JPH06342034A - 電子部品の検査装置 - Google Patents
電子部品の検査装置Info
- Publication number
- JPH06342034A JPH06342034A JP12886993A JP12886993A JPH06342034A JP H06342034 A JPH06342034 A JP H06342034A JP 12886993 A JP12886993 A JP 12886993A JP 12886993 A JP12886993 A JP 12886993A JP H06342034 A JPH06342034 A JP H06342034A
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】押え部が傾斜していてもリード部と検査用接触
部が均一に電気接触して電子部品の電気測定を正確に行
うことができ、リード曲がりを防止することができる電
子部品の検査装置を提供する。 【構成】一対の検査用接触部５，６を設けた測定器４
と、この測定器４の上に上下移動可能に配置された押え
部７とを備え、この押え部７で電子部品１を測定器４側
へ押え付けて電子部品１の一対のリード部２，３を一対
の検査用接触部５，６に電気接触させることにより電気
測定を行う電子部品の検査装置であって、測定器４の下
に設置され、押え部７から電子部品１および測定器４を
介して受ける圧力により変形する姿勢制御部材８を設け
たことを特徴とするものである。
部が均一に電気接触して電子部品の電気測定を正確に行
うことができ、リード曲がりを防止することができる電
子部品の検査装置を提供する。 【構成】一対の検査用接触部５，６を設けた測定器４
と、この測定器４の上に上下移動可能に配置された押え
部７とを備え、この押え部７で電子部品１を測定器４側
へ押え付けて電子部品１の一対のリード部２，３を一対
の検査用接触部５，６に電気接触させることにより電気
測定を行う電子部品の検査装置であって、測定器４の下
に設置され、押え部７から電子部品１および測定器４を
介して受ける圧力により変形する姿勢制御部材８を設け
たことを特徴とするものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電子部品の検査装置
に関するものである。
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子部品を上部より押え付けて電
子部品のリード部と測定器の検査用接触部を電気接触さ
せることにより、電気測定を行う機能を備え電子部品の
検査装置があった。図３はその従来の電子部品の検査装
置を示すものである。
子部品のリード部と測定器の検査用接触部を電気接触さ
せることにより、電気測定を行う機能を備え電子部品の
検査装置があった。図３はその従来の電子部品の検査装
置を示すものである。
【０００３】図３において、１は電子部品であり、一対
のリード部２，３を有する。４は検査用測定器であり、
一対の検査用接触部５，６が設置されている。７は押え
部である。以上のように構成された電子部品の検査装置
により、電子部品１を検査する手順について説明する。
すなわち、図４に示すように、一対のリード部２，３と
一対の検査用接触部５，６が対応するように電子部品１
を測定器４にセットする。押え部７を下方に移動させ、
電子部品１を測定器４側に押し付ける。これに伴い、リ
ード部２と検査用接触部５が電気接触し、リード部３と
検査用接触部６が電気接触することで電気測定が可能と
なる。
のリード部２，３を有する。４は検査用測定器であり、
一対の検査用接触部５，６が設置されている。７は押え
部である。以上のように構成された電子部品の検査装置
により、電子部品１を検査する手順について説明する。
すなわち、図４に示すように、一対のリード部２，３と
一対の検査用接触部５，６が対応するように電子部品１
を測定器４にセットする。押え部７を下方に移動させ、
電子部品１を測定器４側に押し付ける。これに伴い、リ
ード部２と検査用接触部５が電気接触し、リード部３と
検査用接触部６が電気接触することで電気測定が可能と
なる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、押え部７が図示のように傾斜していると、
リード部２がが検査用接触部５に強く押えられて電気接
触するが、リード部３と検査用接触部６は電気接触せず
に離れている。そのために、電気測定に不具合が発生す
るとともに、片側にのみ強い圧力が加わるためにリード
曲がりが発生しやすいという問題点があった。
の構成では、押え部７が図示のように傾斜していると、
リード部２がが検査用接触部５に強く押えられて電気接
触するが、リード部３と検査用接触部６は電気接触せず
に離れている。そのために、電気測定に不具合が発生す
るとともに、片側にのみ強い圧力が加わるためにリード
曲がりが発生しやすいという問題点があった。
【０００５】したがって、この発明の目的は、押え部が
傾斜していてもリード部と検査用接触部が均一に電気接
触して電子部品の電気測定を正確に行うことができ、リ
ード曲がりを防止することができる電子部品の検査装置
を提供することである。
傾斜していてもリード部と検査用接触部が均一に電気接
触して電子部品の電気測定を正確に行うことができ、リ
ード曲がりを防止することができる電子部品の検査装置
を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の電子部品の検
査装置は、測定器の下に設置され、押え部から電子部品
および測定器を介して受ける圧力により変形する姿勢制
御部材を設けたことを特徴とするものである。
査装置は、測定器の下に設置され、押え部から電子部品
および測定器を介して受ける圧力により変形する姿勢制
御部材を設けたことを特徴とするものである。
【０００７】
【作用】この発明の構成によれば、例えば押え部が傾斜
して電子部品の一側に強く圧力が加わった場合に電子部
品が傾斜姿勢となるが、押え部からの圧力が測定器の下
に設置された姿勢制御部材にも加わってその一側が圧縮
する。このため、測定器が電子部品と同様の傾斜とな
り、電子部品の一対のリード部が測定器の一対の検査用
接触部に均一に電気接触する。これに伴い、電子部品に
均一に圧力が加わりリード曲がりを防止できる。
して電子部品の一側に強く圧力が加わった場合に電子部
品が傾斜姿勢となるが、押え部からの圧力が測定器の下
に設置された姿勢制御部材にも加わってその一側が圧縮
する。このため、測定器が電子部品と同様の傾斜とな
り、電子部品の一対のリード部が測定器の一対の検査用
接触部に均一に電気接触する。これに伴い、電子部品に
均一に圧力が加わりリード曲がりを防止できる。
【０００８】
【実施例】この発明の一実施例の電子部品の検査装置を
図１および図２に基づいて説明する。この電子部品の検
査装置は、一対のリード部２，３を有する電子部品１の
電気測定を行うもので、検査用測定器４、押え部７、姿
勢制御部材８を備えている。測定器４には電子部品１の
一対のリード部２，３に対応するように一対の検査用接
触部５，６が配設されている。押え部７は測定器４の上
に上下移動可能に配置され、電子部品１を測定器４側へ
押圧し得る。姿勢制御部材８は、例えば気体の注入され
たゴム製の風船等の弾性変形する材質で形成され、測定
器４の下に設置される。
図１および図２に基づいて説明する。この電子部品の検
査装置は、一対のリード部２，３を有する電子部品１の
電気測定を行うもので、検査用測定器４、押え部７、姿
勢制御部材８を備えている。測定器４には電子部品１の
一対のリード部２，３に対応するように一対の検査用接
触部５，６が配設されている。押え部７は測定器４の上
に上下移動可能に配置され、電子部品１を測定器４側へ
押圧し得る。姿勢制御部材８は、例えば気体の注入され
たゴム製の風船等の弾性変形する材質で形成され、測定
器４の下に設置される。
【０００９】以上のように構成された電子部品の検査装
置により、電子部品１を検査する手順について説明す
る。すなわち、図２に示すように、一対のリード部２，
３と一対の検査用接触部５，６が対応するように電子部
品１を測定器４にセットする。押え部７を下方に移動さ
せ、電子部品１を測定器４側に押し付ける。このとき、
同図のように押え部７が傾斜していると、電子部品１の
一側に強く圧力が加わって傾斜姿勢となるが、電子部品
１および測定器４を介して姿勢制御部材８の一側にも強
く圧力が加わる。このため、姿勢制御部材８の一側が圧
縮し他側が膨張して測定器４が電子部品１と同様の傾斜
となり、電子部品１の一対のリード部２，３が測定器４
の一対の検査用接触部５，６に均一に電気接触する。な
お、押え部７が水平の場合は、電子部品１は水平姿勢で
あり、姿勢制御部材８にも均一に圧力が加わるため測定
器４も水平姿勢となる。
置により、電子部品１を検査する手順について説明す
る。すなわち、図２に示すように、一対のリード部２，
３と一対の検査用接触部５，６が対応するように電子部
品１を測定器４にセットする。押え部７を下方に移動さ
せ、電子部品１を測定器４側に押し付ける。このとき、
同図のように押え部７が傾斜していると、電子部品１の
一側に強く圧力が加わって傾斜姿勢となるが、電子部品
１および測定器４を介して姿勢制御部材８の一側にも強
く圧力が加わる。このため、姿勢制御部材８の一側が圧
縮し他側が膨張して測定器４が電子部品１と同様の傾斜
となり、電子部品１の一対のリード部２，３が測定器４
の一対の検査用接触部５，６に均一に電気接触する。な
お、押え部７が水平の場合は、電子部品１は水平姿勢で
あり、姿勢制御部材８にも均一に圧力が加わるため測定
器４も水平姿勢となる。
【００１０】この実施例によれば、上記のように測定器
４の下に設置された姿勢制御部材８により、押え部７が
傾斜していようとも電子部品１が同様に傾斜するため、
一対のリード部２，３と一対の検査用接触部５，６を均
一に電気接触させることができ、正確な電気測定を行う
ことができる。また、これに伴い電子部品１のリード曲
がりを防止することができる。
４の下に設置された姿勢制御部材８により、押え部７が
傾斜していようとも電子部品１が同様に傾斜するため、
一対のリード部２，３と一対の検査用接触部５，６を均
一に電気接触させることができ、正確な電気測定を行う
ことができる。また、これに伴い電子部品１のリード曲
がりを防止することができる。
【００１１】なお、姿勢制御部材８を、ゴム製の風船と
したが、気体（液体）を入れることにより膨張する特性
を持つ材質、及び弾力性のある材質であればよい。
したが、気体（液体）を入れることにより膨張する特性
を持つ材質、及び弾力性のある材質であればよい。
【００１２】
【発明の効果】この発明の電子部品の検査装置によれ
ば、例えば押え部が傾斜しているために電子部品の一側
に強く圧力が加わって電子部品が傾斜姿勢となっても、
押え部からの圧力が測定器の下に設置された姿勢制御部
材にも加わってその一側が圧縮する。このため、測定器
が電子部品と同様の傾斜となり、電子部品の一対のリー
ド部が測定器の一対の検査用接触部に均一に電気接触
し、正確な電気測定を行うことができる。また、これに
伴い電子部品に均一に圧力が加わりリード曲がりを防止
できる。
ば、例えば押え部が傾斜しているために電子部品の一側
に強く圧力が加わって電子部品が傾斜姿勢となっても、
押え部からの圧力が測定器の下に設置された姿勢制御部
材にも加わってその一側が圧縮する。このため、測定器
が電子部品と同様の傾斜となり、電子部品の一対のリー
ド部が測定器の一対の検査用接触部に均一に電気接触
し、正確な電気測定を行うことができる。また、これに
伴い電子部品に均一に圧力が加わりリード曲がりを防止
できる。
【図１】この発明の一実施例の電子部品の検査装置の説
明図である。
明図である。
【図２】図１の実施例の作用説明図である。
【図３】従来例の説明図である。
【図４】従来例の問題点を示す説明図である。
１ 電子部品 ２，３ リード部 ４ 測定器 ５，６ 検査用接触部 ７ 押え部 ８ 姿勢制御部材
Claims (1)
- 【請求項１】 一対の検査用接触部を設けた測定器と、
この測定器の上に上下移動可能に配置された押え部とを
備え、この押え部で電子部品を前記測定器側へ押え付け
て前記電子部品の一対のリード部を前記一対の検査用接
触部に電気接触させることにより電気測定を行う電子部
品の検査装置であって、前記測定器の下に設置され、前
記押え部から前記電子部品および前記測定器を介して受
ける圧力により変形する姿勢制御部材を設けたことを特
徴とする電子部品の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12886993A JPH06342034A (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 電子部品の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12886993A JPH06342034A (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 電子部品の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06342034A true JPH06342034A (ja) | 1994-12-13 |
Family
ID=14995377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12886993A Pending JPH06342034A (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 電子部品の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06342034A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006177743A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体検査治具 |
-
1993
- 1993-05-31 JP JP12886993A patent/JPH06342034A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006177743A (ja) * | 2004-12-22 | 2006-07-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体検査治具 |
| JP4509764B2 (ja) * | 2004-12-22 | 2010-07-21 | 三菱電機株式会社 | 半導体検査治具 |
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