JPH0628237A - 性能情報計測方式 - Google Patents

性能情報計測方式

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JPH0628237A
JPH0628237A JP4179539A JP17953992A JPH0628237A JP H0628237 A JPH0628237 A JP H0628237A JP 4179539 A JP4179539 A JP 4179539A JP 17953992 A JP17953992 A JP 17953992A JP H0628237 A JPH0628237 A JP H0628237A
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JP
Japan
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extended
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Withdrawn
Application number
JP4179539A
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English (en)
Inventor
Masayuki Yano
昌之 矢野
Shuichi Konno
秀一 紺野
Akiko Nakamura
明子 中村
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TOHOKU NIPPON DENKI SOFTWARE KK
NEC Corp
NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
TOHOKU NIPPON DENKI SOFTWARE KK
NEC Corp
NEC Software Tohoku Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】高速アクセス可能な拡張記憶装置に関する性能
情報を採取する。 【構成】拡張記憶制御手段4は拡張記憶装置3を制御す
る。拡張記憶制御の処理経過時間格納手段5は拡張記憶
制御手段4の使用した処理経過時間を測定する。I/O
情報格納手段6は拡張記憶装置3に対する入出力回数を
測定する。情報採取出力手段2は測定されたデータから
使用率を算出し出力装置に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータの種記憶
上に存在し高速アクセスが可能な拡張記憶装置に関し、
特に、拡張記憶装置の性能評価に必要な性能情報収集方
式に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータシステムにおいて、拡張記
憶装置を使用する場合、適正な負荷になるように、負荷
の分散をはかることが重要である。このためには、シス
テム運用中の拡張記憶装置の性能情報を計量的に把握で
きなければならない。
【0003】従来の磁気ディスク装置の性能情報の採取
方式は、利用者の設定した時間間隔(インターバル)を
単位として、入出力回数、シーク距離、入出力待ちの個
数、あきトラック数をシステムのテーブルに積算する手
段と、インターバル間隔の中で、さらに細かな時間間隔
(サンプリングタイム:通常、100ms〜1000m
sのオーダで行われる)ごとに磁気ディスク装置を監視
し、当該磁気ディスクが使用中であればBUSYを1と
カウントしてシステムのテーブルに格納する手段とで構
成される。
【0004】従来、磁気ディスク装置の性能情報は、上
記に述べたような方式によって採取されているが、拡張
記憶装置においては、その性能を測定する機能がなかっ
た。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】拡張記憶装置に対する
性能測定を、従来のディスク情報を同じ方式で実現しよ
うとした場合、拡張記憶装置に対するI/O処理が高速
で行われる(1I/O当たり1ms以下)ため、サンプ
リング処理で行う拡張記憶装置の使用中か、未使用かの
チェック処理で、使用中のヒット率が小さくなるため性
能データとして、誤差が大きくなる問題がある。本発明
の目的は、拡張記憶装置の性能測定を行う場合の性能デ
ータの誤差を小さくすることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の性能情報計測方
式は、コンピュータの主記憶上に存在して高速アクセス
が可能な拡張記憶装置と、前記拡張記憶装置を制御する
拡張記憶制御手段と、前記拡張記憶制御手段の使用した
処理経過時間を測定する処理経過時間格納手段と、前記
拡張記憶装置に対する入出力回数を測定するI/O情報
格納手段と、測定された前記処理経過時間と前記入出力
回数の情報を採取し前記情報から予め決められたアルゴ
リズムに基き算出された使用率の情報を出力装置に対し
て出力する情報採取出力手段とを有することを特徴とす
る。
【0007】
【実施例】次に、本発明について、図を参照して詳細に
説明する。
【0008】図1は、本発明の一実施例を示す構成図で
ある。
【0009】本実施例の拡張記憶装置の性能情報測定方
式は、拡張記憶装置3と、出力装置1に接続されてお
り、情報採取出力手段2、拡張記憶制御手段4、拡張記
憶制御の処理経過時間格納手段5、I/O情報格納手段
6とを含んで構成されている。
【0010】拡張記憶制御手段4は、上位装置からのア
クセス要求を受けて拡張記憶装置3の制御を行う。拡張
記憶制御手段4の使用した処理経過時間は、拡張記憶制
御の処理経過時間格納手段5によって測定され、格納さ
れる。ここで、拡張記憶装置の使用率は、従来のタイム
サンプリング形式の方式では性能データの誤差が大きい
ため、拡張記憶装置の処理経過時間を用いる。また、拡
張記憶制御手段4の拡張記憶装置3に対する入出力回数
はI/O情報格納手段6によって格納される。
【0011】次に、このように構成された、本実施例の
拡張記憶装置の性能情報測定方式の動作について説明す
る。まず、システムの性能情報の採取についてシステム
生成時に指定する。拡張記憶制御手段4が拡張記憶制御
3の制御に使用した処理経過時間は、拡張記憶制御の処
理経過時間格納手段5によって測定され、保持される。
また、拡張記憶制御手段4の拡張記憶装置3に対する入
出力回数は、I/O情報格納手段6によって測定され、
保持される。
【0012】情報採取出力手段2は、システム生成時も
しくはコマンドによって指定されたインターバルにした
がって、タイマからセマフォを介して通知を受けて起動
され、一定時間間隔ごとに動作し、拡張記憶制御の処理
経過時間格納手段5および、I/O情報格納手段6の情
報を読み取る。つぎに、入出力回数、処理経過時間に関
して、前回の情報との差分をとり、今回のデータ収集時
間間隔における入出力回数、処理経過時間を求め、以下
の式によって拡張記憶装置3のBUSY率を求める。
【0013】
【0014】利用者は、この情報を出力装置1に出力す
ることによって、参照が可能となる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、拡張
記憶装置の使用率を当該拡張記憶装置の処理経過時間を
用いて表すことによって、拡張記憶装置の使用率がより
正確に把握できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 出力装置 2 情報採取出力手段 3 拡張記憶装置 4 拡張記憶制御手段 5 拡張記憶制御の処理経過時間格納手段 6 I/O情報格納手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 明子 宮城県仙台市青葉区中央四丁目6番1号東 北日本電気ソフトウェア株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コンピュータの主記憶上に存在して高速
    アクセスが可能な拡張記憶装置と、前記拡張記憶装置を
    制御する拡張記憶制御手段と、前記拡張記憶制御手段の
    使用した処理経過時間を測定する処理経過時間格納手段
    と、前記拡張記憶装置に対する入出力回数を測定するI
    /O情報格納手段と、測定された前記処理経過時間と前
    記入出力回数の情報を採取し前記情報から予め決められ
    たアルゴリズムに基き算出された使用率の情報を出力装
    置に対して出力する情報採取出力手段とを有することを
    特徴とする性能情報計測方式。
JP4179539A 1992-07-07 1992-07-07 性能情報計測方式 Withdrawn JPH0628237A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4179539A JPH0628237A (ja) 1992-07-07 1992-07-07 性能情報計測方式

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4179539A JPH0628237A (ja) 1992-07-07 1992-07-07 性能情報計測方式

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Publication Number Publication Date
JPH0628237A true JPH0628237A (ja) 1994-02-04

Family

ID=16067525

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JP4179539A Withdrawn JPH0628237A (ja) 1992-07-07 1992-07-07 性能情報計測方式

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