JPH06252558A - 多層ガラスセラミックキャビティ基板 - Google Patents

多層ガラスセラミックキャビティ基板

Info

Publication number
JPH06252558A
JPH06252558A JP3997393A JP3997393A JPH06252558A JP H06252558 A JPH06252558 A JP H06252558A JP 3997393 A JP3997393 A JP 3997393A JP 3997393 A JP3997393 A JP 3997393A JP H06252558 A JPH06252558 A JP H06252558A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cavity
glass ceramic
conductor layer
substrate
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3997393A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Senda
実 仙田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP3997393A priority Critical patent/JPH06252558A/ja
Publication of JPH06252558A publication Critical patent/JPH06252558A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 表面導体層の落込みをなくして、リード端子
接続性、ワイヤボンディング性の優れた多層ガラスセラ
ミックキャビティ基板を提供する 【構成】 いずれも表面に内層用の導体層2,2aを有
するキャビティ形成用の複数個の第1のガラスセラミッ
クシート1及びキャビティの底板形成用の複数個の第2
のガラスセラミックシート4,4aとキャビティ3aの
最表層を構成し表面導体7のみを有する1個の第3のガ
ラスセラミックシート1aとの積層組合せ体からなる多
層キャビティ基板であって、第1及び第2の各ガラスセ
ラミックシートの基板端面部とキャビティ側端面部とに
接し、導体層2,2aの延長表面にこの導体層とは接続
しない副導体層13を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は多層ガラスセラミックキ
ャビティ基板に関し、特に積層・焼成後の仕上り基板の
変形を防止する構造に特徴を有する多層ガラスセラミッ
クキャビティ基板(以下多層キャビティ基板という)に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は従来の多層キャビティ基板の構造
を示す模式断面図であり、図5は図4の多層キャビティ
基板の積層前のガラスセラミックシートの断面図であ
る。両図において、1はキャビティ3a形成用の第1の
ガラスセラミックシート、2は第1のガラスセラミック
シート1の中央表面に設けた内層用の導体層、3はこれ
らの基板によって形成されるキャビティ3a形成用の開
口部である。また、4,4aは、底板形成用のいずれも
第2のガラスセラミックシートであるが、第2のガラス
セラミックシート4には第1のガラスセラミックシート
1に設けた導体層2と同じ導体層が積層時の同位置に形
成され、第2のガラスセラミックシート4aには底板用
導体層2aが形成されている。そして、表面導体層7の
みを基板端面部5とキャビティ端面部6とに接するよう
に有する第3のガラスセラミックシート1aが多層キャ
ビティ基板の最表層を構成するように積層されている。
【0003】なお、上記の従来例においては、第1のガ
ラスセラミックシート1が2個、第2のガラスセラミッ
クシート4,4aが2個、第3のガラスセラミックシー
ト1aが1個の場合を例として説明したが、通常は、第
3のガラスセラミックシート1a以外は、2個以上の複
数基板によって積層されている。
【0004】上述の構成において、まず、導体層2、表
面導体層7及び底板用導体層2aは、上述の各ガラスセ
ラミックシート上の所定領域位置に、スクリーン印刷法
等により例えば金、銀、銅等の金属粉末を含むペースト
を用いて一様に(ベタ状に)形成される。なお、図4に
示す仕上げ状態の多層キャビティ基板において、これら
各種の導体層は、表面導体層7の電気特性を特定する役
目をもって構成されているものである。そして、開口部
3を揃えて積層して得られるキャビティ3aは、第1の
ガラスセラミックシート1にIC(集積回路素子)等を
搭載するための立体的な空間として使用される。
【0005】図4に示したような積層体からなる多層キ
ャビティ基板は、図5のように配列した各部材を積層し
た後、全方向から均等な温度と圧力をかけて圧着した状
態で焼成することによって得られる。この場合、前述の
第3のガラスセラミックシート1aに設けられた表面導
体層7の電気特性を所定の値のものとするために、内層
の導体層(ベタ導体層)2,底板用導体層2aの端部
は、図4にみられるように、焼成後の基板端面部5やキ
ャビティ端面部6あるいはその両方から所定の一定間隔
Lをおいて極力近づけている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成のような従来の多層キャビティ基板では、積層数が増
えれば増えるほど導体層がある部分とない部分の積層高
さに差が生じて、端面部での落ち込みとなって顕著に現
れてくるという問題があった。いま、その有様を図6、
図7の基本模式図に示したが、より具体的には、図6の
ように、各第1、第2のガラスセラミックシート1、1
a等の厚さをTとし、導体層2、表面導体層7の厚さを
tとして考える。すると、図7のように、キャビティ3
aがn層で形成される場合は、導体層2等がある部分8
の厚さは、nT+(n+1)tとなる。そして、導体層
2等のない部分9の厚さはnT+tであるから、これら
の厚さの差のnt分が基板端面部5の落込みとなって現
れるという問題があった。
【0007】この落込みは、図8に示したような表面導
体層7にクラック10が発生し、断線の原因となってい
た。また、図9,図10に示したように、表面導体層7
にリード端子12を接続する場合やワイヤ11をボンデ
ィングする場合には、表面導体層7の傾きによっては、
接続不良乃至接続不可能につながるという問題を残すの
で、多層キャビティ基板として満足できるものが得られ
なかった。
【0008】本発明は上述のような問題点を解決するた
めになされたもので、特に今述べた表面導体層の落込み
をなくして、リード端子接続性、ワイヤボンディング性
の優れた多層キャビティ基板を提供することを目的とす
るものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る多層キャビ
ティ基板は、いずれも表面に内層用の導体層を有するキ
ャビティ形成用の複数個の第1のガラスセラミックシー
ト及びキャビティの底板形成用の複数個の第2のガラス
セラミックシートとキャビティの最表層を構成し表面導
体のみを有する1個の第3のガラスセラミックシートと
の積層組合せ体からなる多層キャビティ基板であって、
第1及び第2の各ガラスセラミックシートの基板端面部
とキャビティ側端面部とに接し、導体層の延長表面にこ
の導体層とは接続しない副導体層(ダミー導体層と称し
てもよい)を設けたものである。
【0010】
【作用】本発明においては、内層の導体層を有する2種
類のガラスセラミックシートの基板端面部とキャビティ
側端面部に接し、導体層の延長表面に、この導体層とは
接続しないダミー的な副導体層を設けたので、この基板
を形成する場合の積層・焼成時に端面部に近い領域の落
込みが生じなくなり、平らで、リード端子との接続性、
ワイヤボンディング性のよい多層キャビティ基板とな
る。このため、この構成はキャビティのない多層ガラス
セラミック基板にも適用可能となる。
【0011】
【実施例】図1は本発明による多層キャビティ基板の一
実施例を示す模式断面図であり、図2は、図1の多層キ
ャビティ基板の積層前の各ガラスセラミックシートの断
面図である。両図において、1〜7の部品符号で示され
る部材・構成は、図4及び図5の従来例において説明し
たものと同一であるので、その説明を省略する。
【0012】本実施例の構成においては、図4,図5の
従来例においてLで示した各ガラスセラミックシートの
領域部分に、基板外形14(図1においては基板端面部
5に相当)とキャビティ外形15(図1ではキャビティ
端面部6に相当)まで内層の導体層2,2とは接続しな
いようなダミー的な副導体層13を設けたものとしてい
る。なお、この実施例では、前記のLを一定にしている
ので、各基板に設けられる副導体層13は全部同じ大き
さのものに揃えたものとなっている。
【0013】なお、上記の実施例においても前述の従来
例の場合と同様に、第1のガラスセラミックシート1が
2個、第2のガラスセラミックシート4,4aが2個、
第3のガラスセラミックシート1aが1個の場合を例と
して説明したが、通常は、第3のガラスセラミックシー
ト1a以外は、2個以上の複数基板によって積層・構成
されている。
【0014】上述の構成において、まず、図2におい
て、導体層2、表面導体層7及び底板用導体層2aは、
上述の各ガラスセラミックシート上の所定領域位置に、
スクリーン印刷法等により例えば金、銀、銅等の金属粉
末を含むペーストを用いて一様に(ベタ状に)形成され
る。そして、内層の導体層2を形成する工程において同
時に、基板外形14とキャビティ外形15までのこれら
にに近い内側部分に、導体層2と同じ材料、同じ厚さ
で、導体層2と接続しないようにかつ極力近づけて副導
体層13を形成する。なお、図1に示す仕上げ状態の多
層キャビティ基板において、これら各種の導体層は、表
面導体層7の電気特性を特定する役目をもって構成され
ているものである。そして、開口部3を揃えて積層して
得られるキャビティ3aは、第1のガラスセラミックシ
ート1にIC(集積回路素子)等を搭載するための立体
的な空間として使用される。
【0015】図1に示したような積層体からなる多層キ
ャビティ基板は、図2のように配列した各部材を積層し
た後、全方向から均等な温度と圧力をかけて圧着した状
態で焼成することによって得られる。この形成方法は前
述の従来例の場合と同様であるが、各基板の端部には本
発明による副導体層が存在するので、従来のようなnt
の大きさの端部の落込みは生じないから、基板の全面に
わたって平らでかつクラック等が発生じないから、リー
ド端子接続性及びワイヤボンディング性のよい優れた多
層キャビティ基板を得ることができる。さらに、副導体
層は内層の導体層とは導通していないので電気特性に影
響しないから、第3のガラスセラミックシートに設けら
れた表面導体層の電気特性を所定の値のものとすること
が容易である。
【0016】図4は本発明の他の実施例を示す模式断面
図である。この実施例には、図2のような分解図を提示
しなったが、図1の実施例の場合と比較すると、形設の
仕方は同様であるが、副導体層13の大きさが必ずしも
一定していない点が特徴である。これにつれて、内層と
なる導体層2の大きさもまちまちであるが、大まかにみ
れば図1の構成と大差ないものとなっている。すなわ
ち、導体層2の端縁と基板端縁部5やキャビティ端縁部
6等との距離Lは必ずしも一定ではないが、Lに近いも
のとなっている。つまり、距離Lを合わせなくてもよい
場合に適した実施例である。しかし、この実施例の場合
も前述のntなる量の落込みが基板端縁部に変形となっ
て現れるということがないという効果は保持されること
は明らかである。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、内層の導
体層を有する2種類のガラスセラミックシートの基板端
面部とキャビティ側端面部に接し、導体層の延長表面
に、この導体層とは接続しないダミー的な副導体層を設
けたので、この基板を形成する場合の積層・焼成時に端
面部に近い領域の落込み変形と、それによって表面導体
層のクラック等が生じなくなり、平らでリード端子との
接続性、ワイヤボンディング性のよい多層キャビティ基
板が得られる効果がある。また、基板外形のみにこの副
導体層を適用すれば、キャビティのない多層セラミック
基板にも同様に使用可能であるという効果も得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による多層キャビティ基板の一実施例を
示す模式断面図である。
【図2】図1の積層前の各ガラスセラミックシートの断
面図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す断面図である。
【図4】従来の多層キャビティ基板の構造を示す模式断
面図である。
【図5】図4の各ガラスセラミックシートの積層前の断
面説明図である。
【図6】図4の基板と導体層の厚さ、位置関係を説明す
る断面図である。
【図7】従来の基板端部の落込み変形量を説明する断面
図である。
【図8】従来のクラック発生の断面説明図である。
【図9】従来のワイヤのボンディング不良の断面説明図
である。
【図10】従来のリード端子の接続不良の断面説明図で
ある。
【符号の説明】
1 第1のガラスセラミックシート 1a 第3のガラスセラミックシート 2 導体層 2a 底板用導体層 3 開口部 3a キャビティ 4,4a 第2のガラスセラミックシート 5 基板端面部 6 キャビティ端面部 7 表面導体層 8 導体層等がある部分 9 導体層等がない部分 10 クラック 11 ワイヤ 12 リード端子 13 副導体層 14 基板外形 15 キャビティ外形

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 いずれも表面に内層用の導体層を有する
    キャビティ形成用の複数個の第1のガラスセラミックシ
    ート及び前記キャビティの底板形成用の複数個の第2の
    ガラスセラミックシートと前記キャビティの最表層を構
    成し表面導体のみを有する1個の第3のガラスセラミッ
    クシートとの積層組合せ体からなる多層ガラスセラミッ
    クキャビティ基板において、 前記第1及び第2の各ガラスセラミックシートの基板端
    面部とキャビティ側端面部とに接し、前記導体層の延長
    表面にこの導体層とは接続しない副導体層を設けたこと
    を特徴とする多層ガラスセラミックキャビティ基板。
JP3997393A 1993-03-01 1993-03-01 多層ガラスセラミックキャビティ基板 Pending JPH06252558A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3997393A JPH06252558A (ja) 1993-03-01 1993-03-01 多層ガラスセラミックキャビティ基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3997393A JPH06252558A (ja) 1993-03-01 1993-03-01 多層ガラスセラミックキャビティ基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06252558A true JPH06252558A (ja) 1994-09-09

Family

ID=12567903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3997393A Pending JPH06252558A (ja) 1993-03-01 1993-03-01 多層ガラスセラミックキャビティ基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06252558A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10289964A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板とその製造方法
JP2006041345A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Hitachi Metals Ltd 積層基板およびその製造方法
JP2006108482A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Hitachi Metals Ltd キャビティを備えた多層セラミック基板およびその製造方法
WO2006120826A1 (ja) * 2005-05-12 2006-11-16 Murata Manufacturing Co., Ltd. セラミック多層基板
JP2010045271A (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 Hitachi Metals Ltd 多層回路基板

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10289964A (ja) * 1997-04-15 1998-10-27 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板とその製造方法
JP2006041345A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Hitachi Metals Ltd 積層基板およびその製造方法
JP4565381B2 (ja) * 2004-07-29 2010-10-20 日立金属株式会社 積層基板
JP2006108482A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Hitachi Metals Ltd キャビティを備えた多層セラミック基板およびその製造方法
JP4565383B2 (ja) * 2004-10-07 2010-10-20 日立金属株式会社 キャビティを備えた多層セラミック基板およびその製造方法
WO2006120826A1 (ja) * 2005-05-12 2006-11-16 Murata Manufacturing Co., Ltd. セラミック多層基板
JPWO2006120826A1 (ja) * 2005-05-12 2008-12-18 株式会社村田製作所 セラミック多層基板
US7745734B2 (en) 2005-05-12 2010-06-29 Murata Manufacturing Co., Ltd. Ceramic multilayer substrate
JP2010045271A (ja) * 2008-08-18 2010-02-25 Hitachi Metals Ltd 多層回路基板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH057057A (ja) フレキシブル配線基板
JPS62188201A (ja) 多層シ−トコイル
JPH09129476A (ja) セラミック電子部品
JPH10145042A (ja) セラミック多層回路の製造方法および該回路
JPH1167554A (ja) 積層型コイル部品及びその製造方法
JP2000223355A (ja) セラミック電子部品
US20020026978A1 (en) Multilayer ceramic substrate and manufacturing method therefor
JP3793547B2 (ja) 積層セラミック回路基板の製造方法
JPH06252558A (ja) 多層ガラスセラミックキャビティ基板
JP3508905B2 (ja) 配線基板とその製造方法
JP2001352110A (ja) 積層型圧電セラミックス
JP2007251192A (ja) 電子部品実装基板
JP2005268672A (ja) 基板
JP2946261B2 (ja) 積層電子部品の製造方法
JP2001023864A (ja) 多連型電子部品
JP2000068149A (ja) 積層電子部品及びその製造方法
JP2000049038A (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP2013165149A (ja) 多層セラミック基板、およびその製造方法
JPS63239999A (ja) セラミツク多層積層体の製造方法
JP2008072151A (ja) 回路基板
KR101129539B1 (ko) 터치패널용 패드와 기판의 결합방법 및 이에 의해 제조되는 결합체
JP2003022913A (ja) チップ部品及びその製造方法
JP3025379B2 (ja) 積層コンデンサの製造方法
JP2001267467A (ja) 多層セラミック基板およびその製造方法ならびに電子装置
JP2004165339A (ja) 多層セラミック基板の製造方法、誘電体積層デバイスおよびそれを用いた無線機器