JPH0634699A - 多芯回路自動絶縁試験方法およびその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多芯回路自動絶縁試験方法およびその装置
を、リレーの長寿命化が図れ、また、効率よく試験が行
えるようにする。 【構成】 多芯回路自動絶縁試験装置１０は、第１の芯
３１₁ の絶縁抵抗の測定が終了すると、リレー制御回路
１３により水銀リレー１５を制御して、水銀リレー１５
の端子ｂと端子ｃとを電気的に接続することにより、第
１の芯３１₁ の絶縁抵抗の測定時に第１の芯３１₁ の寄
生容量Ｃに蓄積された電荷を放電する。その後、リレー
制御回路１３によりリレー１２を制御して、水銀リレー
１５の端子ｃと第２の芯３１₂ とを電気的に接続したの
ち、リレー制御回路１３により水銀リレー１５を制御し
て、水銀リレー１５の端子ａと端子ｃとを電気的に接続
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、多芯回路自動絶縁試験
方法およびその装置に関し、特に、電車の引通し線の絶
縁試験を自動的に行うのに適した多芯回路自動絶縁試験
方法およびその装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図３は、電車の引通し線の絶縁試験方法
を説明するための図である。

【０００３】電車の各車両100 には、多数本（たとえ
ば、百数十本）の芯からなる引通し線101 が設けられて
いる。なお、図３には、簡単のため、引通し線101 の４
本の芯（第１乃至第４の芯101₁〜101₄）のみを示す。ま
た、引通し線101 の第１乃至第４の芯101₁〜101₄は、各
負荷と第１乃至第４のスイッチ102₁〜102₄とスイッチ10
3 とを介してレール110 （大地Ｅ）と電気的にそれぞれ
接続されている。さらに、引通し線101 の両端には、他
の車両の引通し線との電気的接続のための第１および第
２の車両側連結栓105₁，105₂がそれぞれ設けられてい
る。

【０００４】電車の車両100 の保守点検における引通し
線101 の試験項目としては、以下に示す３つの試験項目
がある。 （ａ）導通試験 引通し線101 の各芯101₁〜101₄について、一本ずつ導通
の有無を順次調べていく試験である。 （ｂ）芯間絶縁試験 引通し線101 の各芯101₁〜101₄間の絶縁を順次調べてい
く試験である。 （ｃ）大地間絶縁試験 引通し線101 の各芯101₁〜101₄と大地Ｅとの間の絶縁を
順次調べていく試験である。

【０００５】ここで、引通し線101 の芯間絶縁試験（上
記（ｂ））は、絶縁抵抗計（以下、「メガー」と称す
る。）を用いて、以下のようにして行われる。 （１）引通し線101 の各芯101₁〜101₄と大地Ｅとの間の
電気的接続を遮断するため、第１乃至第４のスイッチ10
2₁〜102₄およびスイッチ103 を開く。 （２）続いて、第１の芯101₁を基準として第２乃至第４
の芯101₂〜101₄との間の絶縁抵抗を順次調べていく。す
なわち、メガーの第１の端子を第１の芯101₁に第１の車
両側連結栓105₁を介して電気的に接続させるとともに、
メガーの第２の端子を第２の芯101₂に第１の車両側連結
栓105₁を介して電気的に接続させて、第１の芯101₁と第
２の芯101₂との間の絶縁抵抗を調べる。次に、メガーの
第１の端子を第１の芯101₁に第１の車両側連結栓105₁を
介して電気的に接続させたまま、メガーの第２の端子を
第３の芯101₃に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的
に接続させて、第１の芯101₁と第３の芯101₃との間の絶
縁抵抗を調べる。次に、メガーの第１の端子を第１の芯
101₁に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的に接続さ
せたまま、メガーの第２の端子を第４の芯101₄に第１の
車両側連結栓105₁を介して電気的に接続させて、第１の
芯101₁と第４の芯101₄との間の絶縁抵抗を調べる。 （３）以上のようにして、第１の芯101₁を基準とした絶
縁抵抗の試験が終了したら、第２の芯101₂を基準として
第３および第４の芯101₃〜101₄との間の絶縁抵抗を順次
調べていく。すなわち、メガーの第１の端子を第２の芯
101₂に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的に接続さ
せるとともに、メガーの第２の端子を第３の芯101₃に第
１の車両側連結栓105₁を介して電気的に接続させて、第
２の芯101₂と第３の芯101₃との間の絶縁抵抗を調べる。
次に、メガーの第１の端子を第２の芯101₂に第１の車両
側連結栓105₁を介して電気的に接続させたまま、メガー
の第２の端子を第４の芯101₄に第１の車両側連結栓105₁
を介して電気的に接続させて、第２の芯101₂と第４の芯
101₄との間の絶縁抵抗を調べる。 （４）以上のようにして、第２の芯101₂を基準とした絶
縁抵抗の試験が終了したら、第３の芯101₃を基準として
第４の芯101₄との間の絶縁抵抗を調べる。すなわち、メ
ガーの第１の端子を第３の芯101₃に第１の車両側連結栓
105₁を介して電気的に接続させるとともに、メガーの第
２の端子を第４の芯101₄に第１の車両側連結栓105₁を介
して電気的に接続させて、第３の芯101₃と第４の芯101₄
との間の絶縁抵抗を調べる。

【０００６】また、引通し線101 の大地間絶縁試験（上
記（ｃ））は、メガーを用いて、以下のようにして行わ
れる。 （１）引通し線101 の各芯101₁〜101₄と大地Ｅとの間の
各負荷を介した電気的接続を行うため、第１乃至第４の
スイッチ102₁〜102₄およびスイッチ103 を閉じる。 （２）メガーの接地端子をレール110 （大地Ｅ）と電気
的に接触させるとともに、メガーの第１の端子を第１の
芯101₁に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的に接続
させて、第１の芯101₁と大地Ｅとの間の絶縁抵抗を調べ
る。 （２）続いて、メガーの接地端子をレール110 （大地
Ｅ）と電気的に接触させたまま、メガーの第１の端子を
第２の芯101₂に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的
に接続させて、第２の芯101₂と大地Ｅとの間の絶縁抵抗
を調べる。 （３）続いて、メガーの接地端子をレール110 （大地
Ｅ）と電気的に接触させたまま、メガーの第１の端子を
第３の芯101₃に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的
に接続させて、第３の芯101₃と大地Ｅとの間の絶縁抵抗
を調べる。 （４）続いて、メガーの接地端子をレール110 （大地
Ｅ）と電気的に接触させたまま、メガーの第１の端子を
第４の芯101₄に第１の車両側連結栓105₁を介して電気的
に接続させて、第４の芯101₄と大地Ｅとの間の絶縁抵抗
を調べる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
引通し線101 の芯間絶縁試験方法では、メガーの第１お
よび第２の端子と各芯101₁〜101₄との上述したような電
気的接続は人手により行われていたため、引通し線101
の芯の本数が十数本程度であればそれほど問題ではない
が、引通し線101 の芯の本数が百数十本となると、試験
時間が長くなるとともに、接続ミスが多くなるという問
題があった。また、従来の引通し線101 の大地間絶縁試
験においても、メガーの第１の端子と各芯101₁〜101₄と
の上述したような電気的接続は人手により行われていた
ため、同様の問題が生じていた。

【０００８】かかる問題を解決する一手段として、メガ
ーの第１および第２の端子と各芯101₁〜101₄との電気的
接続をリレーを介して行い、該リレーをマイクロコンピ
ュータなどの制御手段により自動的に制御する方法が提
案されており、かかる方法を用いた多芯回路自動絶縁試
験装置も一部製品化されている（たとえば、東横車輌電
設株式会社製，ＴＫ−２００型多芯回路自動絶縁試験装
置）。

【０００９】しかし、かかる多芯回路自動絶縁試験装置
においても、以下に示すような問題が残されており、そ
の解決が急がれている。

【００１０】メガーを用いた絶縁抵抗の測定は一般にた
とえば５００Ｖ程度の高電圧を印加することにより行わ
れるため、５００Ｖ程度の高電圧に耐えられるリレーが
用いられる。しかし、かかるリレーを用いても、接点の
開閉動作による接点劣化がなおも生じ、たとえばリレー
の機械的寿命が５０００万回であるにもかかわらず電気
的寿命が２０万回程度となってしまうなど、リレーの長
寿命化が十分に図れない。また、引通し線101 の多芯化
に伴い、効率のよい絶縁試験方法の開発を必要としてい
る。

【００１１】本発明の目的は、リレーの長寿命化が図
れ、また、効率よく試験が行える多芯回路自動絶縁試験
方法およびその装置を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明の第１の多芯回路
自動絶縁試験方法は、車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗
計とをリレーを介して電気的に接続して、該引通し線の
芯間絶縁試験または大地間絶縁試験を行う多芯回路自動
絶縁試験方法において、前記リレーを介して前記絶縁抵
抗計と電気的に接続されている前記引通し線の芯の寄生
容量に蓄積されている電荷を放電したのち、前記リレー
の接点切換えを行う。

【００１３】本発明の第２の多芯回路自動絶縁試験方法
は、車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とをリレーを介
して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶縁試験を行
う多芯回路自動絶縁試験方法において、前記引通し線の
任意の一本の芯を基準として、該引通し線の他の各芯と
の間の絶縁抵抗を前記絶縁抵抗計により測定する際に、
絶縁不良が生じた前記引通し線の他の芯をすべて記憶
し、前記引通し線の他の一本の芯を基準として、該引通
し線のその他の各芯との間の絶縁抵抗を前記絶縁抵抗計
により測定する際に、前記絶縁不良が生じた他の芯との
組み合せに該当する場合には前記絶縁抵抗計による絶縁
抵抗の測定を行わない。

【００１４】本発明の第３の多芯回路自動絶縁試験方法
は、車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とをリレーを介
して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶縁試験また
は大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試験方法にお
いて、前記絶縁抵抗計から一定電流を流す。

【００１５】本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験装置
は、車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とをリレーを介
して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶縁試験また
は大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試験装置にお
いて、前記絶縁抵抗計と前記リレーとの間に設けられ
た、該リレーと該絶縁抵抗計との間の電気的接続および
該リレーと大地との間の抵抗を介した電気的接続を選択
的に切換える水銀リレーを含む。

【００１６】本発明の第２の多芯回路自動絶縁試験装置
は、車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とをリレーを介
して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶縁試験また
は大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試験装置にお
いて、前記絶縁抵抗計が定電流源を含む。

【００１７】

【作用】本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験方法およ
び第１の多芯回路自動絶縁試験装置は、リレーの電気的
寿命を短縮させている原因が引通し線の芯のリアクタン
ス分と寄生容量とであることに着目し、リレーを介して
絶縁抵抗計と電気的に接続されている引通し線の芯の寄
生容量に蓄積されている電荷を放電したのち、リレーの
接点切換えを行うことにより、接点の開閉動作による接
点劣化を防止するものである。

【００１８】本発明の第２の多芯回路自動絶縁試験方法
は、引通し線の任意の一本の芯を基準として引通し線の
他の各芯との間の絶縁抵抗を絶縁抵抗計により測定した
ときに絶縁不良が生じた引通し線の他の芯同士は、基準
とした芯を介して電気的に接続されていることに着目
し、引通し線の他の一本の芯を基準として、引通し線の
その他の各芯との間の絶縁抵抗を絶縁抵抗計により測定
する際に、絶縁不良が生じた他の芯との組み合せに該当
する場合には絶縁抵抗計による絶縁抵抗の測定を行わな
いことにより、不要な測定を可能な限り排除するもので
ある。

【００１９】本発明の第３の多芯回路自動絶縁試験方法
および第２の多芯回路自動絶縁試験装置は、定電圧源を
含む絶縁抵抗計を用いた絶縁試験において試験時間を長
くしている原因の一つが引通し線の芯の寄生容量を充電
させるための時間であることに着目し、絶縁抵抗計から
一定電流を流すことにより、試験時間の短縮化を図るも
のである。

【００２０】

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００２１】図１は、本発明の第１の多芯回路自動絶縁
試験方法の一実施例および本発明の第１の多芯回路自動
絶縁試験装置の一実施例を説明するための図である。

【００２２】多芯回路自動絶縁試験装置１０は、メガー
１１（絶縁抵抗計）とリレー１２との間に設けられた、
リレー１２とメガー１１との間の電気的接続およびリレ
ー１２と大地Ｅとの間の抵抗Ｒを介した電気的接続を選
択的に切換える水銀リレー１５を含む点で、従来の多芯
回路自動絶縁試験装置と異なる。なお、リレー１２およ
び水銀リレー１５は、リレー制御回路１３により接点切
換えがそれぞれ制御される。

【００２３】次に、多芯回路自動絶縁試験装置１０の動
作について、説明の簡単のため、第１乃至第７の芯３１
₁〜３１₇からなる引通し線の大地間絶縁試験を行う場合
を例として説明する。

【００２４】メガー１１の接地端子１１_E を大地Ｅと電
気的に接続させるとともに、メガー１１の第１の端子１
１₁ を水銀リレー１５の端子ａに電気的に接続させる。
水銀リレー１５の端子ｂを抵抗Ｒを介して大地Ｅと電気
的に接続させる。引通し線の各芯３１₁〜３１₇と大地Ｅ
との間の各負荷を介した電気的接続を行うため、各芯３
１₁〜３１₇と大地Ｅとの間に設けられている各スイッチ
（不図示，図３参照）をすべて閉じる。その後、リレー
制御回路１３により。水銀リレー１５を制御して、水銀
リレー１５の端子ｂと端子ｃとを電気的に接続するとと
もに、リレー制御回路１３によりリレー１２を制御し
て、水銀リレー１５の端子ｃと第１の芯３１₁ とを電気
的に接続する。その後、多芯回路自動絶縁試験装置１０
の連結栓１４と車両の第１の車両側連結栓３５₁とを連
結する。

【００２５】続いて、リレー制御回路１３により水銀リ
レー１５を制御して、水銀リレー１５の端子ａと端子ｃ
とを電気的に接続したのち、メガー１１から５００Ｖの
電圧を第１の芯３１₁ と大地Ｅとの間に印加する。その
後、メガー１１に流れる電流が安定したのちの該電流の
値を読み取ることにより、第１の芯３１₁ と大地Ｅとの
間の絶縁抵抗を求める。

【００２６】以上のようにして、第１の芯３１₁ の絶縁
抵抗の測定が終了すると、リレー制御回路１３により水
銀リレー１５を制御して、水銀リレー１５の端子ｂと端
子ｃとを電気的に接続することにより、第１の芯３１₁
の絶縁抵抗の測定時に第１の芯３１₁ の寄生容量Ｃに蓄
積された電荷を放電する。その後、リレー制御回路１３
によりリレー１２を制御して、水銀リレー１５の端子ｃ
と第２の芯３１₂ とを電気的に接続したのち、リレー制
御回路１３により水銀リレー１５を制御して、水銀リレ
ー１５の端子ａと端子ｃとを電気的に接続する。このと
き、第１の芯３１₁ の寄生容量Ｃに蓄積された電荷はす
べて放電されているため、リレー１２の接点切換え時に
生じる火花をなくすことができる。

【００２７】続いて、メガー１１から５００Ｖの電圧を
第２の芯３１₂ と大地Ｅとの間に印加して、上述した第
１の芯３１₁ の場合と同様にして、第２の芯３１₂ と大
地Ｅとの間の絶縁抵抗を求める。

【００２８】以上の動作が繰り返されることにより、第
１乃至第７の芯３１₁〜３１₇の各絶縁抵抗がそれぞれ測
定される。

【００２９】なお、図１に示した実施例においては引通
し線の大地間絶縁試験を行ったが、引通し線の芯間絶縁
試験を行う場合にも、リレー１２を介してメガー１１と
電気的に接続されている芯の寄生容量に蓄積されている
電荷を放電したのち、リレー１２の接点切換えを行うこ
とにより、同様の効果が得られる。

【００３０】次に、本発明の第２の多芯回路自動絶縁試
験方法の一実施例について、説明の簡単のため、第１乃
至第７の芯３１₁〜３１₇からなる引通し線の芯間絶縁試
験を行う場合を例として説明する。

【００３１】引通し線の各芯３１₁〜３１₇と大地Ｅとの
間の電気的接続を遮断するため、各芯３１₁〜３１₇と大
地Ｅとの間に設けられている各スイッチ（図３参照）を
すべて開く。続いて、第１の芯３１₁ を基準として第２
乃至第７の芯３１₂〜３１₇との間の絶縁抵抗を順次調べ
ていく。このときの絶縁抵抗の測定方法は、従来例で説
明した方法を用いてもよいし、上述したようなリレー１
２を介してメガー１１と電気的に接続されている芯の寄
生容量に蓄積されている電荷を放電したのち、リレー１
２の接点切換えを行う方法を用いてもよい。

【００３２】第１の芯３１₁ を基準として第２乃至第７
の芯３１₂〜３１₇との間の絶縁抵抗を順次調べた結果、
たとえば、第１の芯３１₁ と第３の芯３１₃ との間，第
１の芯３１₁ と第６の芯３１₆ との間および第１の芯３
１₁ と第７の芯３１₇ との間に絶縁不良が生じていた場
合には、絶縁不良が生じていた各芯（すなわち、第３の
芯３１₃ ，第６の芯３１₆ および第７の芯３１₇ ）を記
憶しておく。

【００３３】第１の芯３１₁ を基準とした絶縁抵抗の試
験が終了したら、第２の芯３１₂ を基準として第３乃至
第７の芯３１₃〜３１₇との間の絶縁抵抗を順次調べてい
く。このとき、前記記憶した各芯の中に第２の芯３１₂
は含まれていなかったため、第２の芯３１₂ とのすべて
の組み合せについて絶縁抵抗の測定を行う。なお、この
場合にも、たとえば、第２の芯３１₂ と第３の芯３１₃
との間に絶縁不良が生じていた場合には、絶縁不良が生
じていた各芯（すなわち、第３の芯３１₃ ）を記憶して
おく。

【００３４】第２の芯３１₂ を基準とした絶縁抵抗の試
験が終了したら、第３の芯３１₃ を基準として第４乃至
第７の芯３１₄〜３１₇との間の絶縁抵抗を順次調べてい
く。このとき、前記記憶した各芯の中に第３の芯３１₃
が含まれているため、絶縁不良が生じた他の芯との組み
合せ（すなわち、第３の芯３１₃ と第６の芯３１₆ およ
び第３の芯３１₃ と第７の芯３１₇ ）については、絶縁
不良が生じていること（すなわち、第１の芯３１₁ を介
して互いに電気的に接続されていること）がこれまでの
測定で明らかであるため、絶縁抵抗の測定は行わない。
したがって、この場合には、第３の芯３１₃ と第４の芯
３１₄ との間の絶縁抵抗および第３の芯３１₃ と第５の
芯３１₅ との間の絶縁抵抗のみが測定される。なお、こ
の場合には、絶縁不良は生じていなかったとする。

【００３５】第３の芯３１₃ を基準とした絶縁抵抗の試
験が終了したら、第４の芯３１₄ を基準として第５乃至
第７の芯３１₅〜３１₇との間の絶縁抵抗を順次調べてい
く。このとき、前記記憶した各芯の中に第４の芯３１₄
は含まれていなかったため、第４の芯３１₄ とのすべて
の組み合せについて絶縁抵抗の測定を行う。なお、この
場合には、絶縁不良は生じていなかったとする。

【００３６】第４の芯３１₄ を基準とした絶縁抵抗の試
験が終了したら、第５の芯３１₅ を基準として第６およ
び第７の芯３１₆，３１₇との間の絶縁抵抗を順次調べて
いく。このとき、前記記憶した各芯の中に第５の芯３１
₅ は含まれていなかったため、第５の芯３１₅ とのすべ
ての組み合せについて絶縁抵抗の測定を行う。なお、こ
の場合には、絶縁不良は生じていなかったとする。

【００３７】第５の芯３１₅ を基準とした絶縁抵抗の試
験が終了したら、第６の芯３１₆ と第７の芯３１₇との
間の絶縁抵抗を調べるが、前記記憶した各芯の中に第６
の芯３１₅ が含まれているため、両者の間には絶縁不良
が生じていること（すなわち、第１の芯３１₁ を介して
互いに電気的に接続されていること）がこれまでの測定
で明らかであるため、絶縁抵抗の測定は行わない。

【００３８】したがって、本発明の第２の多芯回路自動
絶縁試験方法によれば、すべての芯の組み合せについて
絶縁抵抗を測定する必要がないため、試験時間の短縮化
が図れる。

【００３９】次に、本発明の第３の多芯回路自動絶縁試
験方法の一実施例および本発明の第２の多芯回路自動絶
縁試験装置の一実施例について、図２（Ａ），（Ｂ）を
それぞれ参照して説明する。

【００４０】従来の多芯回路自動絶縁試験装置が具備す
るメガー５０は、図２（Ａ）に示すように、５００Ｖの
直流電圧を出力する定電圧源５１と、定電圧源５１と互
いに直列に設けられた電流計５２とを含む構成となって
いる。したがって、たとえば、引通し線の芯間絶縁試験
を行う際に、メガー５０と第１の芯とをリレーにより電
気的に接続した際、負荷として接続される寄生容量Ｃを
充電するのに所定時間かかるため、電流計５２が安定す
るまでに時間がかかる。その結果、引通し線の芯間絶縁
試験にかかる試験時間も膨大なものになるという問題が
ある。

【００４１】一方、本発明による多芯回路自動絶縁試験
装置の一実施例が具備するメガー６０は、図２（Ｂ）に
示すように、所定の電流値の電流を出力する定電流源６
１と、定電流源６１と互いに並列に設けられた電圧計６
２とを含む構成となっている。なお、メガー６０におけ
る絶縁抵抗の測定は、（電圧計６２の計測値）÷（定電
流計６１から出力する電流値）により求める。

【００４２】ここで、定電流源６１から出力される電流
の電流値は、引通し線の芯間絶縁試験または大地間絶縁
試験を行う際に負荷として接続される寄生容量Ｃを短時
間に充電できる値（たとえば、１０ｍＡ）となってい
る。したがって、メガー６０を具備する多芯回路自動絶
縁試験装置を用いて引通し線の芯間絶縁試験または大地
間絶縁試験を行うことにより、絶縁抵抗を即時に測定す
ることができるため、試験時間の大幅な短縮が図れる。

【００４３】なお、本発明の多芯回路自動絶縁試験方法
として、以下に示す変形例が考えられる。 （１）本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験方法により
引通し線の芯間絶縁試験または大地間絶縁試験を行う際
に、本発明の第３の多芯回路自動絶縁試験方法を併用す
る。 （２）本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験方法により
引通し線の芯間絶縁試験を行う際に、本発明の第２の多
芯回路自動絶縁試験方法を併用する。 （３）本発明の第２の多芯回路自動絶縁試験方法により
引通し線の芯間絶縁試験を行う際に、本発明の第３の多
芯回路自動絶縁試験方法を併用する。

【００４４】また、本発明の多芯回路自動絶縁試験装置
の変形例として、本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験
装置と本発明の第２の多芯回路自動絶縁試験装置とを組
み合せたものが考えられる。

【００４５】

【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に示す効果を奏する。

【００４６】請求項１および請求項４記載の発明は、引
通し線の芯の寄生容量に起因する接点の開閉動作による
接点劣化を防止することができるため、リレーの長寿命
化が図れる。

【００４７】請求項２記載の発明は、引通し線の芯間絶
縁試験を行う際に、不要な測定を可能な限り排除するこ
とができるため、引通し線の芯間絶縁試験の効率化が図
れる。

【００４８】請求項３および請求項５記載の発明は、引
通し線の芯の寄生容量の充電に起因する試験時間の長期
化を防止することができるため、引通し線の絶縁試験の
効率化が図れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験方法の一
実施例および本発明の第１の多芯回路自動絶縁試験装置
の一実施例を説明するための図である。

【図２】本発明の第３の多芯回路自動絶縁試験方法の一
実施例および本発明の第２の多芯回路自動絶縁試験装置
の一実施例を説明するための図であり、（Ａ）は従来の
多芯回路自動絶縁試験装置が具備するメガーの構成を示
す概略構成図、（Ｂ）は本発明の第２の多芯回路自動絶
縁試験装置の一実施例が具備するメガーの構成を示す概
略構成図である。

【図３】電車の引通し線の絶縁試験方法を説明するため
の図である。

【符号の説明】

１０ 多芯回路自動絶縁試験装置 １１，６０ メガー １１₁ 第１の端子 １１_E 接地端子 １２ リレー １３ リレー制御回路 １４ 連結栓 １５ 水銀リレー ３５₁，３５₂ 車両側連結栓 ３１₁〜３１₇ 芯 ６１ 定電流源 ６２ 電圧計 Ｅ 大地 Ｒ 抵抗 Ｃ 寄生容量 ａ，ｂ，ｃ 端子

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とを
   リレーを介して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶
   縁試験または大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試
   験方法において、 前記リレーを介して前記絶縁抵抗計と電気的に接続され
   ている前記引通し線の芯の寄生容量に蓄積されている電
   荷を放電したのち、前記リレーの接点切換えを行うこと
   を特徴とする多芯回路自動絶縁試験方法。
2. 【請求項２】 車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とを
   リレーを介して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶
   縁試験を行う多芯回路自動絶縁試験方法において、 前記引通し線の任意の一本の芯を基準として、該引通し
   線の他の各芯との間の絶縁抵抗を前記絶縁抵抗計により
   測定する際に、絶縁不良が生じた前記引通し線の他の芯
   をすべて記憶し、 前記引通し線の他の一本の芯を基準として、該引通し線
   のその他の各芯との間の絶縁抵抗を前記絶縁抵抗計によ
   り測定する際に、前記絶縁不良が生じた他の芯との組み
   合せに該当する場合には前記絶縁抵抗計による絶縁抵抗
   の測定を行わないことを特徴とする多芯回路自動絶縁試
   験方法。
3. 【請求項３】 車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とを
   リレーを介して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶
   縁試験または大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試
   験方法において、 前記絶縁抵抗計から一定電流を流すことを特徴とする多
   芯回路自動絶縁試験方法。
4. 【請求項４】 車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とを
   リレーを介して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶
   縁試験または大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試
   験装置において、 前記絶縁抵抗計と前記リレーとの間に設けられた、該リ
   レーと該絶縁抵抗計との間の電気的接続および該リレー
   と大地との間の抵抗を介した電気的接続を選択的に切換
   える水銀リレーを含むことを特徴とする多芯回路自動絶
   縁試験装置。
5. 【請求項５】 車両の引通し線の各芯と絶縁抵抗計とを
   リレーを介して電気的に接続して、該引通し線の芯間絶
   縁試験または大地間絶縁試験を行う多芯回路自動絶縁試
   験装置において、 前記絶縁抵抗計が定電流源を含むことを特徴とする多芯
   回路自動絶縁試験装置。