JP2544613Y2 - Ｍｒ装置におけるｓａｒ監視装置 - Google Patents
Ｍｒ装置におけるｓａｒ監視装置Info
- Publication number
- JP2544613Y2 JP2544613Y2 JP822791U JP822791U JP2544613Y2 JP 2544613 Y2 JP2544613 Y2 JP 2544613Y2 JP 822791 U JP822791 U JP 822791U JP 822791 U JP822791 U JP 822791U JP 2544613 Y2 JP2544613 Y2 JP 2544613Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- wave voltage
- sar
- voltage
- measuring means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、ＭＲ装置におけるＳ
ＡＲ監視装置に関し、さらに詳しくは、ＭＲ装置のＲＦ
コイルより出力される電磁波の被検体による吸収量（SA
R；SpecificAbsorption Rate）を監視する装置に関す
る。
ＡＲ監視装置に関し、さらに詳しくは、ＭＲ装置のＲＦ
コイルより出力される電磁波の被検体による吸収量（SA
R；SpecificAbsorption Rate）を監視する装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ＭＲ装置において、過大なＳＡＲによる
患者への悪影響を避けるため、ＳＡＲを監視する装置が
従来から用いられている。従来のＭＲ装置におけるＳＡ
Ｒ監視装置では、これから行おうとするシーケンスプロ
グラムの内容からＲＦ電力増幅器の出力値を予測計算す
る。他方、予め入力されている患者の体重情報より許容
最大ＳＡＲを計算する。そして、前記予測計算したＲＦ
電力増幅器の出力値と前記許容最大ＳＡＲを比較してい
る。なお、もし、予測計算したＲＦ電力増幅器の出力値
では許容最大ＳＡＲを越えてしまうなら、そのシーケン
スプログラムは実行しない。
患者への悪影響を避けるため、ＳＡＲを監視する装置が
従来から用いられている。従来のＭＲ装置におけるＳＡ
Ｒ監視装置では、これから行おうとするシーケンスプロ
グラムの内容からＲＦ電力増幅器の出力値を予測計算す
る。他方、予め入力されている患者の体重情報より許容
最大ＳＡＲを計算する。そして、前記予測計算したＲＦ
電力増幅器の出力値と前記許容最大ＳＡＲを比較してい
る。なお、もし、予測計算したＲＦ電力増幅器の出力値
では許容最大ＳＡＲを越えてしまうなら、そのシーケン
スプログラムは実行しない。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】上記従来のＭＲ装置に
おけるＳＡＲ監視装置が実際に監視しているのは、シー
ケンスプログラムを元にした計算上のＲＦ電力増幅器の
出力値であり、患者による電磁波の吸収量そのものでは
ない。従って、計算上は許容最大ＳＡＲ以下でも、実際
に許容最大ＳＡＲ以下であるかは確認できない。このた
め、安全係数が過大に見積もられている。
おけるＳＡＲ監視装置が実際に監視しているのは、シー
ケンスプログラムを元にした計算上のＲＦ電力増幅器の
出力値であり、患者による電磁波の吸収量そのものでは
ない。従って、計算上は許容最大ＳＡＲ以下でも、実際
に許容最大ＳＡＲ以下であるかは確認できない。このた
め、安全係数が過大に見積もられている。
【０００４】しかし、安全係数が過大であると、実行で
きるシーケンスプログラムが必要以上に制限される問題
点がある。
きるシーケンスプログラムが必要以上に制限される問題
点がある。
【０００５】そこで、この考案の目的は、患者による電
磁波の吸収量を直接に監視できるようにしたＭＲ装置に
おけるＳＡＲ監視装置を提供することにある。
磁波の吸収量を直接に監視できるようにしたＭＲ装置に
おけるＳＡＲ監視装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この考案のＳＡＲ監視装
置は、ＭＲ装置のＲＦ電力増幅器からＲＦコイルへのパ
ワー供給路に、コイル電圧Ｖｃを測定するコイル電圧測
定手段と、進行波電圧Ｖｆを測定する進行波電圧測定手
段と、反射波電圧Ｖｒを測定する反射波電圧測定手段と
を設けると共に、それら測定手段で得たコイル電圧Ｖ
ｃ，進行波電圧Ｖｆ，反射波電圧Ｖｒに基づいて電磁波
の被検体による吸収量を算出するＳＡＲ演算手段を設け
たことを構成上の特徴とするものである。
置は、ＭＲ装置のＲＦ電力増幅器からＲＦコイルへのパ
ワー供給路に、コイル電圧Ｖｃを測定するコイル電圧測
定手段と、進行波電圧Ｖｆを測定する進行波電圧測定手
段と、反射波電圧Ｖｒを測定する反射波電圧測定手段と
を設けると共に、それら測定手段で得たコイル電圧Ｖ
ｃ，進行波電圧Ｖｆ，反射波電圧Ｖｒに基づいて電磁波
の被検体による吸収量を算出するＳＡＲ演算手段を設け
たことを構成上の特徴とするものである。
【０００７】
【作用】この考案のＳＡＲ監視装置では、コイル電圧測
定手段がコイル電圧Ｖｃを測定する。また、進行波電圧
測定手段が進行波電圧Ｖｆを測定する。また、反射波電
圧測定手段が反射波電圧Ｖｒを測定する。そして、ＳＡ
Ｒ演算手段が、コイル電圧Ｖｃ，進行波電圧Ｖｆ，反射
波電圧Ｖｒに基づいて電磁波の被検体による吸収量を算
出する。算出式は、被検体とＲＦコイルとがＲＦ電力増
幅器に対して並列の負荷であるから、基本的には、 Ｐsar＝(Ｖｆ・Ｖｆ／50)−(Ｖｒ・Ｖｒ／50)−(Ｖｃ・Ｖｃ／Ｒｃ) である。但し、Ｐsarは吸収量、Ｒｃはコイル抵抗であ
る。
定手段がコイル電圧Ｖｃを測定する。また、進行波電圧
測定手段が進行波電圧Ｖｆを測定する。また、反射波電
圧測定手段が反射波電圧Ｖｒを測定する。そして、ＳＡ
Ｒ演算手段が、コイル電圧Ｖｃ，進行波電圧Ｖｆ，反射
波電圧Ｖｒに基づいて電磁波の被検体による吸収量を算
出する。算出式は、被検体とＲＦコイルとがＲＦ電力増
幅器に対して並列の負荷であるから、基本的には、 Ｐsar＝(Ｖｆ・Ｖｆ／50)−(Ｖｒ・Ｖｒ／50)−(Ｖｃ・Ｖｃ／Ｒｃ) である。但し、Ｐsarは吸収量、Ｒｃはコイル抵抗であ
る。
【０００８】これにより、患者による電磁波の吸収量を
直接に監視できるため、信頼性を向上させることが出来
ると共に、実行できるシーケンスプログラムの制限が最
小限になる。
直接に監視できるため、信頼性を向上させることが出来
ると共に、実行できるシーケンスプログラムの制限が最
小限になる。
【０００９】
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの考案をさら
に詳しく説明する。なお、これによりこの考案が限定さ
れるものではない。図１は、この考案のＳＡＲ監視装置
を含むＭＲ装置のブロック図である。計算機２は、操作
卓１３からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シ
ーケンスコントローラ３は、記憶しているシーケンスに
基づいて、磁場駆動回路（勾配アンプを含んでいる）４
を作動させ、マグネットアセンブリ５の静磁場コイル，
勾配磁場コイルで静磁場，勾配磁場を発生させる。ま
た、ＲＦ発振回路６を制御し、ＲＦキャリアを発生させ
る。また、変調回路７を制御し、ＲＦキャリアを所定の
波形のＲＦ信号に変調して、ＲＦ電力増幅器８から方向
性結合器２０を介してマグネットアセンブリ５のＲＦコ
イルに加える。
に詳しく説明する。なお、これによりこの考案が限定さ
れるものではない。図１は、この考案のＳＡＲ監視装置
を含むＭＲ装置のブロック図である。計算機２は、操作
卓１３からの指示に基づき、全体の作動を制御する。シ
ーケンスコントローラ３は、記憶しているシーケンスに
基づいて、磁場駆動回路（勾配アンプを含んでいる）４
を作動させ、マグネットアセンブリ５の静磁場コイル，
勾配磁場コイルで静磁場，勾配磁場を発生させる。ま
た、ＲＦ発振回路６を制御し、ＲＦキャリアを発生させ
る。また、変調回路７を制御し、ＲＦキャリアを所定の
波形のＲＦ信号に変調して、ＲＦ電力増幅器８から方向
性結合器２０を介してマグネットアセンブリ５のＲＦコ
イルに加える。
【００１０】マグネットアセンブリ５の受信コイルで得
られたＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器
１０に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機
２に入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメ−ジを再構成し、表
示装置１２で表示する。
られたＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器
１０に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機
２に入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメ−ジを再構成し、表
示装置１２で表示する。
【００１１】方向性結合器２０は、コイル電圧Ｖｃと，
進行波電圧Ｖｆと，反射波電圧Ｖｒとを、第２のＡ／Ｄ
変換器２１へ出力する。
進行波電圧Ｖｆと，反射波電圧Ｖｒとを、第２のＡ／Ｄ
変換器２１へ出力する。
【００１２】第２のＡ／Ｄ変換器２１は、コイル電圧Ｖ
ｃと，進行波電圧Ｖｆと，反射波電圧Ｖｒとを、デジタ
ル値に変換して、計算機２へ出力する。
ｃと，進行波電圧Ｖｆと，反射波電圧Ｖｒとを、デジタ
ル値に変換して、計算機２へ出力する。
【００１３】計算機２は、図２に示すように、ＳＡＲ監
視の動作を行う。すなわち、ステップＳ１では、患者に
応じた許容最大ＳＡＲと，使用するＲＦコイルに応じた
コイル抵抗値Ｒｃと，実行予定のスキャンシーケンスの
繰り返し時間ＴRとを入力する。ステップＳ２では、繰
り返し時間ＴRを、所定のサンプリング周期ΔＴで割っ
て、繰り返し時間ＴRの間のサンプリング回数Ｎを算出
する。ステップＳ３では、第２のＡ／Ｄ変換器２１から
コイル電圧Ｖｃと，進行波電圧Ｖｆと，反射波電圧Ｖｒ
とを読み込む。この読み込みは、所定のサンプリング周
期ΔＴで行う。
視の動作を行う。すなわち、ステップＳ１では、患者に
応じた許容最大ＳＡＲと，使用するＲＦコイルに応じた
コイル抵抗値Ｒｃと，実行予定のスキャンシーケンスの
繰り返し時間ＴRとを入力する。ステップＳ２では、繰
り返し時間ＴRを、所定のサンプリング周期ΔＴで割っ
て、繰り返し時間ＴRの間のサンプリング回数Ｎを算出
する。ステップＳ３では、第２のＡ／Ｄ変換器２１から
コイル電圧Ｖｃと，進行波電圧Ｖｆと，反射波電圧Ｖｒ
とを読み込む。この読み込みは、所定のサンプリング周
期ΔＴで行う。
【００１４】ステップＳ４では、吸収量Ｐsarを次式に
より算出する。 Ｐsar＝(Ｖｆ・Ｖｆ／50)−(Ｖｒ・Ｖｒ／50)−(Ｖｃ・Ｖｃ／Ｒｃ) ステップＳ５では、最新のＰsarからＮ個前のＰsarまで
のＮ個のＰsarを加算し、その和をＮで割る。これによ
り、繰り返し時間ＴRの間の平均的な吸収量が求められ
る。ステップＳ６では、平均的な吸収量が許容最大ＳＡ
Ｒより大きいか否かを判定する。大きくなければ、前記
ステップＳ３に戻る。大きければ、ステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、スキャンシーケンスの実行を停
止する。
より算出する。 Ｐsar＝(Ｖｆ・Ｖｆ／50)−(Ｖｒ・Ｖｒ／50)−(Ｖｃ・Ｖｃ／Ｒｃ) ステップＳ５では、最新のＰsarからＮ個前のＰsarまで
のＮ個のＰsarを加算し、その和をＮで割る。これによ
り、繰り返し時間ＴRの間の平均的な吸収量が求められ
る。ステップＳ６では、平均的な吸収量が許容最大ＳＡ
Ｒより大きいか否かを判定する。大きくなければ、前記
ステップＳ３に戻る。大きければ、ステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、スキャンシーケンスの実行を停
止する。
【００１５】以上の動作により、電磁波の患者による吸
収量を、直接かつリアルタイムに監視できるようにな
る。したがって、計算機２と，方向性結合器２０と，第
２のＡＤ変換器２１とが、ＳＡＲ監視装置を構成する。
収量を、直接かつリアルタイムに監視できるようにな
る。したがって、計算機２と，方向性結合器２０と，第
２のＡＤ変換器２１とが、ＳＡＲ監視装置を構成する。
【００１６】なお、ＲＦ信号が０°系と９０°系の２系
統ある場合は、それぞれについて監視を行う必要があ
る。
統ある場合は、それぞれについて監視を行う必要があ
る。
【００１７】他の実施例としては、前記ステップＳ３，
Ｓ４の処理をアナログ回路で行うものが挙げられる。
Ｓ４の処理をアナログ回路で行うものが挙げられる。
【００１８】
【考案の効果】この考案のＭＲ装置におけるＳＡＲ監視
装置によれば、ＲＦコイルから出力される電磁波の患者
による吸収量を、直接かつリアルタイムに監視できるよ
うになる。このため、ＳＡＲ監視における信頼性を向上
させることが出来る。また、このことから、実行できる
シーケンスプログラムの制限が最小限となり、自由度が
増える効果がある。
装置によれば、ＲＦコイルから出力される電磁波の患者
による吸収量を、直接かつリアルタイムに監視できるよ
うになる。このため、ＳＡＲ監視における信頼性を向上
させることが出来る。また、このことから、実行できる
シーケンスプログラムの制限が最小限となり、自由度が
増える効果がある。
【図１】この考案のＭＲ装置におけるＳＡＲ監視装置の
一実施例の構成を示すブロック図である。
一実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の装置の動作を説明するフローチャートで
ある。
ある。
１ ＭＲ装置 ２ 計算機 ５ マグネットアセンブリ ８ ＲＦ電力増幅器 ２０ 方向性結合器 ２１ 第２のＡＤ変換器
Claims (1)
- 【請求項１】 ＭＲ装置のＲＦ電力増幅器からＲＦコイ
ルへのパワー供給路に、コイル電圧Ｖｃを測定するコイ
ル電圧測定手段と、進行波電圧Ｖｆを測定する進行波電
圧測定手段と、反射波電圧Ｖｒを測定する反射波電圧測
定手段とを設けると共に、それら測定手段で得たコイル
電圧Ｖｃ，進行波電圧Ｖｆ，反射波電圧Ｖｒに基づいて
電磁波の被検体による吸収量を算出するＳＡＲ演算手段
を設けたことを特徴とするＭＲ装置におけるＳＡＲ監視
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP822791U JP2544613Y2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | Ｍｒ装置におけるｓａｒ監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP822791U JP2544613Y2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | Ｍｒ装置におけるｓａｒ監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04104806U JPH04104806U (ja) | 1992-09-09 |
| JP2544613Y2 true JP2544613Y2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=31740509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP822791U Expired - Lifetime JP2544613Y2 (ja) | 1991-02-22 | 1991-02-22 | Ｍｒ装置におけるｓａｒ監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2544613Y2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2737661B2 (ja) * | 1994-09-21 | 1998-04-08 | 日本電気株式会社 | Ｓａｒ測定方法およびｓａｒ測定装置 |
| JP2790103B2 (ja) * | 1995-12-15 | 1998-08-27 | 日本電気株式会社 | 比吸収率測定装置及び比吸収率測定方法 |
| JP5172658B2 (ja) * | 2005-04-29 | 2013-03-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | マルチチャネル送受信アンテナ装置を操作するための方法及び回路装置。 |
| JP2013042901A (ja) * | 2011-08-24 | 2013-03-04 | Hitachi Medical Corp | 磁気共鳴イメージング装置 |
| JP6285448B2 (ja) * | 2012-10-23 | 2018-02-28 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 磁気共鳴画像診断システム及び磁気共鳴画像診断方法 |
| JP6147026B2 (ja) * | 2013-02-27 | 2017-06-14 | 株式会社日立製作所 | 磁気共鳴イメージング装置、及び方法 |
-
1991
- 1991-02-22 JP JP822791U patent/JP2544613Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04104806U (ja) | 1992-09-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5916161A (en) | Magnetic resonance imaging apparatus with temperature measurement function | |
| EP2628016B1 (en) | Mr data acquisition using physiological monitoring | |
| JPS63109849A (ja) | Ｎｍｒイメ−ジング装置 | |
| JP2544613Y2 (ja) | Ｍｒ装置におけるｓａｒ監視装置 | |
| JP3884243B2 (ja) | 外部磁界測定方法、静磁界補正方法、外部磁界測定装置およびｍｒｉ装置 | |
| JPH07246194A (ja) | Ｍｒ装置 | |
| JPH0919413A (ja) | Ｍｒｉの被検体体重計測方法、ｍｒｉ装置及びテーブル装置 | |
| JPH02211124A (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
| EP1202072A2 (en) | MRI phase error compensation | |
| JP3576658B2 (ja) | 傾斜磁場用駆動波形生成装置、渦電流推定装置およびｍｒｉ装置 | |
| JPH0856917A (ja) | 勾配磁場発生方法及びｍｒｉ装置 | |
| JP3343391B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JPH0467848A (ja) | 磁気共鳴イメージング装置及びその静磁場強度測定表示方法 | |
| JP3335710B2 (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
| JPH08117203A (ja) | 勾配磁場変化率監視方法およびｍｒｉ装置 | |
| JP2866971B2 (ja) | Ｎｍｒイメージング装置 | |
| JP2879231B2 (ja) | Ｍｒイメージング装置 | |
| JP3040426B2 (ja) | Ｍｒ装置 | |
| JP2000333928A (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
| JPH11290294A (ja) | 磁気共鳴イメージング装置 | |
| JPS63111845A (ja) | Ｍｒイメ−ジング方式 | |
| JP3174114B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP3343385B2 (ja) | Ｍｒｉ装置 | |
| JP2937227B2 (ja) | 積載重量計測装置 | |
| JPS62181034A (ja) | 核磁気共鳴断層撮像装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |