JPH06292662A - Ｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒｉ装置Info
- Publication number
- JPH06292662A JPH06292662A JP5084592A JP8459293A JPH06292662A JP H06292662 A JPH06292662 A JP H06292662A JP 5084592 A JP5084592 A JP 5084592A JP 8459293 A JP8459293 A JP 8459293A JP H06292662 A JPH06292662 A JP H06292662A
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- Japan
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- temperature
- scan
- magnetic field
- gradient magnetic
- field coil
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 スキャン開始以前にスキャン実行中の勾配磁
場コイル温度を予想してアラームを出力することが可能
なＭＲＩ装置を実現する。 【構成】 高周波回転磁場を与えられて励起された原子
核から放出されるＲＦエネルギーを検出するＭＲＩ装置
において、勾配磁場コイル４０の温度を検出する温度検
出手段４１と、ＭＲＩのスキャンためのスキャンパラメ
ータが設定されるスキャンパラメータ設定手段１１と、
スキャンパラメータ設定手段１１により設定されたスキ
ャンパラメータ及び温度検出手段４１で検出された勾配
磁場コイル４０の温度を参照してスキャン実行時の勾配
磁場コイル４０の温度を予想する温度予想手段１２と、
温度予想手段１２で予想されたスキャン実行時の温度に
よりスキャン実行についてのアラームを出力するアラー
ム出力手段１３とを備えたことを特徴とするＭＲＩ装
置。
場コイル温度を予想してアラームを出力することが可能
なＭＲＩ装置を実現する。 【構成】 高周波回転磁場を与えられて励起された原子
核から放出されるＲＦエネルギーを検出するＭＲＩ装置
において、勾配磁場コイル４０の温度を検出する温度検
出手段４１と、ＭＲＩのスキャンためのスキャンパラメ
ータが設定されるスキャンパラメータ設定手段１１と、
スキャンパラメータ設定手段１１により設定されたスキ
ャンパラメータ及び温度検出手段４１で検出された勾配
磁場コイル４０の温度を参照してスキャン実行時の勾配
磁場コイル４０の温度を予想する温度予想手段１２と、
温度予想手段１２で予想されたスキャン実行時の温度に
よりスキャン実行についてのアラームを出力するアラー
ム出力手段１３とを備えたことを特徴とするＭＲＩ装
置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＭＲＩ装置でのスキャン
シーケンス実行前に勾配磁場コイルの温度上昇を警告す
ることが可能なＭＲＩ装置に関する。
シーケンス実行前に勾配磁場コイルの温度上昇を警告す
ることが可能なＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＭＲＩ装置（磁気共鳴画像撮影装置）
は、核磁気共鳴（ＮＭＲ）現象を観察して被検体の断層
像を撮影する装置である。このＭＲＩにおいて、被検体
を観察するためには、被検体でのＮＭＲ現象で生じる高
周波（ＲＦ）信号を検出することによって行っている。
は、核磁気共鳴（ＮＭＲ）現象を観察して被検体の断層
像を撮影する装置である。このＭＲＩにおいて、被検体
を観察するためには、被検体でのＮＭＲ現象で生じる高
周波（ＲＦ）信号を検出することによって行っている。
【０００３】また、ＮＭＲ信号に空間的情報を付加する
ための微小な勾配磁場を用い、投影復元法や選択照射法
において、方向や面・線を選択するために使用してい
る。この勾配磁場を発生させるために、勾配磁場電源回
路よりｘ，ｙ，ｚの３軸の勾配磁場コイルに電流を与え
ている。
ための微小な勾配磁場を用い、投影復元法や選択照射法
において、方向や面・線を選択するために使用してい
る。この勾配磁場を発生させるために、勾配磁場電源回
路よりｘ，ｙ，ｚの３軸の勾配磁場コイルに電流を与え
ている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この種の勾配磁場コイ
ルは、その性質から発熱が大きな問題となる。近年、ス
キャンの高速化に伴い、発熱も更に大きくなりつつあ
る。従って、スキャンシーケンス実行中に勾配磁場コイ
ルの温度が徐々に上昇し、スキャンを実行することが困
難になることも予想される。
ルは、その性質から発熱が大きな問題となる。近年、ス
キャンの高速化に伴い、発熱も更に大きくなりつつあ
る。従って、スキャンシーケンス実行中に勾配磁場コイ
ルの温度が徐々に上昇し、スキャンを実行することが困
難になることも予想される。
【０００５】このような事態に対して、勾配磁場コイル
に温度センサを取り付けて温度測定を行い、所定の温度
まで上昇した場合にスキャンシーケンスを停止させるよ
うな装置も考えられている。
に温度センサを取り付けて温度測定を行い、所定の温度
まで上昇した場合にスキャンシーケンスを停止させるよ
うな装置も考えられている。
【０００６】この種のものは、特開平２−６１９５０号
公報や特開平４−１７６４４０号公報に記載されてい
る。しかし、このようにスキャンシーケンス途中で停止
するようなことがあると、それまでのスキャンにより得
られたデータ及び測定時間が無駄になる問題を有してい
る。
公報や特開平４−１７６４４０号公報に記載されてい
る。しかし、このようにスキャンシーケンス途中で停止
するようなことがあると、それまでのスキャンにより得
られたデータ及び測定時間が無駄になる問題を有してい
る。
【０００７】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、スキャン開始以前にスキャン実行中の
勾配磁場コイル温度を予想してアラームを出力すること
が可能なＭＲＩ装置を実現することである。
で、その目的は、スキャン開始以前にスキャン実行中の
勾配磁場コイル温度を予想してアラームを出力すること
が可能なＭＲＩ装置を実現することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記の課題は、高周波回
転磁場を与えられて励起された原子核から放出されるＲ
Ｆエネルギーを検出するＭＲＩ装置において、勾配磁場
コイルの温度を検出する温度検出手段と、ＭＲＩのスキ
ャンためのスキャンパラメータが設定されるスキャンパ
ラメータ設定手段と、スキャンパラメータ設定手段によ
り設定されたスキャンパラメータ及び温度検出手段で検
出された勾配磁場コイルの温度を参照してスキャン実行
中またはスキャン終了時の勾配磁場コイルの温度を予想
する温度予想手段と、温度予想手段で予想されたスキャ
ン実行中または終了時の温度によりスキャン実行につい
てのアラームを出力するアラーム出力手段とを備えたこ
とを特徴とするＭＲＩ装置により解決される。
転磁場を与えられて励起された原子核から放出されるＲ
Ｆエネルギーを検出するＭＲＩ装置において、勾配磁場
コイルの温度を検出する温度検出手段と、ＭＲＩのスキ
ャンためのスキャンパラメータが設定されるスキャンパ
ラメータ設定手段と、スキャンパラメータ設定手段によ
り設定されたスキャンパラメータ及び温度検出手段で検
出された勾配磁場コイルの温度を参照してスキャン実行
中またはスキャン終了時の勾配磁場コイルの温度を予想
する温度予想手段と、温度予想手段で予想されたスキャ
ン実行中または終了時の温度によりスキャン実行につい
てのアラームを出力するアラーム出力手段とを備えたこ
とを特徴とするＭＲＩ装置により解決される。
【０００９】
【作用】設定されたパラメータにより勾配磁場コイルの
温度上昇が予想され、測定された勾配磁場コイルのスキ
ャン開始前の温度と予想された温度上昇とにより、スキ
ャン中の勾配磁場コイルの温度がスキャン開始前に予想
される。この予想温度によりスキャン開始前にアラーム
が出力される。
温度上昇が予想され、測定された勾配磁場コイルのスキ
ャン開始前の温度と予想された温度上昇とにより、スキ
ャン中の勾配磁場コイルの温度がスキャン開始前に予想
される。この予想温度によりスキャン開始前にアラーム
が出力される。
【００１０】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１は本発明の一実施例のＭＲＩ装置の主
要部の概略構成を示す構成図である。この図１におい
て、スキャンパラメータ設定手段１１はスキャンに際し
ての各種パラメータの設定を行うためのものであり、予
想手段１２がスキャンパラメータより勾配磁場コイル４
０の温度上昇を予想する。アラーム出力手段１３は予想
手段１２での勾配磁場コイル４０の温度の予想結果より
アラームを出力するものである。温度検出手段４１は勾
配磁場コイル４０の温度を測定するためのものである。
に説明する。図１は本発明の一実施例のＭＲＩ装置の主
要部の概略構成を示す構成図である。この図１におい
て、スキャンパラメータ設定手段１１はスキャンに際し
ての各種パラメータの設定を行うためのものであり、予
想手段１２がスキャンパラメータより勾配磁場コイル４
０の温度上昇を予想する。アラーム出力手段１３は予想
手段１２での勾配磁場コイル４０の温度の予想結果より
アラームを出力するものである。温度検出手段４１は勾
配磁場コイル４０の温度を測定するためのものである。
【００１１】図２は本実施例のＭＲＩ装置の全体の概略
構成を示す構成図である。オペレータコンソール１０は
表示装置や入力装置を備えており、このオペレータコン
ソール１０にスキャンパラメータ設定手段１１及び予想
手段１２並びにアラーム出力手段１３を備えている。ス
キャンコントローラ２０はオペレータコンソール１０で
入力されたスキャンパラメータより、勾配磁場コイル駆
動電流信号を生成し、勾配磁場電源３０に伝える。勾配
磁場電源３０は所定のスキャンパラメータに従った勾配
磁場駆動電流を発生するものであり、この勾配磁場駆動
電流は勾配磁場コイル４０に供給される。
構成を示す構成図である。オペレータコンソール１０は
表示装置や入力装置を備えており、このオペレータコン
ソール１０にスキャンパラメータ設定手段１１及び予想
手段１２並びにアラーム出力手段１３を備えている。ス
キャンコントローラ２０はオペレータコンソール１０で
入力されたスキャンパラメータより、勾配磁場コイル駆
動電流信号を生成し、勾配磁場電源３０に伝える。勾配
磁場電源３０は所定のスキャンパラメータに従った勾配
磁場駆動電流を発生するものであり、この勾配磁場駆動
電流は勾配磁場コイル４０に供給される。
【００１２】このように構成した本実施例装置の動作を
図３のフローチャートをも参照して説明する。スキャン
開始に際して、オペレータコンソール１０に設置された
スキャンパラメータ設定手段１１を介してスキャンパラ
メータが入力される（図３ステップ１）。このスキャン
パラメータとしては、パルスシーケンスの種別を始め、
各種の設定値がある。例えば、繰り返し周期，エコー時
間，エコー数，マトリクス数，イメージング範囲、スラ
イス厚等のデータ（数値）である。
図３のフローチャートをも参照して説明する。スキャン
開始に際して、オペレータコンソール１０に設置された
スキャンパラメータ設定手段１１を介してスキャンパラ
メータが入力される（図３ステップ１）。このスキャン
パラメータとしては、パルスシーケンスの種別を始め、
各種の設定値がある。例えば、繰り返し周期，エコー時
間，エコー数，マトリクス数，イメージング範囲、スラ
イス厚等のデータ（数値）である。
【００１３】このようにしてスキャンパラメータが入力
される（図５時刻ｔ1 ）と、スキャンの開始（図５時刻
ｔ2 ）前にオペレータコンソール１０内の予想手段１２
とアラーム出力手段１３は以下の動作を行う。
される（図５時刻ｔ1 ）と、スキャンの開始（図５時刻
ｔ2 ）前にオペレータコンソール１０内の予想手段１２
とアラーム出力手段１３は以下の動作を行う。
【００１４】スキャンパラメータが入力されると、オペ
レータコンソール１０がスキャンパラメータを参照して
勾配磁場コイル４０に供給する電流パターンを算出す
る。そして、この勾配磁場コイル４０に供給される電流
パターンを参照して予想手段１２内の熱予想手段１２ａ
が実効電流Ｉrms を求め、時間予想手段１２ｂが勾配磁
場コイル４０の通電時間ｔを求める。この場合の実効電
流Ｉrms は、以下の（１）式で時刻０から時刻ＴR まで
積分したものである。
レータコンソール１０がスキャンパラメータを参照して
勾配磁場コイル４０に供給する電流パターンを算出す
る。そして、この勾配磁場コイル４０に供給される電流
パターンを参照して予想手段１２内の熱予想手段１２ａ
が実効電流Ｉrms を求め、時間予想手段１２ｂが勾配磁
場コイル４０の通電時間ｔを求める。この場合の実効電
流Ｉrms は、以下の（１）式で時刻０から時刻ＴR まで
積分したものである。
【００１５】
【数１】
【００１６】図４はスピンエコー法による場合のコイル
に供給される電流パターンの一例を示す波形図である。
ここでは、（１）がＲＦパルスを示し、（２），
（３），（４）が勾配磁場コイル４０に供給される電流
波形を示している。
に供給される電流パターンの一例を示す波形図である。
ここでは、（１）がＲＦパルスを示し、（２），
（３），（４）が勾配磁場コイル４０に供給される電流
波形を示している。
【００１７】そして、Ｑ＝ＲＩ2 でありＲは温度に依存
するので、これら実効電流Ｉrms ，温度検出手段４１が
測定した勾配磁場コイル４０の温度Ｔo 及び通電時間ｔ
より熱量予想手段１２ｃが発熱量Ｑ，発熱量Ｑによる温
度上昇ΔＴを求める（図３ステップ４）。
するので、これら実効電流Ｉrms ，温度検出手段４１が
測定した勾配磁場コイル４０の温度Ｔo 及び通電時間ｔ
より熱量予想手段１２ｃが発熱量Ｑ，発熱量Ｑによる温
度上昇ΔＴを求める（図３ステップ４）。
【００１８】更に、温度検出手段４１が測定した勾配磁
場コイル４０の現在（パラメータ入力時）の温度Ｔo 及
び発熱量Ｑによる上記の温度上昇ΔＴを参照して、スキ
ャン中の勾配磁場コイル４０の温度Ｔe を予想する（図
３ステップ５）。この温度の予想はスキャン終了時を含
むスキャン中の温度を連続的に予想するものであって
も、スキャン終了時のみの温度を予想するものであって
もよい。尚、温度検出手段４１の勾配磁場コイル４０の
温度検出は、温度センサによる場合と、後述するような
所定の電流を流すことによる間接的な温度測定の場合と
が考えられる。
場コイル４０の現在（パラメータ入力時）の温度Ｔo 及
び発熱量Ｑによる上記の温度上昇ΔＴを参照して、スキ
ャン中の勾配磁場コイル４０の温度Ｔe を予想する（図
３ステップ５）。この温度の予想はスキャン終了時を含
むスキャン中の温度を連続的に予想するものであって
も、スキャン終了時のみの温度を予想するものであって
もよい。尚、温度検出手段４１の勾配磁場コイル４０の
温度検出は、温度センサによる場合と、後述するような
所定の電流を流すことによる間接的な温度測定の場合と
が考えられる。
【００１９】ここで、勾配磁場コイル４０の温度とし
て、２種類の温度Ｔs1とＴs2とを予め定めておく。温度
Ｔs2は許容温度であり、このＴs2を超えた場合にはスキ
ャンを停止させる必要がある。一方、温度Ｔs1 は許容
温度に近い警告温度（例えばＴs2−２０＝Ｔs1とする）
であり、このＴs1を超えてＴs2に達するまではスキャン
を停止する必要はないが注意を要する温度領域である。
て、２種類の温度Ｔs1とＴs2とを予め定めておく。温度
Ｔs2は許容温度であり、このＴs2を超えた場合にはスキ
ャンを停止させる必要がある。一方、温度Ｔs1 は許容
温度に近い警告温度（例えばＴs2−２０＝Ｔs1とする）
であり、このＴs1を超えてＴs2に達するまではスキャン
を停止する必要はないが注意を要する温度領域である。
【００２０】従って、アラーム出力手段１３は、スキャ
ン中の勾配磁場コイル４０の予想温度Ｔe がどのように
なるかに応じて、必要なメッセージを出力する。このメ
ッセージはオペレータコンソール１０のディスプレイに
表示される。
ン中の勾配磁場コイル４０の予想温度Ｔe がどのように
なるかに応じて、必要なメッセージを出力する。このメ
ッセージはオペレータコンソール１０のディスプレイに
表示される。
【００２１】予想温度Ｔe の判定を行ってＴs1＜Ｔe ＜
Ｔs2であれば（図３ステップ６）、勾配磁場コイル４０
の温度についての警告メッセージを出力する（図３ステ
ップ７）。
Ｔs2であれば（図３ステップ６）、勾配磁場コイル４０
の温度についての警告メッセージを出力する（図３ステ
ップ７）。
【００２２】一方、判定の結果、Ｔe ≧Ｔs2であれば
（図３ステップ８）、スキャン中に勾配磁場コイル４０
の温度が所定の警告温度を超えることを意味するので、
スキャン不許可メッセージを出力する（図３ステップ
９）。この場合、オペレータコンソール１０にはスキャ
ン不許可のメッセージが出力される。
（図３ステップ８）、スキャン中に勾配磁場コイル４０
の温度が所定の警告温度を超えることを意味するので、
スキャン不許可メッセージを出力する（図３ステップ
９）。この場合、オペレータコンソール１０にはスキャ
ン不許可のメッセージが出力される。
【００２３】従って、この勾配磁場コイル４０の温度予
想の結果、スキャン不許可である場合以外は、オペレー
タコンソール１０の命令によりスキャンが行われる。
尚、アラーム出力手段１３より警告メッセージを受けた
オペレータコンソールは、所定の時刻ｔ2 でスキャンを
開始させる。一方、スキャン不許可のメッセージが出力
された場合は、オペレータコンソール１０はスキャンを
開始させない。
想の結果、スキャン不許可である場合以外は、オペレー
タコンソール１０の命令によりスキャンが行われる。
尚、アラーム出力手段１３より警告メッセージを受けた
オペレータコンソールは、所定の時刻ｔ2 でスキャンを
開始させる。一方、スキャン不許可のメッセージが出力
された場合は、オペレータコンソール１０はスキャンを
開始させない。
【００２４】以上のように構成することで、従来の場合
のようにスキャン途中で勾配磁場コイル４０の温度上昇
によりスキャンを停止してデータが無駄になるような事
態は発生しない。
のようにスキャン途中で勾配磁場コイル４０の温度上昇
によりスキャンを停止してデータが無駄になるような事
態は発生しない。
【００２５】図６は温度測定手段４１の動作を説明する
ための説明図である。勾配磁場コイル４０はＬ成分とＲ
成分とを有しているため、図６の回路で表すことができ
る。ここで、この勾配磁場コイル４０に電流ｉを流した
ときに、その両端に発生する電圧ｖはｖ＝Ｒｉ＋Ｌ・ｄ
ｉ／ｄｔ…（２）と表すことができる。
ための説明図である。勾配磁場コイル４０はＬ成分とＲ
成分とを有しているため、図６の回路で表すことができ
る。ここで、この勾配磁場コイル４０に電流ｉを流した
ときに、その両端に発生する電圧ｖはｖ＝Ｒｉ＋Ｌ・ｄ
ｉ／ｄｔ…（２）と表すことができる。
【００２６】従って、ある電圧Ｖ0 を印加したときの電
流ｉ（ｔ）の挙動を観察することで、（２）式の微分方
程式を解くことが可能になる。一定の定常な直流電流を
流した場合には、インダクタンスを無視することがで
き、（２）式はＶ＝Ｒｉとなる。これより抵抗Ｒを知る
ことができる。
流ｉ（ｔ）の挙動を観察することで、（２）式の微分方
程式を解くことが可能になる。一定の定常な直流電流を
流した場合には、インダクタンスを無視することがで
き、（２）式はＶ＝Ｒｉとなる。これより抵抗Ｒを知る
ことができる。
【００２７】また、一般に導体中の抵抗値Ｒはほぼ温度
の一次関数になり、０°Ｃのときの抵抗値をＲ0 ，温度
をτ，抵抗の温度係数をρとすると、Ｒ＝Ｒ0 ＋ρτと
近似できる。これにより、勾配磁場コイル４０の抵抗を
知ることで、勾配磁場コイル４０の温度を測定すること
ができる。
の一次関数になり、０°Ｃのときの抵抗値をＲ0 ，温度
をτ，抵抗の温度係数をρとすると、Ｒ＝Ｒ0 ＋ρτと
近似できる。これにより、勾配磁場コイル４０の抵抗を
知ることで、勾配磁場コイル４０の温度を測定すること
ができる。
【００２８】すなわち、この勾配磁場コイル４０にある
一定の定常な直流電流を流すことで抵抗Ｒが求められ、
この抵抗Ｒより勾配磁場コイル４０の温度を求めること
ができる。従って、オペレータコンソール１０から制御
により勾配磁場コイル４０の温度を測定することができ
る。このようにすると、温度センサの設置によって、勾
配磁場を乱す恐れがなくなる。また、勾配磁場コイル４
０に取り付けた温度センサが大電力の高周波にさらされ
ることがなくなる。また、既に存在する電源や検出回路
をそのまま使用することができ、部品点数をむやみに増
加させることもない等の利点がある。尚、必要に応じ
て、温度センサを用いることも可能である。
一定の定常な直流電流を流すことで抵抗Ｒが求められ、
この抵抗Ｒより勾配磁場コイル４０の温度を求めること
ができる。従って、オペレータコンソール１０から制御
により勾配磁場コイル４０の温度を測定することができ
る。このようにすると、温度センサの設置によって、勾
配磁場を乱す恐れがなくなる。また、勾配磁場コイル４
０に取り付けた温度センサが大電力の高周波にさらされ
ることがなくなる。また、既に存在する電源や検出回路
をそのまま使用することができ、部品点数をむやみに増
加させることもない等の利点がある。尚、必要に応じ
て、温度センサを用いることも可能である。
【００２９】図７は本発明の他の実施例の動作説明のた
めの説明図である。ここでは、複数のスキャンを一連の
動作として行う場合の勾配磁場コイル４０の温度を示し
ている。ここではスキャンパラメータ設定手段１１は複
数のスキャンを一連の動作として設定できるものであ
り、予想手段１２は一連の動作のそれぞれの時点の温度
予想を行うようになっている。
めの説明図である。ここでは、複数のスキャンを一連の
動作として行う場合の勾配磁場コイル４０の温度を示し
ている。ここではスキャンパラメータ設定手段１１は複
数のスキャンを一連の動作として設定できるものであ
り、予想手段１２は一連の動作のそれぞれの時点の温度
予想を行うようになっている。
【００３０】スキャンパラメータの設定により、複数の
スキャンが一連の動作として指示された場合には、予想
手段１２は一連のスキャンのそれぞれの時点における勾
配磁場コイル４０の温度上昇を予想する。実際にはスキ
ャン休止時間に応じて勾配磁場コイル４０の温度が低下
するので、これも考慮して温度Ｔe を予想する。
スキャンが一連の動作として指示された場合には、予想
手段１２は一連のスキャンのそれぞれの時点における勾
配磁場コイル４０の温度上昇を予想する。実際にはスキ
ャン休止時間に応じて勾配磁場コイル４０の温度が低下
するので、これも考慮して温度Ｔe を予想する。
【００３１】この場合も、アラーム出力手段１３は勾配
磁場コイル４０の予想温度Ｔe がどのようになるかに応
じて、Ｔe ＞Ｔs1またはＴe ≧Ｔs2となると予想される
スキャンの開始よりも前の時点で必要なメッセージを出
力する。例えば、連続したスキャンの指示があった場合
に、いくつかのスキャンが行われた時点で警告温度やス
キャン不許可温度に達するようなことが予想されれば、
予想結果が出た時点でそのメッセージを表示する。
磁場コイル４０の予想温度Ｔe がどのようになるかに応
じて、Ｔe ＞Ｔs1またはＴe ≧Ｔs2となると予想される
スキャンの開始よりも前の時点で必要なメッセージを出
力する。例えば、連続したスキャンの指示があった場合
に、いくつかのスキャンが行われた時点で警告温度やス
キャン不許可温度に達するようなことが予想されれば、
予想結果が出た時点でそのメッセージを表示する。
【００３２】尚、あるパラメータの設定によりスキャン
が既に開始した後に、他のパラメータの入力が行われ
て、後のスキャンが連続して行われるような場合であっ
ても、既に開始しているスキャンが終了した時点で動作
を停止するように制御することで、それ以後のスキャン
が無駄になることはない。
が既に開始した後に、他のパラメータの入力が行われ
て、後のスキャンが連続して行われるような場合であっ
ても、既に開始しているスキャンが終了した時点で動作
を停止するように制御することで、それ以後のスキャン
が無駄になることはない。
【００３３】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、スキャンパラメータ及び勾配磁場コイルの温度を参
照して、スキャン中の勾配磁場コイルの温度を予想する
ことにより、スキャン開始以前にスキャン実行中の勾配
磁場コイル温度を予想してアラームを出力することが可
能なＭＲＩ装置を実現することができる。
ば、スキャンパラメータ及び勾配磁場コイルの温度を参
照して、スキャン中の勾配磁場コイルの温度を予想する
ことにより、スキャン開始以前にスキャン実行中の勾配
磁場コイル温度を予想してアラームを出力することが可
能なＭＲＩ装置を実現することができる。
【図１】本発明の一実施例の主要部の構成を示す構成図
である。
である。
【図２】本発明の一実施例の装置の全体構成を示す構成
図である。
図である。
【図３】本発明の一実施例の動作を示すフローチャート
である。
である。
【図４】本発明の一実施例の動作を示すタイムチャート
である。
である。
【図５】本発明の一実施例の動作を示す特性図である。
【図６】本発明の一実施例の装置の動作説明のための回
路図である。
路図である。
【図７】本発明の一実施例の動作を示す特性図である。
１１ スキャンパラメータ設定手段 １２ 予想手段 １３ アラーム出力手段 ４１ 温度検出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 8203−2Ｇ Ｇ０１Ｒ 33/22 Ｓ
Claims (3)
- 【請求項１】 高周波回転磁場を与えられて励起された
原子核から放出されるＲＦエネルギーを検出するＭＲＩ
装置において、 勾配磁場コイルの温度を検出する温度検出手段（４１）
と、 ＭＲＩのスキャンためのスキャンパラメータが設定され
るスキャンパラメータ設定手段（１１）と、 スキャンパラメータ設定手段（１１）により設定された
スキャンパラメータ及び温度検出手段（４１）で検出さ
れた勾配磁場コイルの温度を参照してスキャン実行中ま
たはスキャン終了時の勾配磁場コイルの温度を予想する
温度予想手段（１２）と、 温度予想手段（１２）で予想されたスキャン実行中また
は終了時の温度によりスキャン実行についてのアラーム
を出力するアラーム出力手段（１３）とを備えたことを
特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項２】 前記温度予想手段（１２）は、設定され
たパラメータを参照して勾配磁場コイルで発生する熱量
を予想する熱量予想手段（１２ａ）と、 設定されたパラメータを参照してスキャンシーケンスの
実行時間を予想する実行時間予想手段（１２ｂ）と、 勾配磁場コイルの温度，勾配磁場コイルで発生する熱
量，スキャンシーケンスの実行時間を参照してスキャン
シーケンス実行中に勾配磁場コイルが到達する温度を予
想する到達温度予想手段（１２ｃ）とを備えたことを特
徴とする請求項１記載のＭＲＩ装置。 - 【請求項３】 前記温度予想手段（１２）は複数のスキ
ャンシーケンスが連続して実行される際に各スキャンシ
ーケンスで蓄積される熱量を考慮して勾配磁場コイルの
温度を予想し、 アラーム出力手段（１３）は温度が所定値を越えると予
想されるスキャンの開始よりも前の時点でアラームを出
力するものであることを特徴とする請求項１記載のＭＲ
Ｉ装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP08459293A JP3343391B2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP08459293A JP3343391B2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | Ｍｒｉ装置 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06292662A true JPH06292662A (ja) | 1994-10-21 |
| JP3343391B2 JP3343391B2 (ja) | 2002-11-11 |
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ID=13834960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08459293A Expired - Fee Related JP3343391B2 (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | Ｍｒｉ装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3343391B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7602185B2 (en) | 2007-07-12 | 2009-10-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method |
| JP2010004910A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP2010075753A (ja) * | 2010-01-12 | 2010-04-08 | Toshiba Corp | Ｍｒｉ装置 |
| JP2011505950A (ja) * | 2007-12-11 | 2011-03-03 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 冷却システムとヘリウムの圧力監視とを備えた磁気共鳴システム |
| CN102958433A (zh) * | 2011-06-13 | 2013-03-06 | 株式会社东芝 | 磁共振成像装置以及倾斜磁场发生系统的负荷算出方法 |
| US8519711B2 (en) | 2009-03-31 | 2013-08-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus |
-
1993
- 1993-04-12 JP JP08459293A patent/JP3343391B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| US7602185B2 (en) | 2007-07-12 | 2009-10-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus and magnetic resonance imaging method |
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| JP2010004910A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US8519711B2 (en) | 2009-03-31 | 2013-08-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic resonance imaging apparatus |
| JP2010075753A (ja) * | 2010-01-12 | 2010-04-08 | Toshiba Corp | Ｍｒｉ装置 |
| CN102958433A (zh) * | 2011-06-13 | 2013-03-06 | 株式会社东芝 | 磁共振成像装置以及倾斜磁场发生系统的负荷算出方法 |
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