JPH06235872A - 走査光学装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構成で容易に焦点位置ずれを検出し、
かつこれを補正することができる走査光学装置を提供す
ること。 【構成】 光ビームの走査面６の延長上にビームスポッ
ト検出器７が配置されている。このビームスポット検出
器７はその前面に光ビームが垂直に横切る辺と斜めに横
切る辺をもつマスクを有している。検出器７の出力は微
分回路９で微分され、ピークホールド回路で正と負の両
ピーク値がホールドされる。ＣＰＵ１１は該ピーク値か
ら光ビームの主・副走査方向の径を求め、焦点がずれて
いる場合には調節信号を出力する。一方、カウンタ１４
はビームスポット検出器７の出力信号の幅を求め、ＣＰ
Ｕ１５に出力する。ＣＰＵ１５は、基準値と比較するこ
とにより、副走査方向の位置ずれ（レジストレーション
ずれ）を検出し、その補正信号を出力する。
かつこれを補正することができる走査光学装置を提供す
ること。 【構成】 光ビームの走査面６の延長上にビームスポッ
ト検出器７が配置されている。このビームスポット検出
器７はその前面に光ビームが垂直に横切る辺と斜めに横
切る辺をもつマスクを有している。検出器７の出力は微
分回路９で微分され、ピークホールド回路で正と負の両
ピーク値がホールドされる。ＣＰＵ１１は該ピーク値か
ら光ビームの主・副走査方向の径を求め、焦点がずれて
いる場合には調節信号を出力する。一方、カウンタ１４
はビームスポット検出器７の出力信号の幅を求め、ＣＰ
Ｕ１５に出力する。ＣＰＵ１５は、基準値と比較するこ
とにより、副走査方向の位置ずれ（レジストレーション
ずれ）を検出し、その補正信号を出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光源からの光ビームを
偏向器およびレンズ系を介して走査面上を走査する走査
光学装置に関し、特に、温度等の環境変化に起因する走
査面上の光ビームの結像スポットの焦点位置ずれを検出
して補正する機能を備えた走査光学装置に関する。
偏向器およびレンズ系を介して走査面上を走査する走査
光学装置に関し、特に、温度等の環境変化に起因する走
査面上の光ビームの結像スポットの焦点位置ずれを検出
して補正する機能を備えた走査光学装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、画像信号に応じてレーザ光源を変
調し、変調されたレーザ光源からレーザ光を偏向器によ
り周期的に偏向させ、レンズ系によって、感光性の記録
媒体上にスポット状に収束させ、露光走査して画像記録
を行う走査光学装置、例えばレーザビームプリンタ装置
が一般に広く使用されている。
調し、変調されたレーザ光源からレーザ光を偏向器によ
り周期的に偏向させ、レンズ系によって、感光性の記録
媒体上にスポット状に収束させ、露光走査して画像記録
を行う走査光学装置、例えばレーザビームプリンタ装置
が一般に広く使用されている。
【０００３】この従来のレーザビームプリンタ装置にお
いては、環境温度によりレンズ系を構成する各部材が熱
変形を起こし、感光体上のレーザ光の収束位置がずれて
しまい、画質が低下するという問題があった。
いては、環境温度によりレンズ系を構成する各部材が熱
変形を起こし、感光体上のレーザ光の収束位置がずれて
しまい、画質が低下するという問題があった。
【０００４】この問題を解決するために、例えば特開平
２−７３２１２号公報では、走査面と光学的に等価な位
置でかつ走査方向と平行な方向に開口を有する検出器を
複数個配置し、検出部からの信号を比較あるいは演算す
ることにより焦点を調節するようにしている。
２−７３２１２号公報では、走査面と光学的に等価な位
置でかつ走査方向と平行な方向に開口を有する検出器を
複数個配置し、検出部からの信号を比較あるいは演算す
ることにより焦点を調節するようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
先行技術では、光ビーム検出器を複数個使用しているた
め、広い設置空間が必要になるという問題、および価格
的にも高価になるという問題があった。
先行技術では、光ビーム検出器を複数個使用しているた
め、広い設置空間が必要になるという問題、および価格
的にも高価になるという問題があった。
【０００６】本発明の目的は、前記した従来装置の問題
点を除去し、簡単な構成で容易に焦点位置ずれを検出
し、かつこれを補正することができる走査光学装置を提
供することにある。
点を除去し、簡単な構成で容易に焦点位置ずれを検出
し、かつこれを補正することができる走査光学装置を提
供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、光源からの光ビームを偏向器およびレン
ズ系で走査および収束して走査面上に照射する走査光学
装置において、該走査面の延長上に配置され、かつ、走
査される光ビームとほぼ垂直に交わる辺と斜めに交わる
辺とを備えたマスクを有するビームスポット検出器と、
該ビームスポット検出器の検出出力の微分波形のピーク
値から、光ビームの主・副走査方向の収束状態を検出す
る手段と、前記検出出力の幅から、光ビームの副走査方
向の位置ずれを検出手段とを具備した点に特徴がある。
に、本発明は、光源からの光ビームを偏向器およびレン
ズ系で走査および収束して走査面上に照射する走査光学
装置において、該走査面の延長上に配置され、かつ、走
査される光ビームとほぼ垂直に交わる辺と斜めに交わる
辺とを備えたマスクを有するビームスポット検出器と、
該ビームスポット検出器の検出出力の微分波形のピーク
値から、光ビームの主・副走査方向の収束状態を検出す
る手段と、前記検出出力の幅から、光ビームの副走査方
向の位置ずれを検出手段とを具備した点に特徴がある。
【０００８】
【作用】本発明によれば、１個のビームスポット検出器
を用いることにより、光ビームの主・副走査方向の収束
状態と、光ビームの副走査方向の位置ずれとを同時に検
出することができる。
を用いることにより、光ビームの主・副走査方向の収束
状態と、光ビームの副走査方向の位置ずれとを同時に検
出することができる。
【０００９】また、このため、ビームスポット検出器を
設置する空間が狭くてもよい。
設置する空間が狭くてもよい。
【００１０】
【実施例】以下に、図面を参照して、本発明を詳細に説
明する。図１は、本発明の一実施例の概略の構成図を示
す。図において、１はレーザ光源、２は主走査方向の焦
点位置を移動するために主走査方向に屈折力をもつ主走
査シリンドリカルレンズであり、図示されていないモー
タにより矢印方向に移動可能である。３は副走査方向の
焦点位置を移動するために副走査方向に屈折力をもつ副
走査シリンドリカルレンズであり、図示されていないモ
ータにより矢印方向およびこれと垂直な方向に移動可能
である。
明する。図１は、本発明の一実施例の概略の構成図を示
す。図において、１はレーザ光源、２は主走査方向の焦
点位置を移動するために主走査方向に屈折力をもつ主走
査シリンドリカルレンズであり、図示されていないモー
タにより矢印方向に移動可能である。３は副走査方向の
焦点位置を移動するために副走査方向に屈折力をもつ副
走査シリンドリカルレンズであり、図示されていないモ
ータにより矢印方向およびこれと垂直な方向に移動可能
である。
【００１１】４は回転多面鏡、５はｆθレンズ、６は走
査面である感光記録体ドラムである。７は前記走査面の
延長上に配置され、レーザビームのスポットを光電変換
する所定の開口と光電変換面とを有するビームスポット
検出器である。
査面である感光記録体ドラムである。７は前記走査面の
延長上に配置され、レーザビームのスポットを光電変換
する所定の開口と光電変換面とを有するビームスポット
検出器である。
【００１２】８はビームスポット検出器７からの電気信
号を増幅する増幅器、９は増幅器８からの信号を微分す
る微分回路、１０は微分回路９の出力信号のピーク値を
保持するピークホールド回路である。
号を増幅する増幅器、９は増幅器８からの信号を微分す
る微分回路、１０は微分回路９の出力信号のピーク値を
保持するピークホールド回路である。
【００１３】１１は該ピークホールド回路１０に保持さ
れたピーク値をビーム径データに変換するＣＰＵ、１２
はデジタル／アナログ変換器、１３は前記主・副走査シ
リンドリカルレンズを光軸方向に移動させるモータの駆
動回路である。
れたピーク値をビーム径データに変換するＣＰＵ、１２
はデジタル／アナログ変換器、１３は前記主・副走査シ
リンドリカルレンズを光軸方向に移動させるモータの駆
動回路である。
【００１４】また、１４は増幅器８からの信号出力の時
間幅をカウントするカウンタ、１５は該時間幅が基準値
からどれだけずれているかを検出するＣＰＵ、１６は該
ＣＰＵ１５から出力されたずれ値をアナログ信号に変換
するＤ／Ａ変換器、１７はＰＺＴ（圧電素子）を駆動す
るＰＺＴ駆動回路である。
間幅をカウントするカウンタ、１５は該時間幅が基準値
からどれだけずれているかを検出するＣＰＵ、１６は該
ＣＰＵ１５から出力されたずれ値をアナログ信号に変換
するＤ／Ａ変換器、１７はＰＺＴ（圧電素子）を駆動す
るＰＺＴ駆動回路である。
【００１５】次に、前記ビームスポット検出器７の一例
を図２を参照して説明する。ビームスポット検出器７
は、同図(a) に示されているように、三角マスク７ａと
その後に配置された光電変換素子７ｂとから構成されて
いる。該三角マスク７ａは、図３(a) に示されているよ
うに、光ビームが垂直に横切る一辺と、斜めに横切る斜
辺とを有している。なお、三角マスクは、図２(b) に示
されているように、ナイフエッジ２０で作っても良い
し、スリット２１で作成しても良い。
を図２を参照して説明する。ビームスポット検出器７
は、同図(a) に示されているように、三角マスク７ａと
その後に配置された光電変換素子７ｂとから構成されて
いる。該三角マスク７ａは、図３(a) に示されているよ
うに、光ビームが垂直に横切る一辺と、斜めに横切る斜
辺とを有している。なお、三角マスクは、図２(b) に示
されているように、ナイフエッジ２０で作っても良い
し、スリット２１で作成しても良い。
【００１６】図３に示されているように、ビームスポッ
ト検出器７の出力波形が図３(b) に示されている波形で
あるとすると、前記微分回路９の出力波形は同図(c) の
ようになる。光ビームのスキャン方向に対して、三角マ
スク７ａは前記のように配置されているため、微分出力
のピーク電圧Ｖ1 は光ビームの主走査方向のビーム径を
示す情報を含み、ピーク電圧Ｖ2 は主走査方向と副走査
方向の両ビーム径を示す情報を含むことになる。
ト検出器７の出力波形が図３(b) に示されている波形で
あるとすると、前記微分回路９の出力波形は同図(c) の
ようになる。光ビームのスキャン方向に対して、三角マ
スク７ａは前記のように配置されているため、微分出力
のピーク電圧Ｖ1 は光ビームの主走査方向のビーム径を
示す情報を含み、ピーク電圧Ｖ2 は主走査方向と副走査
方向の両ビーム径を示す情報を含むことになる。
【００１７】すなわち、図４(a) に示されているよう
に、ビームスポットＢの主走査方向の径が大きいと前記
ビームスポット検出器７の出力の立上がりは同図(b) の
ように滑らかになり、その微分波形は同図(c) のように
なる。一方、同図(d）のように、ビームスポットＢの主
走査方向の径が小さいと、前記ビームスポット検出器７
の出力の立上がりは同図(e) のように急俊になり、その
微分波形は同図(f) のよう高さが大きくなる。
に、ビームスポットＢの主走査方向の径が大きいと前記
ビームスポット検出器７の出力の立上がりは同図(b) の
ように滑らかになり、その微分波形は同図(c) のように
なる。一方、同図(d）のように、ビームスポットＢの主
走査方向の径が小さいと、前記ビームスポット検出器７
の出力の立上がりは同図(e) のように急俊になり、その
微分波形は同図(f) のよう高さが大きくなる。
【００１８】同図(c) と(f) の波形を比べれば明らかな
ように、ビームスポットＢの主走査方向の径が小さい方
の微分波形の電圧Ｖ1 の方が、主走査方向の径の大きい
ものに比べて大きくなる。
ように、ビームスポットＢの主走査方向の径が小さい方
の微分波形の電圧Ｖ1 の方が、主走査方向の径の大きい
ものに比べて大きくなる。
【００１９】次に、光ビームが前記三角マスク７ａから
外れる時には、図５に示されているようになる。同図
(a) のように、ビームスポットＢの径が副走査方向に長
い時には、前記ビームスポット検出器７の出力の立下が
りは同図(b) のように滑らかになり、その微分出力の波
形は同図(c) のようになる。一方、同図(d) のように、
ビームスポット径Ｂが副走査方向に短い時には、前記ビ
ームスポット検出器７の出力の立下がりは同図(e) のよ
うに急俊になり、その微分出力の波形は同図(f)のよう
になる。
外れる時には、図５に示されているようになる。同図
(a) のように、ビームスポットＢの径が副走査方向に長
い時には、前記ビームスポット検出器７の出力の立下が
りは同図(b) のように滑らかになり、その微分出力の波
形は同図(c) のようになる。一方、同図(d) のように、
ビームスポット径Ｂが副走査方向に短い時には、前記ビ
ームスポット検出器７の出力の立下がりは同図(e) のよ
うに急俊になり、その微分出力の波形は同図(f)のよう
になる。
【００２０】同図(c) と(f) の波形を比べれば明らかな
ように、ビームスポットＢの副走査方向の径の小さい方
が、副走査方向の径の大きい方に比べて、微分波形の電
圧Ｖ2 が大きくなる。
ように、ビームスポットＢの副走査方向の径の小さい方
が、副走査方向の径の大きい方に比べて、微分波形の電
圧Ｖ2 が大きくなる。
【００２１】また、図５に示されているように、ビーム
スポットＢが斜めにマスクを横切る時には、ビームスポ
ットＢのマスク通過時間には、その主走査方向の径と副
走査方向の径が寄与することになる。
スポットＢが斜めにマスクを横切る時には、ビームスポ
ットＢのマスク通過時間には、その主走査方向の径と副
走査方向の径が寄与することになる。
【００２２】次に、図６は前記微分回路９の出力信号を
ピークホールドするピークホールド回路の一例を示す。
微分回路９の出力信号９ａが入力してくると、正のピー
ク信号はコンデンサＣ1 にホールドされ、負のピーク信
号はコンデンサＣ2 にホールドされる。そして、正のピ
ークホールド信号Ｖ1 はオペアンプＯ1 から出力され、
負のピークホールド信号Ｖ2 はオペアンプＯ2 から出力
される。なお、前記コンデンサＣ1 とＣ2 のリセット
は、例えば光ビームの走査開始を検出するセンサ（図示
されていない）の出力を用いるようにすれば良い。
ピークホールドするピークホールド回路の一例を示す。
微分回路９の出力信号９ａが入力してくると、正のピー
ク信号はコンデンサＣ1 にホールドされ、負のピーク信
号はコンデンサＣ2 にホールドされる。そして、正のピ
ークホールド信号Ｖ1 はオペアンプＯ1 から出力され、
負のピークホールド信号Ｖ2 はオペアンプＯ2 から出力
される。なお、前記コンデンサＣ1 とＣ2 のリセット
は、例えば光ビームの走査開始を検出するセンサ（図示
されていない）の出力を用いるようにすれば良い。
【００２３】図７は、前記副走査シリンドリカルレンズ
３の光軸方向およびこれと垂直な方向の位置調節装置の
一例を示す斜視図である。図において、１８は副走査シ
リンドリカルレンズ３を光軸方向に移動させるモータを
示し、１９は該レンズ３を副走査方向（上下方向）に移
動させるＰＺＴ（圧電素子）を示す。
３の光軸方向およびこれと垂直な方向の位置調節装置の
一例を示す斜視図である。図において、１８は副走査シ
リンドリカルレンズ３を光軸方向に移動させるモータを
示し、１９は該レンズ３を副走査方向（上下方向）に移
動させるＰＺＴ（圧電素子）を示す。
【００２４】次に、本実施例の動作を、図１を参照して
説明する。回転多面鏡４によって主走査方向にスキャン
される光ビームは、走査面である感光記録体ドラム６と
同一面延長上に配置されているビームスポット検出器７
を１スキャン毎に照射する。ビームスポット検出器７
は、例えば図２で説明したような三角マスクを有してお
り、その出力信号は増幅器８で増幅された後、微分回路
９とカウンタ１４に入力する。
説明する。回転多面鏡４によって主走査方向にスキャン
される光ビームは、走査面である感光記録体ドラム６と
同一面延長上に配置されているビームスポット検出器７
を１スキャン毎に照射する。ビームスポット検出器７
は、例えば図２で説明したような三角マスクを有してお
り、その出力信号は増幅器８で増幅された後、微分回路
９とカウンタ１４に入力する。
【００２５】微分回路９は図３(c) のような波形の信号
を出力する。この微分出力はピークホールド回路１０に
て、正および負のピーク値がホールドされる。ピークホ
ールド回路１０の出力はＣＰＵ１１に入力する。ＣＰＵ
１１は前記正のピーク値から主走査方向のビーム径を求
める。また、前記負のピーク値は、前述のように、主走
査方向と副走査方向のビーム径成分から形成されてお
り、かつマスクの傾きにより主、副走査方向のビーム径
成分の比率がわかるので、該負のピーク値、先に求めた
主走査方向のビーム径およびマスクの傾きから、副走査
方向のビーム径を求める。
を出力する。この微分出力はピークホールド回路１０に
て、正および負のピーク値がホールドされる。ピークホ
ールド回路１０の出力はＣＰＵ１１に入力する。ＣＰＵ
１１は前記正のピーク値から主走査方向のビーム径を求
める。また、前記負のピーク値は、前述のように、主走
査方向と副走査方向のビーム径成分から形成されてお
り、かつマスクの傾きにより主、副走査方向のビーム径
成分の比率がわかるので、該負のピーク値、先に求めた
主走査方向のビーム径およびマスクの傾きから、副走査
方向のビーム径を求める。
【００２６】そして、ＣＰＵ１１は主走査方向のビーム
径と副走査方向のビーム径とを所望のサイズとなるよう
に、主走査方向調節信号および副走査方向調節信号をＤ
／Ａ変換器１２に出力する。Ｄ／Ａ変換器１２は、該主
または副走査方向調節信号をアナログ信号に変換してモ
ータ駆動回路１３に出力する。モータ駆動回路１３は前
記主走査方向調節信号に従って、前記主走査シリンドリ
カルレンズ２を光軸方向に調節する。また、前記副走査
方向調節信号に従って、前記副走査シリンドリカルレン
ズ３を光軸方向に調節する。
径と副走査方向のビーム径とを所望のサイズとなるよう
に、主走査方向調節信号および副走査方向調節信号をＤ
／Ａ変換器１２に出力する。Ｄ／Ａ変換器１２は、該主
または副走査方向調節信号をアナログ信号に変換してモ
ータ駆動回路１３に出力する。モータ駆動回路１３は前
記主走査方向調節信号に従って、前記主走査シリンドリ
カルレンズ２を光軸方向に調節する。また、前記副走査
方向調節信号に従って、前記副走査シリンドリカルレン
ズ３を光軸方向に調節する。
【００２７】前記の調節を実行すると、図８に示されて
いるように、副走査方向焦点移動のためのシリンドリカ
ルレンズ３が上下方向に微小な距離だけずれる。そし
て、この結果、感光記録体ドラム６を走査する光ビーム
の副走査方向位置（レジストレーション）がずれること
になる。
いるように、副走査方向焦点移動のためのシリンドリカ
ルレンズ３が上下方向に微小な距離だけずれる。そし
て、この結果、感光記録体ドラム６を走査する光ビーム
の副走査方向位置（レジストレーション）がずれること
になる。
【００２８】このずれ量は、前記カウンタ１４でビーム
検出信号の幅（図３(b) の検出時間幅Δｔ）をカウント
することにより求めることができる。このカウント値は
ＣＰＵ１５に入力され、予め定められている基準値と比
較される。そして、ＣＰＵ１５はその差の補正信号をＤ
／Ａ変換器１６に出力する。Ｄ／Ａ変換器１６は前記補
正信号をアナログ信号に変換して、ＰＺＴ駆動回路１７
に出力する。この結果、図７または図８に示されている
ＰＺＴ１９は、シリンドリカルレンズ３を上下方向に微
調節する。
検出信号の幅（図３(b) の検出時間幅Δｔ）をカウント
することにより求めることができる。このカウント値は
ＣＰＵ１５に入力され、予め定められている基準値と比
較される。そして、ＣＰＵ１５はその差の補正信号をＤ
／Ａ変換器１６に出力する。Ｄ／Ａ変換器１６は前記補
正信号をアナログ信号に変換して、ＰＺＴ駆動回路１７
に出力する。この結果、図７または図８に示されている
ＰＺＴ１９は、シリンドリカルレンズ３を上下方向に微
調節する。
【００２９】以上のように、本実施例によれば、感光記
録体ドラム６を走査する光ビームの焦点位置ずれを、簡
単な構成で、かつ容易に検出して、補正することができ
る。
録体ドラム６を走査する光ビームの焦点位置ずれを、簡
単な構成で、かつ容易に検出して、補正することができ
る。
【００３０】次に、本発明の第２実施例を図９を参照し
て説明する。この実施例が第１実施例と異なる点は、光
ビーム径の主走査方向の調節を、レーザ光源１を光軸方
向に移動して行うようにした点である。
て説明する。この実施例が第１実施例と異なる点は、光
ビーム径の主走査方向の調節を、レーザ光源１を光軸方
向に移動して行うようにした点である。
【００３１】本実施例においても、第１実施例と同様の
効果を得ることができる。
効果を得ることができる。
【００３２】
【発明の効果】請求項１の発明によれば、光ビームの焦
点補正時に発生する副走査方向の位置ずれ（レジストレ
ーションずれ）を、同一のビームスポット検出器からの
出力により検出することができるので、簡単な構成でか
つ容易に、焦点ずれおよび副走査方向の位置ずれを検出
することができる。
点補正時に発生する副走査方向の位置ずれ（レジストレ
ーションずれ）を、同一のビームスポット検出器からの
出力により検出することができるので、簡単な構成でか
つ容易に、焦点ずれおよび副走査方向の位置ずれを検出
することができる。
【００３３】請求項２の発明によれば、簡単な構成でか
つ容易に、光ビームの焦点調節およびこれに起因して生
ずる副走査方向の位置ずれを補正することができる。こ
のため、精度の良い焦点調節をすることができる。
つ容易に、光ビームの焦点調節およびこれに起因して生
ずる副走査方向の位置ずれを補正することができる。こ
のため、精度の良い焦点調節をすることができる。
【図１】 本発明の第１実施例の構成を示すブロック図
である。
である。
【図２】 ビームスポット検出器の前面に配置されるマ
スクの例を示す図である。
スクの例を示す図である。
【図３】 ビームスポット検出器の出力波形と、その微
分出力波形とを示す図である。
分出力波形とを示す図である。
【図４】 光ビームの主走査方向の径を測定する原理図
である。
である。
【図５】 光ビームの副走査方向の径を測定する原理図
である。
である。
【図６】 ピークホールド回路の一回路例を示す回路図
である。
である。
【図７】 副走査シリンドリカルレンズの調節機構を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図８】 副走査方向の位置ずれ（レジストレーション
ずれ）調節の説明図である。
ずれ）調節の説明図である。
【図９】 本発明の第２実施例の構成を示すブロック図
である。
である。
１…レーザ光源、２…主走査シリンドリカルレンズ、３
…副走査シリンドリカルレンズ、４…回転多面鏡、５…
ｆθレンズ、６…感光記録体ドラム、７…ビームスポッ
ト検出器、９…微分回路、１０…サンプルホールド回
路、１１、１６…ＣＰＵ、１３…モータ駆動回路、１４
…カウンタ、１７…ＰＺＴ駆動回路。
…副走査シリンドリカルレンズ、４…回転多面鏡、５…
ｆθレンズ、６…感光記録体ドラム、７…ビームスポッ
ト検出器、９…微分回路、１０…サンプルホールド回
路、１１、１６…ＣＰＵ、１３…モータ駆動回路、１４
…カウンタ、１７…ＰＺＴ駆動回路。
Claims (2)
- 【請求項１】 光源からの光ビームを偏向器およびレン
ズ系で走査および収束して走査面上に照射する走査光学
装置において、 該走査面の延長上に配置され、かつ、走査される光ビー
ムとほぼ垂直に交わる辺と斜めに交わる辺とを備えたマ
スクを有するビームスポット検出器と、 該ビームスポット検出器の検出出力の微分波形のピーク
値から、光ビームの主・副走査方向の収束状態を検出す
る手段と、 前記検出出力の幅から、光ビームの副走査方向の位置ず
れを検出手段とを具備し、 前記同一のビームスポット検出器を用いて、光ビームの
収束状態と副走査方向の位置ずれとを検出できるように
したことを特徴とする走査光学装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の走査光学装置において、 前記光ビームの収束状態検出手段から出力された焦点調
節信号に基づいて光ビーム径を自動的に調整する手段
と、 前記光ビームの副走査方向位置ずれ検出手段から出力さ
れた補正信号に基づいて該副走査方向の位置ずれを自動
的に補正する手段とを具備したことを特徴とする走査光
学装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5044378A JPH06235872A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 走査光学装置 |
| US08/191,480 US5442171A (en) | 1993-02-10 | 1994-02-04 | Optical system including provisions for correcting scanning beam spot displacements due to changing ambient conditions |
| DE69402453T DE69402453T2 (de) | 1993-02-10 | 1994-02-09 | Optisches Abtastsystem |
| EP94101973A EP0610910B1 (en) | 1993-02-10 | 1994-02-09 | Scanning optical system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5044378A JPH06235872A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 走査光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06235872A true JPH06235872A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12689847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5044378A Pending JPH06235872A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | 走査光学装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5442171A (ja) |
| EP (1) | EP0610910B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06235872A (ja) |
| DE (1) | DE69402453T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012237772A (ja) * | 2011-05-09 | 2012-12-06 | Canon Inc | 光走査装置および画像形成装置 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2927228B2 (ja) * | 1996-01-17 | 1999-07-28 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像記録装置における光ビーム用光源の位置ずれ補正装置 |
| JPH1039243A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Minolta Co Ltd | レーザビーム走査光学装置 |
| US5877494A (en) * | 1996-07-29 | 1999-03-02 | Agfa Division, Bayer Corporation | Beam error correction using movable correction element |
| JPH10274745A (ja) * | 1997-03-31 | 1998-10-13 | Minolta Co Ltd | レーザビーム走査光学装置 |
| US6697094B2 (en) * | 2001-05-14 | 2004-02-24 | Lexmark International, Inc. | Method and apparatus for locating the process postion of a scan line in an electrophotographic machine |
| DE10129874B4 (de) * | 2001-06-21 | 2004-11-18 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Mehrstrahl-Abtastvorrichtung sowie Verfahren zu ihrer Justierung |
| US20030189611A1 (en) * | 2002-04-08 | 2003-10-09 | Fan Tai-Lin | Jet printer calibration |
| US20050027489A1 (en) * | 2002-08-14 | 2005-02-03 | Yale University | Phase extraction between coupled atom interferometers using ellipse-specific fitting |
| US7460146B2 (en) | 2004-07-28 | 2008-12-02 | Towner David K | Dynamic correction of field curvature from a scanner |
| US7714426B1 (en) * | 2007-07-07 | 2010-05-11 | Keith Gann | Ball grid array package format layers and structure |
| JP2013156425A (ja) * | 2012-01-30 | 2013-08-15 | Canon Inc | 走査光学装置及びこれを備えたカラー画像形成装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4206348A (en) * | 1978-06-05 | 1980-06-03 | Eastman Kodak Company | Optical scanner with electrooptical feedback for beam positioning |
| JPS5946620A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光ビ−ム走査装置 |
| JPS60100113A (ja) * | 1983-11-07 | 1985-06-04 | Fuji Xerox Co Ltd | レ−ザ−ビ−ムプリンタ |
| DE68913588T2 (de) * | 1988-05-19 | 1994-06-30 | Canon Kk | Optische Abtastvorrichtung. |
| EP0396041B1 (en) * | 1989-04-28 | 1997-07-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning equipment |
| US5105296A (en) * | 1989-11-20 | 1992-04-14 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method and apparatus for detecting beam spot shape |
-
1993
- 1993-02-10 JP JP5044378A patent/JPH06235872A/ja active Pending
-
1994
- 1994-02-04 US US08/191,480 patent/US5442171A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-02-09 EP EP94101973A patent/EP0610910B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-09 DE DE69402453T patent/DE69402453T2/de not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012237772A (ja) * | 2011-05-09 | 2012-12-06 | Canon Inc | 光走査装置および画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0610910A1 (en) | 1994-08-17 |
| US5442171A (en) | 1995-08-15 |
| DE69402453D1 (de) | 1997-05-15 |
| DE69402453T2 (de) | 1997-07-17 |
| EP0610910B1 (en) | 1997-04-09 |
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