JPH06295470A - 光ディスク - Google Patents
光ディスクInfo
- Publication number
- JPH06295470A JPH06295470A JP5105148A JP10514893A JPH06295470A JP H06295470 A JPH06295470 A JP H06295470A JP 5105148 A JP5105148 A JP 5105148A JP 10514893 A JP10514893 A JP 10514893A JP H06295470 A JPH06295470 A JP H06295470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- protective film
- optical disc
- film
- optical disk
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスクにおいて、高温多湿の環境下にお
いても反りの発生を押さえることが出来るようにし、そ
れにより、経時変化の少ない、信頼性の高い、高密度用
に適した光ディスクを提供する。 【構成】 紫外線硬化樹脂からなる保護膜３を有する光
ディスク１０において、前記保護膜３はその厚さとその
ヤング率との積の値を１．０ｋｇ／ｍｍ以下に形成し
た。
いても反りの発生を押さえることが出来るようにし、そ
れにより、経時変化の少ない、信頼性の高い、高密度用
に適した光ディスクを提供する。 【構成】 紫外線硬化樹脂からなる保護膜３を有する光
ディスク１０において、前記保護膜３はその厚さとその
ヤング率との積の値を１．０ｋｇ／ｍｍ以下に形成し
た。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに係わり、
特に高密度用に適した光ディスクに関するものである。
特に高密度用に適した光ディスクに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】以下、添付図面を参照して、従来の技術
を説明する。図４は、従来例の光ディスクを示す拡大断
面図である。図４において、２０は光ディスクを、１は
ポリカ−ボネ−ト樹脂基板を、１ａは信号ピットを、２
は反射膜を、５は保護膜をそれぞれ示す。
を説明する。図４は、従来例の光ディスクを示す拡大断
面図である。図４において、２０は光ディスクを、１は
ポリカ−ボネ−ト樹脂基板を、１ａは信号ピットを、２
は反射膜を、５は保護膜をそれぞれ示す。
【０００３】従来の光ディスクの概略の構成を説明す
る。スタンパによる射出成型によって成型されたポリカ
−ボネ−ト樹脂基板１上には、信号ピット１ａが形成さ
れている。この信号ピット１ａ側の光ディスク２０の面
上には、レ−ザ光による信号読取りを可能にするための
アルミニウム等からなる反射膜２ないしは記録層が真空
成膜法によって形成されており、更にその上に、反射膜
２ないしは記録層の酸化防止または外部からの傷付き防
止のために、紫外線硬化樹脂（以下、ＵＶ樹脂と言う）
等からなる５〜１０μｍ程度の厚さを有する保護膜３が
形成されている。また、光ディスク２０には、ここには
図示されていないが、信号再生装置に装着するためのセ
ンタ−穴が設けられている。
る。スタンパによる射出成型によって成型されたポリカ
−ボネ−ト樹脂基板１上には、信号ピット１ａが形成さ
れている。この信号ピット１ａ側の光ディスク２０の面
上には、レ−ザ光による信号読取りを可能にするための
アルミニウム等からなる反射膜２ないしは記録層が真空
成膜法によって形成されており、更にその上に、反射膜
２ないしは記録層の酸化防止または外部からの傷付き防
止のために、紫外線硬化樹脂（以下、ＵＶ樹脂と言う）
等からなる５〜１０μｍ程度の厚さを有する保護膜３が
形成されている。また、光ディスク２０には、ここには
図示されていないが、信号再生装置に装着するためのセ
ンタ−穴が設けられている。
【０００４】次に、光ディスクにおける反り角について
説明する。図２は、光ディスクにおける反り角を説明す
るための概念図である。図２において、符号は、上述の
従来例の場合と共通なものは、同一符号を付けて、その
説明を省略する。４はセンタ−穴を、Ｏ−Ｏ′はセンタ
−穴の回転中心軸を、ｍはＯ−Ｏ′に垂直な光ディスク
に接する面を、Ｉinはレ−ザ光の入射光路を、Ｉout は
レ−ザ光の反射光路を、θはレ−ザ光の入射光路と反射
光路とのなす角をそれぞれ示す。
説明する。図２は、光ディスクにおける反り角を説明す
るための概念図である。図２において、符号は、上述の
従来例の場合と共通なものは、同一符号を付けて、その
説明を省略する。４はセンタ−穴を、Ｏ−Ｏ′はセンタ
−穴の回転中心軸を、ｍはＯ−Ｏ′に垂直な光ディスク
に接する面を、Ｉinはレ−ザ光の入射光路を、Ｉout は
レ−ザ光の反射光路を、θはレ−ザ光の入射光路と反射
光路とのなす角をそれぞれ示す。
【０００５】ここには図示されていないレ−ザ装置が、
光ディスク２０の下部に配置されている。このレ−ザ装
置から放射されたレ−ザ光の入射光路Ｉinは、光ディス
ク２０のセンタ−穴６の回転中心軸Ｏ−Ｏ′に平行であ
る。レ−ザ光は、ポリカ−ボネ−ト樹脂基板１中を通過
して、信号ピット１ａ上に形成されている反射膜２まで
達し、ここで反射される。そして、再びポリカ−ボネ−
ト樹脂基板１中を通過して、光ディスク２０の外部に出
る。そこには、図示されていない検出器が配置されてお
り、このレ−ザ光の位置を検出する。これにより、レ−
ザ光の反射光路Ｉout が決定され、レ−ザ光の入射光路
と反射光路とのなす角θ（反り角）が測定される。これ
が、光ディスクにおける反り角θである。
光ディスク２０の下部に配置されている。このレ−ザ装
置から放射されたレ−ザ光の入射光路Ｉinは、光ディス
ク２０のセンタ−穴６の回転中心軸Ｏ−Ｏ′に平行であ
る。レ−ザ光は、ポリカ−ボネ−ト樹脂基板１中を通過
して、信号ピット１ａ上に形成されている反射膜２まで
達し、ここで反射される。そして、再びポリカ−ボネ−
ト樹脂基板１中を通過して、光ディスク２０の外部に出
る。そこには、図示されていない検出器が配置されてお
り、このレ−ザ光の位置を検出する。これにより、レ−
ザ光の反射光路Ｉout が決定され、レ−ザ光の入射光路
と反射光路とのなす角θ（反り角）が測定される。これ
が、光ディスクにおける反り角θである。
【０００６】ところで、反り角の測定は、実際には、Ｉ
ＳＯ／ＩＥＣ １００８９において規定されている反り
角のレベルを測定できる専用の測定装置を用いて行われ
ている。
ＳＯ／ＩＥＣ １００８９において規定されている反り
角のレベルを測定できる専用の測定装置を用いて行われ
ている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の保護
膜は、紫外線照射による硬化後のヤング率の値が２００
〜３００ｋｇ／ｍｍ2 であるＵＶ樹脂を５〜１０μｍ程
度の厚さに塗布することによって形成されているが、Ｕ
Ｖ樹脂は、紫外線照射による硬化の際、収縮を伴う。ま
た、ＵＶ樹脂は、高温多湿の環境下に置かれると、温度
変化による収縮や、吸排水による膨脹収縮を起こす。そ
のため、光ディスクは、高温多湿の環境下では、反り角
が大きくなる。
膜は、紫外線照射による硬化後のヤング率の値が２００
〜３００ｋｇ／ｍｍ2 であるＵＶ樹脂を５〜１０μｍ程
度の厚さに塗布することによって形成されているが、Ｕ
Ｖ樹脂は、紫外線照射による硬化の際、収縮を伴う。ま
た、ＵＶ樹脂は、高温多湿の環境下に置かれると、温度
変化による収縮や、吸排水による膨脹収縮を起こす。そ
のため、光ディスクは、高温多湿の環境下では、反り角
が大きくなる。
【０００８】この保護膜の収縮によって引き起こされる
光ディスクの反りを軽減するため、現在、あらかじめ、
保護膜による反りとは反対の向きに反らせて、光ディス
クの基板を成型することによって、保護膜による反りが
起こっても、結果的に反りの少ない光ディスクを得る方
法が採られている。この方法によれば、通常の環境下で
は、確かに反り角は少なくなるが、高温多湿の環境下で
の反り角を小さくする事は出来ない。
光ディスクの反りを軽減するため、現在、あらかじめ、
保護膜による反りとは反対の向きに反らせて、光ディス
クの基板を成型することによって、保護膜による反りが
起こっても、結果的に反りの少ない光ディスクを得る方
法が採られている。この方法によれば、通常の環境下で
は、確かに反り角は少なくなるが、高温多湿の環境下で
の反り角を小さくする事は出来ない。
【０００９】ディスク面内の反り角が大きくなると、信
号再生用のピックアップがディスク面に対して定められ
た距離を保持して追従することができなくなり、その結
果、信号の再生が正しく行われなくなる。特に、高密度
用の光ディスクの場合、その影響は著しい。一方、ディ
スク面内の反り角が大きいまま、高密度用の光ディスク
に対応するには、信号再生用のピックアップの追従性を
改善する方法もあるが、この方法を採用すると、ピック
アップが非常に高価なものとなってしまう。
号再生用のピックアップがディスク面に対して定められ
た距離を保持して追従することができなくなり、その結
果、信号の再生が正しく行われなくなる。特に、高密度
用の光ディスクの場合、その影響は著しい。一方、ディ
スク面内の反り角が大きいまま、高密度用の光ディスク
に対応するには、信号再生用のピックアップの追従性を
改善する方法もあるが、この方法を採用すると、ピック
アップが非常に高価なものとなってしまう。
【００１０】そこで、本発明は、光ディスクにおいて、
高温多湿の環境下においても反りの発生を押さえること
が出来るようにし、それにより、経時変化の少ない、信
頼性の高い、高密度用に適した光ディスクを提供する事
を目的とする。
高温多湿の環境下においても反りの発生を押さえること
が出来るようにし、それにより、経時変化の少ない、信
頼性の高い、高密度用に適した光ディスクを提供する事
を目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクは、
紫外線硬化樹脂からなる保護膜を有する光ディスクにお
いて、前記保護膜はその厚さとそのヤング率との積の値
を１．０ｋｇ／ｍｍ以下に形成した事により、上述の目
的を達成するものである。
紫外線硬化樹脂からなる保護膜を有する光ディスクにお
いて、前記保護膜はその厚さとそのヤング率との積の値
を１．０ｋｇ／ｍｍ以下に形成した事により、上述の目
的を達成するものである。
【００１２】
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の一実施例
を説明する。図１は、本発明の光ディスクの一実施例を
示す拡大断面図である。図１において、１０は光ディス
クを、３はＵＶ樹脂をそれぞれ示す。なお、符号は、上
述の従来例と共通するものは、同一符号を付けて、その
説明を省略する。
を説明する。図１は、本発明の光ディスクの一実施例を
示す拡大断面図である。図１において、１０は光ディス
クを、３はＵＶ樹脂をそれぞれ示す。なお、符号は、上
述の従来例と共通するものは、同一符号を付けて、その
説明を省略する。
【００１３】まず、本発明の光ディスクの一実施例の構
成を説明する。スタンパによる射出成型によって成形さ
れた透明なポリカ−ボネ−ト樹脂基板１上には、信号ピ
ット１ａが形成されている。この信号ピット１ａ側の光
ディスク１０の面上には、レ−ザ光による信号読取りを
可能にするため、スパッタリング法等より約１０００オ
ングストロ−ムの膜厚を有するアルミニュウムからなる
反射膜２が形成されている。更にこの反射膜２の上に
は、アルミニュウムの酸化防止と信号ピット１ａの損傷
防止のために、スピンコ−ト法等により５〜１０μｍの
膜厚を有するアクリル系のＵＶ樹脂からなる保護膜３が
形成されている。また、光ディスク１０には、ここには
図示されていない信号再生装置に装着するためのセンタ
−穴が設けられている。
成を説明する。スタンパによる射出成型によって成形さ
れた透明なポリカ−ボネ−ト樹脂基板１上には、信号ピ
ット１ａが形成されている。この信号ピット１ａ側の光
ディスク１０の面上には、レ−ザ光による信号読取りを
可能にするため、スパッタリング法等より約１０００オ
ングストロ−ムの膜厚を有するアルミニュウムからなる
反射膜２が形成されている。更にこの反射膜２の上に
は、アルミニュウムの酸化防止と信号ピット１ａの損傷
防止のために、スピンコ−ト法等により５〜１０μｍの
膜厚を有するアクリル系のＵＶ樹脂からなる保護膜３が
形成されている。また、光ディスク１０には、ここには
図示されていない信号再生装置に装着するためのセンタ
−穴が設けられている。
【００１４】次に、ＵＶ樹脂の保護膜の検討結果につい
て述べる。上述の、信号ピットを有するポリカ−ボネ−
ト樹脂基板上に形成されている反射膜の上に、数種のヤ
ング率の異なるＵＶ樹脂からなる保護膜を、スピンコ−
ト法により、膜厚をパラメ−タとして形成した。このよ
うにして作製したこれらの光ディスクについて、保護膜
形成前と環境試験終了後とにおいて、反り角を測定し、
その最大変化量を得た。その結果を表１に示す。
て述べる。上述の、信号ピットを有するポリカ−ボネ−
ト樹脂基板上に形成されている反射膜の上に、数種のヤ
ング率の異なるＵＶ樹脂からなる保護膜を、スピンコ−
ト法により、膜厚をパラメ−タとして形成した。このよ
うにして作製したこれらの光ディスクについて、保護膜
形成前と環境試験終了後とにおいて、反り角を測定し、
その最大変化量を得た。その結果を表１に示す。
【００１５】
【表１】
【００１６】ここで、反り角は、光ディスクのそれぞれ
について、半径５５ｍｍにおける一周にわたる反り角を
測定し、その平均値を示す。環境試験は、所定の保護膜
を形成後、温度５５℃、湿度９５％ＲＨにて９６時間放
置する条件で行った。表１の結果は、図３に示される。
図３は、本発明の光ディスクの一実施例における反り角
変化量と（ヤング率×膜厚）との関係を示すグラフ図で
ある。図３中の●等の記号は、それぞれＵＶ樹脂のヤン
グ率が同一であるグル−プを表している。
について、半径５５ｍｍにおける一周にわたる反り角を
測定し、その平均値を示す。環境試験は、所定の保護膜
を形成後、温度５５℃、湿度９５％ＲＨにて９６時間放
置する条件で行った。表１の結果は、図３に示される。
図３は、本発明の光ディスクの一実施例における反り角
変化量と（ヤング率×膜厚）との関係を示すグラフ図で
ある。図３中の●等の記号は、それぞれＵＶ樹脂のヤン
グ率が同一であるグル−プを表している。
【００１７】光ディスクの一例であるＣＤの場合、現状
では、反り角の規格値は、±０．６°であるが、高密度
用の光ディスクの場合には、±０．２°が要求され、こ
の時、保護膜形成前と環境試験後との反り角変化量は±
０．１°となる。図３によって、保護膜を形成するＵＶ
樹脂の（ヤング率×膜厚）の値が１．０ｋｇ／ｍｍ以下
であれば、反り角変化量は±０．１°の範囲内である。
では、反り角の規格値は、±０．６°であるが、高密度
用の光ディスクの場合には、±０．２°が要求され、こ
の時、保護膜形成前と環境試験後との反り角変化量は±
０．１°となる。図３によって、保護膜を形成するＵＶ
樹脂の（ヤング率×膜厚）の値が１．０ｋｇ／ｍｍ以下
であれば、反り角変化量は±０．１°の範囲内である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クによれば、紫外線硬化樹脂からなる保護膜を有する光
ディスクにおいて、前記保護膜はその厚さとそのヤング
率との積の値を１．０ｋｇ／ｍｍ以下に形成した事によ
り、光ディスクにおいて、高温多湿の環境下においても
反りの発生を押さえることが出来るようにし、それによ
り、経時変化の少ない、信頼性の高い、高密度用に適し
た光ディスクを提供する事が出来る。
クによれば、紫外線硬化樹脂からなる保護膜を有する光
ディスクにおいて、前記保護膜はその厚さとそのヤング
率との積の値を１．０ｋｇ／ｍｍ以下に形成した事によ
り、光ディスクにおいて、高温多湿の環境下においても
反りの発生を押さえることが出来るようにし、それによ
り、経時変化の少ない、信頼性の高い、高密度用に適し
た光ディスクを提供する事が出来る。
【図１】本発明の光ディスクの一実施例を示す拡大断面
図である。
図である。
【図２】光ディスクにおける反り角を説明するための概
念図である。
念図である。
【図３】本発明の光ディスクの一実施例における反り角
変化量と（ヤング率×膜厚）との関係を示すグラフ図で
ある。
変化量と（ヤング率×膜厚）との関係を示すグラフ図で
ある。
【図４】従来例の光ディスクを示す拡大断面図である。
【符号の説明】 ３ 保護膜 １０ 光ディスク
Claims (1)
- 【請求項１】紫外線硬化樹脂からなる保護膜を有する光
ディスクにおいて、 前記保護膜はその厚さとそのヤング率との積の値を１．
０ｋｇ／ｍｍ以下に形成した事を特徴とする光ディス
ク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5105148A JPH06295470A (ja) | 1993-04-07 | 1993-04-07 | 光ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5105148A JPH06295470A (ja) | 1993-04-07 | 1993-04-07 | 光ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06295470A true JPH06295470A (ja) | 1994-10-21 |
Family
ID=14399646
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5105148A Pending JPH06295470A (ja) | 1993-04-07 | 1993-04-07 | 光ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06295470A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0810591A1 (en) * | 1996-05-31 | 1997-12-03 | Victor Company Of Japan, Limited | Optical disk |
| JP2007242237A (ja) * | 1999-02-24 | 2007-09-20 | Sharp Corp | 光情報記録媒体および光情報記録媒体の製造方法 |
| CN100440350C (zh) * | 2003-08-05 | 2008-12-03 | 松下电器产业株式会社 | 光盘及其制造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02285534A (ja) * | 1989-04-27 | 1990-11-22 | Canon Inc | 光記録媒体 |
-
1993
- 1993-04-07 JP JP5105148A patent/JPH06295470A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02285534A (ja) * | 1989-04-27 | 1990-11-22 | Canon Inc | 光記録媒体 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0810591A1 (en) * | 1996-05-31 | 1997-12-03 | Victor Company Of Japan, Limited | Optical disk |
| US6037099A (en) * | 1996-05-31 | 2000-03-14 | Victor Company Of Japan Ltd. | Optical disk |
| JP2007242237A (ja) * | 1999-02-24 | 2007-09-20 | Sharp Corp | 光情報記録媒体および光情報記録媒体の製造方法 |
| JP4545779B2 (ja) * | 1999-02-24 | 2010-09-15 | シャープ株式会社 | 光情報記録媒体および光情報記録媒体の製造方法 |
| CN100440350C (zh) * | 2003-08-05 | 2008-12-03 | 松下电器产业株式会社 | 光盘及其制造方法 |
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