JPH06310419A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH06310419A
JPH06310419A JP12339493A JP12339493A JPH06310419A JP H06310419 A JPH06310419 A JP H06310419A JP 12339493 A JP12339493 A JP 12339493A JP 12339493 A JP12339493 A JP 12339493A JP H06310419 A JPH06310419 A JP H06310419A
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JP
Japan
Prior art keywords
developing solution
processed
substrate
treated
liquid crystal
Prior art date
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Pending
Application number
JP12339493A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuyuki Koyagi
康幸 小八木
Yasuhide Tanaka
康秀 田中
Tsutomu Kamiyama
勉 上山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 処理液の無駄をなくし、かつ基板の被処理面
に均一な処理を施す。 【構成】 液晶用ガラス基板1の上面である被処理面1
aは、可撓性の樹脂などで構成される現像液保持シート
2によって覆われている。液晶用ガラス基板1と現像液
保持シート2の間に位置する現像液供給ノズル3、現像
液回収ノズル4は、それぞれ現像液5を吐出し、吸引回
収する。はじめに現像液供給ノズル3が現像液5を吐出
しつつ、被処理面1aの一端から他の一端へと水平方向
に移動する。被処理面1aの全体が現像液保持シート2
によって覆われているために、供給された現像液5は、
表面張力の作用により被処理面1aの全面にわたって均
一に、しかも無駄の無い十分に薄い所定の厚さをもって
保持される。その後、現像液回収ノズル4が現像液5を
吸引回収しつつ同様に移動する。 【効果】 処理液の無駄がなく、しかも被処理面全体に
均一な処理が施される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば液晶用ガラス
基板などの基板の被処理面に、現像液などの処理液を塗
布して、現像その他の所定の処理を施す基板処理装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】半導体、液晶などの製造工程において
は、半導体ウエハ、液晶用ガラス基板などの処理対象と
なる基板に、各種の処理液を用いた多様な処理が施され
る。例えば、基板の被処理面にレジストが塗布され所定
のパターンで露光が施された後に、現像液が塗布される
ことにより現像処理が行われる。また、基板の被処理面
にエッチング液を供給して被処理面のエッチングが行わ
れる。
【0003】所定の処理液を塗布して基板の被処理面に
所定の処理を行う際には、処理液が被処理面の全体にわ
たって均等に塗布される必要がある。このため、例えば
特公昭60−53307号公報では、基板を囲み基板の
被処理面との間に所定の間隙を有するリングを基板の周
縁近傍に設け、リング内に現像液を保持する基板現像装
置が開示されている。この装置では、リングによって基
板の被処理面の上に所定の厚さを有する膜状に現像液が
保持されるので、基板の被処理面の全面に亘って現像液
が均一に保持される効果が得られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来技術では一定以上の厚さの現像液を保持する必要があ
るので、現像液が不必要に多く使用されるという欠点を
有している。大量の基板を処理する半導体製造工程或い
は液晶製造工程などには、このことは現像液の多大なロ
スにつながる。
【0005】この発明は、従来の技術が有する上記の欠
点を解消することを目指したもので、必要十分な処理液
を基板の被処理面に均一に保持することにより、基板の
被処理面に均一な処理を施し、且つ処理液の無駄を省く
ことのできる基板処理装置を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる基板処
理装置は、基板の被処理面上に処理液を塗布して、当該
被処理面に処理を行う基板処理装置であって、前記被処
理面上に処理液を供給する処理液供給手段と、前記被処
理面を覆うことにより、前記被処理面との間に前記処理
液を浸潤させて保持する処理液保持手段と、を備える。
【0007】
【作用】この発明の基板処理装置では、基板の被処理面
を処理液保持手段が覆うことによって、表面張力の作用
で処理液が基板の被処理面全体に浸潤する。このため、
基板の被処理面に保持される処理液は小量であり、しか
も被処理面の全面に均一に保持される。
【0008】
【実施例】<第1実施例>
【0009】図1は、第1の実施例における基板処理装
置の構造と動作を示す説明図である。はじめに図1
(a)にもとづいてこの装置の構造について説明する。
この基板処理装置は液晶用ガラス角型基板の現像装置で
あって、処理の対象である角型の液晶用ガラス基板(基
板)1が、図示しない水平に回転する回転台の上に水平
に載置されている。液晶用ガラス基板1の上面すなわち
被処理面1aは、現像液保持シート(処理液保持手段)
2によって覆われている。現像液保持シート2は例えば
可撓性の樹脂あるいはステンレス鋼で構成され、柔軟に
変形し得る厚さと、液晶用ガラス基板1の被処理面1a
の全面を覆う広さとを有している。
【0010】被処理面と現像液保持シート2との間に現
像液供給ノズル(処理液供給手段)3と現像液回収ノズ
ル4が並んで設けられている。現像液供給ノズル3は線
状の現像液噴出孔を備えており、この噴出孔から現像液
(処理液)を被処理面1aに向かって吐出する。現像液
回収ノズル4は同じく線状の吸引孔を備えており、この
吸引孔から被処理面1a上の現像液を吸引する。これら
の噴出孔および吸引孔は、被処理面1aの1方向の全幅
以上の長さを有している。現像液供給ノズル3及び現像
液回収ノズル4は、現像液供給ノズル3及び現像液回収
ノズル4の長手方向に垂直な水平方向に移動が可能であ
る。これらのノズルが被処理面1aの一端から他の一端
にわたって水平移動を行うのにともなって、噴出孔およ
び吸引孔は被処理面1aに沿ってその全面を走査する。
【0011】つぎに図1(b)〜図1(e)をもとに、
この装置の動作について説明する。まず現像液供給ノズ
ル3が現像液5の吐出を開始する。その後現像液供給ノ
ズル3は、現像液5の吐出を継続しつつ、被処理面1a
の一端から他端へと水平方向に移動する(図1
(b))。現像液供給ノズル3の移動が完了すると同時
に、現像液5の吐出は停止する。移動が完了した時点で
は、現像液5は被処理面1aの全面に供給されている
(図1(c))。被処理面1aの全体が現像液保持シー
ト2によって覆われているために、供給された現像液5
は、表面張力の作用により被処理面1aの全面にわたっ
て均一に、しかも無駄の無い十分に薄い所定の厚さをも
って保持される。この状態を所定時間にわたって維持す
ることにより、被処理面1a上に所定の処理が施され
る。
【0012】所定の処理が終了すると、まず現像液回収
ノズル4が吸引を開始する。その後現像液回収ノズル4
は、現像液5を吸引回収しつつ被処理面1aの一端から
他端へと、現像液供給ノズル3の後を追うように水平方
向に移動する(図1(d))。現像液回収ノズル4は、
移動を完了すると同時に吸引を停止する。移動が完了し
たときには、保持されていた現像液5は被処理面1aの
全体にわたって回収されている(図1(e))。
【0013】その後、好ましくは現像液の除去を完全に
行うために、被処理面1aの洗浄が施される。洗浄を行
うには、まず被処理面1aを覆っている現像液保持シー
ト2が除去された後、被処理面1a上に洗浄液が供給さ
れる。このとき、図示しない回転台が回転することによ
り、液晶用ガラス基板1が水平回転する。この水平回転
にともなって、被処理面1aに残留する現像液が、洗浄
液とともに遠心力の作用で除去される。
【0014】この実施例の装置では、使用済みの現像液
が現像液回収ノズル4によって回収されるので、現像液
を再利用することも可能である。すなわち、この装置は
現像液の無駄を更に省くことができる利点を有してい
る。
【0015】<第2実施例>
【0016】図2は、もう1つの実施例における液晶用
ガラス基板の現像装置の構造を示す説明図である。液晶
用ガラス基板1の被処理面1aの全体を覆っている現像
液保持メッシュ板(処理液保持手段)6は、多孔質のメ
ッシュ板であって、例えばステンレス鋼製の網サッシで
構成される。現像液供給ノズル3および現像液回収ノズ
ル4は現像液保持メッシュ板6の上に配置される。第1
実施例の現像装置と同様に、これらのノズルは現像液を
吐出または吸引しつつ水平移動を行う。吐出された現像
液は、現像液保持メッシュ板6のメッシュ孔を通して、
被処理面1aと現像液保持メッシュ板6の間に透過す
る。被処理面1aの全体が現像液保持メッシュ板6によ
って覆われているために、被処理面1a上に透過した現
像液は、表面張力の作用により被処理面1aの全面にわ
たって均一に、しかも無駄の無い十分に薄い所定の厚さ
をもって保持される。使用済みの現像液は、現像液保持
メッシュ板6のメッシュ孔を通して、移動する現像液回
収ノズル4へ回収される。
【0017】<第3実施例>
【0018】図3は、更にもう1つの実施例における液
晶用ガラス基板の現像装置の構造を示す説明図である。
この装置では、現像液保持シート2の一端は現像液供給
ノズル3に固定され、他端は回転自在の円筒形状の巻取
部材7に固定されている。前述の第1実施例と同様に、
現像液保持シート2は例えば可撓性の樹脂で構成され、
柔軟に変形し得る厚さと、液晶用ガラス基板1の被処理
面1aの全面を覆う広さとを有している。現像液供給ノ
ズル3が現像液を吐出しつつ水平移動を行うのにともな
って、現像液保持シート2は巻取部材7から繰り出さ
れ、被処理面1a上に展開される。現像液供給ノズル3
が移動を完了したときには、現像液保持シート2は被処
理面1a全体を覆っている。このため現像液供給ノズル
3から被処理面1a上に供給された現像液は、表面張力
の作用により被処理面1aの全面にわたって均一に、し
かも無駄の無い十分に薄い所定の厚さをもって保持され
る。現像が終了すると、現像液回収ノズル4が、使用済
みの現像液を吸引回収しつつ水平移動する。その後、新
たな液晶用ガラス基板1の処理を開始する前に、現像液
供給ノズル3および現像液回収ノズル4は、図3に示す
初期の位置に復帰する。このとき、巻取部材7が回転し
て現像液保持シート2を巻取る。
【0019】<第4実施例>
【0020】図4は、更にもう1つの実施例における液
晶用ガラス基板の現像装置の構造と動作を示す説明図で
ある。図4(a)に示すように、この実施例では現像液
保持メッシュ板6の上に重ねて平坦な天板8が設置され
ている。現像液保持メッシュ板6は、第2実施例と同様
に多孔質のメッシュ板であって、例えばステンレス鋼製
の網サッシで構成される。現像液保持メッシュ板6およ
び天板8は、ともに液晶用ガラス基板1の被処理面1a
を全面にわたって覆い得る広さを有しており、被処理面
1aの上方において鉛直方向に移動可能である。
【0021】現像を行うには、まず現像液保持メッシュ
板6と天板8とを互いに近接させた状態で図示しない現
像液溜めに溜められた現像液の中に浸す。その結果、現
像液が表面張力の作用により、現像液保持メッシュ板6
と天板8との間に浸潤する。現像液を保持した現像液保
持メッシュ板6と天板8は、図示しない回転台に載置さ
れる液晶用ガラス基板1の上方まで一体で移動する(図
4(b))。つづいて、現像液保持メッシュ板6と天板
8は、現像液保持メッシュ板6が被処理面1aに軽く接
触するまで、同じく一体で下降する(図4(c))。そ
の後、天板8を下方へ押し付ける。これにより、現像液
保持メッシュ板6と天板8の間に保持されていた現像液
5が、現像液保持メッシュ板6が有するメッシュ孔を通
過して被処理面1a上へにじみ出る(図4(e))。現
像に要する所定時間にわたって、この状態を維持する。
現像液保持メッシュ板6が被処理面1aの全面を覆って
いるために、現像液が表面張力の作用により被処理面1
aの全面にわたって均一に、しかも無駄の無い十分に薄
い所定の厚さをもって保持される。
【0022】現像が終了すると、天板8に加えられてい
た押圧力が解放される。このとき、被処理面1aへにじ
み出ていた現像液5の相当部分が現像液保持メッシュ板
6へ回収される。その後、現像液保持メッシュ板6と天
板8は、互いに接触したまま一体で上方へ移動する。被
処理面1aに残留する現像液5は、第1実施例と同様に
洗浄および遠心除去される。
【0023】<変形例>
【0024】(1)上述の各実施例において、被処理面
1a上に現像液5が保持されている状態で、図示しない
回転台を振動的に微小回動させることにより、液晶用ガ
ラス基板1を現像液保持シート2または現像液保持メッ
シュ板6と相対的に微小回動させてもよい。このことに
より、現像液5が被処理面上で撹拌され、現像処理の進
行が加速される。液晶用ガラス基板1を微小回動させる
代わりに、現像液保持シート2または現像液保持メッシ
ュ板6を微小回動させてもよい。
【0025】(2)液晶用ガラス基板1が載置される回
転台の中央部を周辺に対して凹状とすることにより、液
晶用ガラス基板1を凹状にわずかにたわませて保持して
もよい。これにより、液晶用ガラス基板1の周辺部にお
いて、現像液保持シート2または現像液保持メッシュ6
との間隔が小さくなるので、現像液5の流出をより効果
的に防止できる。
【0026】(3)以上の実施例では、基板現像装置の
例を示したが、この発明は基板エッチング装置の他、処
理液を使用して基板の被処理面に所定の処理を施す装置
一般に実施が可能である。
【0027】
【発明の効果】この発明における基板処理装置では、基
板の被処理面を処理液保持手段が覆うことによって、表
面張力の作用で処理液が基板の被処理面全体に浸潤する
ので、小量の処理液が被処理面の全面に均一に保持され
る。このため、この処理装置によって、基板の被処理面
に均一な処理を施すことができ、しかも処理液の無駄を
省くことができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例における基板処理装置
の説明図である。
【図2】この発明の第2の実施例における基板処理装置
の説明図である。
【図3】この発明の第3の実施例における基板処理装置
の説明図である。
【図4】この発明の第4の実施例における基板処理装置
の説明図である。
【符号の説明】
1 液晶用ガラス基板(基板) 1a 被処理面 2 現像液保持シート(処理液保持手段) 3 現像液供給ノズル(処理液供給手段) 4 現像液回収ノズル 5 現像液(処理液) 6 現像液保持メッシュ板(処理液保持手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上山 勉 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の被処理面上に処理液を塗布して、
    当該被処理面の処理を行う基板処理装置であって、 前記被処理面上に処理液を供給する処理液供給手段と、 前記被処理面を覆うことにより、前記被処理面との間に
    前記処理液を浸潤させて保持する処理液保持手段と、 を備える基板処理装置。
JP12339493A 1993-04-26 1993-04-26 基板処理装置 Pending JPH06310419A (ja)

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JP12339493A JPH06310419A (ja) 1993-04-26 1993-04-26 基板処理装置

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JP12339493A JPH06310419A (ja) 1993-04-26 1993-04-26 基板処理装置

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JPH06310419A true JPH06310419A (ja) 1994-11-04

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100488930B1 (ko) * 1997-12-11 2005-10-26 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 현상 장비의 현상액 및 탈이온수 도포 장치
WO2005112077A1 (ja) * 2004-05-18 2005-11-24 Tokyo Electron Limited 現像装置及び現像方法

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