JPH06326163A - 超音波ワイヤボンディング装置 - Google Patents

超音波ワイヤボンディング装置

Info

Publication number
JPH06326163A
JPH06326163A JP5110259A JP11025993A JPH06326163A JP H06326163 A JPH06326163 A JP H06326163A JP 5110259 A JP5110259 A JP 5110259A JP 11025993 A JP11025993 A JP 11025993A JP H06326163 A JPH06326163 A JP H06326163A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
wire
wire bonding
wedge
ultrasonic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5110259A
Other languages
English (en)
Inventor
Noboru Mitachi
登 三田地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP5110259A priority Critical patent/JPH06326163A/ja
Publication of JPH06326163A publication Critical patent/JPH06326163A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78313Wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/8512Aligning
    • H01L2224/85121Active alignment, i.e. by apparatus steering, e.g. optical alignment using marks or sensors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/852Applying energy for connecting
    • H01L2224/85201Compression bonding
    • H01L2224/85205Ultrasonic bonding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ボンディング位置精度の高い超音波ワイヤボ
ンディング装置の提供。 【構成】 モニター画面20で第1ボンディング点であ
るパッド21に対するレチクル22(ウエッジ2)の位
置、すなわち、ボンディング位置を設定するとともに、
カメラ16から外れた位置にあるウエッジ2でワイヤボ
ンディングを行う。カメラ認識位置に対するボンディン
グされたワイヤ25の位置ズレを検出する。この検出は
第1・第2ボンディング点の数個所を行い、オフセット
値を求め、これからウエッジ2の位置補正を行う。検出
補正はn回毎の製品に対して自動的に行うことから、ワ
イヤ8の硬度変化や捩れによるボンディング位置の大き
な変動は生じ難くなり、ボンディング不良の発生を防止
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はワイヤボンディング装
置、特に超音波ワイヤボンディング装置において高精度
なボンディングを遂行できる技術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置,混成集積回路装置等の電子
装置の組立において、半導体素子(チップ)や配線基板
の電極(パッド)等の第1ボンディング部と、リード等
の第2ボンディング部とをワイヤで接続する工程があ
る。このワイヤボンディング工程において、前記第1ボ
ンディング部と第2ボンディング部を金線やアルミニウ
ム線で自動的に接続する装置として、ワイヤボンディン
グ装置(ワイヤボンダ)が知られている。従来のワイヤ
ボンダについては、たとえば、工業調査会発行「電子材
料」1984年別冊号、同年10月15日発行、P114〜P120
に記載されている。この文献には、NTCボンダー(サ
ーモコンプレッション式),USNTCボンダー(サー
モソニック式),USボンダー(超音波式)について記
載されている。この文献には、USボンダーにおいて
は、「またボンディングツールからのワイヤ繰り出し方
向が斜め(水平面より30°,45°〜60°のものも
ある)になっているためNTCボンダーに比べてワイヤ
ループ形成が簡単なので,ハイブリッド基板やセラミッ
クパッケージなどの半導体チップとワイヤのエッジタッ
チを起こしやすい製品にも適用される」旨記載されてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】超音波ワイヤボンディ
ング装置は、スプールから解き出したワイヤをウエッジ
と呼称されるボンディングツールに保持し、ウエッジの
先端でワイヤを押さえかつワイヤに超音波振動を加える
ことによって所定箇所にワイヤを接続する。ウエッジに
は、ワイヤを繰り出す孔が開けられ、ワイヤはこの孔か
ら斜め上方からウエッジ先端下に供給される。従来のU
Sボンダーでは、ワイヤボンディングに先立って、カメ
ラとツールとの間のオフセット量を検出し、正確にボン
ディングができるように操作される。すなわち、チェス
マンを操作して、半導体チップのパッド上にモニター画
面のクロスマークを合わせる。この際、カメラ位置が記
憶される。つぎに、ツールを下降させるとともに、チェ
スマンを操作してツールを前記パッドに合わせる。その
後、ツールを降下させてパッドに押し当てさせた後上昇
させる。ついで、カメラ位置と現在置との差をとり、オ
フセット値を求める。また、オフセット値を補正すると
きは、モニター画面上のボンディングした点とクロスマ
ークがずれているので、チェスマンでボンディング点に
クロスマークを合わせるとともに、キーを操作すること
によってオフセット値の補正を行うことができる。
【0004】ところで、このようなオフセット値の補正
(修正)は、常時行われるわけではなく、不良が発生し
た際等に行うだけである。通常はボンディング位置はば
らついても許容域にある。超音波ワイヤボンディング装
置においては、ワイヤはウエッジのガイド孔に案内され
てウエッジの先端下方に延在する。前記ガイド孔はワイ
ヤが円滑に繰り出せるように、ワイヤの直径よりも太く
なっている。ワイヤはロット毎に硬度や捩れ等が異なる
場合が多く、最初の設定状態を長く維持できるものでは
ないことが本発明者等によって確認されている。すなわ
ち、ウエッジの先端下方に延在しているワイヤが、最初
の段階では中央に真っ直ぐ延在していても、途中から右
寄りになり、さらには左寄りとなる等の現象が起きる。
この結果、オフセット値を修正し、適性に補正されて行
われているワイヤボンディングも、ワイヤの捩れの変化
等によってボンディング位置が微妙に変化し、ワイヤの
一部がパッドから大きく外れてボンディングされる状態
(不良ボンディング)も発生する。
【0005】本発明の目的は、ボンディング位置精度の
高い超音波ワイヤボンディング装置を提供することにあ
る。本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴
は、本明細書の記述および添付図面からあきらかになる
であろう。
【0006】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。すなわち、本発明の超音波ワイヤボ
ンディング装置は、カメラによるモニタ画面でボンディ
ング位置を設定するとともに、カメラ位置から外れた位
置にあるボンディングツールでワイヤをボンディング位
置にボンディングする超音波ワイヤボンディング装置で
あって、前記モニタ画面認識位置に対する実際のボンデ
ィング位置のズレを検出し、このズレが零となるように
ボンディングツール位置を補正する検出補正機構を有
し、この検出補正機構は設定時毎にボンディングされた
数個所を検出しかつ補正するように構成されている。こ
のワイヤボンディング装置は超音波ワイヤボンディング
装置となり、ウエッジからなるボンディングツールに設
けられたガイド孔からワイヤ先端をウエッジの先端下方
に突出させ、ウエッジでワイヤに超音波振動を与えてワ
イヤをボンディング位置に接続する。
【0007】
【作用】本発明の超音波ワイヤボンディング装置は、カ
メラによるモニタ画面で設定したボンディング位置に対
する実際のボンディング位置のズレを、設定時毎に検出
しかつ補正するように構成されていることから、使用す
るワイヤの硬度や捩れによってワイヤの方向性が途中で
変化しても補正されるため、ボンディング位置の大きな
ばらつきが発生し難くなり、ワイヤボンディング不良の
多発を防止できる。
【0008】
【実施例】以下図面を参照して本発明の一実施例につい
て説明する。図1は本発明の一実施例による超音波ワイ
ヤボンディング装置におけるボンディング位置ズレ状態
を示す模式図、図2は超音波ワイヤボンディング装置の
要部を示す模式的正面図、図3は同じくボンディング位
置の検出補正方法を示すフローチャート、図4は同じく
検出補正においてパッドにカメラのレチクルを合わせた
モニター画面を示す模式図、図5は同じく検出補正にお
いてワイヤボンディング部分をモニター画面に写し出し
た状態を示す模式図、図6は第2ボンディングにおいて
リードにカメラのレチクルを合わせたモニター画面を示
す模式図、図7は同じく検出補正において第2ボンディ
ング部分をモニター画面に写し出した状態を示す模式図
である。
【0009】本発明の超音波ワイヤボンディング装置
は、図2に示すように、回転可能なステージ1と、この
ステージ1の真上に位置するウエッジ(ボンディングツ
ール)2と、このウエッジ2を先端に保持するととも
に、ウエッジ2を超音波振動させる発振機を内蔵するホ
ーン3と、ホーン3の後端を保持しかつウエッジ2を上
下動させるボンディングヘッド4と、このボンディング
ヘッド4を支持しかつウエッジ2を平面XY方向に移動
制御するXYテーブル5とからなっている。また、前記
ウエッジ2とともに移動するクランパ6が、ウエッジ2
の後方に配設され、前記ホーン3の上方のスプール7か
ら解き出されるワイヤ8をクランプするようになってい
る。また、図示はしないが、一般にワイヤ8にはバック
テンションが加わるようになっている。
【0010】一方、前記ステージ1上には、ワークとし
てのリードフレーム10が載置される。このリードフレ
ーム10の中央の図示しないタブ上には、半導体チップ
11が固定されている。また、前記タブの周囲には、リ
ードの先端がそれぞれ臨んでいる。そして、前記半導体
チップ11の図示しない電極(第1ボンディング部)
と、リードの先端部分(第2ボンディング部)がワイヤ
8で接続される。ワイヤボンディングは、半導体チップ
11の所定パッド上にウエッジ2を降下させて、ウエッ
ジ2の先端でワイヤ8の先端を半導体チップ11に押し
付け,かつ超音波振動させることによって第1ボンディ
ングを行う。その後、ワイヤ8を繰り出しながらウエッ
ジ2は上昇,水平移動を行った後、所定のリード先端上
に再度降下し、リードとウエッジ2の先端に挟んだワイ
ヤ8の途中部分に超音波振動を加えて第2ボンディング
を終了する。第2ボンディングが終了した後は、クラン
パ6でワイヤ8をクランプしながらウエッジ2が上昇す
ることによって、ワイヤ8は第2ボンディング部分の付
け根から分断される。これによって1張りのワイヤボン
ディングが終了する。
【0011】他方、前記ボンディングヘッド4からは、
アーム15が延在し、このアーム15の先端にはカメラ
16が取り付けられている。このカメラ16は、ボンデ
ィング位置等をモニターできるようになっている。装置
各部は制御装置17によって制御される。また、この制
御装置17に対する入出力内容等を表示するために、モ
ニター装置19が設けられている。また、前記制御装置
17にはチェスマン等の入力機器も備えられている。
【0012】このような超音波ワイヤボンディング装置
は、最初のボンディングと、n個目の製品のボンディン
グ後に、カメラによる位置設定と、実際のボンディング
位置との間のズレ(オフセット値)を求め、ウエッジ2
の位置を補正する検出補正機構が設けられている。ステ
ージ1のボンディングステーションにリードフレーム1
0が位置決め設定された後、自動的にワイヤボンディン
グが行われる。その後、ワイヤボンディング位置が適性
であるか否かの最初の検出補正が行われる。すなわち、
図4はモニター装置19のモニター画面20を示す模式
図であるが、半導体チップの所定のパッド21がモニタ
ー画面20に写し出される。そして、チェスマンの操作
によって十文字のレチクル22がパッド21の中心に一
致するように設定される。二点鎖線で示すワイヤ8は、
パッド21の中央にワイヤ8がボンディングされること
を示すものであり、チェスマンの設定後は、ワイヤ8の
先端がパッド21にこのように位置決め固定されるもの
である。しかしながら、実際にボンディングされたワイ
ヤ25をモニター画面20に写し出してみると、図5に
示すように、ずれてボンディングされている。図1はチ
ェスマンでパッド21の中心にレチクル22が位置する
ようにした際のワイヤ8の理論的接続状態を二点鎖線で
示し、実際にボンディングされたワイヤ25を実線で示
したものであるが、両者間のズレΔaがオフセット値と
なる。
【0013】つぎに、同様にして、第2ボンディング点
でのズレを求める。図6は第2ボンディング点であるリ
ード30をモニター画面20に写し出した模式図であ
る。ワイヤボンディングに先立つ位置決めにおいては、
前記第1ボンディング点と同様にチェスマンの操作によ
って十文字のレチクル22がリード30の中心に一致す
るように設定される。二点鎖線で示すワイヤ8は、リー
ド30の中央にワイヤ8がボンディングされることを示
すものである。また、図7は実際にボンディングされた
ワイヤ25をモニター画面20に写し出した模式図であ
る。この図7において、チェスマンでリード30の中心
にレチクル22が位置するようにした際のワイヤ8の理
論的接続状態を二点鎖線で示し、実際にボンディングさ
れたワイヤ25を実線で示したものであり、両者間には
ズレΔcが発生している。このΔcがオフセット値とな
る。
【0014】さらに数個所のワイヤにおける第1・第2
ボンディング点におけるボンディング位置のズレを求
め、これらの情報から全体のオフセット値を演算処理に
て求め、このオフセット値によって前記ウエッジ2の位
置補正を行ってつぎのリードフレーム部分(製品)に対
するワイヤボンディングを行う。なお、前記操作におい
て、チェスマンでパッド21や実際のワイヤボンディン
グ点にレチクル22を位置決めしたり、所定のキーを操
作することによって、前記オフセット値は前記制御装置
17によって自動的に求められ、かつウエッジの位置補
正も自動的に行われるように構成されている。
【0015】この超音波ワイヤボンディング装置におい
ては、前記の検出補正は、プログラミングによってn回
後毎に自動的に行うようになされている。このn回は自
由に設定変更が可能であり、1製品毎でもよい。図3は
検出補正を組み込んだ作業フローチャートである。ワイ
ヤボンディングが開始されると、カメラによる位置設定
(図4)等がなされ1回のワイヤボンディングが終了す
る。そして、最初の1回目がカウントされ、ズレ検出,
ツール位置補正なる最初の検出補正が行われる。その後
は、連続してn回(製品数でn個)のワイヤボンディン
グがなされる。n回のワイヤボンディングがカウントさ
れると、再びズレ検出,ツール位置補正なる検出補正が
行われて、ワイヤボンディングの位置補正が行われる。
このようにして1ロットのワイヤボンディングを終了す
る。
【0016】
【発明の効果】(1)本発明の超音波ワイヤボンディン
グ装置においては、一連のワイヤボンディングにおい
て、時々ワイヤボンディング位置の検出と補正が行われ
ることから、使用するワイヤの硬度が異なったり、ある
いはスプールに巻き付けられているワイヤの捩れの方向
性が変化して、ウエッジの先端に繰り出されるワイヤの
位置が変化しても、ワイヤの変化に追随するようにワイ
ヤボンディング位置が補正されるため、ワイヤボンディ
ング不良となるような大きなワイヤボンディング位置変
化が生じ難くなり、ワイヤボンディングの歩留りが向上
するという効果が得られる。
【0017】(2)上記(1)により、本発明の超音波
ワイヤボンディング装置は、自動的にワイヤボンディン
グ位置の検出および補正が行われることから、従来のよ
うに作業者が付いていてワイヤボンディング位置の良否
を確認する必要もなく、省力化が達成できるという効果
が得られる。
【0018】(3)上記(1)〜(2)により、本発明
によれば、ワイヤボンディングコストの低減が可能とな
る高歩留りの超音波ワイヤボンディング装置を提供する
ことができるという相乗効果が得られる。
【0019】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。たとえば、
ウエッジに光ファイバスコープや反射型センサ等を直接
取り付けて位置検出を行うようにしてもよい。この場
合、ウエッジに直接検出系を固定するため、固定部分が
減ることから、ボンディングツールの位置補正精度がよ
り高くなる。
【0020】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である超音波
ワイヤボンディング装置に適用した場合について説明し
たが、それに限定されるものではなく、たとえば、サー
モソニック式ワイヤボンディング装置にも適用できる。
本発明は少なくともワイヤボンディング装置には適用で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例による超音波ワイヤボンデ
ィング装置におけるボンディング位置ズレ状態を示す模
式図である。
【図2】 本発明の超音波ワイヤボンディング装置の要
部を示す模式的正面図である。
【図3】 本発明の超音波ワイヤボンディング装置にお
けるボンディング位置の検出補正方法を示すフローチャ
ートである。
【図4】 本発明の超音波ワイヤボンディング装置にお
ける検出補正においてパッドにカメラのレチクルを合わ
せたモニター画面を示す模式図である。
【図5】 本発明の超音波ワイヤボンディング装置にお
ける検出補正においてワイヤボンディング部分をモニタ
ー画面に写し出した状態を示す模式図である。
【図6】 本発明の超音波ワイヤボンディング装置にお
ける検出補正においてリードにカメラのレチクルを合わ
せたモニター画面を示す模式図である。
【図7】 本発明の超音波ワイヤボンディング装置にお
ける検出補正において第2ボンディング部分をモニター
画面に写し出した状態を示す模式図である。
【符号の説明】
1…ステージ、2…ウエッジ(ボンディングツール)、
3…ホーン、4…ボンディングヘッド、5…XYテーブ
ル、6…クランパ、7…スプール、8…ワイヤ、10…
リードフレーム、11…半導体チップ、15…アーム、
16…カメラ、17…制御装置、19…モニター装置、
20…モニター画面、21…パッド、22…レチクル、
25…ボンディングされたワイヤ、30…リード。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カメラによるモニタ画面でボンディング
    位置を設定するとともに、カメラ位置から外れた位置に
    あるボンディングツールでワイヤをボンディング位置に
    ボンディングする超音波ワイヤボンディング装置であっ
    て、前記モニタ画面認識位置に対する実際のボンディン
    グ位置のズレを検出し、このズレが零となるようにボン
    ディングツール位置を補正する検出補正機構を有し、こ
    の検出補正機構は設定時毎にボンディングされた数個所
    を検出しかつ補正するように構成されていることを特徴
    とする超音波ワイヤボンディング装置。
JP5110259A 1993-05-12 1993-05-12 超音波ワイヤボンディング装置 Pending JPH06326163A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5110259A JPH06326163A (ja) 1993-05-12 1993-05-12 超音波ワイヤボンディング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5110259A JPH06326163A (ja) 1993-05-12 1993-05-12 超音波ワイヤボンディング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06326163A true JPH06326163A (ja) 1994-11-25

Family

ID=14531163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5110259A Pending JPH06326163A (ja) 1993-05-12 1993-05-12 超音波ワイヤボンディング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06326163A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008243984A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Shinkawa Ltd ワイヤボンディング方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008243984A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Shinkawa Ltd ワイヤボンディング方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3178567B2 (ja) ワイヤボンディング装置及びその方法
JP3009564B2 (ja) ワイヤボンディング装置及びその方法
US5458280A (en) Wire bonder and wire bonding method
JP2914850B2 (ja) ワイヤボンディング装置及びその方法
JPH06326163A (ja) 超音波ワイヤボンディング装置
JP2598192B2 (ja) 半導体製造装置
JP3724875B2 (ja) ワイヤーボンディング方法とそのワイヤーボンディング方法を使用した半導体実装方法ならびにワイヤーボンディング装置とそのワイヤーボンディング装置を備えた半導体実装装置。
JP2663921B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2701174B2 (ja) バンプ付け方法
JP2769201B2 (ja) ボンディング方法および装置
JP2625956B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JPH0372645A (ja) ボンディング方法および装置
KR950001171Y1 (ko) 다이 본더의 다이 자동정렬장치
JPH04261033A (ja) ワイヤボンド装置
JPS6386528A (ja) ダイボンデイング装置
JP2704237B2 (ja) フィルムキャリヤおよびこれを用いたインナリードボンディング方法
JPH03136341A (ja) ワイヤボンディング方法およびこれを用いた半導体装置の製造方法
CN112951732A (zh) 引线接合装置以及引线接合方法
JPH06342815A (ja) ダイボンダー
JPH0461249A (ja) ワイヤボンド装置
JP2005079412A (ja) 半導体装置の製造方法およびそれに用いられるワイヤボンダ
JPH0864629A (ja) ワイヤボンディング方法
JPH09153511A (ja) ワイヤボンダ
JPH1187398A (ja) ワイヤボンディング方法およびワイヤボンディング装置
JPH0433349A (ja) ボンディング方法及び装置