JPH06258051A - マーク検出方法 - Google Patents
マーク検出方法Info
- Publication number
- JPH06258051A JPH06258051A JP5071008A JP7100893A JPH06258051A JP H06258051 A JPH06258051 A JP H06258051A JP 5071008 A JP5071008 A JP 5071008A JP 7100893 A JP7100893 A JP 7100893A JP H06258051 A JPH06258051 A JP H06258051A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- marks
- mark
- contrast
- optical sensor
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 回路基板１の表面に施されているマーク２
を、光学センサ３を用いて確実に読み取る。 【構成】 光学センサ３で回路基板１の表面を走査し
て、同基板１の表面に施されたマーク２を検出するに当
り、光学センサ３コントラストの大きい順に既知のマー
ク数ｎまでの個所をマーク２として検出する。
を、光学センサ３を用いて確実に読み取る。 【構成】 光学センサ３で回路基板１の表面を走査し
て、同基板１の表面に施されたマーク２を検出するに当
り、光学センサ３コントラストの大きい順に既知のマー
ク数ｎまでの個所をマーク２として検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学センサを用いて、
検査物の表面に施されたマークを検出する方法に関す
る。
検査物の表面に施されたマークを検出する方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】回路基板への部品の搭載に当たって、回
路部品を回路基板上に位置決めするため、予め回路基板
上にマークを印刷しておき、そのマークを基準として回
路部品の搭載位置を位置決めすることが行われている。
こうした位置決め用のマークの読み取りは、ＣＣＤカメ
ラ等の光学センサにより、マークとそれ以外の部分との
明暗の差、つまりコントラストにより読み取る方法が一
般に行われている。その場合、コントラストについて予
め域値を定めておき、その域値を越えるコントラストの
個所をマークとして検出するマークの読み取り方法が従
来行われてきた。
路部品を回路基板上に位置決めするため、予め回路基板
上にマークを印刷しておき、そのマークを基準として回
路部品の搭載位置を位置決めすることが行われている。
こうした位置決め用のマークの読み取りは、ＣＣＤカメ
ラ等の光学センサにより、マークとそれ以外の部分との
明暗の差、つまりコントラストにより読み取る方法が一
般に行われている。その場合、コントラストについて予
め域値を定めておき、その域値を越えるコントラストの
個所をマークとして検出するマークの読み取り方法が従
来行われてきた。
【０００３】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、前
記従来のマーク読み取り方法では、マークとそれ以外の
部分のコントラストが小さく、しかも検査物の表面にマ
ーク以外にコントラストを生じる汚れ等があると、誤っ
てそれらの汚れをマークとして読みとってしまうことが
ある。そこで、これらの汚れをマークとして読み取らな
いようにするため、前記の域値を高くすると、今度は実
際のマークがマークとして検出されないことがある。
記従来のマーク読み取り方法では、マークとそれ以外の
部分のコントラストが小さく、しかも検査物の表面にマ
ーク以外にコントラストを生じる汚れ等があると、誤っ
てそれらの汚れをマークとして読みとってしまうことが
ある。そこで、これらの汚れをマークとして読み取らな
いようにするため、前記の域値を高くすると、今度は実
際のマークがマークとして検出されないことがある。
【０００４】本発明は、従来のマーク読み取り方法にお
けるこのような問題点に鑑み、検査物の表面に施されて
いるマークを、光学センサを用いて確実に読み取ること
ができるマーク検出方法を提供することを目的とする。
けるこのような問題点に鑑み、検査物の表面に施されて
いるマークを、光学センサを用いて確実に読み取ること
ができるマーク検出方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明では、
前記の目的を達成するため、光学センサ３を用いて、検
査物の表面に施されたマーク２を検出する方法におい
て、光学センサ３で検査物の表面を走査し、コントラス
トの大きい順に既知のマーク数ｎまでの個所をマーク２
として検出することを特徴とするマーク検出方法を提供
する。
前記の目的を達成するため、光学センサ３を用いて、検
査物の表面に施されたマーク２を検出する方法におい
て、光学センサ３で検査物の表面を走査し、コントラス
トの大きい順に既知のマーク数ｎまでの個所をマーク２
として検出することを特徴とするマーク検出方法を提供
する。
【０００６】
【作用】検査物の表面に人為的に施されたマーク２は、
汚れ等に比べて検査物の素地表面に対しするコントラス
トが高い。そこで本発明では、光学センサ３を用いて、
検査物の表面に施されたマーク２を検出するに当り、光
学センサ３で読み取った個所のうち、コントラストの大
きい順に既知のマーク数ｎまでをマーク２として検出す
るため、所定の数のマーク２を確実に検出することがで
きる。しかも、予め域値を設定しておく従来の方法のよ
うに、域値を越えるようなコントラストを生じる汚れ等
の部分を誤ってマークとして検出してしまうこともな
い。
汚れ等に比べて検査物の素地表面に対しするコントラス
トが高い。そこで本発明では、光学センサ３を用いて、
検査物の表面に施されたマーク２を検出するに当り、光
学センサ３で読み取った個所のうち、コントラストの大
きい順に既知のマーク数ｎまでをマーク２として検出す
るため、所定の数のマーク２を確実に検出することがで
きる。しかも、予め域値を設定しておく従来の方法のよ
うに、域値を越えるようなコントラストを生じる汚れ等
の部分を誤ってマークとして検出してしまうこともな
い。
【０００７】
【実施例】次に、図面を参照しながら、本発明の実施例
について詳細に説明する。図１は、検査物である回路基
板１の主面に施されたマーク２、２…を光学センサ３で
検出する場合の概念図であり、図３は、それに使用する
装置の例を示す概略図である。
について詳細に説明する。図１は、検査物である回路基
板１の主面に施されたマーク２、２…を光学センサ３で
検出する場合の概念図であり、図３は、それに使用する
装置の例を示す概略図である。
【０００８】図３に示すように、検査物である回路基板
１は、Ｘ−Ｙテーブル７の上に載せられ、固定枠８によ
り固定された状態で、同テーブル７により、図３におい
て左右前後に移動される。このＸ−Ｙテーブル７の上に
はＣＣＤカメラ等の光学センサ３が設置されており、こ
の光学センサ３の検出点は、前記Ｘ−Ｙテーブル７によ
る回路基板１の移動により、同基板１の主面上で走査さ
れる。
１は、Ｘ−Ｙテーブル７の上に載せられ、固定枠８によ
り固定された状態で、同テーブル７により、図３におい
て左右前後に移動される。このＸ−Ｙテーブル７の上に
はＣＣＤカメラ等の光学センサ３が設置されており、こ
の光学センサ３の検出点は、前記Ｘ−Ｙテーブル７によ
る回路基板１の移動により、同基板１の主面上で走査さ
れる。
【０００９】光学センサ３の出力は、アンプ９で増幅さ
れた後、Ａ／Ｄ変換器１２でＡ／Ｄ変換され、コンピュ
ータ１０に入力される。また、前記Ｘ−Ｙテーブル７の
出力により、光学センサ３の検出点の座標がコンピュー
タ１０に入力される。このコンピュータ１０には、予め
マーク２、２…の数ｎが入力されており、この例では、
図１に示す通り、マーク２、２…の数はｎ＝５である。
このコンピュータ１０により演算された結果は、プリン
タやプロッタ等の出力装置１１に出力される。
れた後、Ａ／Ｄ変換器１２でＡ／Ｄ変換され、コンピュ
ータ１０に入力される。また、前記Ｘ−Ｙテーブル７の
出力により、光学センサ３の検出点の座標がコンピュー
タ１０に入力される。このコンピュータ１０には、予め
マーク２、２…の数ｎが入力されており、この例では、
図１に示す通り、マーク２、２…の数はｎ＝５である。
このコンピュータ１０により演算された結果は、プリン
タやプロッタ等の出力装置１１に出力される。
【００１０】ここでは、図１に示すように、光学センサ
３の検出点を回路基板１の主面の所定の範囲の中で二点
鎖線で示す如く走査しながら、その反射光量を読み取っ
ていく。この読み取り結果は、例えば図４で示すような
反射光量の検出レベルとして得られる。ここで、反射光
の検出レベルが低いピークを示す位置は、回路基板１の
素地表面より暗いため、コントラストが得られる部分で
ある。従って、検出レベルの低い順、つまりコントラス
トの高い順に、前述した既知マーク２、２…の数ｎ＝５
までのピーク位置をマーク２、２…として検出する。図
４では、検出レベルの低い順に６番目のピークまでに番
号が付してあるが、そのうち１〜５番目までをマーク
２、２…として検出し、６番目以降はマークとして検出
しない。これにより、所定の数ｎ＝５のマーク２、２…
が検出される。
３の検出点を回路基板１の主面の所定の範囲の中で二点
鎖線で示す如く走査しながら、その反射光量を読み取っ
ていく。この読み取り結果は、例えば図４で示すような
反射光量の検出レベルとして得られる。ここで、反射光
の検出レベルが低いピークを示す位置は、回路基板１の
素地表面より暗いため、コントラストが得られる部分で
ある。従って、検出レベルの低い順、つまりコントラス
トの高い順に、前述した既知マーク２、２…の数ｎ＝５
までのピーク位置をマーク２、２…として検出する。図
４では、検出レベルの低い順に６番目のピークまでに番
号が付してあるが、そのうち１〜５番目までをマーク
２、２…として検出し、６番目以降はマークとして検出
しない。これにより、所定の数ｎ＝５のマーク２、２…
が検出される。
【００１２】ここで例えば、域値を設定することでマー
ク２、２…を検出する従来の方法の場合、域値を図４に
おいてＡで示すレベルに設定した場合、１〜５番目まで
のピークを示すマーク２、２…が検出でき、結果として
前記実施例と同様にマーク２、２…が検出せきる。しか
し、域値をＢで示すレベルに設定した場合、４番目と５
番目のレベルを示すマーク２、２は検出されない。他
方、域値をＣで示すレベルに設定した場合、６番目のレ
ベルを示す汚れ等がマークとして検出されてしまう。
ク２、２…を検出する従来の方法の場合、域値を図４に
おいてＡで示すレベルに設定した場合、１〜５番目まで
のピークを示すマーク２、２…が検出でき、結果として
前記実施例と同様にマーク２、２…が検出せきる。しか
し、域値をＢで示すレベルに設定した場合、４番目と５
番目のレベルを示すマーク２、２は検出されない。他
方、域値をＣで示すレベルに設定した場合、６番目のレ
ベルを示す汚れ等がマークとして検出されてしまう。
【００１３】マーク２、２…の示すコントラストがどの
程度であるかは必ずしも明確ではなく、従って、コント
ラストの域値をどの程度に設定するかも必ずしも明確で
はないことが多い。このため、予めマーク２、２…の数
が分かっていれば、本発明による方法を用いることで、
所定の数のマークを確実に検出できることができ、従来
の方法に比べてより有効である。
程度であるかは必ずしも明確ではなく、従って、コント
ラストの域値をどの程度に設定するかも必ずしも明確で
はないことが多い。このため、予めマーク２、２…の数
が分かっていれば、本発明による方法を用いることで、
所定の数のマークを確実に検出できることができ、従来
の方法に比べてより有効である。
【００１４】次に、図２は、重ね合わせた板材４、４…
の側面中央に各々施したマーク６、６…を検出する例に
この発明によるマーク検出方法を適用した実施例を示
す。ここでも、板材４、４の側面に沿って順次光学セン
サ３の検出点を走査していき、そのコントラストを読み
取り、そのコントラストが高い順にマーク６、６…の数
ｎ、つまりｎ＝６までをマークとして検出する。これに
より、例えば重ね合わせた板材４、４…全体の重心を演
算し、それを基準としてワイヤ５をそれらの板材４、４
…に掛けて、安定した状態で吊り下げることができる。
の側面中央に各々施したマーク６、６…を検出する例に
この発明によるマーク検出方法を適用した実施例を示
す。ここでも、板材４、４の側面に沿って順次光学セン
サ３の検出点を走査していき、そのコントラストを読み
取り、そのコントラストが高い順にマーク６、６…の数
ｎ、つまりｎ＝６までをマークとして検出する。これに
より、例えば重ね合わせた板材４、４…全体の重心を演
算し、それを基準としてワイヤ５をそれらの板材４、４
…に掛けて、安定した状態で吊り下げることができる。
【００１５】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、予
め域値を設定しておく従来の方法のように、域値を越え
るようなコントラストを生じる汚れ等の部分を誤ってマ
ークとして検出してしまうことがなく、検査物の表面に
施された所定の数のマークを確実に検出することができ
る。
め域値を設定しておく従来の方法のように、域値を越え
るようなコントラストを生じる汚れ等の部分を誤ってマ
ークとして検出してしまうことがなく、検査物の表面に
施された所定の数のマークを確実に検出することができ
る。
【図１】本発明の実施例によるマーク検出方法の概念を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図２】本発明の他の実施例によるマーク検出方法の概
念を示す斜視図である。
念を示す斜視図である。
【図３】前記実施例によるマーク検出方法を実施するた
めの装置の例を示す概略図である。
めの装置の例を示す概略図である。
【図４】前記実施例によるマーク検出方法において得ら
れた検出結果の例を示すグラフである。
れた検出結果の例を示すグラフである。
１ 回路基板 ２ マーク ３ 光学センサ ４ 板材 ６ マーク
フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０５Ｋ 13/00 Ｂ 8509−4Ｅ
Claims (1)
- 【請求項１】 光学センサ（３）を用いて、検査物の表
面に施されたマーク（２）を検出する方法において、光
学センサ（３）で検査物の表面を走査し、コントラスト
の大きい順に既知のマーク数ｎまでの個所をマーク
（２）として検出することを特徴とするマーク検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5071008A JPH06258051A (ja) | 1993-03-06 | 1993-03-06 | マーク検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5071008A JPH06258051A (ja) | 1993-03-06 | 1993-03-06 | マーク検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06258051A true JPH06258051A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=13448053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5071008A Withdrawn JPH06258051A (ja) | 1993-03-06 | 1993-03-06 | マーク検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06258051A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003520947A (ja) * | 1999-12-21 | 2003-07-08 | スナップ − オン テクノロジーズ，インコーポレイテッド | マシン・ビジョン測定システムにおいて障害を自動的に識別する方法および装置 |
| CN110581944A (zh) * | 2018-06-11 | 2019-12-17 | 欧姆龙株式会社 | 控制系统、控制装置以及存储介质 |
-
1993
- 1993-03-06 JP JP5071008A patent/JPH06258051A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003520947A (ja) * | 1999-12-21 | 2003-07-08 | スナップ − オン テクノロジーズ，インコーポレイテッド | マシン・ビジョン測定システムにおいて障害を自動的に識別する方法および装置 |
| CN110581944A (zh) * | 2018-06-11 | 2019-12-17 | 欧姆龙株式会社 | 控制系统、控制装置以及存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0572961B2 (ja) | ||
| JPH06258051A (ja) | マーク検出方法 | |
| JPS6117310B2 (ja) | ||
| JPH11507197A (ja) | 画像記録システムおよび画像記録方法 | |
| JP2648476B2 (ja) | 部品の検出装置 | |
| JPS6359442B2 (ja) | ||
| JP2705458B2 (ja) | 実装基板外観検査装置 | |
| JP2556180B2 (ja) | はんだブリッジ検査装置 | |
| JP2658594B2 (ja) | 表面実装ｉｃリードずれ検査装置 | |
| JP2578916B2 (ja) | 印刷パターンの検査方法 | |
| JP2743663B2 (ja) | 実装基板外観検査装置 | |
| JP2525261B2 (ja) | 実装基板外観検査装置 | |
| JPS6335428B2 (ja) | ||
| JP3715489B2 (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPH07273500A (ja) | 実装済プリント基板自動検査装置 | |
| JP3149723B2 (ja) | 絵柄印刷位置検出装置 | |
| JPH06300524A (ja) | 認識マークの位置検出装置 | |
| JP2884581B2 (ja) | 実装済プリント基板の検査装置における基準データーの教示方法 | |
| JPS587900A (ja) | チップ素子の検知方法 | |
| JP2819696B2 (ja) | はんだ付検査装置 | |
| JPH06185995A (ja) | 基板外観検査装置 | |
| Neger et al. | Integration and Application of Vision Systems in SMD Automatic Placement Machines | |
| JPS60194600A (ja) | 半導体検査装置 | |
| JP2871036B2 (ja) | 画像処理装置 | |
| JPH03220406A (ja) | Ｆｉｃリード曲がり検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000509 |