に供給する。
力される基準ＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ（ω）と、
歪みを受けたＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ’（ω）と
を取り込むとともに、次式に示す演算を行なって図４に
示す如く伝送路の伝達関数Ｘ（ω）を求め、これを第２
ＤＦＴ回路８に供給する。
【００３６】 Ｘ（ω）＝｛Ｇ’（ω）｝／｛Ｇ（ω）｝ …（２） 第２ＤＦＴ回路８は前記補正回路７から出力される伝達
関数Ｘ（ω）を取り込むとともに、これをフーリェ変換
して図５に示す如く前記伝達関数Ｘ（ω）のリップル周
波数成分を求め、これらをピーク検出回路９に供給す
る。
関数Ｘ（ω）を取り込むとともに、これをフーリェ変換
して図５に示す如く前記伝達関数Ｘ（ω）のリップル周
波数成分を求め、これらをピーク検出回路９に供給す
る。
【００３７】ピーク検出回路９は前記第２ＤＦＴ回路８
から出力されるリップル周波数成分を取り込み、このリ
ップル周波数成分の最大振幅を検出するとともに、この
最大振幅の周期ｆｒに基づいて次式に示す演算を行なっ
てベースバンド信号中の反射波遅延時間τを求め、この
反射波遅延時間τと、前記最大振幅の振幅値（反射波の
強度）とを遅延時間表示回路１０に供給する。
から出力されるリップル周波数成分を取り込み、このリ
ップル周波数成分の最大振幅を検出するとともに、この
最大振幅の周期ｆｒに基づいて次式に示す演算を行なっ
てベースバンド信号中の反射波遅延時間τを求め、この
反射波遅延時間τと、前記最大振幅の振幅値（反射波の
強度）とを遅延時間表示回路１０に供給する。
【００３８】 τ＝１／ｆｒ …（３） 遅延時間表示回路１０は前記ピーク検出回路９から出力
される反射波遅延時間τと、反射波の強度とを取込み、
実験によって予め得られている補正係数、例えば図８に
示すベースバンド反射波遅延時間／ＲＦ帯反射波遅延時
間特性図によって得られる補正係数を使用して前記ベー
スバンド信号の反射波遅延時間τをＲＦ帯の反射波遅延
時間に変換し、これを表示する。
される反射波遅延時間τと、反射波の強度とを取込み、
実験によって予め得られている補正係数、例えば図８に
示すベースバンド反射波遅延時間／ＲＦ帯反射波遅延時
間特性図によって得られる補正係数を使用して前記ベー
スバンド信号の反射波遅延時間τをＲＦ帯の反射波遅延
時間に変換し、これを表示する。
【００３９】このようにこの実施例においては、ＭＵＳ
Ｅデコーダから出力されるベースバンド信号（ＭＵＳＥ
信号）を取り込み、基準となるＶＩＴ信号と、ハイビジ
ョン放送受信システムで歪みを受けたＶＩＴ信号とをＡ
／Ｄ変換するとともに、このＡ／Ｄ変換処理によって得
られる歪みを受けたＶＩＴ信号の各ゼロクロス点に基づ
いて前記ベースバンド信号のＳＩ比を求め、さらに前記
Ａ／Ｄ変換処理によって得られた基準となるＶＩＴ信号
の周波数振幅特性Ｇ（ω）で歪みを受けたＶＩＴ信号の
周波数振幅特性Ｇ’（ω）を割算して伝送路の伝達関数
Ｘ（ω）を求めるとともに、この伝達関数Ｘ（ω）をフ
ーリェ変換してリップル周波数成分を求めた後、このリ
ップル周波数成分の最大振幅の周期に基づいて反射波の
遅延時間を算出し、これらＳＩ比と遅延時間とに基づい
てＲＦ帯のＤＵ比、遅延時間を把握させるようにしたの
で、放送波を利用してハイビジョン放送受信システムの
ＲＦ特性を容易に把握させることができ、これによって
測定中でも放送波の伝送を中断することなくハイビジョ
ン放送受信システムのＲＦ特性を知らせることができる
とともに、測定作業を容易にさせることができる。
Ｅデコーダから出力されるベースバンド信号（ＭＵＳＥ
信号）を取り込み、基準となるＶＩＴ信号と、ハイビジ
ョン放送受信システムで歪みを受けたＶＩＴ信号とをＡ
／Ｄ変換するとともに、このＡ／Ｄ変換処理によって得
られる歪みを受けたＶＩＴ信号の各ゼロクロス点に基づ
いて前記ベースバンド信号のＳＩ比を求め、さらに前記
Ａ／Ｄ変換処理によって得られた基準となるＶＩＴ信号
の周波数振幅特性Ｇ（ω）で歪みを受けたＶＩＴ信号の
周波数振幅特性Ｇ’（ω）を割算して伝送路の伝達関数
Ｘ（ω）を求めるとともに、この伝達関数Ｘ（ω）をフ
ーリェ変換してリップル周波数成分を求めた後、このリ
ップル周波数成分の最大振幅の周期に基づいて反射波の
遅延時間を算出し、これらＳＩ比と遅延時間とに基づい
てＲＦ帯のＤＵ比、遅延時間を把握させるようにしたの
で、放送波を利用してハイビジョン放送受信システムの
ＲＦ特性を容易に把握させることができ、これによって
測定中でも放送波の伝送を中断することなくハイビジョ
ン放送受信システムのＲＦ特性を知らせることができる
とともに、測定作業を容易にさせることができる。
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、放
送波のベースバンド信号を利用してハイビジョン放送受
信システムのＳＩ比および遅延時間を測定し、これらの
各測定結果に基づいてハイビジョン放送受信システムの
ＲＦ特性を容易に把握させることにより、放送波の伝送
を中断させることなくハイビジョン放送受信システムの
ＲＦ特性を把握させることができるとともに、測定作業
を容易にすることができる。
送波のベースバンド信号を利用してハイビジョン放送受
信システムのＳＩ比および遅延時間を測定し、これらの
各測定結果に基づいてハイビジョン放送受信システムの
ＲＦ特性を容易に把握させることにより、放送波の伝送
を中断させることなくハイビジョン放送受信システムの
ＲＦ特性を把握させることができるとともに、測定作業
を容易にすることができる。
【図１】本発明によるハイビジョン用伝送特性測定器の
一実施例を示すブロック図である。
一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１に示すハイビジョン用伝送特性測定器によ
って処理されるハイビジョン放送信号に挿入されている
信号のうち、基準ＶＩＴ信号および歪みを受けたＶＩＴ
信号の一例を示す波形図である。
って処理されるハイビジョン放送信号に挿入されている
信号のうち、基準ＶＩＴ信号および歪みを受けたＶＩＴ
信号の一例を示す波形図である。
【図３】図１に示す第１ＤＦＴ回路から出力される基準
ＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ（ω）および歪みを受け
たＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ’（ω）の一例を示す
振幅／周波数特性図である。
ＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ（ω）および歪みを受け
たＶＩＴ信号の周波数振幅特性Ｇ’（ω）の一例を示す
振幅／周波数特性図である。
【図４】図１に示す補正回路から出力される伝達関数Ｘ
（ω）の一例を示す伝達関数Ｘ（ω）／周波数特性図で
ある。
（ω）の一例を示す伝達関数Ｘ（ω）／周波数特性図で
ある。
【図５】図１に示すピーク検出回路によって検出された
伝達関数Ｘ（ω）のリップル成分の一例を示すリップル
振幅値／リップル周期特性図である。
伝達関数Ｘ（ω）のリップル成分の一例を示すリップル
振幅値／リップル周期特性図である。
【図６】本発明によるハイビジョン用伝送特性測定器の
測定原理を確かめるために、ベースバンド信号のＳＩ比
および反射波遅延時間と、ＲＦ帯のＤＵ比および遅延時
間との関係を調べるとき、使用した実験システムの概要
を示すブロック図である。
測定原理を確かめるために、ベースバンド信号のＳＩ比
および反射波遅延時間と、ＲＦ帯のＤＵ比および遅延時
間との関係を調べるとき、使用した実験システムの概要
を示すブロック図である。
【図７】図６に示す実験システムによって得られたベー
スバンドＳＩ比／ＲＦ帯ＤＵ比特性図である。
スバンドＳＩ比／ＲＦ帯ＤＵ比特性図である。
【図８】図６に示す実験システムによって得られたベー
スバンド反射波遅延時間／ＲＦ帯反射波遅延時間特性図
である。
スバンド反射波遅延時間／ＲＦ帯反射波遅延時間特性図
である。
１ ハイビジョン用伝送特性測定器 ２ 同期検出回路（特定信号抽出部） ３ Ａ／Ｄ変換回路（特定信号抽出部） ４ ＳＩ比演算回路（ＳＩ比検出部） ５ ＤＵ比演算表示回路 ６ 第１ＤＦＴ（Direct Fouier Transform ）回路（遅
延時間検出部） ７ 補正回路（遅延時間検出部） ８ 第２ＤＦＴ（Direct Fouier Transform ）回路（遅
延時間検出部） ９ ピーク検出回路（遅延時間検出部） １０ 遅延時間表示回路
延時間検出部） ７ 補正回路（遅延時間検出部） ８ 第２ＤＦＴ（Direct Fouier Transform ）回路（遅
延時間検出部） ９ ピーク検出回路（遅延時間検出部） １０ 遅延時間表示回路
Claims (1)
- 【請求項１】 ハイビジョン放送受信システムから出力
されるハイビジョン放送波のベースバンド信号中に含ま
れる特定信号を抽出する特定信号抽出部と、 この特性信号抽出部によって抽出された特定信号中の反
射波成分特性であるＳＩ比を求めるＳＩ比検出部と、 前記特定信号抽出部によって抽出された特定信号中の反
射波成分特性である遅延時間を求める遅延時間検出部
と、 を備えたことを特徴とするハイビジョン用伝送特性測定
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5137118A JPH06347495A (ja) | 1993-06-08 | 1993-06-08 | ハイビジョン用伝送特性測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5137118A JPH06347495A (ja) | 1993-06-08 | 1993-06-08 | ハイビジョン用伝送特性測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06347495A true JPH06347495A (ja) | 1994-12-22 |
Family
ID=15191251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5137118A Pending JPH06347495A (ja) | 1993-06-08 | 1993-06-08 | ハイビジョン用伝送特性測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06347495A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010052901A1 (ja) * | 2008-11-10 | 2010-05-14 | 三菱電機株式会社 | 周波数可変増幅器 |
-
1993
- 1993-06-08 JP JP5137118A patent/JPH06347495A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010052901A1 (ja) * | 2008-11-10 | 2010-05-14 | 三菱電機株式会社 | 周波数可変増幅器 |
| JP5111614B2 (ja) * | 2008-11-10 | 2013-01-09 | 三菱電機株式会社 | 周波数可変増幅器 |
| US8416018B2 (en) | 2008-11-10 | 2013-04-09 | Mitsubishi Electric Corporation | Variable frequency amplifier |
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