JPH06289075A - チップ形電子部品の抵抗値測定方法 - Google Patents
チップ形電子部品の抵抗値測定方法Info
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- JPH06289075A JPH06289075A JP7980993A JP7980993A JPH06289075A JP H06289075 A JPH06289075 A JP H06289075A JP 7980993 A JP7980993 A JP 7980993A JP 7980993 A JP7980993 A JP 7980993A JP H06289075 A JPH06289075 A JP H06289075A
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- resistor
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 抵抗値調整用の切込みの向きと電流供給端子
の配置とに関係なく、角形チップ形状をなす低抵抗器の
抵抗値を安定に測定することができるチップ形電子部品
の抵抗値測定方法を提供する。 【構成】 抵抗器１１を経て２組の電流供給端子間（１
２ａ−１２ｂ,１３ａ−１３ｂ）に所定の電流Ｉを流
し、電圧測定端子１４ａ−１４ｂ間に発生した電圧Ｖを
電圧計１６で測ることによって、抵抗器１１の抵抗値Ｒ
をＲ＝Ｖ／Ｉによって得る。
の配置とに関係なく、角形チップ形状をなす低抵抗器の
抵抗値を安定に測定することができるチップ形電子部品
の抵抗値測定方法を提供する。 【構成】 抵抗器１１を経て２組の電流供給端子間（１
２ａ−１２ｂ,１３ａ−１３ｂ）に所定の電流Ｉを流
し、電圧測定端子１４ａ−１４ｂ間に発生した電圧Ｖを
電圧計１６で測ることによって、抵抗器１１の抵抗値Ｒ
をＲ＝Ｖ／Ｉによって得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はチップ形電子部品の抵抗
値測定方法に関し、とくに、角形チップ（以下「Ｆ／
Ｃ」という）形状をなす抵抗器の抵抗値測定方法に関す
るものである。
値測定方法に関し、とくに、角形チップ（以下「Ｆ／
Ｃ」という）形状をなす抵抗器の抵抗値測定方法に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】図３は従来のＦ／Ｃ形状をなす抵抗器の
抵抗値測定方法を示す図である。同図において、１はＦ
／Ｃ形状の抵抗器で、その両端に電極１ａ,１ｂを備え
ている。２ａと２ｂは対をなす電流供給端子、３ａと３
ｂは対をなす電圧測定端子で、抵抗値測定時にこの４つ
の端子を電極１ａ,１ｂにそれぞれ接触させる。
抵抗値測定方法を示す図である。同図において、１はＦ
／Ｃ形状の抵抗器で、その両端に電極１ａ,１ｂを備え
ている。２ａと２ｂは対をなす電流供給端子、３ａと３
ｂは対をなす電圧測定端子で、抵抗値測定時にこの４つ
の端子を電極１ａ,１ｂにそれぞれ接触させる。
【０００３】すなわち、同図において、抵抗器１を経て
電流供給端子２ａ−２ｂ間に所定の電流Ｉが流れると、
電圧測定端子３ａ−３ｂ間には抵抗器１の抵抗値Ｒに比
例した電圧Ｖが発生するので、次式によって抵抗値Ｒを
知ることができる。 Ｒ＝Ｖ／Ｉ
電流供給端子２ａ−２ｂ間に所定の電流Ｉが流れると、
電圧測定端子３ａ−３ｂ間には抵抗器１の抵抗値Ｒに比
例した電圧Ｖが発生するので、次式によって抵抗値Ｒを
知ることができる。 Ｒ＝Ｖ／Ｉ
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来例に
は、次のような問題点があった。図４は従来の抵抗値測
定方法の問題点を示す図である。同図において、４は抵
抗器１の上に形成された抵抗体で、抵抗値Ｒを調整する
ための切込み４ａ,４ｂが施されている。
は、次のような問題点があった。図４は従来の抵抗値測
定方法の問題点を示す図である。同図において、４は抵
抗器１の上に形成された抵抗体で、抵抗値Ｒを調整する
ための切込み４ａ,４ｂが施されている。
【０００５】同図に示すような抵抗器１の抵抗値を測定
する場合、Ａ点とＡ'点とに電流供給端子２ａ,２ｂを接
触させた場合と、Ｂ点とＢ'点とに電流供給端子２ａ,２
ｂを接触させた場合とでは、電流経路の長さが異なって
しまった。つまり、Ｂ−Ｂ'間では、電流Ｉがほぼ直線
的に流れて、その電流経路長λbになるが、他方、Ａ−
Ａ'間では、切込み４ａ,４ｂを避けて電流Ｉが流れるの
で、λbより長い電流経路長λaになることになる。ただ
し、抵抗体４の抵抗値に比べて電極１ａ,１ｂの抵抗値
が充分小さい場合は、例えＡ−Ａ'間に電流を供給して
も、同図に点線で示すような電流経路となるので、Ｂ−
Ｂ'間に電流を供給した場合と変わらない。しかし、抵
抗体４の抵抗値が小さく（例えば0.2Ω以下）なると、
電極１ａ,１ｂの抵抗値は充分小さいといえず、電流経
路長の変化が発生した。
する場合、Ａ点とＡ'点とに電流供給端子２ａ,２ｂを接
触させた場合と、Ｂ点とＢ'点とに電流供給端子２ａ,２
ｂを接触させた場合とでは、電流経路の長さが異なって
しまった。つまり、Ｂ−Ｂ'間では、電流Ｉがほぼ直線
的に流れて、その電流経路長λbになるが、他方、Ａ−
Ａ'間では、切込み４ａ,４ｂを避けて電流Ｉが流れるの
で、λbより長い電流経路長λaになることになる。ただ
し、抵抗体４の抵抗値に比べて電極１ａ,１ｂの抵抗値
が充分小さい場合は、例えＡ−Ａ'間に電流を供給して
も、同図に点線で示すような電流経路となるので、Ｂ−
Ｂ'間に電流を供給した場合と変わらない。しかし、抵
抗体４の抵抗値が小さく（例えば0.2Ω以下）なると、
電極１ａ,１ｂの抵抗値は充分小さいといえず、電流経
路長の変化が発生した。
【０００６】すなわち、切込み４ａ,４ｂの向きと、電
流供給端子２ａ,２ｂの配置とを常に一致させた上で測
定するには困難があり、上記従来例の抵抗値測定方法で
は、Ｆ／Ｃ形状をなす低抵抗器の抵抗値を測定する場
合、電流経路の変化による測定結果の変化が無視できな
い問題があった。
流供給端子２ａ,２ｂの配置とを常に一致させた上で測
定するには困難があり、上記従来例の抵抗値測定方法で
は、Ｆ／Ｃ形状をなす低抵抗器の抵抗値を測定する場
合、電流経路の変化による測定結果の変化が無視できな
い問題があった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記の課題を
解決することを目的としたもので、前記の課題を解決す
る一手段として、以下の構成を備える。すなわち、少な
くとも二組の対をなす第１の端子によって供試体へ電流
を供給し、該供試体に発生した電圧を少なくとも一組の
対をなす第２の端子で測ることによって、該供試体の抵
抗値を得るチップ形電子部品の抵抗値測定方法であっ
て、前記供試体の同一電極に接触する少なくとも２つの
第１の端子は該供試体の電流経路に沿う該供試体の中心
軸に略対称に配設されるチップ形電子部品の抵抗値測定
方法にする。
解決することを目的としたもので、前記の課題を解決す
る一手段として、以下の構成を備える。すなわち、少な
くとも二組の対をなす第１の端子によって供試体へ電流
を供給し、該供試体に発生した電圧を少なくとも一組の
対をなす第２の端子で測ることによって、該供試体の抵
抗値を得るチップ形電子部品の抵抗値測定方法であっ
て、前記供試体の同一電極に接触する少なくとも２つの
第１の端子は該供試体の電流経路に沿う該供試体の中心
軸に略対称に配設されるチップ形電子部品の抵抗値測定
方法にする。
【０００８】好ましくは、前記第２の端子が前記供試体
の電極に接触する位置は該電極に接触する少なくとも２
つの第１の端子の間であるチップ形電子部品の抵抗値測
定方法にする。
の電極に接触する位置は該電極に接触する少なくとも２
つの第１の端子の間であるチップ形電子部品の抵抗値測
定方法にする。
【０００９】
【作用】以上の構成によって、抵抗値調整用の切込みの
向きと電流供給端子の配置とに関係なく、Ｆ／Ｃ形状を
なす低抵抗器の抵抗値を安定に測定することができるチ
ップ形電子部品の抵抗値測定方法を提供できる。
向きと電流供給端子の配置とに関係なく、Ｆ／Ｃ形状を
なす低抵抗器の抵抗値を安定に測定することができるチ
ップ形電子部品の抵抗値測定方法を提供できる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明にかかる一実施例の抵抗値測定
方法を図面を参照して詳細に説明する。なお、本発明に
かかる抵抗値測定方法は、Ｆ／Ｃ形状をなす抵抗器の製
造時における抵抗値検査や抵抗値調整などに適用される
ものである。図１は本実施例の抵抗値測定方法を示す図
である。
方法を図面を参照して詳細に説明する。なお、本発明に
かかる抵抗値測定方法は、Ｆ／Ｃ形状をなす抵抗器の製
造時における抵抗値検査や抵抗値調整などに適用される
ものである。図１は本実施例の抵抗値測定方法を示す図
である。
【００１１】同図において、１１はＦ／Ｃ形状の抵抗器
で、その両端に電極１１ａ,１１ｂを備えている。１２
ａと１２ｂおよび１３ａと１３ｂはそれぞれ対をなす電
流供給端子で、二組の電流供給端子は１つの電流源１６
へ接続されている。１４ａと１４ｂは対をなす電圧測定
端子で、該端子は電圧計１７へ接続されている。抵抗器
１１の抵抗値を測定する場合は、この６つの端子を電極
１１ａ,１１ｂにそれぞれ接触させる。なお、電流供給
端子１２ａと１３ａが電極１１ａへ接触する位置は、電
流路に沿う抵抗器１１の中心軸に対して略対称になるよ
うにし、同様に、電流供給端子１２ｂと１３ｂが電極１
１ｂへ接触する位置は、同中心軸に対して略対称になる
ようにする。また、同図に示すように、電圧測定端子１
４ａは電流供給端子１２ａと１３ａの間に、電圧測定端
子１４ｂは電流供給端子１２ｂと１３ｂの間に配設する
のが望ましいが、本実施例はこれに限定されるものでは
ない。
で、その両端に電極１１ａ,１１ｂを備えている。１２
ａと１２ｂおよび１３ａと１３ｂはそれぞれ対をなす電
流供給端子で、二組の電流供給端子は１つの電流源１６
へ接続されている。１４ａと１４ｂは対をなす電圧測定
端子で、該端子は電圧計１７へ接続されている。抵抗器
１１の抵抗値を測定する場合は、この６つの端子を電極
１１ａ,１１ｂにそれぞれ接触させる。なお、電流供給
端子１２ａと１３ａが電極１１ａへ接触する位置は、電
流路に沿う抵抗器１１の中心軸に対して略対称になるよ
うにし、同様に、電流供給端子１２ｂと１３ｂが電極１
１ｂへ接触する位置は、同中心軸に対して略対称になる
ようにする。また、同図に示すように、電圧測定端子１
４ａは電流供給端子１２ａと１３ａの間に、電圧測定端
子１４ｂは電流供給端子１２ｂと１３ｂの間に配設する
のが望ましいが、本実施例はこれに限定されるものでは
ない。
【００１２】すなわち、同図において、抵抗器１１を経
て２組の電流供給端子間に所定の電流Ｉを流し、電圧測
定端子１４ａ−１４ｂ間に発生した電圧Ｖを電圧計１７
で測ることによって、抵抗器１１の抵抗値Ｒを次式によ
って得ることができる。 Ｒ＝Ｖ／Ｉ 図２は本実施例の特徴を説明するための図である。
て２組の電流供給端子間に所定の電流Ｉを流し、電圧測
定端子１４ａ−１４ｂ間に発生した電圧Ｖを電圧計１７
で測ることによって、抵抗器１１の抵抗値Ｒを次式によ
って得ることができる。 Ｒ＝Ｖ／Ｉ 図２は本実施例の特徴を説明するための図である。
【００１３】同図において、１４は抵抗器１１の上に形
成された抵抗体で、抵抗値Ｒを調整するための切込み１
４ａ,１４ｂが施されている。なお、同図においては、
抵抗値Ｒを調整する切込みがストレートカット２本の例
を示したが、本実施例はこれに限定されるものではな
く、ストレートカット１本あるいは３本以上であって
も、またＬ字カットであってもよい。
成された抵抗体で、抵抗値Ｒを調整するための切込み１
４ａ,１４ｂが施されている。なお、同図においては、
抵抗値Ｒを調整する切込みがストレートカット２本の例
を示したが、本実施例はこれに限定されるものではな
く、ストレートカット１本あるいは３本以上であって
も、またＬ字カットであってもよい。
【００１４】同図に示すような抵抗器１１の抵抗値Ｒを
測定する場合、本実施例においては、Ａ点,Ａ'点および
Ｂ点,Ｂ'点に２組の電流供給端子が接触するので、抵抗
値を測定する場合には、最短路がＢ−Ｂ'（長さλb）、
最長路がＡ−Ａ'（長さλa）の複数の電流経路が形成さ
れる。同図の平面において抵抗器１１が回転して、切込
みが点線で示す１４ａ',１４ｂ'の位置になった場合、
最長路がＢ−Ｂ'（長さλb'）、最短路がＡ−Ａ'（長さ
λa'）の複数の電流経路が形成されるが、λb'とλa、
λa'とλbはそれぞれ略同じ長さである。
測定する場合、本実施例においては、Ａ点,Ａ'点および
Ｂ点,Ｂ'点に２組の電流供給端子が接触するので、抵抗
値を測定する場合には、最短路がＢ−Ｂ'（長さλb）、
最長路がＡ−Ａ'（長さλa）の複数の電流経路が形成さ
れる。同図の平面において抵抗器１１が回転して、切込
みが点線で示す１４ａ',１４ｂ'の位置になった場合、
最長路がＢ−Ｂ'（長さλb'）、最短路がＡ−Ａ'（長さ
λa'）の複数の電流経路が形成されるが、λb'とλa、
λa'とλbはそれぞれ略同じ長さである。
【００１５】すなわち、図１に示した測定方法において
は、切込み１４ａ,１４ｂの向きと二組の電流供給端子
の配置とに関係なく、電圧測定端子１４ａ−１４ｂ間に
発生する電圧Ｖは略同じになる。従って、電極１１ａ,
１１ｂの抵抗値に比べて、抵抗体１４の抵抗値が充分小
さいといえないような場合（例えばＲ≦0.2Ω）でも、
図１に示した測定方法によれば、電流経路の変化に影響
されない抵抗値Ｒの測定ができる。
は、切込み１４ａ,１４ｂの向きと二組の電流供給端子
の配置とに関係なく、電圧測定端子１４ａ−１４ｂ間に
発生する電圧Ｖは略同じになる。従って、電極１１ａ,
１１ｂの抵抗値に比べて、抵抗体１４の抵抗値が充分小
さいといえないような場合（例えばＲ≦0.2Ω）でも、
図１に示した測定方法によれば、電流経路の変化に影響
されない抵抗値Ｒの測定ができる。
【００１６】以上説明したように、本実施例によれば、
抵抗値調整用の切込みの向きと電流供給端子の配置とに
関係なく、Ｆ／Ｃ形状をなす低抵抗器の抵抗値を安定に
測定することができる。なお、上述の説明および図１に
おいては、合計６端子で抵抗値を測定する一例を示した
が、本実施例はこれに限定されるものではなく、三組以
上の電流供給端子とすることも、二組以上の電圧測定端
子とすることもできる。
抵抗値調整用の切込みの向きと電流供給端子の配置とに
関係なく、Ｆ／Ｃ形状をなす低抵抗器の抵抗値を安定に
測定することができる。なお、上述の説明および図１に
おいては、合計６端子で抵抗値を測定する一例を示した
が、本実施例はこれに限定されるものではなく、三組以
上の電流供給端子とすることも、二組以上の電圧測定端
子とすることもできる。
【００１７】
【発明の効果】以上、本発明によれば、抵抗値調整用の
切込みの向きと電流供給端子の配置とに関係なく、Ｆ／
Ｃ形状をなす低抵抗器の抵抗値を安定に測定することが
できる。
切込みの向きと電流供給端子の配置とに関係なく、Ｆ／
Ｃ形状をなす低抵抗器の抵抗値を安定に測定することが
できる。
【図１】本発明にかかる一実施例の抵抗値測定方法を示
す図である。
す図である。
【図２】本実施例の特徴を説明するための図である。
【図３】従来のＦ／Ｃ形状をなす抵抗器の抵抗値測定方
法を示す図である。
法を示す図である。
【図４】従来の抵抗値測定方法の問題点を示す図であ
る。
る。
１１ 抵抗器 １２,１３ 電流供給端子 １４ 抵抗体 １５ 電圧測定端子 １６ 電流源 １７ 電圧計
Claims (2)
- 【請求項１】 少なくとも二組の対をなす第１の端子に
よって供試体へ電流を供給し、該供試体に発生した電圧
を少なくとも一組の対をなす第２の端子で測ることによ
って、該供試体の抵抗値を得るチップ形電子部品の抵抗
値測定方法であって、 前記供試体の同一電極に接触する少なくとも２つの第１
の端子は該供試体の電流経路に沿う該供試体の中心軸に
略対称に配設されることを特徴とするチップ形電子部品
の抵抗値測定方法。 - 【請求項２】 前記第２の端子が前記供試体の電極に接
触する位置は該電極に接触する少なくとも２つの第１の
端子の間であることを特徴とする請求項１記載のチップ
形電子部品の抵抗値測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07980993A JP3174195B2 (ja) | 1993-04-06 | 1993-04-06 | チップ形電子部品の抵抗値測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07980993A JP3174195B2 (ja) | 1993-04-06 | 1993-04-06 | チップ形電子部品の抵抗値測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06289075A true JPH06289075A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3174195B2 JP3174195B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=13700544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07980993A Expired - Fee Related JP3174195B2 (ja) | 1993-04-06 | 1993-04-06 | チップ形電子部品の抵抗値測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3174195B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102440776A (zh) * | 2011-09-23 | 2012-05-09 | 中国人民解放军第四军医大学 | 一种各向异性生物组织介电特性测量电极与测量方法 |
| JP2015108568A (ja) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | チップ抵抗器の抵抗値測定方法およびチップ抵抗器の実装方法 |
| US9299280B2 (en) | 2013-05-06 | 2016-03-29 | Samsung Display Co., Ltd. | Substrate of electronic device, electronic device including the same, and measuring method of resistance at connection portion |
| JP2019113523A (ja) * | 2017-12-20 | 2019-07-11 | 日置電機株式会社 | 測定装置および測定方法 |
-
1993
- 1993-04-06 JP JP07980993A patent/JP3174195B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102440776A (zh) * | 2011-09-23 | 2012-05-09 | 中国人民解放军第四军医大学 | 一种各向异性生物组织介电特性测量电极与测量方法 |
| US9299280B2 (en) | 2013-05-06 | 2016-03-29 | Samsung Display Co., Ltd. | Substrate of electronic device, electronic device including the same, and measuring method of resistance at connection portion |
| JP2015108568A (ja) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | チップ抵抗器の抵抗値測定方法およびチップ抵抗器の実装方法 |
| JP2019113523A (ja) * | 2017-12-20 | 2019-07-11 | 日置電機株式会社 | 測定装置および測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3174195B2 (ja) | 2001-06-11 |
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