JPH06246609A - ウエハ加工装置 - Google Patents
ウエハ加工装置Info
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- JPH06246609A JPH06246609A JP5502493A JP5502493A JPH06246609A JP H06246609 A JPH06246609 A JP H06246609A JP 5502493 A JP5502493 A JP 5502493A JP 5502493 A JP5502493 A JP 5502493A JP H06246609 A JPH06246609 A JP H06246609A
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- JP
- Japan
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- wafer
- suction table
- elastic body
- sensor
- contact
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- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 吸着テ−ブルの下面にウエハを吸着し回転さ
せながら、回転砥石に接触させ、ウエハの上下の周縁部
を削る装置において、剛体である吸着テ−ブルとウエハ
の間に異物を挟み込むと異物によりウエハが傷つくこと
がある。これを防止すること。 【構成】 吸着テ−ブルの下面に弾性体を取り付ける。
異物を挟み込んだとき弾性体に異物が吸収されるのでウ
エハが傷つかない。弾性体の歪みにより位置が決まらな
くなるのでセンサでウエハの軸方向位置を監視し位置制
御をする。
せながら、回転砥石に接触させ、ウエハの上下の周縁部
を削る装置において、剛体である吸着テ−ブルとウエハ
の間に異物を挟み込むと異物によりウエハが傷つくこと
がある。これを防止すること。 【構成】 吸着テ−ブルの下面に弾性体を取り付ける。
異物を挟み込んだとき弾性体に異物が吸収されるのでウ
エハが傷つかない。弾性体の歪みにより位置が決まらな
くなるのでセンサでウエハの軸方向位置を監視し位置制
御をする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体ウエハの面取
り加工装置の改良に関する。半導体ウエハは円形の薄い
板である。インゴットを内周刃ブレ−ドなどにより薄層
に切断する。これをアズカットウエハという。これをエ
ッチングしたりラッピングして厚さを整える。アズカッ
トウエハはそのままではへりが鋭く尖っているので欠け
たりする惧れがある。
り加工装置の改良に関する。半導体ウエハは円形の薄い
板である。インゴットを内周刃ブレ−ドなどにより薄層
に切断する。これをアズカットウエハという。これをエ
ッチングしたりラッピングして厚さを整える。アズカッ
トウエハはそのままではへりが鋭く尖っているので欠け
たりする惧れがある。
【0002】そこでウエハの外周部のへりを丸く削ると
いう作業を行う。これを面取り(ベベリングということ
もある)という。凹曲面を有する円形の回転砥石を用い
て面取りを行う。凹曲面の形状曲率は所望の面取りの曲
線に合致するように決定する。ウエハは円形の吸着テ−
ブルによって吸着することによって支持する。吸着テ−
ブルも回転させ砥石も回転させる。
いう作業を行う。これを面取り(ベベリングということ
もある)という。凹曲面を有する円形の回転砥石を用い
て面取りを行う。凹曲面の形状曲率は所望の面取りの曲
線に合致するように決定する。ウエハは円形の吸着テ−
ブルによって吸着することによって支持する。吸着テ−
ブルも回転させ砥石も回転させる。
【0003】吸着テ−ブルを支持するパイプには真空排
気装置が接続される。吸着テ−ブルの接触面にはパイプ
に連通する幾つかの穴を持っている。空気がもれないよ
うに吸着テ−ブルとウエハは密着させる。真空排気装置
を作動させ、吸着テ−ブルとウエハの間の空隙の空気を
吸い出す。ウエハと吸着テ−ブルの間が真空状態にな
る。真空力により吸着テ−ブルがウエハを吸着し固定す
る。
気装置が接続される。吸着テ−ブルの接触面にはパイプ
に連通する幾つかの穴を持っている。空気がもれないよ
うに吸着テ−ブルとウエハは密着させる。真空排気装置
を作動させ、吸着テ−ブルとウエハの間の空隙の空気を
吸い出す。ウエハと吸着テ−ブルの間が真空状態にな
る。真空力により吸着テ−ブルがウエハを吸着し固定す
る。
【0004】凹曲面を有する回転砥石により薄いウエハ
の周辺部に面取り部を形成するのであるから、砥石に対
してウエハの軸方向の高さが一定していなければならな
い。ウエハと砥石の位置(高さ)が食い違うと、所望の
曲面をウエハの周縁に設けることができない。
の周辺部に面取り部を形成するのであるから、砥石に対
してウエハの軸方向の高さが一定していなければならな
い。ウエハと砥石の位置(高さ)が食い違うと、所望の
曲面をウエハの周縁に設けることができない。
【0005】
【従来の技術】吸着テ−ブルは下向きの面を持ち、この
面がウエハを吸着する。ウエハと吸着テ−ブルの吸着面
との間にごみなどが存在すると、これが柔らかいウエハ
面を傷つける惧れがある。シリコンウエハの場合は、硬
い材料であるのでごみなどにより傷つく可能性は少な
い。しかし化合物半導体ウエハの場合は、柔らかいので
ちょっとしたごみのために面が傷つくということがあ
る。吸着テ−ブルが柔らかければこれが歪んで切り屑な
どによりウエハが傷つかないようにすることもできるで
あろう。しかし吸着テ−ブルは、セラミックかステンレ
スなどの金属であるから切り屑を挟み込むと傷つくのは
ウエハである。
面がウエハを吸着する。ウエハと吸着テ−ブルの吸着面
との間にごみなどが存在すると、これが柔らかいウエハ
面を傷つける惧れがある。シリコンウエハの場合は、硬
い材料であるのでごみなどにより傷つく可能性は少な
い。しかし化合物半導体ウエハの場合は、柔らかいので
ちょっとしたごみのために面が傷つくということがあ
る。吸着テ−ブルが柔らかければこれが歪んで切り屑な
どによりウエハが傷つかないようにすることもできるで
あろう。しかし吸着テ−ブルは、セラミックかステンレ
スなどの金属であるから切り屑を挟み込むと傷つくのは
ウエハである。
【0006】吸着テ−ブルによって吸着したウエハのへ
りを回転砥石で削るので吸着テ−ブルには切り屑が飛来
し付着する。吸着テ−ブルは何回も繰り返し使用される
ので切り屑などの汚れが付き易い。切り屑を付けたまま
ウエハを吸着すると屑のためにウエハが傷ついてしま
う。これを防ぐために、従来は吸着テ−ブルの下面に洗
浄水を吹き付けて洗浄しゴム製のワイパ−で拭き取りを
行っていた。これにより吸着テ−ブルに付着した屑など
を除去できる。この洗浄は毎回行う。これにより常に吸
着テ−ブルの下面を清浄に保つことができる。
りを回転砥石で削るので吸着テ−ブルには切り屑が飛来
し付着する。吸着テ−ブルは何回も繰り返し使用される
ので切り屑などの汚れが付き易い。切り屑を付けたまま
ウエハを吸着すると屑のためにウエハが傷ついてしま
う。これを防ぐために、従来は吸着テ−ブルの下面に洗
浄水を吹き付けて洗浄しゴム製のワイパ−で拭き取りを
行っていた。これにより吸着テ−ブルに付着した屑など
を除去できる。この洗浄は毎回行う。これにより常に吸
着テ−ブルの下面を清浄に保つことができる。
【0007】これに反しウエハの表面は洗浄されない。
ウエハは多数枚がウエハカセットに収容され、これを1
枚ずつ搬送装置によって取り出して、吸着テ−ブルまで
運びこれに取り付ける。ウエハの表面は前工程により清
浄になっている物とされているのか、ウエハ表面の清浄
化はなされていなかった。ウエハの上に屑がたとえ乗っ
ていたとしてもこれを除去するということはない。
ウエハは多数枚がウエハカセットに収容され、これを1
枚ずつ搬送装置によって取り出して、吸着テ−ブルまで
運びこれに取り付ける。ウエハの表面は前工程により清
浄になっている物とされているのか、ウエハ表面の清浄
化はなされていなかった。ウエハの上に屑がたとえ乗っ
ていたとしてもこれを除去するということはない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来、半導体ウエハの
面取り加工装置において、吸着テ−ブルのみ簡易洗浄が
なされていた。しかし、ウエハはたとえ前工程において
清浄表面を持つとしてもこれがウエハカセットに収容さ
れ搬送する間に異物が落下するということもありうる。
また吸着テ−ブルの清浄化作業も十分とは言えないと思
う。
面取り加工装置において、吸着テ−ブルのみ簡易洗浄が
なされていた。しかし、ウエハはたとえ前工程において
清浄表面を持つとしてもこれがウエハカセットに収容さ
れ搬送する間に異物が落下するということもありうる。
また吸着テ−ブルの清浄化作業も十分とは言えないと思
う。
【0009】削り屑などの異物をウエハと吸着テ−ブル
の間に挟み込んだまま真空チャックすると、柔らかいウ
エハが異物のために傷ついてしまう。図5にこの状態を
示す。このあとエッチングしたり研磨したりしても深い
傷の場合はこれを除去することができない。
の間に挟み込んだまま真空チャックすると、柔らかいウ
エハが異物のために傷ついてしまう。図5にこの状態を
示す。このあとエッチングしたり研磨したりしても深い
傷の場合はこれを除去することができない。
【0010】本発明はウエハと吸着テ−ブルの間に切り
屑などの異物を挟み込んでも、半導体ウエハが傷つくこ
とのないようにしたウエハの面取り加工装置を提供する
ことを目的とする。
屑などの異物を挟み込んでも、半導体ウエハが傷つくこ
とのないようにしたウエハの面取り加工装置を提供する
ことを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明のウエハ加工装置
は、吸着テ−ブルの接触面に弾性体を取り付けてウエハ
との接触を柔らかくし、さらにウエハ面の軸方向位置を
センサによって検出し、回転砥石に対して適正な軸方向
位置にウエハが来るように吸着テ−ブルの軸方向位置を
調整するものである。ウエハの軸方向位置を検出するセ
ンサはウエハの吸着テ−ブル側の面を検出しても良い
し、吸着テ−ブルとは反対側の面を検出してもよい。セ
ンサは接触式でも非接触式でも良い。弾性体としては薄
いプラスチックの円形板が適当である。アクリル、ポリ
エステル、ポリカ−ボネ−トなどである。ゴムも弾性に
富んでいるがこれはウエハの割れを招き易く適当でな
い。
は、吸着テ−ブルの接触面に弾性体を取り付けてウエハ
との接触を柔らかくし、さらにウエハ面の軸方向位置を
センサによって検出し、回転砥石に対して適正な軸方向
位置にウエハが来るように吸着テ−ブルの軸方向位置を
調整するものである。ウエハの軸方向位置を検出するセ
ンサはウエハの吸着テ−ブル側の面を検出しても良い
し、吸着テ−ブルとは反対側の面を検出してもよい。セ
ンサは接触式でも非接触式でも良い。弾性体としては薄
いプラスチックの円形板が適当である。アクリル、ポリ
エステル、ポリカ−ボネ−トなどである。ゴムも弾性に
富んでいるがこれはウエハの割れを招き易く適当でな
い。
【0012】
【作用】吸着テ−ブルは従来ステンレスやセラミックな
どの硬質の材料を用いていた。この硬い面が直接にウエ
ハに接触していたのである。ところが本発明では吸着テ
−ブルの接触面に弾性体を貼り付けておき、弾性体とウ
エハとが接触するようにしている。たとえ切り屑などの
異物をウエハと弾性体の間に挟み込んだとしても弾性体
のほうが異物の存在する部位において異物の高さ分だけ
を歪むのでウエハに傷が付かない。これが重要な点であ
る。
どの硬質の材料を用いていた。この硬い面が直接にウエ
ハに接触していたのである。ところが本発明では吸着テ
−ブルの接触面に弾性体を貼り付けておき、弾性体とウ
エハとが接触するようにしている。たとえ切り屑などの
異物をウエハと弾性体の間に挟み込んだとしても弾性体
のほうが異物の存在する部位において異物の高さ分だけ
を歪むのでウエハに傷が付かない。これが重要な点であ
る。
【0013】しかし弾性体を介しているのでウエハの軸
方向の位置が定まり難い。吸着テ−ブルの軸の位置を監
視し適当な高さに設定するという従来の設定法では薄い
ウエハのへりを適正な幅で面取りすることができない。
ウエハの厚みは数百μmであるが、面取りの高さの精度
は数十μmの程度のものが要求される。弾性体を従来使
用していなかったのはここに問題があったからである。
方向の位置が定まり難い。吸着テ−ブルの軸の位置を監
視し適当な高さに設定するという従来の設定法では薄い
ウエハのへりを適正な幅で面取りすることができない。
ウエハの厚みは数百μmであるが、面取りの高さの精度
は数十μmの程度のものが要求される。弾性体を従来使
用していなかったのはここに問題があったからである。
【0014】弾性体を吸着テ−ブルに貼り付けウエハを
吸着すると、圧力によって弾性体が歪むので、吸着テ−
ブルの軸の軸方向の位置に対して、ウエハの軸方向の位
置の関係が一義的に決まらなくなる。歪み量が一定して
いればよいのであるが、弾性体であるので歪み量がばら
つく。たとえ百μmの誤差でもウエハの面取り加工の位
置が違ってきて、うまくゆかない。そこで本発明では別
にウエハの軸方向の位置を正確に検出するためのセンサ
を設ける。これによりウエハの軸方向の位置を適正にし
てから面取り加工をする。
吸着すると、圧力によって弾性体が歪むので、吸着テ−
ブルの軸の軸方向の位置に対して、ウエハの軸方向の位
置の関係が一義的に決まらなくなる。歪み量が一定して
いればよいのであるが、弾性体であるので歪み量がばら
つく。たとえ百μmの誤差でもウエハの面取り加工の位
置が違ってきて、うまくゆかない。そこで本発明では別
にウエハの軸方向の位置を正確に検出するためのセンサ
を設ける。これによりウエハの軸方向の位置を適正にし
てから面取り加工をする。
【0015】
【実施例】図1は本発明の実施例に係るウエハ加工装置
の概略図である。図2は吸着テ−ブル1はウエハ6を吸
い付けている状態を示す断面図、図3は吸着テ−ブル1
の底面図である。ウエハ加工装置は、円盤状の吸着テ−
ブル1と、これを支持するテ−ブル軸2と、テ−ブル軸
2を回転するモ−タ3とを含む。吸着テ−ブル1の垂直
方向や水平方向の位置は自在に設定できる。吸着テ−ブ
ル1の下面には、弾性体4が貼り付けられている。
の概略図である。図2は吸着テ−ブル1はウエハ6を吸
い付けている状態を示す断面図、図3は吸着テ−ブル1
の底面図である。ウエハ加工装置は、円盤状の吸着テ−
ブル1と、これを支持するテ−ブル軸2と、テ−ブル軸
2を回転するモ−タ3とを含む。吸着テ−ブル1の垂直
方向や水平方向の位置は自在に設定できる。吸着テ−ブ
ル1の下面には、弾性体4が貼り付けられている。
【0016】弾性体4と吸着テ−ブル1の内部には空気
を抜くための溝5が形成されている。溝5は中央部で縦
方向の空気抜き通路11につながる。空気抜き通路はテ
−ブル軸2を貫いて延びており上方で真空排気装置に接
続されている。溝5を通して空気が吸い込まれるので、
ウエハ6が吸着テ−ブル1の下面に密着するのである。
これは真空チャックとして通常の構造である。
を抜くための溝5が形成されている。溝5は中央部で縦
方向の空気抜き通路11につながる。空気抜き通路はテ
−ブル軸2を貫いて延びており上方で真空排気装置に接
続されている。溝5を通して空気が吸い込まれるので、
ウエハ6が吸着テ−ブル1の下面に密着するのである。
これは真空チャックとして通常の構造である。
【0017】図6にウエハ6を吸着テ−ブル1が吸着し
た状態を示す。たとえ異物Sが吸着テ−ブル1とウエハ
6の間に挟み込まれていたとしても弾性体4の方が歪
む。異物Sは弾性体4の中にめり込む。ウエハ6は傷つ
かない。弾性体4によってウエハ6が保護される。これ
が重要である。
た状態を示す。たとえ異物Sが吸着テ−ブル1とウエハ
6の間に挟み込まれていたとしても弾性体4の方が歪
む。異物Sは弾性体4の中にめり込む。ウエハ6は傷つ
かない。弾性体4によってウエハ6が保護される。これ
が重要である。
【0018】吸着テ−ブル1の側方には回転砥石7があ
る。これはある鉛直軸の周りに回転する砥石である。円
周面が砥面である。円周面の中間部は平坦であるが、上
下の縁部は凹彎曲砥面8となっている。凹彎曲砥面8は
ウエハの周縁部の上と下の部分を丸く削るためのもので
ある。これが面取り加工である。面取りのための砥面の
彎曲の曲率はウエハの厚み材質などにより適宜決定す
る。
る。これはある鉛直軸の周りに回転する砥石である。円
周面が砥面である。円周面の中間部は平坦であるが、上
下の縁部は凹彎曲砥面8となっている。凹彎曲砥面8は
ウエハの周縁部の上と下の部分を丸く削るためのもので
ある。これが面取り加工である。面取りのための砥面の
彎曲の曲率はウエハの厚み材質などにより適宜決定す
る。
【0019】加工時のウエハ6の軸方向の位置つまり上
下方向の位置の決定は極めて重要である。ウエハ6のへ
りが正しく凹彎曲砥面8に接触しなければならないから
である。ところが弾性体4に於いて縮みがあるので、テ
−ブル軸2の高さを一定位置に予め決めておくというわ
けにはゆかない。弾性体4の縮みが一定でないからであ
る。
下方向の位置の決定は極めて重要である。ウエハ6のへ
りが正しく凹彎曲砥面8に接触しなければならないから
である。ところが弾性体4に於いて縮みがあるので、テ
−ブル軸2の高さを一定位置に予め決めておくというわ
けにはゆかない。弾性体4の縮みが一定でないからであ
る。
【0020】ところがここでは非接触センサ9があっ
て、光学的手段によりセンサ9からウエハ6の上面まで
の距離を精密に測定しており、センサから一定の距離に
ウエハが位置するように制御装置10に指示するのであ
る。
て、光学的手段によりセンサ9からウエハ6の上面まで
の距離を精密に測定しており、センサから一定の距離に
ウエハが位置するように制御装置10に指示するのであ
る。
【0021】センサ9の高さと回転砥石の高さは決まっ
ている。従ってウエハの上面をセンサ9から一定の距離
に持ってゆくことにより、弾性体の歪みとは無関係に面
取り加工位置に設定できるのである。たとえ弾性体の歪
み量のばらつきが数百μmであったとしても、センサ9
の作用でウエハ面の高さを直接に知ることができるの
で、常に最適高さにウエハを位置決めできる。ウエハの
外縁の面取りを常に最適の条件で行うことができる。
ている。従ってウエハの上面をセンサ9から一定の距離
に持ってゆくことにより、弾性体の歪みとは無関係に面
取り加工位置に設定できるのである。たとえ弾性体の歪
み量のばらつきが数百μmであったとしても、センサ9
の作用でウエハ面の高さを直接に知ることができるの
で、常に最適高さにウエハを位置決めできる。ウエハの
外縁の面取りを常に最適の条件で行うことができる。
【0022】図4は本発明の他の実施例に係るウエハ加
工装置の概略図である。これは非接触センサ9を接触式
センサ−12に変えたものである。それ以外の構造は図
1のものと同様である。吸着テ−ブル1は底面に円形板
部を持つがここには溝5が形成されている。溝5が中央
の空気抜き通路11に終結している。吸着テ−ブル1の
下面には弾性体4が固着される。この例では弾性体4が
ビス13によって取り付けられる。この他に接着剤によ
り接着しても良い。接触式センサ−12がウエハ6の下
面の近傍に設けられる。接触式センサ−12の先端のピ
ンがウエハ6の下面に接触しておりウエハ6の高さを計
測している。側方には回転砥石7があるが図示を略して
いる。
工装置の概略図である。これは非接触センサ9を接触式
センサ−12に変えたものである。それ以外の構造は図
1のものと同様である。吸着テ−ブル1は底面に円形板
部を持つがここには溝5が形成されている。溝5が中央
の空気抜き通路11に終結している。吸着テ−ブル1の
下面には弾性体4が固着される。この例では弾性体4が
ビス13によって取り付けられる。この他に接着剤によ
り接着しても良い。接触式センサ−12がウエハ6の下
面の近傍に設けられる。接触式センサ−12の先端のピ
ンがウエハ6の下面に接触しておりウエハ6の高さを計
測している。側方には回転砥石7があるが図示を略して
いる。
【0023】この例でも図5に示すように異物Sを挟ん
でも弾性体4の方にめり込むので吸着テ−ブル1にウエ
ハ6を密着させても、ウエハ6は傷つかない。この状態
で吸着テ−ブル1を回転し回転砥石にへりをあてて面取
りを行うことができる。接触式センサ−12で高さを数
μm〜数十μmの精度でウエハの高さを制御できるか
ら、面取りの位置が狂わない。
でも弾性体4の方にめり込むので吸着テ−ブル1にウエ
ハ6を密着させても、ウエハ6は傷つかない。この状態
で吸着テ−ブル1を回転し回転砥石にへりをあてて面取
りを行うことができる。接触式センサ−12で高さを数
μm〜数十μmの精度でウエハの高さを制御できるか
ら、面取りの位置が狂わない。
【0024】本発明の効果を確かめるために、次のよう
な実験を行った。厚さ700μmのGaAsの4インチ
ウエハを90φの吸着テ−ブルによって吸着し回転砥石
で面取り加工した。サンプル数はすべて25枚である。
弾性体としてなにを用いるかということが重要である。
ゴム、アクリル、ポリエステル、ポリカ−ボネ−トを弾
性体として試みた。さらに比較のために弾性体を取り付
けず、セラミックの吸着テ−ブルと、SUSの吸着テ−
ブルをそのまま用いて同じ条件でウエハを取り付け回転
砥石でウエハの面取りをしてこれらの結果を比較した。
な実験を行った。厚さ700μmのGaAsの4インチ
ウエハを90φの吸着テ−ブルによって吸着し回転砥石
で面取り加工した。サンプル数はすべて25枚である。
弾性体としてなにを用いるかということが重要である。
ゴム、アクリル、ポリエステル、ポリカ−ボネ−トを弾
性体として試みた。さらに比較のために弾性体を取り付
けず、セラミックの吸着テ−ブルと、SUSの吸着テ−
ブルをそのまま用いて同じ条件でウエハを取り付け回転
砥石でウエハの面取りをしてこれらの結果を比較した。
【0025】 [加工条件] ウエハ 4インチφGaAsウエハ 厚さ700μmt ケミカル研磨量 20μm 吸着面直径 90mmφ 吸着圧力 3kg/cm2 サンプル数 各25枚 位置センサ−サンプリング時間 1sec
【0026】この実験で用いたゴムの厚みは100μ
m、アクリルの厚みは1mm、ポリエステルの厚みは1
00μmである。また接触式、非接触式のセンサ−を用
いたときと用いないときの比較も行った。表1はこの結
果を示すものである。
m、アクリルの厚みは1mm、ポリエステルの厚みは1
00μmである。また接触式、非接触式のセンサ−を用
いたときと用いないときの比較も行った。表1はこの結
果を示すものである。
【0027】
【表1】
【0028】表1において、1はセラミック吸着テ−ブ
ルをそのまま用いて面取り加工したものである。これは
従来法に対応する。剛体にウエハを吸い付けているので
歪みの問題がない。センサを使わなくても位置精度は±
2μmと極めて良い。しかし異物の挟み込みがあり、2
5枚のサンプルのうち20枚が不良となった。傷の最大
深さは80μmであった。
ルをそのまま用いて面取り加工したものである。これは
従来法に対応する。剛体にウエハを吸い付けているので
歪みの問題がない。センサを使わなくても位置精度は±
2μmと極めて良い。しかし異物の挟み込みがあり、2
5枚のサンプルのうち20枚が不良となった。傷の最大
深さは80μmであった。
【0029】2はステンレスSUSの吸着テ−ブルをそ
のまま用いて(弾性体をつけず)ウエハを加工したもの
である。これも従来法である。剛体にウエハを付けてい
るので歪みがなく、センサを使わないが位置精度は±2
μmで極めて良い。しかし異物の挟み込みのために25
枚のサンプルのうち18枚が不良となった。最大傷深さ
は60μmであった。
のまま用いて(弾性体をつけず)ウエハを加工したもの
である。これも従来法である。剛体にウエハを付けてい
るので歪みがなく、センサを使わないが位置精度は±2
μmで極めて良い。しかし異物の挟み込みのために25
枚のサンプルのうち18枚が不良となった。最大傷深さ
は60μmであった。
【0030】3は厚さが100μmのゴムを弾性体とし
てセラミックまたはステンレスの下面に貼り付けた吸着
テ−ブルを用いてウエハを面取り加工したものである。
非接触式センサを用いて位置制御すると、位置精度は±
20μmになった。センサを使わないと位置精度は±7
0μmで極めて悪い。ゴムは極めて弾性に富むので歪み
も大きく位置精度が悪いのである。キズが入るという意
味での不良は0であって弾性の効果が高いことが分か
る。しかし残念なことに25枚のサンプルの内、10
枚、あるいは8枚が加工中に割れてしまった。これはゴ
ムの弾性が大きいので砥石からの応力が剛体部に伝わら
ずウエハにのみかかるので割れやすくなるのである。弾
性が過大なのである。
てセラミックまたはステンレスの下面に貼り付けた吸着
テ−ブルを用いてウエハを面取り加工したものである。
非接触式センサを用いて位置制御すると、位置精度は±
20μmになった。センサを使わないと位置精度は±7
0μmで極めて悪い。ゴムは極めて弾性に富むので歪み
も大きく位置精度が悪いのである。キズが入るという意
味での不良は0であって弾性の効果が高いことが分か
る。しかし残念なことに25枚のサンプルの内、10
枚、あるいは8枚が加工中に割れてしまった。これはゴ
ムの弾性が大きいので砥石からの応力が剛体部に伝わら
ずウエハにのみかかるので割れやすくなるのである。弾
性が過大なのである。
【0031】4は1mm厚みのアクリルを弾性体として
セラミックまたはステンレスの下に貼り付けた吸着テ−
ブルを用いてウエハを加工したものである。非接触式セ
ンサを用いて位置制御すると、位置精度は±2μmの程
度に収まった。面取り加工後ウエハを調べると25枚中
5枚のウエハはキズにより不良であった。キズの最大深
さは25μmであった。しかしセンサを使わないと、位
置精度が±10μmとなり不十分であった。これは4枚
が不良であった。最大キズ深さは25μmであった。弾
性体を使わない場合よりは改善されているが尚弾性が不
足していると思われる。
セラミックまたはステンレスの下に貼り付けた吸着テ−
ブルを用いてウエハを加工したものである。非接触式セ
ンサを用いて位置制御すると、位置精度は±2μmの程
度に収まった。面取り加工後ウエハを調べると25枚中
5枚のウエハはキズにより不良であった。キズの最大深
さは25μmであった。しかしセンサを使わないと、位
置精度が±10μmとなり不十分であった。これは4枚
が不良であった。最大キズ深さは25μmであった。弾
性体を使わない場合よりは改善されているが尚弾性が不
足していると思われる。
【0032】5は厚さ100μmのポリエステルを弾性
体として剛体の下にはりつけた吸着テ−ブルを用いた場
合である。接触式センサを使って位置制御をすると、位
置精度は±2μmで、剛体吸着テ−ブルを使う従来法と
位置精度について同程度になる。不良数は2枚で少ない
数であった。キズの最大深さは5μmである。浅いキズ
である。このようなキズであれば後工程のラッピングや
エッチングにより除くことができる。
体として剛体の下にはりつけた吸着テ−ブルを用いた場
合である。接触式センサを使って位置制御をすると、位
置精度は±2μmで、剛体吸着テ−ブルを使う従来法と
位置精度について同程度になる。不良数は2枚で少ない
数であった。キズの最大深さは5μmである。浅いキズ
である。このようなキズであれば後工程のラッピングや
エッチングにより除くことができる。
【0033】非接触式センサを用いて位置制御をする
と、位置精度が±4μmとなった。この場合の加工後の
不良数は2枚でキズの最大深さは5μmであって浅いも
のである。センサを使わないでウエハを吸着支持すると
位置精度が±15μmであった。面取り加工後の不良数
は25枚中2枚である。キズの最大深さが5μmであっ
た。キズが浅いのはより弾性に富み異物をオリエステル
の方に吸収するからである。ゴムよりも位置精度が良い
のはゴムよりも歪みが小さいからである。
と、位置精度が±4μmとなった。この場合の加工後の
不良数は2枚でキズの最大深さは5μmであって浅いも
のである。センサを使わないでウエハを吸着支持すると
位置精度が±15μmであった。面取り加工後の不良数
は25枚中2枚である。キズの最大深さが5μmであっ
た。キズが浅いのはより弾性に富み異物をオリエステル
の方に吸収するからである。ゴムよりも位置精度が良い
のはゴムよりも歪みが小さいからである。
【0034】6はポリカ−ボネ−トの弾性体を付けた吸
着テ−ブルによるものである。非接触式センサを用いて
位置制御をすると、位置精度が±3μmになる。不良枚
数が25枚中4枚であった。キズの最大深さが10μm
であった。センサを使わず位置制御をしない時は位置精
度が±10μmになった。不良数は25枚中4枚であっ
た。キズの最大深さは10μmである。
着テ−ブルによるものである。非接触式センサを用いて
位置制御をすると、位置精度が±3μmになる。不良枚
数が25枚中4枚であった。キズの最大深さが10μm
であった。センサを使わず位置制御をしない時は位置精
度が±10μmになった。不良数は25枚中4枚であっ
た。キズの最大深さは10μmである。
【0035】これらの結果から弾性体を付けた吸着テ−
ブルを用いたほうが、剛体の吸着テ−ブルを用いるより
もウエハにキズがはいらず不良数が少なくなるというこ
とが分かる。ゴムのように弾性の高すぎる(弾性係数の
小さすぎる)ものはウエハの割れを引き起こし易い。よ
り硬いポリエステルやポリカ−ボネ−トが弾性体として
好適である。
ブルを用いたほうが、剛体の吸着テ−ブルを用いるより
もウエハにキズがはいらず不良数が少なくなるというこ
とが分かる。ゴムのように弾性の高すぎる(弾性係数の
小さすぎる)ものはウエハの割れを引き起こし易い。よ
り硬いポリエステルやポリカ−ボネ−トが弾性体として
好適である。
【0036】
【発明の効果】本発明のウエハの加工装置は弾性体を貼
り付けた吸着テ−ブルにウエハを吸着して面取り加工を
する。異物がウエハと吸着テ−ブルの間に挟まれても異
物を弾性体の方に吸収できるのでウエハが傷つくのを防
ぐことができる。弾性体の歪みのために位置が決まらな
くなるが、センサを用いてウエハの位置制御をするので
面取り加工の位置がずれるということもない。優れた発
明である。
り付けた吸着テ−ブルにウエハを吸着して面取り加工を
する。異物がウエハと吸着テ−ブルの間に挟まれても異
物を弾性体の方に吸収できるのでウエハが傷つくのを防
ぐことができる。弾性体の歪みのために位置が決まらな
くなるが、センサを用いてウエハの位置制御をするので
面取り加工の位置がずれるということもない。優れた発
明である。
【図1】非接触センサを用いてウエハの位置制御をする
ようにした本発明の実施例に係るウエハ加工装置の概略
図。
ようにした本発明の実施例に係るウエハ加工装置の概略
図。
【図2】図1の装置において吸着テ−ブルとウエハのみ
の断面図。
の断面図。
【図3】図1の装置の吸着テ−ブルの底面図。
【図4】接触センサを用いてウエハの位置制御をするよ
うにした本発明の他の実施例に係るウエハ加工装置の概
略図。
うにした本発明の他の実施例に係るウエハ加工装置の概
略図。
【図5】剛体の吸着テ−ブルを用いる従来法において異
物の挟み込みによりウエハが傷つくことを説明する断面
図。
物の挟み込みによりウエハが傷つくことを説明する断面
図。
【図6】弾性体を取り付けた吸着テ−ブルを用いる本発
明において異物を挟み込んでも弾性体に異物が吸収され
ウエハが傷つかないことを示す断面図。
明において異物を挟み込んでも弾性体に異物が吸収され
ウエハが傷つかないことを示す断面図。
1 吸着テ−ブル 2 テ−ブル軸 3 モ−タ 4 弾性体 5 溝 6 ウエハ 7 回転砥石 8 凹彎曲面 9 非接触センサ 10 制御装置 11 空気抜き通路 12 非接触センサ
Claims (2)
- 【請求項1】 回転しうる軸と円盤状の部分を有する吸
着テ−ブルの下面にウエハを吸着し、凹彎曲面を有する
回転砥石に接触させ、軸周りに吸着テ−ブルを回転させ
ながらウエハの上下周縁部の面取り加工を行う装置にお
いて、吸着テ−ブルの下面に弾性体を固着し、弾性体を
介してウエハを吸着テ−ブルに吸着し、ウエハの軸方向
の位置はセンサで監視して位置制御することを特徴とす
るウエハ加工装置。 - 【請求項2】 回転しうる軸と円盤状の部分を有する吸
着テ−ブルの下面にウエハを吸着し、凹彎曲面を有する
回転砥石に接触させ、軸周りに吸着テ−ブルを回転させ
ながらウエハの上下周縁部の面取り加工を行う装置にお
いて、吸着テ−ブルの下面に樹脂よりなる弾性体を固着
し、樹脂よりなる弾性体を介してウエハを吸着テ−ブル
に吸着し、ウエハの軸方向の位置はセンサで監視して位
置制御することを特徴とするウエハ加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5502493A JPH06246609A (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | ウエハ加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5502493A JPH06246609A (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | ウエハ加工装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06246609A true JPH06246609A (ja) | 1994-09-06 |
Family
ID=12987105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5502493A Pending JPH06246609A (ja) | 1993-02-18 | 1993-02-18 | ウエハ加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06246609A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016010840A (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-21 | 株式会社ディスコ | チャックテーブル |
-
1993
- 1993-02-18 JP JP5502493A patent/JPH06246609A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016010840A (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-21 | 株式会社ディスコ | チャックテーブル |
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