JPH06281569A - 原子吸収分光学により横断的に加熱した電熱原子化炉 の基盤 - Google Patents
原子吸収分光学により横断的に加熱した電熱原子化炉 の基盤Info
- Publication number
- JPH06281569A JPH06281569A JP5345960A JP34596093A JPH06281569A JP H06281569 A JPH06281569 A JP H06281569A JP 5345960 A JP5345960 A JP 5345960A JP 34596093 A JP34596093 A JP 34596093A JP H06281569 A JPH06281569 A JP H06281569A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- tube
- substrate according
- sample carrier
- support ring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Geology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】特に、液体・固体分析に無制限で使用しうる導
入・導出可能な基盤を作製し、基盤の形状により管状の
炉部分の耐用年数を高めるとともに、分析精度および炉
全体システムの再現性を向上することにある。 【構成】検体キャリア（７）の検体は電気的に加熱した
管内壁の熱放射に直接曝されるものにおいて、検体キャ
リア（７）を支持し、炉管（２）のなかで分析原子の熱
膨張を制御して抑制するために、電流を通した支持リン
グ（４，５）を管端部に具え、前記支持リングは管断面
を狭め、その外径は炉管の内径に概ね一致し、その幅は
全体として管長の４０％未満であり、少なくとも１個の
支持リング（４，５）は検体キャリア（７）と堅く結合
するとともに、この検体キャリアと物理的に一体化して
基盤を形成し、検体キャリア（７）自体は管壁に対して
電気的接触または直接の熱的接触を有しないことを特徴
とする原子吸収分光学により横断的に加熱した電熱原子
化炉の基盤。
入・導出可能な基盤を作製し、基盤の形状により管状の
炉部分の耐用年数を高めるとともに、分析精度および炉
全体システムの再現性を向上することにある。 【構成】検体キャリア（７）の検体は電気的に加熱した
管内壁の熱放射に直接曝されるものにおいて、検体キャ
リア（７）を支持し、炉管（２）のなかで分析原子の熱
膨張を制御して抑制するために、電流を通した支持リン
グ（４，５）を管端部に具え、前記支持リングは管断面
を狭め、その外径は炉管の内径に概ね一致し、その幅は
全体として管長の４０％未満であり、少なくとも１個の
支持リング（４，５）は検体キャリア（７）と堅く結合
するとともに、この検体キャリアと物理的に一体化して
基盤を形成し、検体キャリア（７）自体は管壁に対して
電気的接触または直接の熱的接触を有しないことを特徴
とする原子吸収分光学により横断的に加熱した電熱原子
化炉の基盤。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子吸収分光学により
横断的に加熱した電熱原子化炉の基盤に係わるものであ
る。
横断的に加熱した電熱原子化炉の基盤に係わるものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】管状の長手方向に加熱した炉の部分を有
する電熱グラファイト炉における原子吸収分光学では、
炉管の内壁および安全ガスを充填した内部空間の電熱に
よる加熱に対する検体の原子化を遅延させるために、所
謂、基盤を管内部に具えることが公知である。特に、上
から見ると長方形の基盤は、その上側に検体を受けるた
めの凹所を有し、自由に移動できるだけでなく、直接的
な本体の接触または取り付けたウェブを介して炉管の内
部と堅く結合することができる（ドイツ連邦共和国特許
第 2924123号明細書、 ドイツ連邦共和国特許出願公開第
3545635号公報、 同第 3823346号公報、 同第 3734001号
公報、 旧東ドイツ特許第252249号明細書）。
する電熱グラファイト炉における原子吸収分光学では、
炉管の内壁および安全ガスを充填した内部空間の電熱に
よる加熱に対する検体の原子化を遅延させるために、所
謂、基盤を管内部に具えることが公知である。特に、上
から見ると長方形の基盤は、その上側に検体を受けるた
めの凹所を有し、自由に移動できるだけでなく、直接的
な本体の接触または取り付けたウェブを介して炉管の内
部と堅く結合することができる（ドイツ連邦共和国特許
第 2924123号明細書、 ドイツ連邦共和国特許出願公開第
3545635号公報、 同第 3823346号公報、 同第 3734001号
公報、 旧東ドイツ特許第252249号明細書）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来例の基盤は、長手
方向に加熱する炉管の原理において、 管央から管の両端
にかけて数百度も温度が下降することが不利であり、 本
来的に望まれる遅延効果は全体として低減し、 管の温度
が一定の中間領域にのみ限定される。
方向に加熱する炉管の原理において、 管央から管の両端
にかけて数百度も温度が下降することが不利であり、 本
来的に望まれる遅延効果は全体として低減し、 管の温度
が一定の中間領域にのみ限定される。
【０００４】長手方向に加熱する炉管の基盤は、例え
ば、固形検体分析で必要となるように、管−電力供給電
極の全体システムが既存の電気的接触状態で妨害される
ことなく、新規装入および検体定量のために各測定プロ
セスの後に導入・導出することができない。
ば、固形検体分析で必要となるように、管−電力供給電
極の全体システムが既存の電気的接触状態で妨害される
ことなく、新規装入および検体定量のために各測定プロ
セスの後に導入・導出することができない。
【０００５】横断的に加熱した炉システムについては、
望ましい温度遅滞効果を得るために、基盤の中央付近で
円筒形状の基盤をウェブで管本体と結合することが公知
である。ウェブの箇所では、管壁から基盤に熱伝導が起
こり、望ましい温度遅滞効果を低減する。即ち、基盤の
温度は、管壁の温度と同様の速さで上昇し、気相温度よ
りも速い。管の内部で熱的つりあいが達成される前に、
検体の原子化は既に始まる。
望ましい温度遅滞効果を得るために、基盤の中央付近で
円筒形状の基盤をウェブで管本体と結合することが公知
である。ウェブの箇所では、管壁から基盤に熱伝導が起
こり、望ましい温度遅滞効果を低減する。即ち、基盤の
温度は、管壁の温度と同様の速さで上昇し、気相温度よ
りも速い。管の内部で熱的つりあいが達成される前に、
検体の原子化は既に始まる。
【０００６】さらに、上述の従来例において特に不利な
点は、電気的接触に必要な押圧力により、基盤と管壁と
の間隔が変化しうることである。管体のマントル面に作
用する前記圧力により、管は高温で使用されると不可逆
に変形し、基盤に直に接触することになる。
点は、電気的接触に必要な押圧力により、基盤と管壁と
の間隔が変化しうることである。管体のマントル面に作
用する前記圧力により、管は高温で使用されると不可逆
に変形し、基盤に直に接触することになる。
【０００７】この場合、期待される炉システムの効果は
止揚される。
止揚される。
【０００８】アメリカ合衆国特許第 4407582号明細書に
記載されているような所謂、“管内管”技術の場合、検
体用の基盤は、電極と結合した管状の炉の本体における
内壁とは直接の熱的接触を有しない。
記載されているような所謂、“管内管”技術の場合、検
体用の基盤は、電極と結合した管状の炉の本体における
内壁とは直接の熱的接触を有しない。
【０００９】通常のグラファイト管は、追加的な（不安
定な）加熱マントルで包囲する。内管により、光線が検
体に当たるのを防止する。
定な）加熱マントルで包囲する。内管により、光線が検
体に当たるのを防止する。
【００１０】加熱すべき質量が大きく、内管の全体直径
を細分化する必要があるならば、加熱率が過度に長くな
り、応用領域を制限する要因となる。
を細分化する必要があるならば、加熱率が過度に長くな
り、応用領域を制限する要因となる。
【００１１】望ましくない横断的な流れがある場合に
は、それが助長される不利があるため、“管内管”技術
は商業ベースの原子吸収分光装置には使用されない。こ
のようなシステムは、さらにドイツ連邦共和国特許出願
公開第 3307251号公報に記述されている。ドイツ連邦共
和国登録実用新案第 8714670号明細書に記載された原子
吸収分光学の横断的に加熱する内蓋は、原子化器の側方
に取り付けた直通接触部材を有する。検体を保持するた
めの独立した装置は具えない。
は、それが助長される不利があるため、“管内管”技術
は商業ベースの原子吸収分光装置には使用されない。こ
のようなシステムは、さらにドイツ連邦共和国特許出願
公開第 3307251号公報に記述されている。ドイツ連邦共
和国登録実用新案第 8714670号明細書に記載された原子
吸収分光学の横断的に加熱する内蓋は、原子化器の側方
に取り付けた直通接触部材を有する。検体を保持するた
めの独立した装置は具えない。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の課題は、上述の
不利を排除するとともに、横断的に加熱した炉システム
に係る基盤技術の信頼性を高めることにある。
不利を排除するとともに、横断的に加熱した炉システム
に係る基盤技術の信頼性を高めることにある。
【００１３】特に、液体・固体分析に無制限で使用しう
る導入・導出可能な基盤を作製し、基盤の形状により管
状の炉部分の耐用年数を高めるとともに、分析精度およ
び炉全体システムの再現性を向上することにある。
る導入・導出可能な基盤を作製し、基盤の形状により管
状の炉部分の耐用年数を高めるとともに、分析精度およ
び炉全体システムの再現性を向上することにある。
【００１４】この課題を解決するため、本発明による基
盤は、原子吸収分光学に用いる横断的に加熱した電熱原
子化炉の基盤であって、検体キャリア（７）の検体は電
気的に加熱した管内壁の熱放射に直接曝されるものにお
いて、検体キャリア（７）を支持し、炉管（２）のなか
で分析原子の熱膨張を制御して抑制するために、電流を
通した支持リング（４，５）を管端部に具え、前記支持
リングは管断面を狭め、その外径は炉管の内径に概ね一
致し、その幅は全体として管長の４０％未満であり、少
なくとも１個の支持リング（４，５）は検体キャリア
（７）と堅く結合するとともに、この検体キャリアと物
理的に一体化して基盤を形成し、検体キャリア（７）自
体は管壁に対して電気的接触または直接の熱的接触を有
しないことを特徴とするものである。
盤は、原子吸収分光学に用いる横断的に加熱した電熱原
子化炉の基盤であって、検体キャリア（７）の検体は電
気的に加熱した管内壁の熱放射に直接曝されるものにお
いて、検体キャリア（７）を支持し、炉管（２）のなか
で分析原子の熱膨張を制御して抑制するために、電流を
通した支持リング（４，５）を管端部に具え、前記支持
リングは管断面を狭め、その外径は炉管の内径に概ね一
致し、その幅は全体として管長の４０％未満であり、少
なくとも１個の支持リング（４，５）は検体キャリア
（７）と堅く結合するとともに、この検体キャリアと物
理的に一体化して基盤を形成し、検体キャリア（７）自
体は管壁に対して電気的接触または直接の熱的接触を有
しないことを特徴とするものである。
【００１５】本発明の有利な実施例は従属請求項に記載
したとおりである。
したとおりである。
【００１６】基盤の導入・導出が可能であることによ
り、固体分析に係る自動的なグラファイト炉システムが
実現し、固形検体を設けた基盤は、例えば、把持システ
ムを介して送出および検体定量に導入・導出される。
り、固体分析に係る自動的なグラファイト炉システムが
実現し、固形検体を設けた基盤は、例えば、把持システ
ムを介して送出および検体定量に導入・導出される。
【００１７】環状の支持部分には検体キャリアの端部を
配置し、支持部分の少なくとも一つは検体キャリアと物
質的に一体化して結合する。前記支持部分により、管内
における原子の滞留時間を延長し、原子雲の密度を引き
上げる障害が管の端部に生じる。かくして、意外なこと
に、Siemer,Frech共著：“Improving the performanceo
f the CRA atomizer...",Spectrochimica Akta Part
B：Vol.39 B, No.S 2/3,pp.261-269, に記述された問題
を新たな独自の方法で捉えて解決することとなった。支
持リングは、それを通じる電流のため追加的に加熱され
る。材料が管端部で肥厚する場合、長手方向に加熱した
グラファイト管で生じるように、通常、管端部に生じる
分析原子の損失を前記支持リングが再付加によって低減
し、温度輻射も減少するとともに、外側の炉窓領域から
の冷たい安全ガスの侵入を妨げる。
配置し、支持部分の少なくとも一つは検体キャリアと物
質的に一体化して結合する。前記支持部分により、管内
における原子の滞留時間を延長し、原子雲の密度を引き
上げる障害が管の端部に生じる。かくして、意外なこと
に、Siemer,Frech共著：“Improving the performanceo
f the CRA atomizer...",Spectrochimica Akta Part
B：Vol.39 B, No.S 2/3,pp.261-269, に記述された問題
を新たな独自の方法で捉えて解決することとなった。支
持リングは、それを通じる電流のため追加的に加熱され
る。材料が管端部で肥厚する場合、長手方向に加熱した
グラファイト管で生じるように、通常、管端部に生じる
分析原子の損失を前記支持リングが再付加によって低減
し、温度輻射も減少するとともに、外側の炉窓領域から
の冷たい安全ガスの侵入を妨げる。
【００１８】検体キャリアの長さが変化することによ
り、発生した原子雲が滞留する管内の容積を最適化する
ことができる。
り、発生した原子雲が滞留する管内の容積を最適化する
ことができる。
【００１９】支持リングを用いることにより、システム
の加熱に空間的・時間的な影響を与え、その精度を高め
ることができる。接触により、管壁に電流が通じるため
である。したがって、内蓋における支持リングの位置お
よび伝導断面が重要である。
の加熱に空間的・時間的な影響を与え、その精度を高め
ることができる。接触により、管壁に電流が通じるため
である。したがって、内蓋における支持リングの位置お
よび伝導断面が重要である。
【００２０】支持リングのサイズ設定と炉管への電力供
給の設計とを組み合わせることにより、内蓋の時間的・
空間的な加熱特性に及ぼす多くの影響値が調整可能とな
る。
給の設計とを組み合わせることにより、内蓋の時間的・
空間的な加熱特性に及ぼす多くの影響値が調整可能とな
る。
【００２１】支持リングにより、管本体の耐圧性は著し
く向上する。その結果、電気的接触に際して生ずる機械
的圧力による変形は生起しない。
く向上する。その結果、電気的接触に際して生ずる機械
的圧力による変形は生起しない。
【００２２】基盤を炉管に挿入した後、専門文献により
公知の方法に従い、熱分解で被覆したならば、基盤と管
との付着が補強されるため、検体キャリアは位置を変え
ることができない。
公知の方法に従い、熱分解で被覆したならば、基盤と管
との付着が補強されるため、検体キャリアは位置を変え
ることができない。
【００２３】支持リングの中心開口の形状が、分光計の
検体スペースにおいて発光源の測定光束で機種により異
なるプロファイルに適合するならば、測定光線の全体強
度が一層良好に利用可能となり、分析の証明能力および
再現性を高めることができる。
検体スペースにおいて発光源の測定光束で機種により異
なるプロファイルに適合するならば、測定光線の全体強
度が一層良好に利用可能となり、分析の証明能力および
再現性を高めることができる。
【００２４】基盤は、例えば、グラファイト、パイログ
ラファイト、熱分解で被覆したグラファイト、ガラス系
炭素等の炭素系物質、または、特に、タングステン、タ
ンタル等の金属材料、または、セラミック材料から形成
することができる。
ラファイト、熱分解で被覆したグラファイト、ガラス系
炭素等の炭素系物質、または、特に、タングステン、タ
ンタル等の金属材料、または、セラミック材料から形成
することができる。
【００２５】
【実施例】以下、図示実施例につき本発明を一層具体的
に説明する。
に説明する。
【００２６】横断的に加熱可能な炉の本体１は、その炉
管２に二つの支持リング４，５を具える基盤３を有す
る。前記支持リングは、熱分解による被覆を介して炉の
本体と電気的および力学的に結合するが、炉の本体には
分離して挿入することも可能である。支持リング４，５
は、図３〜５に示した遷移ゾーン６を介して検体キャリ
ア７と結合する。
管２に二つの支持リング４，５を具える基盤３を有す
る。前記支持リングは、熱分解による被覆を介して炉の
本体と電気的および力学的に結合するが、炉の本体には
分離して挿入することも可能である。支持リング４，５
は、図３〜５に示した遷移ゾーン６を介して検体キャリ
ア７と結合する。
【００２７】このようにして、基盤３は、支持リング
４，５だけを介して炉の本体１と電気的および力学的に
結合する。
４，５だけを介して炉の本体１と電気的および力学的に
結合する。
【００２８】炉の本体１を横断的に加熱する実施例にお
いては、検体キャリア７により基本的に電流は生じず、
したがってジュール熱も発生しない。基盤は、リング
４，５においてのみ、炉管２の電位が等しいゾーンに接
するためである。
いては、検体キャリア７により基本的に電流は生じず、
したがってジュール熱も発生しない。基盤は、リング
４，５においてのみ、炉管２の電位が等しいゾーンに接
するためである。
【００２９】図３〜５に示した縦断面では、検体キャリ
ア７が炉管２の内壁には決して直接的に接触しないこと
が明らかである。
ア７が炉管２の内壁には決して直接的に接触しないこと
が明らかである。
【００３０】リング４，５を炉管２に電気的かつ熱分解
で結合した図１に示す実施例は、特に、液状の検体に適
する。検体キャリアは位置および状況を変えることがで
きないため、再現性に優れた測定が可能である。
で結合した図１に示す実施例は、特に、液状の検体に適
する。検体キャリアは位置および状況を変えることがで
きないため、再現性に優れた測定が可能である。
【００３１】図５と同様に図２に示した基盤３は、支持
リング４および遷移ゾーン３に取り付けた検体キャリア
７からのみ構成する。
リング４および遷移ゾーン３に取り付けた検体キャリア
７からのみ構成する。
【００３２】支持リング４に対向する管２の側には、管
内に支持リング８を設け、該支持リングは支持リング４
と幾何学的に同じ寸法を有する。
内に支持リング８を設け、該支持リングは支持リング４
と幾何学的に同じ寸法を有する。
【００３３】検体キャリア７と支持リング８との間に
は、基盤３の検体キャリア７を実際に電流が直接通じる
ことを防ぐためのスリット９を設ける。
は、基盤３の検体キャリア７を実際に電流が直接通じる
ことを防ぐためのスリット９を設ける。
【００３４】支持リング８は、管２に穴をうがつ際に肥
厚部分を残すことで直接的に生じるか、あるいは熱分解
による被覆プロセスの前に独立した単体として事後的に
装入し、熱分解で炉管と結合する。
厚部分を残すことで直接的に生じるか、あるいは熱分解
による被覆プロセスの前に独立した単体として事後的に
装入し、熱分解で炉管と結合する。
【００３５】図２に示す実施例は、特に、検体キャリア
７に設けた固形検体を基盤３とともに検体内部に導入す
るのに適している（しかし、図１の実施例も適する）。
その目的では、管内に基盤を設定するため、図示してい
ない公知のガイド部材、例えば、溝に嵌合する成形した
鼻状部材などを基盤および管に設けることができる。
７に設けた固形検体を基盤３とともに検体内部に導入す
るのに適している（しかし、図１の実施例も適する）。
その目的では、管内に基盤を設定するため、図示してい
ない公知のガイド部材、例えば、溝に嵌合する成形した
鼻状部材などを基盤および管に設けることができる。
【００３６】図３に示した遷移ゾーン６は、支持リング
から検体キャリアに熱伝導を促す（遅延する）ために狭
隘部10を有することが有利である。
から検体キャリアに熱伝導を促す（遅延する）ために狭
隘部10を有することが有利である。
【００３７】検体キャリア７は、検体を受けるために水
槽形状の凹所を有する。この凹所により、特に、乾燥工
程において、液状検体が凹所を超えて管端部の方向また
は管の内側マントル面の方向に流出することを防止す
る。
槽形状の凹所を有する。この凹所により、特に、乾燥工
程において、液状検体が凹所を超えて管端部の方向また
は管の内側マントル面の方向に流出することを防止す
る。
【００３８】図４に示す検体を受けるための凹所は、特
に簡単に作製しうる飼料槽の形状を有する。この凹所
は、例えば、円筒シャフトフライスを用いて加工し、唯
一の支持リング４を具える基盤３の実施例として作製す
る。図５は、図４に示した実施例で２個の支持リング４
を具えたものを示している。図６（ａ）〜６（ｃ）に示
した支持リング４，５，８における中心開口11, 12,13
の幾何学的形状は、分光計による測定光線束の各形状に
適合し、図６（ａ）では円形断面、図６（ｂ）では長円
形または楕円の断面、図６（ｃ）では長方形の断面を示
している。
に簡単に作製しうる飼料槽の形状を有する。この凹所
は、例えば、円筒シャフトフライスを用いて加工し、唯
一の支持リング４を具える基盤３の実施例として作製す
る。図５は、図４に示した実施例で２個の支持リング４
を具えたものを示している。図６（ａ）〜６（ｃ）に示
した支持リング４，５，８における中心開口11, 12,13
の幾何学的形状は、分光計による測定光線束の各形状に
適合し、図６（ａ）では円形断面、図６（ｂ）では長円
形または楕円の断面、図６（ｃ）では長方形の断面を示
している。
【００３９】さらに、中心開口11, 12, 13の形状および
寸法は、他の方向においても可変である。
寸法は、他の方向においても可変である。
【００４０】特に、凹所の寸法を縮小することにより、
分析プログラムの原子化ステップの間には、管内におけ
る分析原子の滞留時間および原子密度を高めることがで
きる。その際、先行するステップである検体の乾燥およ
び予備的な熱処理は、機能的推移および内部の安全ガス
流との協働において支障を来すことはない。
分析プログラムの原子化ステップの間には、管内におけ
る分析原子の滞留時間および原子密度を高めることがで
きる。その際、先行するステップである検体の乾燥およ
び予備的な熱処理は、機能的推移および内部の安全ガス
流との協働において支障を来すことはない。
【００４１】
【発明の効果】本発明による基盤は基盤の導入・導出が
可能であることにより、固体分析に係る自動的なグラフ
ァイト炉システムが実現し、固形検体を設けた基盤は、
例えば、把持システムを介して送出および検体定量に導
入・導出できる。
可能であることにより、固体分析に係る自動的なグラフ
ァイト炉システムが実現し、固形検体を設けた基盤は、
例えば、把持システムを介して送出および検体定量に導
入・導出できる。
【００４２】検体キャリアを支持部分に一体化結合する
際に、支持部分が管内の原子の滞留時間を延長し、原子
雲の密度を引き上げる障害を管の端部に生じさせるが、
支持リングの存在により、材料が管端部で肥厚しても、
長手方向に加熱したグラファイト管で生じるように、管
端部に生じる分析原子の損失を前記支持リングの再付加
により低減し、温度輻射も減少できるとともに、外側の
炉窓領域からの冷たい安全ガスの侵入を防止できる。
際に、支持部分が管内の原子の滞留時間を延長し、原子
雲の密度を引き上げる障害を管の端部に生じさせるが、
支持リングの存在により、材料が管端部で肥厚しても、
長手方向に加熱したグラファイト管で生じるように、管
端部に生じる分析原子の損失を前記支持リングの再付加
により低減し、温度輻射も減少できるとともに、外側の
炉窓領域からの冷たい安全ガスの侵入を防止できる。
【００４３】検体キャリアの長さを変化できることで、
発生した原子雲が滞留する管内の容積を最適化すること
ができる。
発生した原子雲が滞留する管内の容積を最適化すること
ができる。
【００４４】支持リングのサイズ設定と炉管への電力供
給の設計とを組合わせることにより、内蓋の時間的、空
間的な加熱特性に及ぶ多くの影響値の調整が可能とな
る。支持リングの存在により、管本体の耐圧性が著しく
向上し、電気的接触に際して生じる機械的圧力による変
形を防止できる。
給の設計とを組合わせることにより、内蓋の時間的、空
間的な加熱特性に及ぶ多くの影響値の調整が可能とな
る。支持リングの存在により、管本体の耐圧性が著しく
向上し、電気的接触に際して生じる機械的圧力による変
形を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、検体キャリアの両側に支持リングを具
える本発明による基盤を有する炉管を部分的に破断して
示した炉本体の立体図である。
える本発明による基盤を有する炉管を部分的に破断して
示した炉本体の立体図である。
【図２】図２は、基盤に対応する１個の支持リングおよ
び炉管内に取り付けた支持リングを具える本発明による
基盤を有する炉管を図１に倣って示した炉本体の立体図
である。
び炉管内に取り付けた支持リングを具える本発明による
基盤を有する炉管を図１に倣って示した炉本体の立体図
である。
【図３，４，５】図３，４および５は、図（ａ）が基盤
および炉管を線Ａ−Ａに沿って破断して示した縦断面
図。図（ｂ）が本発明による基盤の実施例を示した平面
図である。
および炉管を線Ａ−Ａに沿って破断して示した縦断面
図。図（ｂ）が本発明による基盤の実施例を示した平面
図である。
【図６】図６（ａ）,６（ｂ）および６（ｃ）は、支持
リングの中心開口として可能な３様の形状を線Ｂ−Ｂに
沿って炉管中央で破断して示した断面図である。
リングの中心開口として可能な３様の形状を線Ｂ−Ｂに
沿って炉管中央で破断して示した断面図である。
1 … 管状の炉の本体 2 … 炉管 3 … 基盤 4, 5, 8 … 支持リング 6 … 遷移ゾーン 7 … 検体キャリア 9 … スリット 10 … 遷移ゾーンの狭隘部 11 … 支持リングにおける円形の中心開口 12 … 支持リングにおける長円形の中心開口 13 … 支持リングにおける垂直長方形の中心開口
Claims (26)
- 【請求項１】 原子吸収分光学に用いる横断的に加熱し
た電熱原子化炉の基盤であって、検体キャリア（７）の
検体は電気的に加熱した管内壁の熱放射に直接曝される
ものにおいて、検体キャリア（７）を支持し、炉管
（２）のなかで分析原子の熱膨張を制御して抑制するた
めに、電流を通した支持リング（４，５）を管端部に具
え、前記支持リングは管断面を狭め、その外径は炉管の
内径に概ね一致し、その幅は全体として管長の４０％未
満であり、少なくとも１個の支持リング（４，５）は検
体キャリア（７）と堅く結合するとともに、この検体キ
ャリアと物理的に一体化して基盤を形成し、検体キャリ
ア（７）自体は管壁に対して電気的接触または直接の熱
的接触を有しないことを特徴とする基盤。 - 【請求項２】 請求項１記載の基盤において、少なくと
も１個の支持リング（４，５）は、熱供給を調節する遷
移ゾーン（６）を介して検体キャリア（７）と結合した
ことを特徴とする基盤。 - 【請求項３】 請求項１または２に記載の基盤におい
て、少なくとも１個の支持リング（４，５）は、熱分解
で生成した層を通じて炉管（２）と堅く結合したことを
特徴とする基盤。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか一項に記載の基
盤において、検体キャリアの両側には支持リング（４，
５）を具え、該支持リングは検体キャリアと堅く結合
し、この検体キャリアと物理的に一体化したことを特徴
とする基盤。 - 【請求項５】 請求項１または２に記載の基盤におい
て、基盤は、特に、固体分析に際して、分離した単体と
して交換可能であることを特徴とする基盤。 - 【請求項６】 請求項５記載の基盤において、検体キャ
リアと堅く結合するとともに、検体キャリアと物理的に
一体化した支持リング（４）を具え、管内部の支持リン
グ（４）に対向する側には第２のリング（８）を設け、
該リングは支持リング（４）と幾何学的に同一の形状を
有することを特徴とする基盤。 - 【請求項７】 請求項６記載の基盤において、検体キャ
リア（７）と第２の支持リング（８）との間にスリット
（９）が存在することを特徴とする基盤。 - 【請求項８】 請求項５記載の基盤において、検体キャ
リアの両側には、この検体キャリアと堅く結合した支持
リング（４，５）を具えたことを特徴とする基盤。 - 【請求項９】 請求項１〜８のいずれか一項に記載の基
盤において、単数または複数の支持リング（４，８）に
おける中心開口（11, 12, 13）の形状は、測定光線束の
形状に適合したことを特徴とする基盤。 - 【請求項１０】 請求項９記載の基盤において、中心開
口（11）は円形であることを特徴とする基盤。 - 【請求項１１】 請求項９記載の基盤において、中心開
口（12,13）は垂直スリットの形状を有することを特徴
とする基盤。 - 【請求項１２】 請求項11記載の基盤において、 スリッ
ト（12）は長円形であることを特徴とする基盤。 - 【請求項１３】 請求項11記載の基盤において、スリッ
ト（13）は長方形であることを特徴とする基盤。 - 【請求項１４】 請求項11記載の基盤において、 スリッ
トは楕円形であることを特徴とする基盤。 - 【請求項１５】 請求項１〜14のいずれか一項に記載の
基盤において、 検体キャリアは水槽形状の凹所を有する
ことを特徴とする基盤。 - 【請求項１６】 請求項１〜14のいずれか一項に記載の
基盤において、 検体キャリアは飼料槽形状の凹所を有す
ることを特徴とする基盤。 - 【請求項１７】 請求項１〜16のいずれか一項に記載の
基盤において、 固体分析に際して基盤を導入するため
に、 炉管および/ または基盤にはガイド部材を具えたこ
とを特徴とする基盤。 - 【請求項１８】 請求項１〜17のいずれか一項に記載の
基盤において、 支持リングと検体キャリアとの間の遷移
ゾーン（６）は、熱を支持リング（４）から検体キャリ
ア（７）に伝導するための狭隘部および/ または穿孔を
有することを特徴とする基盤。 - 【請求項１９】 請求項１〜18のいずれか一項に記載の
基盤において、 基盤はグラファイトまたは熱分解で被覆
したグラファイトから形成したことを特徴とする基盤。 - 【請求項２０】 請求項１〜18のいずれか一項に記載の
基盤において、 基盤はセラミック材料から形成したこと
を特徴とする基盤。 - 【請求項２１】 請求項１〜18のいずれか一項に記載の
基盤において、基盤はガラス系炭素物質から形成したこ
とを特徴とする基盤。 - 【請求項２２】 請求項１〜18のいずれか一項に記載の
基盤において、基盤は金属材料から形成したことを特徴
とする基盤。 - 【請求項２３】 請求項22記載の基盤において、 基盤は
タングステンから形成したことを特徴とする基盤。 - 【請求項２４】 請求項22記載の基盤において、 基盤は
タンタルから形成したことを特徴とする基盤。 - 【請求項２５】 請求項１〜18のいずれか一項に記載の
基盤において、基盤はパイログラファイトから形成した
ことを特徴とする基盤。 - 【請求項２６】 請求項１〜24のいずれか一項に記載の
基盤において、 単数または複数の支持リング（４，８）
の中心開口および通過する測定光束の有効断面は、分析
の証明能力および再現性に不可欠な最小限度まで削減し
たことを特徴とする基盤。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4243767A DE4243767C2 (de) | 1992-12-23 | 1992-12-23 | Plattform für einen querbeheizten, elektrothermischen Atomisierofen für die Atomabsorptions-Spektroskopie |
| DE4243767.9 | 1992-12-23 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06281569A true JPH06281569A (ja) | 1994-10-07 |
Family
ID=6476330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5345960A Pending JPH06281569A (ja) | 1992-12-23 | 1993-12-24 | 原子吸収分光学により横断的に加熱した電熱原子化炉 の基盤 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5367374A (ja) |
| EP (1) | EP0603814B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06281569A (ja) |
| CN (1) | CN1091826A (ja) |
| DE (2) | DE4243767C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019039919A (ja) * | 2017-08-24 | 2019-03-14 | シュンク・コーレンストッフテヒニーク・ゲーエムベーハー | 管状炉装置 |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5949538A (en) * | 1996-07-11 | 1999-09-07 | Sgl Carbon Ag | Longitudinally or transversely heated tubular atomizing furnace |
| DE19835074A1 (de) * | 1998-08-04 | 2000-02-10 | Analytik Jena Gmbh Analysenmes | Atomisierofen und Atomisiereinrichtung für Feststoff- und Lösungsanalytik |
| DE19932874C2 (de) * | 1999-07-16 | 2002-11-14 | Schunk Kohlenstofftechnik Gmbh | Atomisierofen |
| DE19940095A1 (de) * | 1999-08-24 | 2001-03-01 | Analytik Jena Ag | Zeeman-Atomisiereinrichtung für gelöste und feste Proben |
| DE10128272A1 (de) * | 2001-06-12 | 2002-12-19 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Ofen |
| CZ302756B6 (cs) * | 2005-05-13 | 2011-10-19 | Ústav analytické chemie AV CR | Modulární konstrukce atomizátoru hydridu pro atomovou absorpcní spektrometrii |
| DE102016219492A1 (de) * | 2016-10-07 | 2018-04-12 | Schunk Kohlenstofftechnik Gmbh | Probenträgereinrichtung für einen Atomisierofen und Verfahren zur Herstellung |
| CN108534895A (zh) * | 2018-06-11 | 2018-09-14 | 广西科技大学鹿山学院 | 一种电热石英管原子化器 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE252249C (ja) * | ||||
| DE221279C (ja) * | ||||
| DE2924123C2 (de) * | 1979-06-15 | 1985-04-04 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Graphitrohr zum Atomisieren von Proben bei der flammenlosen Atomabsorptions-Spektroskopie |
| US4407582A (en) * | 1981-01-12 | 1983-10-04 | The Research And Development Institute, Inc. At Montana State University | Method and apparatus for reduction of matric interference in electrothermal atomizer for atomic absorption spectroscopy |
| DE3307251A1 (de) * | 1983-03-02 | 1984-09-06 | Klaus-Richard Dr. 2000 Hamburg Sperling | Verfahren und vorrichtung zum untersuchen von proben mittels flammenloser atomabsorptionsmessung |
| DD221279A1 (de) * | 1983-12-30 | 1985-04-17 | Adw Ddr Inst Optik | Atomisatorrohr fuer die flammenlose atomabsorptionsspektrometrie |
| DD233190A1 (de) * | 1984-09-28 | 1986-02-19 | Adw Der Ddr Zi F Optik U Spekt | Atomisator fuer probentraeger |
| DD252249B5 (de) * | 1986-09-01 | 1994-01-27 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Vorrichtung zur elektrothermischen atomisierung |
| DE3735013A1 (de) * | 1987-10-16 | 1989-04-27 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Rohrfoermiger ofen fuer die elektrothermische atomisierung von proben bei der atomabsorptions-spektroskopie |
| DD264075A1 (de) * | 1987-08-26 | 1989-01-18 | Elektrokohle Lichtenberg Veb | Anordnung fuer die plattformtechnik in der flammenlosen atomabsorption |
| DE3734001A1 (de) * | 1987-10-08 | 1989-04-20 | Ringsdorff Werke Gmbh | Vorrichtung fuer die atomabsorptionsspektroskopie |
| DE8714670U1 (de) * | 1987-11-04 | 1987-12-17 | Ringsdorff-Werke GmbH, 5300 Bonn | Küvette für die flammenlose Atomabsorptions-Spektroskopie |
| DE8803144U1 (de) * | 1988-03-09 | 1988-04-21 | Ringsdorff-Werke GmbH, 5300 Bonn | Graphitrohrofen mit Probenträger für die Atomabsorptionsspektroskopie |
| DE3823346C2 (de) * | 1988-07-09 | 1994-03-24 | Ringsdorff Werke Gmbh | Graphitrohrofen mit einem Probenträger für die Atomabsorptionsspektroskopie |
| DE8901529U1 (de) * | 1989-02-10 | 1989-05-11 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Ofen zur elektrothermischen Atomisierung von Proben für die Atomabsorptions-Spektroskopie |
| DE9001771U1 (de) * | 1990-02-15 | 1990-04-19 | Ringsdorff-Werke GmbH, 5300 Bonn | Graphitrohrofen mit arretiertem Probenträger für die Atomabsorptionsspektroskopie |
-
1992
- 1992-12-23 DE DE4243767A patent/DE4243767C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-12-21 EP EP93120593A patent/EP0603814B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-21 DE DE59307017T patent/DE59307017D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-22 CN CN93112981A patent/CN1091826A/zh active Pending
- 1993-12-23 US US08/178,382 patent/US5367374A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-24 JP JP5345960A patent/JPH06281569A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019039919A (ja) * | 2017-08-24 | 2019-03-14 | シュンク・コーレンストッフテヒニーク・ゲーエムベーハー | 管状炉装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0603814B1 (de) | 1997-07-30 |
| DE4243767A1 (de) | 1994-06-30 |
| CN1091826A (zh) | 1994-09-07 |
| DE59307017D1 (de) | 1997-09-04 |
| EP0603814A1 (de) | 1994-06-29 |
| DE4243767C2 (de) | 1996-06-05 |
| US5367374A (en) | 1994-11-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6646253B1 (en) | Gas inlet for an ion source | |
| Frech et al. | Spatially isothermal graphite furnace for atomic absorption spectrometry using side-heated cuvettes with integrated contacts | |
| JPH06281569A (ja) | 原子吸収分光学により横断的に加熱した電熱原子化炉 の基盤 | |
| US4443105A (en) | Device useful for flameless atomic absorption spectroscopy | |
| JP2004158314A (ja) | 誘導結合プラズマトーチ | |
| JPS6275335A (ja) | 原子吸光分析用キユベツト | |
| US4111563A (en) | Graphite tube assembly having a sample supporting inner body | |
| JP2020020783A (ja) | 改良溶湯サンプラー | |
| US3895873A (en) | Spectroscopic analysis apparatus utilizing a tubular heating element and a passive sample holder | |
| Frech | Recent developments in atomizers for electrothermal atomic absorption spectrometry | |
| GB2195766A (en) | A device for electrothermal atomisation | |
| Morrison et al. | Microanalysis of solids by atomic absorption and emission spectroscopy using an rf [radiofrequency] furnace | |
| US4971438A (en) | Graphite tube furnace with specimen support for atomic absorption spectroscopy | |
| US10969340B2 (en) | Heating chamber, heating furnace, analysis device, and method for analyzing foreign matter contents in samples | |
| US4946278A (en) | Graphite tube furnace with specimen support for atomic absorption spectroscopy | |
| US5249028A (en) | Graphite tube furnace | |
| US4595835A (en) | Material ionizing device | |
| JPH02227635A (ja) | 無炎原子吸収分光用原子化装置 | |
| JP2931967B2 (ja) | 高沸点気体状分子導入用誘導結合プラズマトーチ | |
| Forsyth | Design and evaluation of a capillary gas chromatography-atomic absorption spectrometer interface | |
| EP0168113B1 (en) | Electrothermal atomiser | |
| US4308008A (en) | Method for differential thermal analysis | |
| JPH0735686A (ja) | 電熱による原子化のための装置 | |
| EP0133720A2 (en) | Tube cell for atomic absorption spectrophotometry | |
| SU1368738A1 (ru) | Электротермический атомизатор |