JPH063280A - 光デイスク検査装置 - Google Patents
光デイスク検査装置Info
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- JPH063280A JPH063280A JP18756092A JP18756092A JPH063280A JP H063280 A JPH063280 A JP H063280A JP 18756092 A JP18756092 A JP 18756092A JP 18756092 A JP18756092 A JP 18756092A JP H063280 A JPH063280 A JP H063280A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光デイスク検査装置において、簡易な構成で光
デイスクの検査工程を自動化するものである。 【構成】光デイスク検査機１１で装填された光デイスク
２を光学的に検査し、その検査結果として光デイスク２
が良品（Ａ品）か、不良品（Ｃ品）又は傷のみの光デイ
スク２（Ｂ品）かを出力すると共に、傷のみの光デイス
ク２（Ｂ品）のデイスク検査情報ＯＰＴ及び良品か不良
品かの判断を教師データとして学習を繰り返したニユー
ラルネツトワーク１２に、傷のみの光デイスク２につい
て光デイスク検査機１１の光学的なデイスク検査情報Ｏ
ＰＴを入力して、傷のみの光デイスク２（Ｂ品）が良品
（ＯＫ）か又は不良品（ＮＧ）かを判断させるようにし
たことにより、簡易な構成で光デイスクの検査工程を自
動化し得る。
デイスクの検査工程を自動化するものである。 【構成】光デイスク検査機１１で装填された光デイスク
２を光学的に検査し、その検査結果として光デイスク２
が良品（Ａ品）か、不良品（Ｃ品）又は傷のみの光デイ
スク２（Ｂ品）かを出力すると共に、傷のみの光デイス
ク２（Ｂ品）のデイスク検査情報ＯＰＴ及び良品か不良
品かの判断を教師データとして学習を繰り返したニユー
ラルネツトワーク１２に、傷のみの光デイスク２につい
て光デイスク検査機１１の光学的なデイスク検査情報Ｏ
ＰＴを入力して、傷のみの光デイスク２（Ｂ品）が良品
（ＯＫ）か又は不良品（ＮＧ）かを判断させるようにし
たことにより、簡易な構成で光デイスクの検査工程を自
動化し得る。
Description
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 産業上の利用分野 従来の技術（図４） 発明が解決しようとする課題（図４） 課題を解決するための手段（図１〜図３） 作用（図１〜図３） 実施例（図１〜図３） 発明の効果
【０００２】
【産業上の利用分野】本発明は光デイスク検査装置に関
し、例えばコンパクトデイスク製造時にデイスク表面の
欠陥を検査するものに適用し得る。
し、例えばコンパクトデイスク製造時にデイスク表面の
欠陥を検査するものに適用し得る。
【０００３】
【従来の技術】従来、コンパクトデイスクを製造する際
には、出来上がつたコンパクトデイスクが商品として出
荷可能か否かを判断する必要があり、このため光デイス
ク表面欠陥検査機（以下光デイスク検査機と呼ぶ）が用
いられている。この光デイスク検査機は、コンパクトデ
イスクの表面をレーザービームでスキヤンして、主に光
デイスク表面の傷や偏光欠陥に注目することにより、光
デイスクを検査するようになされている。
には、出来上がつたコンパクトデイスクが商品として出
荷可能か否かを判断する必要があり、このため光デイス
ク表面欠陥検査機（以下光デイスク検査機と呼ぶ）が用
いられている。この光デイスク検査機は、コンパクトデ
イスクの表面をレーザービームでスキヤンして、主に光
デイスク表面の傷や偏光欠陥に注目することにより、光
デイスクを検査するようになされている。
【０００４】図４に示すように、光デイスク検査機１を
用いた検査工程においては、被検査対象のコンパクトデ
イスク２が光デイスク検査機１に装填され、この結果光
デイスク検査機１がこのコンパクトデイスク２につい
て、傷や偏光欠陥等の有無を検査し、この検査結果によ
りコンパクトデイスク２をＡ品、Ｂ品又はＣ品に分類す
る。
用いた検査工程においては、被検査対象のコンパクトデ
イスク２が光デイスク検査機１に装填され、この結果光
デイスク検査機１がこのコンパクトデイスク２につい
て、傷や偏光欠陥等の有無を検査し、この検査結果によ
りコンパクトデイスク２をＡ品、Ｂ品又はＣ品に分類す
る。
【０００５】Ａ品とはコンパクトデイスク２に傷や偏光
欠陥が無い場合であり良品として出荷工程３に廻され、
逆にＣ品とはコンパクトデイスク２に偏光欠陥が存在す
る場合であり、不良品として除外される。またＢ品とは
コンパクトデイスク２に傷のみが存在する場合であり目
視検査工程４に廻される。
欠陥が無い場合であり良品として出荷工程３に廻され、
逆にＣ品とはコンパクトデイスク２に偏光欠陥が存在す
る場合であり、不良品として除外される。またＢ品とは
コンパクトデイスク２に傷のみが存在する場合であり目
視検査工程４に廻される。
【０００６】目視検査工程４ではコンパクトデイスク２
の表面を人間が目視検査し、傷の程度によつて良品であ
るか不良品であるかを判断する。この結果良品と判断さ
れたコンパクトデイスク２はＡ品と同様に出荷工程３に
廻され、不良品と判断されたコンパクトデイスク２はＣ
品と同様に除外される。
の表面を人間が目視検査し、傷の程度によつて良品であ
るか不良品であるかを判断する。この結果良品と判断さ
れたコンパクトデイスク２はＡ品と同様に出荷工程３に
廻され、不良品と判断されたコンパクトデイスク２はＣ
品と同様に除外される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところが上述の検査工
程においては、光デイスク検査機１によつてＢ品と判断
されたコンパクトデイスク２を目視検査工程４で目視検
査するため、経験と熟練を有する人間が必要であること
に加えて、人間が判断する分検査時間が長くなつてしま
う問題があつた。
程においては、光デイスク検査機１によつてＢ品と判断
されたコンパクトデイスク２を目視検査工程４で目視検
査するため、経験と熟練を有する人間が必要であること
に加えて、人間が判断する分検査時間が長くなつてしま
う問題があつた。
【０００８】この問題を解決するため光デイスク検査機
１自体で、傷のみでＢ品として分類されたコンパクトデ
イスク２が良品であるか不良品であるかを判断すれば良
いと考えられるが、この判断のためには多くのパラメー
タを設定又は調整する必要があり、実現が困難であつ
た。
１自体で、傷のみでＢ品として分類されたコンパクトデ
イスク２が良品であるか不良品であるかを判断すれば良
いと考えられるが、この判断のためには多くのパラメー
タを設定又は調整する必要があり、実現が困難であつ
た。
【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易な構成で光デイスクの検査工程を自動化し得る
光デイスク検査装置を提案しようとするものである。
で、簡易な構成で光デイスクの検査工程を自動化し得る
光デイスク検査装置を提案しようとするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め第１の発明においては、装填された光デイスク２を光
学的に検査し、その検査結果として光デイスク２が良品
（Ａ品）か、不良品（Ｃ品）か又は傷のみの光デイスク
２（Ｂ品）かを出力する光デイスク検査機１１と、その
光デイスク検査機１１によつて検出された傷のみの光デ
イスク２（Ｂ品）について、光デイスク検査機１１の光
学的なデイスク検査情報ＯＰＴが入力され、傷のみの光
デイスク２（Ｂ品）のデイスク検査情報ＯＰＴ及び良品
か不良品かの判断（ＮＧ／ＯＫ）を教師データとして繰
り返された学習に基づいて、傷のみの光デイスク２（Ｂ
品）が良品（ＯＫ）か又は不良品（ＮＧ）かを判断する
ニユーラルネツトワーク１２とを設けるようにした。
め第１の発明においては、装填された光デイスク２を光
学的に検査し、その検査結果として光デイスク２が良品
（Ａ品）か、不良品（Ｃ品）か又は傷のみの光デイスク
２（Ｂ品）かを出力する光デイスク検査機１１と、その
光デイスク検査機１１によつて検出された傷のみの光デ
イスク２（Ｂ品）について、光デイスク検査機１１の光
学的なデイスク検査情報ＯＰＴが入力され、傷のみの光
デイスク２（Ｂ品）のデイスク検査情報ＯＰＴ及び良品
か不良品かの判断（ＮＧ／ＯＫ）を教師データとして繰
り返された学習に基づいて、傷のみの光デイスク２（Ｂ
品）が良品（ＯＫ）か又は不良品（ＮＧ）かを判断する
ニユーラルネツトワーク１２とを設けるようにした。
【００１１】また第２の発明において、光デイスク検査
機１１は、レーザー光源２０から射出されたレーザービ
ームＬで光デイスク２の表面上を走査し、その光デイス
ク２で反射された０次光Ｌ０のＰ波成分、Ｓ波成分及び
光デイスク２で反射された１次光Ｌ１に基づいて、デイ
スク検査情報ＯＰＴを発生するようにした。
機１１は、レーザー光源２０から射出されたレーザービ
ームＬで光デイスク２の表面上を走査し、その光デイス
ク２で反射された０次光Ｌ０のＰ波成分、Ｓ波成分及び
光デイスク２で反射された１次光Ｌ１に基づいて、デイ
スク検査情報ＯＰＴを発生するようにした。
【００１２】
【作用】光デイスク検査機１１で装填された光デイスク
２を光学的に検査し、その検査結果として光デイスク２
が良品（Ａ品）か、不良品（Ｃ品）か又は傷のみの光デ
イスク２（Ｂ品）かを出力すると共に、傷のみの光デイ
スク２（Ｂ品）のデイスク検査情報ＯＰＴ及び良品か不
良品かの判断を教師データとして学習を繰り返したニユ
ーラルネツトワーク１２に、傷のみの光デイスク２（Ｂ
品）について光デイスク検査機１１の光学的なデイスク
検査情報ＯＰＴを入力して、傷のみの光デイスク２（Ｂ
品）が良品（ＯＫ）か又は不良品（ＮＧ）かを判断する
ようにしたことにより、簡易な構成で光デイスク２の検
査工程を自動化し得る。
２を光学的に検査し、その検査結果として光デイスク２
が良品（Ａ品）か、不良品（Ｃ品）か又は傷のみの光デ
イスク２（Ｂ品）かを出力すると共に、傷のみの光デイ
スク２（Ｂ品）のデイスク検査情報ＯＰＴ及び良品か不
良品かの判断を教師データとして学習を繰り返したニユ
ーラルネツトワーク１２に、傷のみの光デイスク２（Ｂ
品）について光デイスク検査機１１の光学的なデイスク
検査情報ＯＰＴを入力して、傷のみの光デイスク２（Ｂ
品）が良品（ＯＫ）か又は不良品（ＮＧ）かを判断する
ようにしたことにより、簡易な構成で光デイスク２の検
査工程を自動化し得る。
【００１３】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
する。
【００１４】図４との対応部分に同一符号を付した図１
において、１０は全体として本発明による光デイスク検
査装置を示し、被検査対象のコンパクトデイスク２が光
デイスク検査機１１に装填され、この結果光デイスク検
査機１１がこのコンパクトデイスク２について、傷や偏
光欠陥等の有無を検査する。
において、１０は全体として本発明による光デイスク検
査装置を示し、被検査対象のコンパクトデイスク２が光
デイスク検査機１１に装填され、この結果光デイスク検
査機１１がこのコンパクトデイスク２について、傷や偏
光欠陥等の有無を検査する。
【００１５】この実施例の場合も従来と同様に光デイス
ク検査機１１は、検査結果に応じてコンパクトデイスク
２をＡ品、Ｂ品又はＣ品に分類し、Ａ品は良品として出
荷工程３に廻し、逆にＣ品は不良品として除外する。な
おこの実施例の場合Ｂ品は、ニユーラルネツトワーク１
２において再度検査される。
ク検査機１１は、検査結果に応じてコンパクトデイスク
２をＡ品、Ｂ品又はＣ品に分類し、Ａ品は良品として出
荷工程３に廻し、逆にＣ品は不良品として除外する。な
おこの実施例の場合Ｂ品は、ニユーラルネツトワーク１
２において再度検査される。
【００１６】このニユーラルネツトワーク１２は、図２
に示すように、光デイスク検査機１１がＢ品として分類
したコンパクトデイスク２について、光学的なデイスク
検査情報ＯＰＴと目視検査工程４による目視検査結果と
しての良品か不良品か判断情報ＯＫ／ＮＧとが教育デー
タとして入力され、この教育データについての学習を繰
り返す。
に示すように、光デイスク検査機１１がＢ品として分類
したコンパクトデイスク２について、光学的なデイスク
検査情報ＯＰＴと目視検査工程４による目視検査結果と
しての良品か不良品か判断情報ＯＫ／ＮＧとが教育デー
タとして入力され、この教育データについての学習を繰
り返す。
【００１７】この後このニユーラルネツトワーク１２
は、光デイスク検査機１１がＢ品として分類したコンパ
クトデイスク２について、光学的なデイスク検査情報Ｏ
ＰＴに基づいて熟練した人間による目視確認と同様の判
断を自動的に実行し、Ｂ品として分類されたコンパクト
デイスク２が良品として出荷可能か又は不良品として出
荷が不可能かを判断する。
は、光デイスク検査機１１がＢ品として分類したコンパ
クトデイスク２について、光学的なデイスク検査情報Ｏ
ＰＴに基づいて熟練した人間による目視確認と同様の判
断を自動的に実行し、Ｂ品として分類されたコンパクト
デイスク２が良品として出荷可能か又は不良品として出
荷が不可能かを判断する。
【００１８】ここでこの実施例の場合、光デイスク検査
機１１は図３に示すように構成されており、レーザー光
源２０から射出されたレーザービームＬが第１の偏光ビ
ームスプリツタ（ＰＢＳ）２１で反射されて直線偏光の
レーザー光になる。続いてこのレーザー光は１／４波長
板２２を通過して円偏光のレーザー光となり、これが対
物レンズ２３で集光されてコンパクトデイスク２を照射
する。この結果コンパクトデイスク２で反射する反射光
は、正反射する０次光ビームＬ０とピツトにより反射す
る１次光ビームＬ１に分かれる。
機１１は図３に示すように構成されており、レーザー光
源２０から射出されたレーザービームＬが第１の偏光ビ
ームスプリツタ（ＰＢＳ）２１で反射されて直線偏光の
レーザー光になる。続いてこのレーザー光は１／４波長
板２２を通過して円偏光のレーザー光となり、これが対
物レンズ２３で集光されてコンパクトデイスク２を照射
する。この結果コンパクトデイスク２で反射する反射光
は、正反射する０次光ビームＬ０とピツトにより反射す
る１次光ビームＬ１に分かれる。
【００１９】このうち０次光ビームＬ０は対物レンズ２
３に戻り集光レンズ２４で集光されて、第２の偏光ビー
ムスプリツタ２５でＰ波成分及びＳ波成分に分光され、
それぞれ第１及び第２の０次光フオトダイオード２６及
び２７に入射するようになされ、１次光ビームＬ１は対
物レンズ２３の周辺に配置された１次光フオトダイオー
ド２８に集光する。
３に戻り集光レンズ２４で集光されて、第２の偏光ビー
ムスプリツタ２５でＰ波成分及びＳ波成分に分光され、
それぞれ第１及び第２の０次光フオトダイオード２６及
び２７に入射するようになされ、１次光ビームＬ１は対
物レンズ２３の周辺に配置された１次光フオトダイオー
ド２８に集光する。
【００２０】第１及び第２の０次光フオトダイオード２
６及び２７の受光出力ＰＡ及びＰＢは、それぞれ第１の
加算回路２９及び減算回路３０に入力され、この結果得
られる第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢが特徴抽出処理計算回
路３１、第２の加算回路３２、第１及び第２の割り算回
路３３及び３４に入力され、また減算回路３０から得ら
れる減算信号ＰＡ−ＰＢが第２の割り算回路３４に入力
される。
６及び２７の受光出力ＰＡ及びＰＢは、それぞれ第１の
加算回路２９及び減算回路３０に入力され、この結果得
られる第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢが特徴抽出処理計算回
路３１、第２の加算回路３２、第１及び第２の割り算回
路３３及び３４に入力され、また減算回路３０から得ら
れる減算信号ＰＡ−ＰＢが第２の割り算回路３４に入力
される。
【００２１】また１次光フオトダイオード２８の受光出
力Ｐ１は、特徴抽出処理計算回路３１、第２の加算回路
３２及び第１の割り算回路３３に入力される。第２の加
算回路３２は第１の加算回路２９の第１の加算信号ＰＡ
＋ＰＢ及び１次光フオトダイオード２８の受光出力Ｐ１
を加算し、この結果得られる第２の加算信号ＰＡ＋ＰＢ
＋Ｐ１が特徴抽出処理計算回路３１に入力される。
力Ｐ１は、特徴抽出処理計算回路３１、第２の加算回路
３２及び第１の割り算回路３３に入力される。第２の加
算回路３２は第１の加算回路２９の第１の加算信号ＰＡ
＋ＰＢ及び１次光フオトダイオード２８の受光出力Ｐ１
を加算し、この結果得られる第２の加算信号ＰＡ＋ＰＢ
＋Ｐ１が特徴抽出処理計算回路３１に入力される。
【００２２】第１の割り算回路３３は、１次光フオトダ
イオード２８の受光出力Ｐ１を第１の加算信号ＰＡ＋Ｐ
Ｂで割り、この結果得られる割り算信号Ｐ１／ＰＡ＋Ｐ
Ｂが特徴抽出処理計算回路３１に入力され、また第２の
割り算回路３４は、減算信号ＰＡ−ＰＢを第１の加算信
号ＰＡ＋ＰＢで割り、この結果得られる割り算信号ＰＡ
−ＰＢ／ＰＡ＋ＰＢが特徴抽出処理計算回路３１に入力
される。
イオード２８の受光出力Ｐ１を第１の加算信号ＰＡ＋Ｐ
Ｂで割り、この結果得られる割り算信号Ｐ１／ＰＡ＋Ｐ
Ｂが特徴抽出処理計算回路３１に入力され、また第２の
割り算回路３４は、減算信号ＰＡ−ＰＢを第１の加算信
号ＰＡ＋ＰＢで割り、この結果得られる割り算信号ＰＡ
−ＰＢ／ＰＡ＋ＰＢが特徴抽出処理計算回路３１に入力
される。
【００２３】この特徴抽出処理回路３１は、入力される
０次光の受光出力でなる第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢや１
次光の受光出力Ｐ１、第２の加算信号ＰＡ＋ＰＢ＋Ｐ
１、第１及び第２の割り算信号Ｐ１／ＰＡ＋ＰＢ及びＰ
Ａ−ＰＢ／ＰＡ＋ＰＢに基づいて、コンパクトデイスク
２の欠陥を判断するようになされている。
０次光の受光出力でなる第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢや１
次光の受光出力Ｐ１、第２の加算信号ＰＡ＋ＰＢ＋Ｐ
１、第１及び第２の割り算信号Ｐ１／ＰＡ＋ＰＢ及びＰ
Ａ−ＰＢ／ＰＡ＋ＰＢに基づいて、コンパクトデイスク
２の欠陥を判断するようになされている。
【００２４】特徴抽出処理計算回路３１は、コンパクト
デイスク２上に傷、異物、コールドスラツジ、汚れ、黒
点、ピンホール等が存在するため、１周当たりの０次光
の受光出力でなる第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢが、連続し
て所定個以上のポイントでしきい値を越えた場合、反射
率が落ちるためしきい値に応じてＢ品又はＣ品と分類し
これを出力する。
デイスク２上に傷、異物、コールドスラツジ、汚れ、黒
点、ピンホール等が存在するため、１周当たりの０次光
の受光出力でなる第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢが、連続し
て所定個以上のポイントでしきい値を越えた場合、反射
率が落ちるためしきい値に応じてＢ品又はＣ品と分類し
これを出力する。
【００２５】また特徴抽出処理計算回路３１は、コンパ
クトデイスク２上に転写不良によるピツト落ちやオイル
によるピツト潰れ等が存在し、１周当たりの１次光の受
光出力Ｐ１が所定のしきい値を越えた場合、ピツト不良
としてしきい値に応じてＢ品又はＣ品と分類しこれを出
力する。
クトデイスク２上に転写不良によるピツト落ちやオイル
によるピツト潰れ等が存在し、１周当たりの１次光の受
光出力Ｐ１が所定のしきい値を越えた場合、ピツト不良
としてしきい値に応じてＢ品又はＣ品と分類しこれを出
力する。
【００２６】さらに特徴抽出処理計算回路３１は、コン
パクトデイスク２上にコールド、ウエルド、剥離ムラが
存在し、０次光のＰ波とＳ波の各受光出力ＰＡ、ＰＢの
差／和の絶対値が所定のしきい値を越えた場合、偏光欠
陥としてＣ品と分類しこれを出力する。
パクトデイスク２上にコールド、ウエルド、剥離ムラが
存在し、０次光のＰ波とＳ波の各受光出力ＰＡ、ＰＢの
差／和の絶対値が所定のしきい値を越えた場合、偏光欠
陥としてＣ品と分類しこれを出力する。
【００２７】またこの実施例の場合特徴抽出処理計算回
路３１は、このように分類結果としてコンパクトデイス
ク２がＡ品か、Ｂ品か又はＣ品かを出力することに加え
て、分類結果がＢ品の場合には、０次光の受光出力でな
る第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢや１次光の受光出力Ｐ１、
第２の加算信号ＰＡ＋ＰＢ＋Ｐ１、第１及び第２の割り
算信号Ｐ１／ＰＡ＋ＰＢ及びＰＡ−ＰＢ／ＰＡ＋ＰＢを
光学的なデイスク検査情報ＯＰＴとしニユーラルネツト
ワーク１２に送出するようになされている。
路３１は、このように分類結果としてコンパクトデイス
ク２がＡ品か、Ｂ品か又はＣ品かを出力することに加え
て、分類結果がＢ品の場合には、０次光の受光出力でな
る第１の加算信号ＰＡ＋ＰＢや１次光の受光出力Ｐ１、
第２の加算信号ＰＡ＋ＰＢ＋Ｐ１、第１及び第２の割り
算信号Ｐ１／ＰＡ＋ＰＢ及びＰＡ−ＰＢ／ＰＡ＋ＰＢを
光学的なデイスク検査情報ＯＰＴとしニユーラルネツト
ワーク１２に送出するようになされている。
【００２８】以上の構成において、この光デイスク検査
装置１０でコンパクトデイスク２を検査する場合の工程
としては、被検査対象のコンパクトデイスク２を光デイ
スク検査機１１に装填するのみで良い。このようにすれ
ば光デイスク検査機１１の検査結果に応じて、Ａ品のコ
ンパクトデイスク２は良品として出荷工程３に廻され、
逆にＣ品は不良品として除外される。
装置１０でコンパクトデイスク２を検査する場合の工程
としては、被検査対象のコンパクトデイスク２を光デイ
スク検査機１１に装填するのみで良い。このようにすれ
ば光デイスク検査機１１の検査結果に応じて、Ａ品のコ
ンパクトデイスク２は良品として出荷工程３に廻され、
逆にＣ品は不良品として除外される。
【００２９】またＢ品はニユーラルネツトワーク１２に
おいて学習結果に基づいて、同時に入力される光学的な
デイスク検査情報ＯＰＴを用いて良品か不良品かが判断
され、良品の場合には出荷工程に廻され、不良品の場合
には除外される。
おいて学習結果に基づいて、同時に入力される光学的な
デイスク検査情報ＯＰＴを用いて良品か不良品かが判断
され、良品の場合には出荷工程に廻され、不良品の場合
には除外される。
【００３０】このようにしてこの光デイスク検査装置１
０の場合、人手による目視検査工程等を経ることなく自
動的にコンパクトデイスク２を検査し、良品として出荷
工程に廻すか、不良品として除外するかを判断し得るよ
うになされており、検査時間を格段的に短縮化し得ると
共に、検査のために熟練した人間が不要になることによ
り、使い勝手を格段的に向上することができる。
０の場合、人手による目視検査工程等を経ることなく自
動的にコンパクトデイスク２を検査し、良品として出荷
工程に廻すか、不良品として除外するかを判断し得るよ
うになされており、検査時間を格段的に短縮化し得ると
共に、検査のために熟練した人間が不要になることによ
り、使い勝手を格段的に向上することができる。
【００３１】以上の構成によれば、光デイスク検査機１
１で装填されたコンパクトデイスク２を光学的に検査
し、その検査結果としてコンパクトデイスク２が良品
か、不良品か又は傷のみのコンパクトデイスク２かを出
力すると共に、傷のみのコンパクトデイスク２のデイス
ク検査情報ＯＰＴ及び良品か不良品かの判断ＯＫ／ＮＧ
を教師データとして学習を繰り返したニユーラルネツト
ワーク１２に、傷のみのコンパクトデイスク２について
光デイスク検査機１１の光学的なデイスク検査情報ＯＰ
Ｔを入力して、傷のみのコンパクトデイスク２が良品か
又は不良品かを判断するようにしたことにより、簡易な
構成でコンパクトデイスク２の検査工程を自動化し得る
光デイスク検査装置１０を実現できる。
１で装填されたコンパクトデイスク２を光学的に検査
し、その検査結果としてコンパクトデイスク２が良品
か、不良品か又は傷のみのコンパクトデイスク２かを出
力すると共に、傷のみのコンパクトデイスク２のデイス
ク検査情報ＯＰＴ及び良品か不良品かの判断ＯＫ／ＮＧ
を教師データとして学習を繰り返したニユーラルネツト
ワーク１２に、傷のみのコンパクトデイスク２について
光デイスク検査機１１の光学的なデイスク検査情報ＯＰ
Ｔを入力して、傷のみのコンパクトデイスク２が良品か
又は不良品かを判断するようにしたことにより、簡易な
構成でコンパクトデイスク２の検査工程を自動化し得る
光デイスク検査装置１０を実現できる。
【００３２】なお上述の実施例においては、本発明をコ
ンパクトデイスクの製造工程において、コンパクトデイ
スクを検査するものに適用したが、これに限らず、ビデ
オレーザーデイスクや光磁気デイスク等他の光デイスク
を検査する場合の光デイスク検査装置に広く適用して好
適なものである。
ンパクトデイスクの製造工程において、コンパクトデイ
スクを検査するものに適用したが、これに限らず、ビデ
オレーザーデイスクや光磁気デイスク等他の光デイスク
を検査する場合の光デイスク検査装置に広く適用して好
適なものである。
【００３３】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、光デイス
ク検査機で装填された光デイスクを光学的に検査し、そ
の検査結果として光デイスクが良品か、不良品か又は傷
のみの光デイスクかを出力すると共に、傷のみの光デイ
スクのデイスク検査情報及び良品か不良品かの判断を教
師データとして学習を繰り返したニユーラルネツトワー
クに、傷のみの光デイスクについて光デイスク検査機の
光学的なデイスク検査情報を入力して、傷のみの光デイ
スクが良品か又は不良品かを判断させるようにしたこと
により、簡易な構成で光デイスクの検査工程を自動化し
得る光デイスク検査装置を実現できる。
ク検査機で装填された光デイスクを光学的に検査し、そ
の検査結果として光デイスクが良品か、不良品か又は傷
のみの光デイスクかを出力すると共に、傷のみの光デイ
スクのデイスク検査情報及び良品か不良品かの判断を教
師データとして学習を繰り返したニユーラルネツトワー
クに、傷のみの光デイスクについて光デイスク検査機の
光学的なデイスク検査情報を入力して、傷のみの光デイ
スクが良品か又は不良品かを判断させるようにしたこと
により、簡易な構成で光デイスクの検査工程を自動化し
得る光デイスク検査装置を実現できる。
【図１】本発明による光デイスク検査装置の一実施例を
示すブロツク図である。
示すブロツク図である。
【図２】図１の光デイスク検査装置におけるニユーラル
ネツトワークの学習の説明に供するブロツク図である。
ネツトワークの学習の説明に供するブロツク図である。
【図３】図１の光デイスク検査装置における光デイスク
検査機の構成を示すブロツク図である。
検査機の構成を示すブロツク図である。
【図４】従来の光デイスク検査機による検査工程を示す
ブロツク図である。
ブロツク図である。
１、１１……光デイスク検査機、２……コンパクトデイ
スク、３……出荷工程、４……目視検査工程、１２……
ニユーラルネツトワーク、２０……レーザー光源、２
１、２５……ＰＢＳ、２２……１／４波長板、２３、２
４……レンズ、２６、２７、２８……フオトダイオー
ド、２９、３２……加算回路、３０……減算回路、３１
……特徴抽出処理計算回路、３３、３４……割り算回
路。
スク、３……出荷工程、４……目視検査工程、１２……
ニユーラルネツトワーク、２０……レーザー光源、２
１、２５……ＰＢＳ、２２……１／４波長板、２３、２
４……レンズ、２６、２７、２８……フオトダイオー
ド、２９、３２……加算回路、３０……減算回路、３１
……特徴抽出処理計算回路、３３、３４……割り算回
路。
Claims (2)
- 【請求項１】装填された光デイスクを光学的に検査し、
当該検査結果として上記光デイスクが良品か、不良品か
又は傷のみの光デイスクかを出力する光デイスク検査機
と、 当該光デイスク検査機によつて検出された上記傷のみの
光デイスクについて、上記光デイスク検査機の光学的な
デイスク検査情報が入力され、上記傷のみの光デイスク
の上記デイスク検査情報及び良品か不良品かの判断を教
師データとして繰り返された学習に基づいて、上記傷の
みの光デイスクが良品か又は不良品かを判断するニユー
ラルネツトワークとを具えることを特徴とする光デイス
ク検査装置。 - 【請求項２】上記光デイスク検査機は、レーザー光源か
ら射出されたレーザービームで上記光デイスクの表面上
を走査し、当該光デイスクで反射された０次光のＰ波成
分、Ｓ波成分及び上記光デイスクで反射された１次光に
基づいて、上記デイスク検査情報を発生するようにした
ことを特徴とする請求項１に記載の光デイスク検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18756092A JP3154074B2 (ja) | 1992-06-22 | 1992-06-22 | 光デイスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18756092A JP3154074B2 (ja) | 1992-06-22 | 1992-06-22 | 光デイスク検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063280A true JPH063280A (ja) | 1994-01-11 |
| JP3154074B2 JP3154074B2 (ja) | 2001-04-09 |
Family
ID=16208224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18756092A Expired - Fee Related JP3154074B2 (ja) | 1992-06-22 | 1992-06-22 | 光デイスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3154074B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0787289A4 (ja) * | 1994-07-13 | 1997-08-06 | ||
| WO2003075269A1 (de) * | 2002-03-06 | 2003-09-12 | Ansgar Kaupp | Verfahren und vorrichtung zum prüfen von optischen datenträgern |
| WO2018114301A1 (en) | 2016-12-22 | 2018-06-28 | Unilever Plc | A shell container suitable for housing a discrete refill container |
| CN117116305A (zh) * | 2023-09-26 | 2023-11-24 | 北京云唤维科技有限公司 | 电子档案可录光盘的质量检测方法、系统、设备及介质 |
-
1992
- 1992-06-22 JP JP18756092A patent/JP3154074B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0787289A4 (ja) * | 1994-07-13 | 1997-08-06 | ||
| EP0787289A1 (en) * | 1994-07-13 | 1997-08-06 | Kla Instruments Corporation | Automated photomask inspection apparatus and method |
| WO2003075269A1 (de) * | 2002-03-06 | 2003-09-12 | Ansgar Kaupp | Verfahren und vorrichtung zum prüfen von optischen datenträgern |
| WO2018114301A1 (en) | 2016-12-22 | 2018-06-28 | Unilever Plc | A shell container suitable for housing a discrete refill container |
| EP3936457A1 (en) | 2016-12-22 | 2022-01-12 | Unilever IP Holdings B.V. | A fitment for combining with a closure |
| US11883835B2 (en) | 2016-12-22 | 2024-01-30 | Conopco, Inc. | Shell container suitable for housing a discrete refill container |
| CN117116305A (zh) * | 2023-09-26 | 2023-11-24 | 北京云唤维科技有限公司 | 电子档案可录光盘的质量检测方法、系统、设备及介质 |
| CN117116305B (zh) * | 2023-09-26 | 2024-02-13 | 北京云唤维科技有限公司 | 电子档案可录光盘的质量检测方法、系统、设备及介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3154074B2 (ja) | 2001-04-09 |
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