JPH06326036A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

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JPH06326036A
JPH06326036A JP13384293A JP13384293A JPH06326036A JP H06326036 A JPH06326036 A JP H06326036A JP 13384293 A JP13384293 A JP 13384293A JP 13384293 A JP13384293 A JP 13384293A JP H06326036 A JPH06326036 A JP H06326036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
gas
chamber
substrates
reaction furnace
Prior art date
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Pending
Application number
JP13384293A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshitaka Setoguchi
佳孝 瀬戸口
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 反応炉1とロ−ドロック室2を有する気相成
長装置において、ロ−ドロック室には、反応生成物や未
反応物が多量に存在していることがある。パ−ジガスを
導入するとパ−テイクルが舞い上がって基板の上に乗
る。そのまま気相成長させると欠陥のある薄膜が成長す
る。これを防ぐことが目的である。 【構成】 反応炉1とロ−ドロック室の間に搬送室をも
うけて、ここで清浄ガスを基板に吹き付けて基板上に乗
ったパ−テイクルを吹き飛ばす。ガス導入管の下部に
は、カバ−を付けておきガスを吹き込んだことにより舞
い上がるパ−テイクルが基板の上に再び乗らないように
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ロ−ドロック機構を
有し大気圧にて基板を搬送する気相成長装置において、
成膜前に基板を清浄にする機構を設けた気相成長装置に
関する。気相成長装置は、基板の上に気相反応で膜を形
成することのできる反応炉と、多数枚の基板をカセット
に収容して置く基板交換室と、基板交換室と反応炉の間
にあって試料の搬送を行うための搬送機構がある。これ
は水平の棒の先端に彎曲した基板保持部を持っている。
この上に基板を載せて基板を搬送する。搬送は真空中で
行うこともあり、大気圧下で行うこともある。本発明は
大気圧下で基板を搬送する気相成長装置の改良に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図3は従来例に係る気相成長装置の概略
断面図である。縦型の反応炉1の内部には、サセプタ4
が回転軸により回転昇降自在に設けられる。サセプタの
上に基板を置いてサセプタを加熱し、上方の原料ガス導
入口6から原料ガスを導入する。原料ガスは加熱され
て、分解し基板の上に薄膜を形成する。反応炉1の側方
には基板交換のための閉空間がある。基板交換のための
空間は真空に引くことも出来るし大気圧で基板を交換す
ることもできる。
【0003】別個の真空排気装置があるので、この空間
をロ−ドロック室と呼ぶ。直接に大気中と反応炉1との
間で基板を交換する装置もあるが、そうすると反応炉1
が水分や酸素で汚染される。反応炉1の汚染を避けるた
めに基板交換のためのロ−ドロック室を設ける装置が多
くなってきた。
【0004】反応炉1は真空に引くことのできる空間で
あるが、内部にはサセプタ4が設けられる。これは回転
主軸に支持され回転昇降自在の円筒部材である。この上
に基板を載せて気相成長を行う。反応炉1の上頂部には
原料ガス導入口6がある。ここから原料ガスが導入され
る。これは反応によって生成すべき物質の有機金属化合
物や水素化物、水素ガスなどである。またチャンバ内を
パ−ジする場合は窒素ガスを導入する。
【0005】サセプタと基板は加熱する必要がある。ヒ
−タとしてはサセプタの内部に抵抗加熱ヒ−タを設ける
こともある。あるいは図示したように反応炉1の外側に
RFコイル5を設けて誘導加熱する場合もある。反応炉
1の下方にはガス排気口7があり反応後の排ガスが真空
装置(図示せず)によって排出される。しかし反応生成
物や未反応物の多くが反応炉1の底に蓄積されてゆく。
【0006】基板交換のためのロ−ドロック室2はゲ−
トバルブ11により反応炉1に接続される。ロ−ドロッ
ク室2には、カセット8が昇降自在に設けられる。カセ
ット8は多くの棚を持ちこれに基板を載せることができ
る。棚から基板を出し、棚へ基板を入れるのは搬送装置
による。ここでは搬送装置の先端のフォ−ク9のみが図
示されている。基板10はフォ−ク9に載せて運ぶよう
になっている。カセットの昇降運動と、フォ−ク9の水
平運動により基板10がカセット8から取り出され、ま
たカセット8へ載せられる。ゲ−トバルブを開くと、フ
ォ−ク9を延ばして反応炉1のサセプタ4の上に基板1
0を載せることができる。
【0007】基板をサセプタ4に載せて、ゲ−トバルブ
11を閉じ、反応炉1を真空に引く。サセプタ4を加熱
し、原料ガス導入口6から原料ガスを導入して基板の上
に気相成長により薄膜を形成する。薄膜の形成が終了す
ると、原料ガスの導入を停止し、真空度を高めた後、窒
素ガスあるいは水素ガスを導入し大気圧としてから、ゲ
−トバルブを開く。そして同じく窒素ガスあるいは水素
ガス雰囲気にあるロ−ドロック室2へ基板を運び、カセ
ット8のいずれかの棚に収容する。基板の搬送はこのよ
うにパ−ジガスの大気圧下で行うこともあり、真空中で
搬送することもある。本発明は大気圧で搬送するものを
対象にする。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】反応炉の内部には様々
の反応生成物や未反応物がある。これは真空排気装置に
よって排除されずに残ったものである。またロ−ドロッ
ク室にも反応炉から飛来した反応生成物等が存在する。
これは軽くてガス中に浮遊する成分を含む。この浮遊す
る軽い成分をここではパ−テイクルと表現する。ロ−ド
ロック室や反応炉は真空に引いたりパ−ジガスを導入し
たりする。パ−ジガスを導入するとガスの勢いで底の方
に堆積していたパ−テイクルが舞い上がる。ために基板
の上面に乗ることがある。
【0009】カセットに入れた状態では基板が清浄であ
るとしても、ロ−ドロック室の内部でガスの動きのため
に基板の上にパ−テイクルが乗ってしまうことがあるの
である。このまま反応炉に入れて気相成長を行うと、パ
−テイクルを核として異常膜が成長してしまう。すると
その後のプロセスで、なんらかの障害を発生する。また
製品の歩留りが低下する。基板の上にパ−テイクルが存
在した状態で気相成長してはならない。
【0010】前述のような基板の汚染は、基板の本来の
汚れによるものではない。気相成長装置自体の汚れによ
るものである。反応炉では様々の反応が起こるので多様
な生成物や未反応物が発生する。これによりロ−ドロッ
ク室も汚染される。真空に引いたり、パ−ジガスを導入
したりすることが多い。ガスを入れる度にパ−テイクル
が舞い上がる。これによりせっかく清浄な状態で装入さ
れた基板が汚染されてしまう。本発明はこれを解決し、
基板からパ−テイクルを除去し清浄な状態で反応炉へ送
ることのできる装置を提供する。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の気相成長装置
は、反応炉と、ロ−ドロック室の間に新たに搬送室を設
けこの中に基板清浄化装置を設ける。搬送室自体独立に
真空排気することができる。清浄化装置は、昇降可能な
カバ−を下端に有する清浄ガスの導入管を搬送室を貫い
て設けカバ−の内部から清浄ガスを吹き出すことができ
るようにしたものである。
【0012】
【作用】搬送装置で基板を搬送室3にまで運び、ガス導
入管の下方に停止させる。ガス導入管全体またはカバ−
のみを下ろし、カバ−によって基板の全体または上半分
を覆う。カバ−の内部から、清浄ガスを吹き出させる。
基板の上に清浄ガスが流れる。パ−テイクルがガスによ
って追い落とされる。ガスが搬送室3に吹き込まれるの
でパ−テイクルが舞い上がるが、カバ−があるので基板
の上に再飛来することがない。この後、反応炉へ基板を
搬送し、気相反応を行わせる。
【0013】搬送室に基板の清浄化装置を設けたという
ことが重要である。これは反応の直前にパ−テイクルを
除去するのでこの後、パ−テイクルによって汚染される
という確率は少ない。ガスの吹き付けにより取れる汚れ
は軽くてガス中に浮遊するパ−テイクルだけである。し
かしこれで充分である。カセットには洗浄して汚れのな
い基板を収納するのであるから、この後にごみの舞い上
がりによって付着した軽いパ−テイクルを除去できれば
良いのである。
【0014】
【実施例】図1は本発明の実施例に係る気相成長装置の
概略断面図である。反応炉1とロ−ドロック室2とを持
つが、これらの間に搬送室3を新たに設けている。ここ
で基板の上に載っているパ−テイクルを除去しようとい
うものである。反応炉1は内部にサセプタ4を有しこの
上に基板を載せて気相成長反応を行う。サセプタ4は回
転昇降自在である。反応炉1の上頂部には原料ガス導入
口6がありここから原料ガスが導入される。反応炉1の
周囲にはRFコイル5があり、サセプタ4を加熱するよ
うになっている。反応済みのガスや未反応ガスが下方の
ガス排気口7から排出される。
【0015】ロ−ドロック室2は、多くの棚を持つカセ
ット8があってここに基板を収容することができる。カ
セット8は昇降することができる。ロ−ドロック室2は
真空排気装置(図示せず)に接続され独自に真空排気す
ることができる。搬送装置があって、カセットへの基板
の出し入れや、反応炉1への基板の搬送などを行うこと
ができる。
【0016】反応炉1と、ロ−ドロック室2の中間に新
たに設けられた搬送室3は、ゲ−トバルブ11、11に
よって反応炉1、ロ−ドロック室2に接続している。つ
まり3つの閉空間、ロ−ドロック室2、搬送室3、反応
炉1がありこれらが独自に真空に引くことができるよう
になっている。また独自にパ−ジガスを導入できるよう
になっている。
【0017】フォ−ク9は、基板をロ−ドロック室2の
カセット8から、搬送室3を通り、反応炉1に運ぶこと
ができる。搬送室3には、基板の清浄化装置が設けられ
る。清浄化装置はガス導入管12、バルブ13、フィル
タ14、ベロ−ズ15、カバ−18等よりなる。 ガス
導入管12はパ−ジガスである窒素または水素ガスを導
入できる。バルブ13はガス導入管12の途中に設けら
れてガスの流れを通過遮断できる。フィルタ14はパ−
ジガスに含まれるごみなどを除去する。ガス導入管12
の下方の途中にはベロ−ズ15があるが、これは伸縮可
能である。
【0018】ガス導入管12の最下端には基板10より
大きい内径の周縁部を有するカバ−18がある。カバ−
18の下方は開口している。カバ−18は基板10の全
部または上半を覆うことができる。図2はカバ−18と
基板10、フォ−ク9の近傍の拡大断面図である。フォ
−ク9の前端の彎曲腕に、基板10が乗っている。この
上にカバ−18が下降して来て基板を覆うのである。パ
−ジガスとして窒素又は水素ガスを導入管から基板に向
けて吹き付ける。基板の上に軽く乗っていたパ−テイク
ルはガスの力で基板面から排除される。基板面が清浄化
される。この操作は搬送室3を大気圧にした状態で行
う。
【0019】搬送室3は独自の真空排気装置を持つ、搬
送室3の下端のガス出口17がこの真空排気装置につな
がっている。ガス出口17は逆止弁16を有しこれを通
ってガスが搬送室3から排出される。
【0020】基板を覆うカバ−18は、ガスを導入する
ことにより舞い上がってくるパ−テイクルが再び基板の
上に乗らないようにするものである。カバ−18と基板
10の間隙は数mm〜数cmになるようにする。ベロ−
ズ15が途中にあって、カバ−だけを特別な昇降機構
(図示せず)で昇降している。清浄化操作が終わればカ
バ−を引き上げる。
【0021】これはベロ−ズと昇降機構を用いてカバ−
のみを上下させるものを示している。しかし、ベロ−ズ
を用いず、ガス導入管12の全体を上昇下降させるよう
にしても良い。
【0022】
【発明の効果】本発明は、気相成長装置の反応炉1とロ
−ドロック室2の間に別異の空間をもうけ、ここで基板
の上に清浄ガスを吹き付けてパ−テイクルを吹き飛ばす
ようにしている。ために基板の上に載っていたパ−テイ
クルがなくなり基板が清浄化される。基板を反応炉1に
入れて気相反応をさせ薄膜を形成すると欠陥のない高品
質の薄膜を得ることができる。後の工程に悪影響を及ぼ
すことがない。また欠陥のない薄膜ができるのでデバイ
スを作成した時の歩留りを高めることができる。単に清
浄ガスを基板に吹き付けるのではなく、カバ−で覆って
から基板にガスを吹き付ける。ためにパ−テイクルが舞
い上がってもこれが基板の上に付くことがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る気相成長装置の全体の概
略断面図。
【図2】図1のカバ−と基板の近傍の拡大図。
【図3】従来例に係る気相成長装置の概略断面図。
【符号の説明】
1 反応炉 2 ロ−ドロック室 3 搬送室 4 サセプタ 5 RFコイル 6 原料ガス導入口 7 ガス排出口 8 カセット 9 フォ−ク 10 基板 11 ゲ−トバルブ 12 ガス導入管 13 バルブ 14 フィルタ 15 ベロ−ズ 16 逆止弁 17 ガス出口 18 カバ−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空に引くことができ基板の上に気相反
    応により薄膜を形成する反応炉と、真空に引くことので
    きる基板交換のためのロ−ドロック室と、反応炉とロ−
    ドロック室の間に設けられ真空に引くことのできる搬送
    室と、ロ−ドロック室と反応炉の間で基板を運ぶことの
    できる搬送装置と、搬送室に設けられる基板の清浄化装
    置とよりなり、基板清浄化装置は搬送室を貫いて設けら
    れるガス導入管と、ガス導入管の下端に設けられる昇降
    可能なカバ−とを含み、カバ−によって基板の少なくと
    も上半分を覆った状態で基板に清浄ガスを吹き付けて基
    板上のパ−テイクルを吹き落とすことを特徴とする気相
    成長装置。
JP13384293A 1993-05-11 1993-05-11 気相成長装置 Pending JPH06326036A (ja)

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JP13384293A JPH06326036A (ja) 1993-05-11 1993-05-11 気相成長装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103515546A (zh) * 2013-10-24 2014-01-15 四川虹视显示技术有限公司 一种oled基板切割保护装置及切割方法
JP2021005629A (ja) * 2019-06-26 2021-01-14 株式会社アルバック プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
WO2021252213A1 (en) * 2020-06-10 2021-12-16 Kla Corporation Localized purge module for substrate handling

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